JPH03138537A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH03138537A JPH03138537A JP27587789A JP27587789A JPH03138537A JP H03138537 A JPH03138537 A JP H03138537A JP 27587789 A JP27587789 A JP 27587789A JP 27587789 A JP27587789 A JP 27587789A JP H03138537 A JPH03138537 A JP H03138537A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- spectrometer
- spectrophotometer
- light
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は分光光度計に係り、特に波長純度を全波長範囲
で一定に保ちながら、かつS/N比の良い測定を可能と
する分光光度計に関するものである。
で一定に保ちながら、かつS/N比の良い測定を可能と
する分光光度計に関するものである。
分光光度計では、出口スリットからの単色をサンプルに
照射し、サンプルを透過した光を検知器によって、検出
している。この際、光源9分光器、検知器等の分光特性
により、サンプルを設置しない状態であっても、検知器
の出力が波長に対して大幅に変動する。検知器として、
光電子増倍管等の感度を電気的に変化させることができ
るものは、その感度を制御し、出力信号が一定になる様
にする事が可能である。しかし、近赤外領域の検知器と
して用いられるPbS等の光導電セルでは、出力信号を
一定にすることが不可能であった。このため、出力信号
を一定にするために、スリットプログラム、スリットサ
ーボなどの方法をとり、分光器から取り出される単色光
の波長純度を変化させる方法が取られている。
照射し、サンプルを透過した光を検知器によって、検出
している。この際、光源9分光器、検知器等の分光特性
により、サンプルを設置しない状態であっても、検知器
の出力が波長に対して大幅に変動する。検知器として、
光電子増倍管等の感度を電気的に変化させることができ
るものは、その感度を制御し、出力信号が一定になる様
にする事が可能である。しかし、近赤外領域の検知器と
して用いられるPbS等の光導電セルでは、出力信号を
一定にすることが不可能であった。このため、出力信号
を一定にするために、スリットプログラム、スリットサ
ーボなどの方法をとり、分光器から取り出される単色光
の波長純度を変化させる方法が取られている。
近年のディジタル技術の進歩に伴い、検知器がらの出力
信号を、ディジタル量に変換する測光量変換が一般に用
いられている。このような場合、前記検知器のアナログ
出力をディジタル量に変換するアナログ−ディジタル変
換器が用いられるが、アナログ−ディジタル変換を精度
良く行うには、上記検知器のアナログ出力信号を一定に
保つ必要がある。
信号を、ディジタル量に変換する測光量変換が一般に用
いられている。このような場合、前記検知器のアナログ
出力をディジタル量に変換するアナログ−ディジタル変
換器が用いられるが、アナログ−ディジタル変換を精度
良く行うには、上記検知器のアナログ出力信号を一定に
保つ必要がある。
上記従来技術は、PbS等の光源型セルを検知器として
用いる近赤外領域において、S/N比の良い測定を行う
ためには、波長純度が変化するという問題があった。更
に、近赤外領域には例えば水の〇−H基の吸収などがあ
るために、波長純度を変化させることにより、O−I−
I基の吸収スペクトルの形が変化し、出力信号の変化が
一層激しくなり、波長純度の変化が追従しきれなくなり
、S/N比の改善を妨げるという問題もあった。
用いる近赤外領域において、S/N比の良い測定を行う
ためには、波長純度が変化するという問題があった。更
に、近赤外領域には例えば水の〇−H基の吸収などがあ
るために、波長純度を変化させることにより、O−I−
I基の吸収スペクトルの形が変化し、出力信号の変化が
一層激しくなり、波長純度の変化が追従しきれなくなり
、S/N比の改善を妨げるという問題もあった。
本発明の目的は、測定波長全範囲において波長純度一定
で測定可能な分光光度計を提供することにある。
で測定可能な分光光度計を提供することにある。
本発明の他の目的は、従来より一層S/N比を改善した
分光光度計を提供することにある。
分光光度計を提供することにある。
上記目的を達成するために、分光光度計の分光器のスリ
ット以外に、制御可能な可変絞りを設けた分光光度計が
提供される。
ット以外に、制御可能な可変絞りを設けた分光光度計が
提供される。
上記目的を達成するために、分光光度計の光源と分光器
の間、分光器の中、分光器と試料室の間、あるいは試料
室と検知器の間のいずれかに、透過光量を連続的に変化
させることが可能なニュートラルデンシティフィルタを
制御可能な様に設けた分光光度計が提供される。
の間、分光器の中、分光器と試料室の間、あるいは試料
室と検知器の間のいずれかに、透過光量を連続的に変化
させることが可能なニュートラルデンシティフィルタを
制御可能な様に設けた分光光度計が提供される。
上記目的を達成するために、前記可変絞りあるいは、ニ
ュートラルデンシティフィルタを制御する分光光度計が
提供される。
ュートラルデンシティフィルタを制御する分光光度計が
提供される。
本発明の要点は、分光光度計のスリット以外に3−
光量を変化させる手段を設けると共に、該手段を演算処
理装置により制御することによって、検知器からの出力
信号を波長とは無関係に一定にする。
理装置により制御することによって、検知器からの出力
信号を波長とは無関係に一定にする。
それによって、全測定波長領域において、分光器から取
り出される単色光の波長純度を一定にすることが出来る
ようになるので、透過率2反射率等が波長純度に依存す
る試料も精度良く測定することができる。更に、測定を
行う基本量である光量を変化させることにより、検知器
の出力信号を一定値に保つので、より一層S/N比の良
い測定を行うことが可能になる。
り出される単色光の波長純度を一定にすることが出来る
ようになるので、透過率2反射率等が波長純度に依存す
る試料も精度良く測定することができる。更に、測定を
行う基本量である光量を変化させることにより、検知器
の出力信号を一定値に保つので、より一層S/N比の良
い測定を行うことが可能になる。
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。光源
1からの光は分光器2によって分光され単色光が取り出
される。この単色光が可変絞り3によって光量を変化さ
せられる。セクター鏡4゜反射鏡5.5’ 、6,8.
8’ 、9.9’は分光器2からの単色光を二光束に分
割し、参照物7と試料7′とを交互に照射して、検知器
1oに導く。
1からの光は分光器2によって分光され単色光が取り出
される。この単色光が可変絞り3によって光量を変化さ
せられる。セクター鏡4゜反射鏡5.5’ 、6,8.
8’ 、9.9’は分光器2からの単色光を二光束に分
割し、参照物7と試料7′とを交互に照射して、検知器
1oに導く。
検知器10により電気信号に変換された参照光量4
Rと試料光量Sは、増幅器11で増幅された後、アナロ
グ−ディジタル変換器12でアナログ−ディジタル変換
されて、それぞれの光量に比例したディジタル量DRと
Dsしてディジタル計算機13に入力される。第1図に
示したいわゆるダブルビーム分光光度計では、DSをD
Rで割り透過率や吸光度を求めるために、DS/DRが
重要であり、DsやDRの絶対値には、測定値は影響を
受けない。そこで、試料光量S、参照光量Rが、アナロ
グ−ディジタル変換器12の最適範囲にはいる様に、デ
ィジタル計算機13でDsあるいはDRの大きさを監視
しながら、可変絞り3の開口部の大きさを変化させる。
グ−ディジタル変換器12でアナログ−ディジタル変換
されて、それぞれの光量に比例したディジタル量DRと
Dsしてディジタル計算機13に入力される。第1図に
示したいわゆるダブルビーム分光光度計では、DSをD
Rで割り透過率や吸光度を求めるために、DS/DRが
重要であり、DsやDRの絶対値には、測定値は影響を
受けない。そこで、試料光量S、参照光量Rが、アナロ
グ−ディジタル変換器12の最適範囲にはいる様に、デ
ィジタル計算機13でDsあるいはDRの大きさを監視
しながら、可変絞り3の開口部の大きさを変化させる。
可変絞り3を光源1と分光器2の間、あるいは1反射鏡
9,9′と検知器10の間に設けても本発明は同様に実
施できる。
9,9′と検知器10の間に設けても本発明は同様に実
施できる。
本発明の一実施例によれば、測定(特に波長走査測定)
において、検知器10からの出力信号を可変絞り3の開
口部を変化させて、アナログ−ディジタル変換器の最適
範囲内に制御するので、分光器2.検知器10.増幅器
11の各々の条件を測定中一定に保つことができる。即
ち、従来検知器10の感度を変化させることが不可能な
場合、分光器2のスリツI−幅を変化させていたが、こ
の場合波長純度が変化するという欠点があったが、本発
明によれば、この欠点を防ぐことが可能である。更に、
感度を変化させることの可能な光電子増倍管の様な検知
器であっても、検知器のもつ非直線性等の影響を受けな
い最適条件で測定を行うことが可能になり、従来より一
層S/N比の良い測定を行うことが可能になる。
において、検知器10からの出力信号を可変絞り3の開
口部を変化させて、アナログ−ディジタル変換器の最適
範囲内に制御するので、分光器2.検知器10.増幅器
11の各々の条件を測定中一定に保つことができる。即
ち、従来検知器10の感度を変化させることが不可能な
場合、分光器2のスリツI−幅を変化させていたが、こ
の場合波長純度が変化するという欠点があったが、本発
明によれば、この欠点を防ぐことが可能である。更に、
感度を変化させることの可能な光電子増倍管の様な検知
器であっても、検知器のもつ非直線性等の影響を受けな
い最適条件で測定を行うことが可能になり、従来より一
層S/N比の良い測定を行うことが可能になる。
第2図に本発明の他の実施例を示す。第1図と同一符号
は同一部分を示し、説明も省略する。分光器2から出た
単色光は、透過光を連続的に変化させることが出来るニ
ュートラルデンシティフィルタ14により、検知器10
に入射する光量を増減させる。
は同一部分を示し、説明も省略する。分光器2から出た
単色光は、透過光を連続的に変化させることが出来るニ
ュートラルデンシティフィルタ14により、検知器10
に入射する光量を増減させる。
本発明の他の実施例によれば、測定(特に波長走査測定
)において、検知器10からの出力信号をニュートラル
デンシティフィルタ」4の透過率を変化させて、アナロ
グ−ディジタル変換器の最適範囲内に制御するので、分
光器2.検知器10゜増幅器1]の各々の条件を測定中
一定に保つことができる。即ち、波長純度一定で全測定
範囲の測定をS/N比が良い状態で行う事が可能である
。
)において、検知器10からの出力信号をニュートラル
デンシティフィルタ」4の透過率を変化させて、アナロ
グ−ディジタル変換器の最適範囲内に制御するので、分
光器2.検知器10゜増幅器1]の各々の条件を測定中
一定に保つことができる。即ち、波長純度一定で全測定
範囲の測定をS/N比が良い状態で行う事が可能である
。
本発明は、以−ヒ説明したように構成されているので、
以下に記載されるような効果を奏する。
以下に記載されるような効果を奏する。
分光光度計の各条件を一定に保ったまま、精度の良いア
ナログ−ディジタル変換を行うことができるので、従来
より一層S/N比の良い測定を行うことができる。さら
に、波長純度を一定にした測定ができる。また分光光度
計の各条件を、検知器などの直線性を最も延ばすように
設定して、測定を行うことにより、従来よりさらに測定
精度を向上させることができる。
ナログ−ディジタル変換を行うことができるので、従来
より一層S/N比の良い測定を行うことができる。さら
に、波長純度を一定にした測定ができる。また分光光度
計の各条件を、検知器などの直線性を最も延ばすように
設定して、測定を行うことにより、従来よりさらに測定
精度を向上させることができる。
第1図は本発明の一実施例の機能系統図、第2図は本発
明の他の実施例の機能系統図である。 1・・光源、2 分光器、3 可変絞り、4・・・セク
ター鏡、10・・・検知器、11・・・増幅器、12・
・・アナログ ディジタル変換器、 13・・ディジタル計 叛 甥、′ フ 一
明の他の実施例の機能系統図である。 1・・光源、2 分光器、3 可変絞り、4・・・セク
ター鏡、10・・・検知器、11・・・増幅器、12・
・・アナログ ディジタル変換器、 13・・ディジタル計 叛 甥、′ フ 一
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光源と、上記光源が発する白色光を単色化する分光
器と、上記分光器からの光を検知する検知器と、上記検
知器の出力信号の演算処理及び上記光源、分光器、検知
器を制御する演算装置を備えた分光光度計において、上
記分光器のスリット以外に、制御可能な可変絞りを設け
たことを特徴とする分光光度計。 2、特許請求の範囲第1項において、可変絞りの代りに
、透過光量を連続的に変化させることができるニユトラ
ルデンシテイフイルタを、制御可能な様に設けたことを
特徴とする分光光度計。 3、特許請求の範囲第1項または第2項において、可変
絞りまたはニユートランデンシテイフイルタを、波長走
査測定を行う際に、上記検知器からの出力信号が一定に
なるように制御することを特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27587789A JPH03138537A (ja) | 1989-10-25 | 1989-10-25 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27587789A JPH03138537A (ja) | 1989-10-25 | 1989-10-25 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03138537A true JPH03138537A (ja) | 1991-06-12 |
Family
ID=17561679
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27587789A Pending JPH03138537A (ja) | 1989-10-25 | 1989-10-25 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03138537A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6201606B1 (en) | 1995-11-08 | 2001-03-13 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Method and apparatus for processing spectrum in spectral measurement |
| US6381489B1 (en) | 1995-10-31 | 2002-04-30 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Measuring condition setting jig, measuring condition setting method and biological information measuring instrument |
| US6404492B1 (en) | 1995-10-31 | 2002-06-11 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Light source apparatus and measurement method |
-
1989
- 1989-10-25 JP JP27587789A patent/JPH03138537A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6381489B1 (en) | 1995-10-31 | 2002-04-30 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Measuring condition setting jig, measuring condition setting method and biological information measuring instrument |
| US6404492B1 (en) | 1995-10-31 | 2002-06-11 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Light source apparatus and measurement method |
| US6201606B1 (en) | 1995-11-08 | 2001-03-13 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Method and apparatus for processing spectrum in spectral measurement |
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