JPH03131015A - 半導体ウェーハー薬液処理槽及び自動洗浄処理装置 - Google Patents

半導体ウェーハー薬液処理槽及び自動洗浄処理装置

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Publication number
JPH03131015A
JPH03131015A JP1269486A JP26948689A JPH03131015A JP H03131015 A JPH03131015 A JP H03131015A JP 1269486 A JP1269486 A JP 1269486A JP 26948689 A JP26948689 A JP 26948689A JP H03131015 A JPH03131015 A JP H03131015A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chemical liquid
bath
treatment
waste liquor
liquid
Prior art date
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Pending
Application number
JP1269486A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideho Koike
小池 秀穂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明は、半導体ウェーハーを処理する、ウェット処理
、洗浄の、薬液処理槽、水洗処理槽に関する。
〔従来の技術1 従来、第3図に示すように、処理槽1の、底面より、排
液バルブA3をかえして、排液管12により排液回収本
管13に接続することにより排液する方法がとられてい
た。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、従来の方法では、排液管12の口径、接続長さ
、排液回収本管13の口径、他の装置と同時排液時など
、制約が多く、瞬時に排液することができない、また、
100℃〜200℃といった薬液を高温のまま排液する
と、排液管12.排液回収本管13を軟化させ変形や焼
損させてしまう、このため、薬液を処理槽内で長時間、
例えば2時間放置して、常温に下がるまで、待機してか
ら排液しなければならないため、処理槽の稼動、活用ロ
スが大きく効率的な活用ができない。
そこで1本発明は、従来のこのような課題を解決するた
め、瞬時に排液が可能となり、降温ロス時間を最少限と
し、かつ、排液管12、排液回収本管13を変形、焼損
させない、など効率活用ができる、薬液処理槽を提供す
ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段1 上記課題を解決するために、本発明の処理槽は、半導体
ウェーハーの薬液又は、純水処理を行なうウェット処理
、洗浄において、処理槽に、排液保管槽を備久たことを
特徴とする。
[実 施 例1 以下に、本発明の実施例を図面にもとづいて説明する。
第1図において、薬液処理槽又は純水処理槽lに、薬液
を給液し、ヒーター2で、加熱昇温させ、設定温度1例
えば、100℃にコントロールして半導体ウェーハーを
処理する。指定回数処理後は、バルブ3を開き、液槽連
結管4をかえして瞬時に、排液保管槽5へ薬液又は、純
水を移送し、排液保管槽5で一定時間放置し、低温に降
温して、バルブBllを開き、排液回収本管13へ放出
する。これにより、薬液処理槽lは、即、新薬液を給液
することが可能となり、ヒーター2により加熱昇温コン
トロールすることにより、処理又は、装置を稼動開始で
きる。
又、排液保管槽5に、さまざまな工夫をすることにより
、安全面、排液方法に効果がだせる。
例えば、温度センサー9により液温チエツクを行ない、
設定温度まで下がらなければ、バルブB11は開かなく
する。液面センサー6により排液保管槽lに薬液が充満
していれば、バルブ3は開かなくする。液面計7にて、
オペレーターが液の状態を目視で確認ができ、トラブル
時の対応が容易にできる、又、排液回収本管13への排
出方法としてアスピレータ−10を用いることにより、
市水等で薬液を希釈して放出することもできる。
タンク内の圧力上昇を防ぐため、排圧バイブ8を付設す
ることにより安全面での効果もある。
更に、これらの工夫を自動制御と連動させることにより
、液面、温度表示や、自動運転処理も可能であり、自動
ウェット処理装置へ搭載することにより大きな効果を出
している。
〔発明の効果] 本発明は、以上説明した、実施例の構造をとることによ
り、従来技術の問題点、薬液処理槽の待機ロスを最少限
にできる効果がある。
又、この構造を有する薬液槽を自動機に搭載することに
より排液温、液量など表示を含め高機能な装置を構成で
き効率の高い自動機を提供できる効果がある。
更に、排液管や排液本管等の付帯設備の変形、焼損を防
ぎ、事故の防止、安全上の効果もある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による、薬液処理槽と排液保管槽の断
面図。 第2図は、本発明の処理槽構造を自動機に、載した斜視
図。 第3図は、従来の薬液処理槽の断面図。 1・・・薬液処理槽 2・・・ヒーター 3・・・バルブA 4・・・液槽連結管 ・排液保管槽 ・液面センサー ・液面計 ・排圧バイブ ・温度センサー ・アスピレータ− ・バルブB ・排液管 ・排液回収本管

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体ウェーハーの薬液又は、純水処理を行なう
    、ウェット洗浄において、処理槽に排液保管槽を備えた
    ことを特徴とする半導体ウェーハー薬液処理槽。
  2. (2)請求項1記載の薬液処理槽を備えたことを特徴と
    する自動洗浄処理装置。
JP1269486A 1989-10-17 1989-10-17 半導体ウェーハー薬液処理槽及び自動洗浄処理装置 Pending JPH03131015A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5361787A (en) * 1992-02-25 1994-11-08 Tokyo Electron Kabushiki Kaisha Cleaning apparatus

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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