JPH0313906A - 光集積回路 - Google Patents

光集積回路

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JPH0313906A
JPH0313906A JP14994189A JP14994189A JPH0313906A JP H0313906 A JPH0313906 A JP H0313906A JP 14994189 A JP14994189 A JP 14994189A JP 14994189 A JP14994189 A JP 14994189A JP H0313906 A JPH0313906 A JP H0313906A
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JP
Japan
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light
integrated circuit
optical
groove
optical integrated
Prior art date
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Pending
Application number
JP14994189A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunishige Oe
尾江 邦重
Hiroaki Takeuchi
博昭 竹内
Kazuo Kasatani
和生 笠谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP14994189A priority Critical patent/JPH0313906A/ja
Publication of JPH0313906A publication Critical patent/JPH0313906A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/026Monolithically integrated components, e.g. waveguides, monitoring photo-detectors, drivers
    • H01S5/0265Intensity modulators

Landscapes

  • Lasers (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、同一半導体基板上に、種々の半導体光導波部
品が集積化されている光集積回路の高性能化技術に関す
るものである。
〔従来技術〕
光集積回路は、個別の半導体部品を同一半導体基板上に
集積化することによって、単体の半導体部品では実現で
きなかった高度な性能や新しい機能を得ることを目的と
するものであり、その実現に向けて、努力がなされてい
る。この光集積回路を実現する最も大切な部品は、半導
体の光導波路であり、伝搬損失が小さく、曲がり損失も
小さく、また、半導体レーザのような他の光部品との接
続損失が小さいことが要求される。
本発明者がA pplied P hysics L 
ettersの54巻(1989年)の2号の87頁か
ら89頁に開示したストリップ装荷型導波路がこの目的
にかなっており、その実例の一断面図を第7図に示す。
第7図において、1はInP基板、2はGaInAsP
光ガイド、3はストリップ装荷構成を持つInP層、4
は光が導波される部分である。
このストリップ装荷型導波路は、光はストリップ装荷さ
れている下のGaInAsP光ガイド2を通り、横方向
の光閉じ込めは、その上のストリップ装荷構成を持つI
nP層3により行われている。
さて、このストリップ装荷導波路により構成したマツハ
チェンダー光変調器と単一波長半導体レーザを同一基板
上に集積化した光集積回路の一例を、第8図、第9図(
第8図のA−A線で切った断面図)及び第10図(第8
図のB−B線で切つた断面図)に示す。
第8図、第9図及び第10図において、10は単一波長
半導体レーザ、11はマツハチェンダー光変調器、20
はn型InP基板、21はGaInAsP光ガイド層、
22は低濃度n型InP層、23はp型InP層、24
はp型電極、25はn型電極、26は無反射コート膜、
27はGaInAsP活性層、28はGaInAsPガ
イド層、29は回折格子、30はp型InP層、31は
p型電極である。
この光集積回路は、図中の電極部24にかける電圧を変
調することにより、波長のゆらぎなしに。
出力光強度を変罪できるという優れた特徴を持っている
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、前記の従来技術では、この時の出力光の
オン・オフ比、つまり消光比は、10db以下という充
分な値ではないという問題があった。
これは、オフ時に望ましくない光が出力ポートに来てい
るためであることを発明者が見出した。
本発明は、前記問題点を解決するためになされたもので
ある。
本発明の目的は、ストリップ装荷型光導波路を用いた光
集積回路において、性能を劣化させる迷光の影響をなく
した高性能な光集積回路を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
〔課題を解決するための手段〕
前記目的を達成するために、本発明は、ストリップ装荷
型半導体光導波路を塔載した光集積回路において、光ガ
イド層の光導波踏部以外の部分に溝を設け、該溝により
導波されなかった光をしゃ断させることを最も主要な特
徴とする。
〔作 用〕
前述した手段によれば、光集積回路の光ガイド層の光導
波踏部以外の部分に溝をほり、導波されなかった光をし
ゃ断することにより、製作した素子が設計値からずれた
場合、望ましくない迷光(ガイドされない光)の影響を
受けるのを防止するので、性能を劣化させる迷光の影響
をなくした高性能な光集積回路が得られる。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面を用いて具体的に説明す
る。
なお、全回において、同一機能を有するものは同一符号
を付け、その繰り返しの説明は省略する。
〔実施例■〕
第1図は、本発明の光集積回路の実施例■の概略構成を
説明するための全体斜視図、 第2図は、第1図のA−A線で切った断面図、第3図は
、第1図のB−B線で切った断面図である。
本実施例Iの光集積回路は、第1図乃至第3図に示すよ
うに、前記第8図乃至第10図に示す半導体レーザ10
とマツハチェンダー光変調器を集積した光集積回路にお
いて、二本の平行な光導波路の間の部分のGaInAs
P光ガイド層21を削り取って溝(ア)を形成する構造
となっている。
このようにGaInAsP光ガイド層21を一部取って
溝(ア)を形成することによって、たとえ、マツハチェ
ンダー光変調器11が設計通りできなくて、半導体レー
ザ10からの光が、マツハチェンダー光変調器11のY
分岐点でうまく導波されて曲がっていかないことがあっ
ても、その導波されなかった光は、GaInAsP光ガ
イドM21を通っていく時に、削除された部分で散乱さ
れてしまう。これにより、このマツハチェンダー光変調
器1!のオン・オフ比は、常に20db以上の値を得る
ことができるようになった。
〔実施例■〕
第4図は、本発明の光集積回路の実施例■の概略構成を
説明するための全体斜視図、 第5図は、第4図のC−C線で切った断面図。
第6図は、第4図のD−D線で切った断面図である。
本実施例■の光集積回路は、第4図乃至第6図に示すよ
うに、同−n型InP基板20上に、可能波長半導体レ
ーザ10と、ストリップ装荷型光導波路よりなる方向性
結合器型3デシベル(db)カップラ=12、導波型ピ
ン(pin)ホトダイオード13゜14の2個が集積さ
れている。この光集積回路の光導波路側入口に光を入射
することにより、この回路は、コヒーレント検波の機能
を果たすことができる。図中、32はGaInAsP光
吸収層である。
この光集積回路の問題点も、また、実施例rと同じく、
設計値と少し違ったものができると、入射光の一部や、
可能波長半導体レーザ光の一部が光導波路に閉じ込めら
れずにもれて、迷光となり。
この集積回路の特性を劣化させることであった。
そこで、本実施例■では、GaInAsP光ガイド層2
ニガ41層21作る。この溝(ア)により、GaInA
sP光ガイ1−層21を通ってきた迷光は、溝(ア)で
散乱される。この結果、このコヒーレント検波光集積回
路の信号対雑音比が改善された。
また、このコヒーレント検波光集積回路のピンホトダイ
オード13.14は、高速応対させるために、その長さ
Lを200μm以下とする必要があるが、ピンホトダイ
オード13.14に入ってきた光が完全に吸収されずに
一部通過し、光集積回路の端面で反射されてもどって来
る。この反射光が悪影響を及ぼすことがあった。これに
対しても、第4図及び第6図に示すように、溝(イ)や
溝(つ)を、通過光がピンホトダイオード13.14に
反射されないように形成することにより、光集積回路端
面で反射されてもどってくる反射光の悪影響を防止する
ことができる。
以上、本発明を実施例にもとづき具体的に説明したが、
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
は言うまでもない。
〔発明の効果〕
以上、説明したように、本発明によれば、ストリップ装
荷型光導波路を用いた光集a:回路においては、光ガイ
ド層の光導波路側入口の部分に溝を形成することにより
、光集積回路の特性を向上することができるゆ
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の光集積回路の実施例Iの概略構成を
説明するための全体斜視図、 第2図は、第1図のA−A線で切った断面図、第3図は
、第1図のB−B線で切った断面図。 第4図は、本発明の光集積回路の実施例Hの概略構成を
説明するための全体斜視図、 第5図は、第4図のC−C線で切った断面図、第6図は
、第4図のD−D線で切った断面図、第7図乃至第10
図は、従来の光集積回路の問題点を説明するための図で
ある。 図中、1・・・InP基板、2”・GaInAsP光ガ
イド、3・・・ストリップ装荷構成を持つTnP層、4
・・・光が導波される部分、10・・・単一波長半導体
レーザ、11・・・マツハチェンダー光変調器、12・
・・3デシベル(db)カップラー、 13,14・・
・導波型ピン(pin)ホトダイオード、2(1”n型
InP基板、21・・・GaInAsP光ガイド暦、2
2・・・低濃度口型rnP層、23・・・p型InP層
、24・・・p型電極、25・・・n型電極、26・・
・無反射コート膜、27・・・GaInAsP活性層、
28・・・GaInAsPガイド層、29・・・回折格
子、30・・・P型InP層、31・・p型電極、32
・・・GaInAsP光吸収暦、(ア)(イ)(つ)・
・・溝。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ストリップ装荷型半導体光導波路を塔載した光集
    積回路において、光ガイド層の光導波路部以外の部分に
    溝を設け、該溝により導波されなかった光をしや断させ
    ることを特徴とする光集積回路。
JP14994189A 1989-06-12 1989-06-12 光集積回路 Pending JPH0313906A (ja)

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JP14994189A JPH0313906A (ja) 1989-06-12 1989-06-12 光集積回路

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