JPH03156754A - 光磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
光磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPH03156754A JPH03156754A JP14858790A JP14858790A JPH03156754A JP H03156754 A JPH03156754 A JP H03156754A JP 14858790 A JP14858790 A JP 14858790A JP 14858790 A JP14858790 A JP 14858790A JP H03156754 A JPH03156754 A JP H03156754A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明は、基板上に希土類−遷移金属合金膜(以下、R
E−TM膜と称する。)を記録層として積層する光磁気
記録媒体の製造方法に関し、特に小さい外部磁界下にお
いても良好な磁界変調記録が可能な光磁気記録媒体を製
造する方法に関する。
E−TM膜と称する。)を記録層として積層する光磁気
記録媒体の製造方法に関し、特に小さい外部磁界下にお
いても良好な磁界変調記録が可能な光磁気記録媒体を製
造する方法に関する。
本発明は、基板上にRE−TM膜を記録層として積層す
る光磁気記録媒体の製造方法において、前記RE−TM
膜の表面に希土類金属層を成膜した後、基板を30分以
上保持するか、3X10−’〜I X 10− 1To
rrなる酸素分圧を存する雰囲気中、或いは3 Xl0
−” 〜I Xl0−1Torrなる酸素分圧及びlX
10− ’〜I X 10− 1Torrなる水蒸気
分圧を存する雰囲気中に基板を保持することにより、小
さい外部磁界下においても良好な記録再生特性を発揮す
る光磁気記録媒体の製造を可能とするものである。
る光磁気記録媒体の製造方法において、前記RE−TM
膜の表面に希土類金属層を成膜した後、基板を30分以
上保持するか、3X10−’〜I X 10− 1To
rrなる酸素分圧を存する雰囲気中、或いは3 Xl0
−” 〜I Xl0−1Torrなる酸素分圧及びlX
10− ’〜I X 10− 1Torrなる水蒸気
分圧を存する雰囲気中に基板を保持することにより、小
さい外部磁界下においても良好な記録再生特性を発揮す
る光磁気記録媒体の製造を可能とするものである。
〔従来の技術]
近年、書換え可能な高密度記録方式として、半導体レー
ザー光等の熱エネルギーを用いて(n性薄膜に磁区を書
き込んで情報を記録し、磁気光学効果を用いてこの情報
を読み出す光6n気記録方式が注目されている。
ザー光等の熱エネルギーを用いて(n性薄膜に磁区を書
き込んで情報を記録し、磁気光学効果を用いてこの情報
を読み出す光6n気記録方式が注目されている。
この光磁気記録方式に使用される記録材料としては、C
d、Tb、Dy等の希土類元素とFeCo等の遷移元素
とを組み合わせた非晶譬合金欣。
d、Tb、Dy等の希土類元素とFeCo等の遷移元素
とを組み合わせた非晶譬合金欣。
すなわちRE−TM膜が代表的なものである。RE−T
M膜は、■フェリ磁性であるために、キュリー点よりか
なり低い温度領域でも磁化が小さくまた垂直磁気異方性
エネルギーが大きいので高密度記録に必要な垂直磁化膜
となり易い、■非晶質であるため媒体ノイズが小さい、
■カー回転角が比較的大きい、■キュリー点が低く (
150〜200 ’C)。
M膜は、■フェリ磁性であるために、キュリー点よりか
なり低い温度領域でも磁化が小さくまた垂直磁気異方性
エネルギーが大きいので高密度記録に必要な垂直磁化膜
となり易い、■非晶質であるため媒体ノイズが小さい、
■カー回転角が比較的大きい、■キュリー点が低く (
150〜200 ’C)。
記録・消去パワーを市販の半導体レーザー(20〜40
mW)で実現できる等の数々の利点を有している。特に
、希土類元素としてTbを含むTbFeCo膜、GdT
bFe膜等は垂直磁気異方性が大きく、実用化に向けて
研究が進められているものである。
mW)で実現できる等の数々の利点を有している。特に
、希土類元素としてTbを含むTbFeCo膜、GdT
bFe膜等は垂直磁気異方性が大きく、実用化に向けて
研究が進められているものである。
(発明が解決しようとする課題]
ところで、光磁気記録媒体の記録方式には、常に直流外
部磁界を印加し、信号の有無に応してレーザー光を照射
する光変調方式と、常に一定強度のレーザー光を照射し
、信号に応して外部磁界を反転させる磁界変調方式があ
る。光変調方式については、装置構成が比較的簡単で済
むため早くから研究が行われてきた。しかし、既に記録
された部分に再記録を行う場合にオーバライドが不可能
であり、磁化の向きを一定方向に揃えるための消去動作
が必要となる分だけ書き込み速度が遅くなるという欠点
を有している。一方の磁界変調方式は、装置構成はやや
複雑となるものの、オーバライドが可能でコンピュータ
用ハードディスクに匹敵する高速記録が可能となり、実
用上の期待も大きい。
部磁界を印加し、信号の有無に応してレーザー光を照射
する光変調方式と、常に一定強度のレーザー光を照射し
、信号に応して外部磁界を反転させる磁界変調方式があ
る。光変調方式については、装置構成が比較的簡単で済
むため早くから研究が行われてきた。しかし、既に記録
された部分に再記録を行う場合にオーバライドが不可能
であり、磁化の向きを一定方向に揃えるための消去動作
が必要となる分だけ書き込み速度が遅くなるという欠点
を有している。一方の磁界変調方式は、装置構成はやや
複雑となるものの、オーバライドが可能でコンピュータ
用ハードディスクに匹敵する高速記録が可能となり、実
用上の期待も大きい。
ところが、従来主として光変調方式用に開発されてきた
光磁気記録媒体に磁界変調方式をそのまま適用しようと
しても、弱い外部磁界下における記録再生特性が不十分
であり実用に耐えない。そもそも磁界変調方式の場合、
磁気記録と比較して磁界を小さく絞り込む必要がないた
めに媒体表面とヘンドの間のスペーシングは磁気記録と
比べて1桁以上も大きく確保することができるが、その
分、有効記録磁界は弱くなる。さらに、高記録密度化を
目上して高周波変調を行おうとする場合には、発生磁界
の強さは一層弱くなる。このような弱い磁界中で十分な
記録再生特性を得るためには、光磁気記録媒体がより磁
化の反転を起こし易いものに改良されることが必須であ
る。
光磁気記録媒体に磁界変調方式をそのまま適用しようと
しても、弱い外部磁界下における記録再生特性が不十分
であり実用に耐えない。そもそも磁界変調方式の場合、
磁気記録と比較して磁界を小さく絞り込む必要がないた
めに媒体表面とヘンドの間のスペーシングは磁気記録と
比べて1桁以上も大きく確保することができるが、その
分、有効記録磁界は弱くなる。さらに、高記録密度化を
目上して高周波変調を行おうとする場合には、発生磁界
の強さは一層弱くなる。このような弱い磁界中で十分な
記録再生特性を得るためには、光磁気記録媒体がより磁
化の反転を起こし易いものに改良されることが必須であ
る。
そこで本発明は、上述の問題点を解決し、弱い外部磁界
下においても良好な磁界変調記録が可能な光磁気記録媒
体の製造方法の提供を目的とする。
下においても良好な磁界変調記録が可能な光磁気記録媒
体の製造方法の提供を目的とする。
本発明にかかる光磁気記録媒体の製造方法は、上述の目
的を達成するために堤案されるものである。
的を達成するために堤案されるものである。
すなわち本発明の第1の発明にかかる光磁気記録媒体の
製造方法は、基板上にRE−TM膜を積層する光磁気記
録媒体の製造方法であって、前記RE−TM膜の表面に
希土類金属層を成膜した後、7iを30分以上保持する
ことを特徴とするものである。
製造方法は、基板上にRE−TM膜を積層する光磁気記
録媒体の製造方法であって、前記RE−TM膜の表面に
希土類金属層を成膜した後、7iを30分以上保持する
ことを特徴とするものである。
また、本発明の第2の発明にかかる光磁気記録媒体の製
造方法は、前記RE−TM膜の表面に希土類金属層を成
膜した後、3X10−’〜1×10川T。
造方法は、前記RE−TM膜の表面に希土類金属層を成
膜した後、3X10−’〜1×10川T。
rrなる酸素分圧を存する雰囲気中に基板を保持するこ
とを特徴とするものである。
とを特徴とするものである。
さらに、本発明の第3の発明にかかる光磁気記録媒体の
製造方法は、前記RE−TM膜の表面に希土類金属層を
成膜した後、3X10−’〜lXl0−Torrなる酸
素分圧及びI Xl0−’〜I Xl0−1Torrな
る水蒸気分圧を有する雰囲気中に基板を保持することを
特徴とする。
製造方法は、前記RE−TM膜の表面に希土類金属層を
成膜した後、3X10−’〜lXl0−Torrなる酸
素分圧及びI Xl0−’〜I Xl0−1Torrな
る水蒸気分圧を有する雰囲気中に基板を保持することを
特徴とする。
光iff気記録媒体を構成するRE−TM膜および希土
類金属層は、スパッタリング1分子線エピタキシー、真
空蒸着等の真空薄膜形成技術により基板上に成膜するこ
とができる。
類金属層は、スパッタリング1分子線エピタキシー、真
空蒸着等の真空薄膜形成技術により基板上に成膜するこ
とができる。
また、基板の材料としては、ガラス、ポリカーボネート
、PMMA (ポリメチルメタクリレート)。
、PMMA (ポリメチルメタクリレート)。
セラミクス、シリコンウェハ等が使用可能である。
ここで、特に基板としてポリカーボネート基板を使用す
る場合には、3 Xl0−’−I Xl0−1Torr
なる酸素分圧を有する雰囲気中に基板を保持することが
好ましい。即ち、本発明の第2の発明にかかる光磁気記
録媒体の製造方法を適用することが好ましい。同様に、
基板としてガラス2p(ガラス基板上に光重合法により
グループやビット等の凹凸を有する光硬化樹脂層が形成
された基板)を使用する場合には、3 Xl0−’〜I
Xl0−1Torrなる酸素分圧及び1×lO−?〜
I Xl0−1Torrなる水蒸気分圧を有する雰囲気
中に基板を保持することが好ましい。即ち、本発明の第
3の発明にかかる光磁気記録媒体の製造方法を適用する
ことが好ましい。
る場合には、3 Xl0−’−I Xl0−1Torr
なる酸素分圧を有する雰囲気中に基板を保持することが
好ましい。即ち、本発明の第2の発明にかかる光磁気記
録媒体の製造方法を適用することが好ましい。同様に、
基板としてガラス2p(ガラス基板上に光重合法により
グループやビット等の凹凸を有する光硬化樹脂層が形成
された基板)を使用する場合には、3 Xl0−’〜I
Xl0−1Torrなる酸素分圧及び1×lO−?〜
I Xl0−1Torrなる水蒸気分圧を有する雰囲気
中に基板を保持することが好ましい。即ち、本発明の第
3の発明にかかる光磁気記録媒体の製造方法を適用する
ことが好ましい。
一方、上記RE−TM膜は、光磁気記録媒体における記
録層として機能する膜である。
録層として機能する膜である。
この膜を例えばスパッタリングにより成膜する方法とし
ては、希土類金属ターゲットと遷移金属ターゲットを使
用した二元同時スパッタリングを行う方法が便利である
。
ては、希土類金属ターゲットと遷移金属ターゲットを使
用した二元同時スパッタリングを行う方法が便利である
。
この二元同時スパッタリングの他にも、希土類金属と遷
移金属の2元系合金をターゲ7)として用いたスパッタ
リングを行っても良い。この場合、単に静止対向型のス
パッタリング装置としてもよいが、生産性等を考慮する
と、所謂通過型のスパッタリング装置とすることが好ま
しい。通過型のスパッタリング装置は、各成膜工程を行
うスバ・7り室を連続的に配置し、これらスパッタ室を
順次通過させることによって基板上に各膜を成膜するも
のである0例えば、第1のS’+yNa膜を成膜する第
1のスパンタ室、RE−TM膜を成膜する第2のスパッ
タ室、希土類金属層を成膜する第3のスパッタ室、第2
の5izNa膜を成膜する第4のスパッタ室を順次配置
すれば、基板上には4層構造の記録層が形成される。そ
して、前記第3のスパッタ室と第4のスパッタ室の間に
前記酸素分圧を有する処理室、或いは前記酸素分圧及び
水蒸気分圧を有する処理室を設ければ、基板に対する処
理を一連の工程の中で行うことが可能となる。或いは、
生産性を考えた場合には、回転型のスパッタリング装置
も有利である。この回転型のスパッタリング装置は、多
角柱形状を有する基板ホルダーの各側面に基板を取り付
け、該基板ホルダーを回転し、各側面の基板に順次成膜
するというものである。従って、例えば基板ホルダーが
六角柱であれば、6枚の基板を一度に処理できることに
なり、処理が済んだ基板は、そのまま前述の雰囲気中に
保持することも可能となる。
移金属の2元系合金をターゲ7)として用いたスパッタ
リングを行っても良い。この場合、単に静止対向型のス
パッタリング装置としてもよいが、生産性等を考慮する
と、所謂通過型のスパッタリング装置とすることが好ま
しい。通過型のスパッタリング装置は、各成膜工程を行
うスバ・7り室を連続的に配置し、これらスパッタ室を
順次通過させることによって基板上に各膜を成膜するも
のである0例えば、第1のS’+yNa膜を成膜する第
1のスパンタ室、RE−TM膜を成膜する第2のスパッ
タ室、希土類金属層を成膜する第3のスパッタ室、第2
の5izNa膜を成膜する第4のスパッタ室を順次配置
すれば、基板上には4層構造の記録層が形成される。そ
して、前記第3のスパッタ室と第4のスパッタ室の間に
前記酸素分圧を有する処理室、或いは前記酸素分圧及び
水蒸気分圧を有する処理室を設ければ、基板に対する処
理を一連の工程の中で行うことが可能となる。或いは、
生産性を考えた場合には、回転型のスパッタリング装置
も有利である。この回転型のスパッタリング装置は、多
角柱形状を有する基板ホルダーの各側面に基板を取り付
け、該基板ホルダーを回転し、各側面の基板に順次成膜
するというものである。従って、例えば基板ホルダーが
六角柱であれば、6枚の基板を一度に処理できることに
なり、処理が済んだ基板は、そのまま前述の雰囲気中に
保持することも可能となる。
また、このRETM膜の膜厚は、実用的な磁気光学特性
を達成する観点から、100〜1000人程度に選ぶこ
とが望ましい。
を達成する観点から、100〜1000人程度に選ぶこ
とが望ましい。
上記希土類金属層の膜厚は製造される光磁気記録媒体の
記録再生特性に影響を与え、1人よりも小さい場合には
低外部磁界下における記録・再生が困難となり、30人
より大きい場合にはノイズが増大し易くなる。従って、
該希土類金属層の膜厚は1〜30人程度に選ぶことが望
ましい。
記録再生特性に影響を与え、1人よりも小さい場合には
低外部磁界下における記録・再生が困難となり、30人
より大きい場合にはノイズが増大し易くなる。従って、
該希土類金属層の膜厚は1〜30人程度に選ぶことが望
ましい。
本発明の製造方法は、これらRE−TM膜および希土類
金属層を形成した後、基板を30分以上保持するか、3
Xl0−6〜l Xl0−1Torrなる酸素分圧を
有する雰囲気中に基板を保持するか、もしくは3 XI
F’〜l Xl0−1Torrなる酸素分圧及び1×1
01〜I X 10−1Torrなる水蒸気分圧を有す
る雰囲気中に基板を保持することを最大の特徴としてい
る。
金属層を形成した後、基板を30分以上保持するか、3
Xl0−6〜l Xl0−1Torrなる酸素分圧を
有する雰囲気中に基板を保持するか、もしくは3 XI
F’〜l Xl0−1Torrなる酸素分圧及び1×1
01〜I X 10−1Torrなる水蒸気分圧を有す
る雰囲気中に基板を保持することを最大の特徴としてい
る。
希土類金属層を成膜した後に30分以上保持する場合に
は、該雰囲気の圧力を5XIO弓Torr以下としてお
くことが特に好ましい。たとえば成膜をスパッタリング
により行った場合には、スパッタリング雰囲気中にその
まま保持しておけば良い。
は、該雰囲気の圧力を5XIO弓Torr以下としてお
くことが特に好ましい。たとえば成膜をスパッタリング
により行った場合には、スパッタリング雰囲気中にその
まま保持しておけば良い。
また、酸素分圧を有する雰囲気中に保持する場合には、
酸素分圧は3 Xl0−’〜I Xl0−1Torrと
され、より好ましくは、I Xl0−’〜I Xl0−
3Torrとされる。なお、成膜時の雰囲気が当初から
上述の酸素分圧に設定されていれば問題はないが、そう
でない場合には外部から酸素を適宜導入して上述の酸素
分圧を達成しても良い。また、保持時間は任意であるが
、酸素分圧を一定とした場合に、CN比が最大となる最
適保持時間があること、更に、最適保持時間は酸素分圧
が大きいほど短くなる蛍光にあることから、酸素分圧に
応じて保持時間を設定することが好ましい。例えば、酸
素分圧を9X 10”5Torrとした場合には、保持
時間は3〜5分であり、酸素分圧を1.8 X 10−
1Torrとした場合には、保持時間は1.5〜2分で
ある。いずれの場合でも、10分以下と短く設定するこ
とが特に好ましい。これは、保持時間が10分を越える
と、CN比の劣化が見られる(外部磁界の強さを±75
0Cとした場合)という実験結果にもとづくものである
。
酸素分圧は3 Xl0−’〜I Xl0−1Torrと
され、より好ましくは、I Xl0−’〜I Xl0−
3Torrとされる。なお、成膜時の雰囲気が当初から
上述の酸素分圧に設定されていれば問題はないが、そう
でない場合には外部から酸素を適宜導入して上述の酸素
分圧を達成しても良い。また、保持時間は任意であるが
、酸素分圧を一定とした場合に、CN比が最大となる最
適保持時間があること、更に、最適保持時間は酸素分圧
が大きいほど短くなる蛍光にあることから、酸素分圧に
応じて保持時間を設定することが好ましい。例えば、酸
素分圧を9X 10”5Torrとした場合には、保持
時間は3〜5分であり、酸素分圧を1.8 X 10−
1Torrとした場合には、保持時間は1.5〜2分で
ある。いずれの場合でも、10分以下と短く設定するこ
とが特に好ましい。これは、保持時間が10分を越える
と、CN比の劣化が見られる(外部磁界の強さを±75
0Cとした場合)という実験結果にもとづくものである
。
また、3 Xl0−” I Xl0−1Torrなる酸
素分圧及びlXl0−’〜I Xl0−1Torrなる
水蒸気分圧を存する雰囲気中に基板を保持する場合、成
膜時の雰囲気が当初から上述の水蒸気分圧に設定されて
いれば問題はないが、そうでない場合には外部から水蒸
気を適宜導入して上述の水蒸気分圧を達成しても良い。
素分圧及びlXl0−’〜I Xl0−1Torrなる
水蒸気分圧を存する雰囲気中に基板を保持する場合、成
膜時の雰囲気が当初から上述の水蒸気分圧に設定されて
いれば問題はないが、そうでない場合には外部から水蒸
気を適宜導入して上述の水蒸気分圧を達成しても良い。
本発明の光磁気記録媒体の製造方法においては、上記R
E−TM膜および希土類金属層の成膜工程に引き続き、
さらに誘電体膜および反射膜の成膜工程を実施すること
とする。これらの膜は、通常はいずれも同一装置内で行
われる一連の工程により成膜されるが、上述のような基
板の保持が特に希土類金属層の成膜工程と誘電体膜の成
膜工程の間で行われることによって、記録時の必要外部
磁界の低減が可能となるからである。
E−TM膜および希土類金属層の成膜工程に引き続き、
さらに誘電体膜および反射膜の成膜工程を実施すること
とする。これらの膜は、通常はいずれも同一装置内で行
われる一連の工程により成膜されるが、上述のような基
板の保持が特に希土類金属層の成膜工程と誘電体膜の成
膜工程の間で行われることによって、記録時の必要外部
磁界の低減が可能となるからである。
上記誘電体膜は、耐蝕性の同士や多重反射によるカー回
転角の増大(カー効果エンハンスメント)を目的として
設けられるものであり、酸化物、窒化物、オキシナイト
ライド等の材料を真空薄膜形成技術により100〜20
00人の膜厚に成膜することにより得られる。この誘電
体膜は、基板とRE−TM膜の間に介在させても、RE
−TM膜の上に積層しても、あるいはその両方であって
も良い。
転角の増大(カー効果エンハンスメント)を目的として
設けられるものであり、酸化物、窒化物、オキシナイト
ライド等の材料を真空薄膜形成技術により100〜20
00人の膜厚に成膜することにより得られる。この誘電
体膜は、基板とRE−TM膜の間に介在させても、RE
−TM膜の上に積層しても、あるいはその両方であって
も良い。
上記反射膜は、RE−TM膜を透過したレーザー光をも
反射させることによりカー効果にファラデー効果を相乗
させ、回転角を拡大するために設けられるものである0
通常、Al、Au、PL。
反射させることによりカー効果にファラデー効果を相乗
させ、回転角を拡大するために設けられるものである0
通常、Al、Au、PL。
Cu等の金属材料を真空薄膜形成技術にて成膜すること
により得られる。
により得られる。
本発明の製造方法では、これら真空薄膜形成技術による
種々の成膜工程が終了した後に、さらに紫外線硬化樹脂
の塗布等による保護膜の形成を行っても良い。
種々の成膜工程が終了した後に、さらに紫外線硬化樹脂
の塗布等による保護膜の形成を行っても良い。
〔作用)
本発明の光磁気記録媒体の製造方法によれば、基板−ヒ
に希土類−遷移金属合金膜および希土類金属層を順次成
膜した後、基板を30分以上放置するか、3×10°h
〜l X 10−1Torrなる酸素分圧を存する雰囲
気中に短時間保持するか、もしくは3×10−’〜l
Xl0−1Torrなる酸素分圧及びlXl0−’〜I
X 10− 1Torrなる水蒸気分圧を有する雰囲
気中に保持する。いずれの場合にも希土類金属層の成膜
が終了した段階で基板が微量の酸素が存在する雰囲気中
に所定の時間だけ保持されることにより、小さい外部磁
界下においても良好な記録再生特性を発揮する光磁気記
録媒体の製造が可能となる。
に希土類−遷移金属合金膜および希土類金属層を順次成
膜した後、基板を30分以上放置するか、3×10°h
〜l X 10−1Torrなる酸素分圧を存する雰囲
気中に短時間保持するか、もしくは3×10−’〜l
Xl0−1Torrなる酸素分圧及びlXl0−’〜I
X 10− 1Torrなる水蒸気分圧を有する雰囲
気中に保持する。いずれの場合にも希土類金属層の成膜
が終了した段階で基板が微量の酸素が存在する雰囲気中
に所定の時間だけ保持されることにより、小さい外部磁
界下においても良好な記録再生特性を発揮する光磁気記
録媒体の製造が可能となる。
以下、本発明の好適な実施例について実験結果にもとづ
き説明する。
き説明する。
実施例1
本実施例は、基板上に誘電体膜、RE−TM膜、および
希土類金属層をスパッタリングにより順次積層した後、
3時間保持した例である。
希土類金属層をスパッタリングにより順次積層した後、
3時間保持した例である。
まず、本実施例において作成された光磁気記録媒体の概
略的な構成を第1回に示す。この光磁気記録媒体は、記
録・再生が基板側から行われることを前提としており、
基板(1)上に5izNnからなる第1の誘電体膜(2
a)、RE−7M膜として機能するTbFeCo膜(3
)、希土類金属層として機能するTb層(4)、5iz
Nnからなる第2の誘電体膜(2b)、A1反射膜(5
)、保3It改(6)がこの順序にて積層されたもので
ある。
略的な構成を第1回に示す。この光磁気記録媒体は、記
録・再生が基板側から行われることを前提としており、
基板(1)上に5izNnからなる第1の誘電体膜(2
a)、RE−7M膜として機能するTbFeCo膜(3
)、希土類金属層として機能するTb層(4)、5iz
Nnからなる第2の誘電体膜(2b)、A1反射膜(5
)、保3It改(6)がこの順序にて積層されたもので
ある。
かかる光磁気記録媒体は、以下のようにして作成した。
まず、上記第1の誘電体膜(2a)、TbFeC。
膜(3) 、T b層(4)、第2の誘電体膜(2b)
、反射膜(5)を連続工程により成膜するため、4元ス
パッタリング装置のチャンバー内にSi、Tb、FeC
o合金、A!の各ターゲットを載置した。
、反射膜(5)を連続工程により成膜するため、4元ス
パッタリング装置のチャンバー内にSi、Tb、FeC
o合金、A!の各ターゲットを載置した。
この装置によれば、各ターゲットに対応して設けられた
シャッターを開閉することにより、所望の膜を成膜する
ことができる。基板装着後、チャンバー内を排気し、バ
ックグラウンド真空度を1.0XIO−1Torrとし
た。
シャッターを開閉することにより、所望の膜を成膜する
ことができる。基板装着後、チャンバー内を排気し、バ
ックグラウンド真空度を1.0XIO−1Torrとし
た。
次に、1%の窒素ガスを含有するアルゴンガス雰囲気中
でガス圧3 Xl0−3TorrにてSiターゲットを
使用して高周波反応性スパッタリングを行い、所定の膜
厚の第1の誘電体膜(2a)を成膜した。
でガス圧3 Xl0−3TorrにてSiターゲットを
使用して高周波反応性スパッタリングを行い、所定の膜
厚の第1の誘電体膜(2a)を成膜した。
次に、TbクーゲットとFeCo合金ターゲットを使用
して直流同時二元スパッタリングを行い、所定の膜厚の
TbFeCo膜(3)を成膜した。
して直流同時二元スパッタリングを行い、所定の膜厚の
TbFeCo膜(3)を成膜した。
続いて、FeCo合金ターゲットに対応するシャッター
を閉じ、Tbクーゲットのみを使用して直流スパッタリ
ングを行い、膜厚5人のTb層(4)を成膜した。
を閉じ、Tbクーゲットのみを使用して直流スパッタリ
ングを行い、膜厚5人のTb層(4)を成膜した。
以上、第1の誘電体膜(2b)、TbFeCo膜(3)
、Tb層(4)の成膜終了後、上述の真空度に保ったま
まアルゴンガス圧を1.5 Xl0−’ Torrとし
て基板をチャンバー内で3時間保持した。
、Tb層(4)の成膜終了後、上述の真空度に保ったま
まアルゴンガス圧を1.5 Xl0−’ Torrとし
て基板をチャンバー内で3時間保持した。
次に、再びSiターゲットを使用して高周波反応性スパ
ッタリングを行い、所定の膜厚の第2の誘電体膜(2b
)を成膜し、さらにAffiターゲットを使用して直流
スパッタリングにより、所定の膜厚のA1反射膜(5)
を成膜した。
ッタリングを行い、所定の膜厚の第2の誘電体膜(2b
)を成膜し、さらにAffiターゲットを使用して直流
スパッタリングにより、所定の膜厚のA1反射膜(5)
を成膜した。
最後に、上記A2反射M(5)の表面に紫外線硬化樹脂
を塗布することにより保護膜(6)を形成し、光磁気記
録媒体を完成した。
を塗布することにより保護膜(6)を形成し、光磁気記
録媒体を完成した。
実施例2
本実施例は、基板上に誘電体膜、RE−7M膜、および
希土類金属層をスパッタリングにより順次積層した後、
所定の酸素分圧下に5分間保持した例である。
希土類金属層をスパッタリングにより順次積層した後、
所定の酸素分圧下に5分間保持した例である。
本実施例において作成した光磁気記録媒体の構成は実施
例1と同様であり、製造方法もほぼ実施例1の記載に準
じた。ただし、第1の誘電体膜(2b)、TbFeCo
膜(3) 、T b層(4)の成膜が終了した後、3
X lo−5Torrの酸素分圧下で基板を5分間保持
した。
例1と同様であり、製造方法もほぼ実施例1の記載に準
じた。ただし、第1の誘電体膜(2b)、TbFeCo
膜(3) 、T b層(4)の成膜が終了した後、3
X lo−5Torrの酸素分圧下で基板を5分間保持
した。
以上の実施例1.実施例2および比較例1において作成
された各光磁気記録媒体について、磁界変調方式による
記録再生試験を行った。即ち、外部磁界の強さを±50
〜2500eの範囲で6通りに変化させ、これら各条件
下において線速度1.4m/秒2周波数750kHz、
半導体レーザーパワー4.5mWにて記録を行った後、
半導体レーザーパワーを0.6 mWとして再生を行っ
た。その再生波形の全周波数帯域について10kHzの
解像帯域で周波数スペクトラム分析を行い、CN比を求
めた。
された各光磁気記録媒体について、磁界変調方式による
記録再生試験を行った。即ち、外部磁界の強さを±50
〜2500eの範囲で6通りに変化させ、これら各条件
下において線速度1.4m/秒2周波数750kHz、
半導体レーザーパワー4.5mWにて記録を行った後、
半導体レーザーパワーを0.6 mWとして再生を行っ
た。その再生波形の全周波数帯域について10kHzの
解像帯域で周波数スペクトラム分析を行い、CN比を求
めた。
結果を第1表に示す。
比較例1
ここでは比較のために、第1の誘電体膜(2b)、Tb
FeCo膜(3)の成膜が終了した後、ただちに連続工
程により第2の誘電体膜 (2b)、A2反射膜(5)
を成膜し、Tb層(4)を除いて実施例と同し構成の光
磁気記録媒体を作成した。
FeCo膜(3)の成膜が終了した後、ただちに連続工
程により第2の誘電体膜 (2b)、A2反射膜(5)
を成膜し、Tb層(4)を除いて実施例と同し構成の光
磁気記録媒体を作成した。
高品位のデジタル記録再生を行うために必要なCN比を
一般に45dB以上と考えて第1表をみると、比較例で
はこの値を達成するのに±1500eの強さの外部磁界
を要するのに対し、実施例1及び実施例2ではいずれも
±750eで十分であることがわかる。つまり、各実施
例では比較例に比べて必要外部磁界が半減できたことが
明らかである。
一般に45dB以上と考えて第1表をみると、比較例で
はこの値を達成するのに±1500eの強さの外部磁界
を要するのに対し、実施例1及び実施例2ではいずれも
±750eで十分であることがわかる。つまり、各実施
例では比較例に比べて必要外部磁界が半減できたことが
明らかである。
実施例3〜5
実施例3〜5は、ガラス22基板を用い、該基板上に誘
電体膜、RE−TM膜、および希土類金属層をスパッタ
リングにより順次積層した後、所定の酸素分圧及び水蒸
気分圧をそれぞれ存する雰囲気中にて3分間保持した例
である。
電体膜、RE−TM膜、および希土類金属層をスパッタ
リングにより順次積層した後、所定の酸素分圧及び水蒸
気分圧をそれぞれ存する雰囲気中にて3分間保持した例
である。
実施例3〜5において作成した光磁気記録媒体の構成は
実施例1と同様であり、製造方法もほぼ実施例1の記載
に準じた。但し、第1の誘電体膜(2b)、TbFeC
o膜(3) 、T bl(4)の成膜が終了した後、酸
素分圧及び水蒸気分圧をそれぞれ第2表に示す通りに調
節した雰囲気中にて基板を3分間保持した。
実施例1と同様であり、製造方法もほぼ実施例1の記載
に準じた。但し、第1の誘電体膜(2b)、TbFeC
o膜(3) 、T bl(4)の成膜が終了した後、酸
素分圧及び水蒸気分圧をそれぞれ第2表に示す通りに調
節した雰囲気中にて基板を3分間保持した。
以上の実施例3〜5において作成された各光磁気記録媒
体について上述の磁界変調方式による記録再生試験と同
様の方法により各CN比を調べた。
体について上述の磁界変調方式による記録再生試験と同
様の方法により各CN比を調べた。
但し、外部磁界の強さは±750eとした。結果を第2
表に示す。
表に示す。
第2表
われる磁界変調方式においても、良好な記録再生特性を
確保することができる。
確保することができる。
以上の説明からも明らかなように、本発明によれば、極
めて簡単な操作により、従来の光磁気記録媒体に比べて
必要外部磁界が半減できる。したがって、比較的弱い外
部磁界下で記録が行われる磁界変調方式においても、良
好な記録再生特性を発揮する光磁気記録媒体の製造が可
能となる。
めて簡単な操作により、従来の光磁気記録媒体に比べて
必要外部磁界が半減できる。したがって、比較的弱い外
部磁界下で記録が行われる磁界変調方式においても、良
好な記録再生特性を発揮する光磁気記録媒体の製造が可
能となる。
第1図は本発明を適用して製造される光磁気記録媒体の
一構成例を示す概略断面図である。 第2表に示すように、外部磁界の強さを±750eとし
た場合でも、実施例3〜5では、高品位のデジタル記録
再生を行うために必要とされる45dB以上のCN比を
十分に達成していることが判った。従って、比較的弱い
外部磁界下で記録が行革板 第1の誘電体膜 第2の誘電体膜 TbFe(、o膜 4 ・・・ Tb層 5 ・・・ A2反射膜 6 ・・・ 保護膜
一構成例を示す概略断面図である。 第2表に示すように、外部磁界の強さを±750eとし
た場合でも、実施例3〜5では、高品位のデジタル記録
再生を行うために必要とされる45dB以上のCN比を
十分に達成していることが判った。従って、比較的弱い
外部磁界下で記録が行革板 第1の誘電体膜 第2の誘電体膜 TbFe(、o膜 4 ・・・ Tb層 5 ・・・ A2反射膜 6 ・・・ 保護膜
Claims (3)
- (1)基板上に希土類−遷移金属合金膜を積層する光磁
気記録媒体の製造方法において、 前記希土類−遷移金属合金膜の表面に希土類金属層を成
膜した後、基板を30分以上保持することを特徴とする
光磁気記録媒体の製造方法。 - (2)基板上に希土類−遷移金属合金膜を積層する光磁
気記録媒体の製造方法において、 前記希土類−遷移金属合金膜の表面に希土類金属層を成
膜した後、3×10^−^6〜1×10^−^1Tor
rなる酸素分圧を有する雰囲気中に基板を保持すること
を特徴とする光磁気記録媒体の製造方法。 - (3)基板上に希土類−遷移金属合金膜を積層する光磁
気記録媒体の製造方法において、 前記希土類−遷移金属合金膜の表面に希土類金属層を成
膜した後、3×10^−^6〜1×10^−^1Tor
rなる酸素分圧及び1×10^−^7〜1×10^−^
4Torrなる水蒸気分圧を有する雰囲気中に基板を保
持することを特徴とする光磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14858790A JP2830385B2 (ja) | 1989-08-31 | 1990-06-08 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1-225310 | 1989-08-31 | ||
| JP22531089 | 1989-08-31 | ||
| JP14858790A JP2830385B2 (ja) | 1989-08-31 | 1990-06-08 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03156754A true JPH03156754A (ja) | 1991-07-04 |
| JP2830385B2 JP2830385B2 (ja) | 1998-12-02 |
Family
ID=26478737
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14858790A Expired - Fee Related JP2830385B2 (ja) | 1989-08-31 | 1990-06-08 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2830385B2 (ja) |
-
1990
- 1990-06-08 JP JP14858790A patent/JP2830385B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2830385B2 (ja) | 1998-12-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |