JPH0315961B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0315961B2 JPH0315961B2 JP24848783A JP24848783A JPH0315961B2 JP H0315961 B2 JPH0315961 B2 JP H0315961B2 JP 24848783 A JP24848783 A JP 24848783A JP 24848783 A JP24848783 A JP 24848783A JP H0315961 B2 JPH0315961 B2 JP H0315961B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- voltage
- sample
- power supply
- integrator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、交流電源に接続されたひずみゲージ
を含むブリツジ回路の出力からひずみ量を測定す
るひずみ測定回路に関する。
を含むブリツジ回路の出力からひずみ量を測定す
るひずみ測定回路に関する。
従来この種の回路では、該ブリツジ回路の出力
信号を増幅した後検波回路、平滑回路を用いて復
調し、デイジタル量に変換していたが、検波回路
以降の零点変動が出力に加算され、また回路が複
雑になり、ノイズの影響も受けやすい等の不都合
があり、また多点測定の場合、平滑回路の特性上
高速では切換えができず、高速に測定しようとす
ると増幅器や平滑回路等が点数分必要となる不都
合があつた。
信号を増幅した後検波回路、平滑回路を用いて復
調し、デイジタル量に変換していたが、検波回路
以降の零点変動が出力に加算され、また回路が複
雑になり、ノイズの影響も受けやすい等の不都合
があり、また多点測定の場合、平滑回路の特性上
高速では切換えができず、高速に測定しようとす
ると増幅器や平滑回路等が点数分必要となる不都
合があつた。
本発明は、かかる不都合の無いひずみ測定回路
を提供することをその目的としたもので、交流電
源に接続されたひずみゲージを含むプリツジ回路
の出力信号を交流増幅器を介して積分器に供給
し、該積分器で出力信号を交流電源電圧の各半周
期において積分し、その積分電圧をサンプルホー
ルド回路でサンプルホールドし、互に隣接する交
流電圧の半周期における各サンプルホールド値の
算術平均を演算回路で行うようにしたことを特徴
とする。
を提供することをその目的としたもので、交流電
源に接続されたひずみゲージを含むプリツジ回路
の出力信号を交流増幅器を介して積分器に供給
し、該積分器で出力信号を交流電源電圧の各半周
期において積分し、その積分電圧をサンプルホー
ルド回路でサンプルホールドし、互に隣接する交
流電圧の半周期における各サンプルホールド値の
算術平均を演算回路で行うようにしたことを特徴
とする。
以下本発明の実施例を図面につき説明する。
第１図において、１はブリツジ電源２に接続さ
れた、機械的ひずみを受けることによつて抵抗変
化を生ずるひずみゲージを含む抵抗体によつて構
成されるブリツジ回路、３は交流増幅器、４はブ
リツジ電源電圧の各半周期における2/3の区間入
力信号を積分する積分器、５は積分器４で積分さ
れた電圧を各半周期毎にサンプルホールドするサ
ンプルホールド回路、６はＡ−Ｄ変換器、７はブ
リツジ電源２の正の半サイクルと負サイクルにお
ける各サンプルホールド値の差の平均を行う演算
回路、８は前記積分器４、サンプルホールド回路
５及び演算回路７をそれぞれ後に詳述するような
所定の動作をさせるためのコントロール回路であ
る。
れた、機械的ひずみを受けることによつて抵抗変
化を生ずるひずみゲージを含む抵抗体によつて構
成されるブリツジ回路、３は交流増幅器、４はブ
リツジ電源電圧の各半周期における2/3の区間入
力信号を積分する積分器、５は積分器４で積分さ
れた電圧を各半周期毎にサンプルホールドするサ
ンプルホールド回路、６はＡ−Ｄ変換器、７はブ
リツジ電源２の正の半サイクルと負サイクルにお
ける各サンプルホールド値の差の平均を行う演算
回路、８は前記積分器４、サンプルホールド回路
５及び演算回路７をそれぞれ後に詳述するような
所定の動作をさせるためのコントロール回路であ
る。
次にその作動について説明すると、ブリツジ回
路１の出力信号はブリツジ電源２の電圧（第２図
Ａ）により変調された信号で、交流増幅器３で増
幅器され積分器４に入力する（第２図Ｂ）。この
積分器４では、ブリツジ電源電圧の各半周期にお
けるその2/3の区間入力信号を積分する。入力信
号が一定の時は、第２図Ｃに示すように、入力信
号は各半周期毎に入力信号に比例した電圧VIま
で正及び負方向に積分される。積分電圧VI、−VI
はサンプルホールド回路５でサンプルホールドさ
れて（第２図Ｄ）後Ａ−Ｄ変換器６でＡ−Ｄ変換
されてデイジタル値となり演算回路７に入力す
る。演算回路７では、ブリツジ電源電圧の負のサ
イクル時のデイジタル値（VI）の極性反転を行
ない、正の半サイクル時のデイジタル値（VI＋
ΔV）と加算して後２で割算を行う。
路１の出力信号はブリツジ電源２の電圧（第２図
Ａ）により変調された信号で、交流増幅器３で増
幅器され積分器４に入力する（第２図Ｂ）。この
積分器４では、ブリツジ電源電圧の各半周期にお
けるその2/3の区間入力信号を積分する。入力信
号が一定の時は、第２図Ｃに示すように、入力信
号は各半周期毎に入力信号に比例した電圧VIま
で正及び負方向に積分される。積分電圧VI、−VI
はサンプルホールド回路５でサンプルホールドさ
れて（第２図Ｄ）後Ａ−Ｄ変換器６でＡ−Ｄ変換
されてデイジタル値となり演算回路７に入力す
る。演算回路７では、ブリツジ電源電圧の負のサ
イクル時のデイジタル値（VI）の極性反転を行
ない、正の半サイクル時のデイジタル値（VI＋
ΔV）と加算して後２で割算を行う。
このΔVは積分回路４以後の零点変動によるド
リフト電圧であり、以上の演算処理により （VI＋ΔV）−（−VI＋ΔV）／２＝VI となつてドリフト電圧が除去された出力信号に比
例した電圧が出力する。
リフト電圧であり、以上の演算処理により （VI＋ΔV）−（−VI＋ΔV）／２＝VI となつてドリフト電圧が除去された出力信号に比
例した電圧が出力する。
ブリツジ回路１の出力信号に第３図Ａに示すよ
うにブリツジ電源電圧の第３高調波Ｈが含まれる
ときは、積分器４においてブリツジ電源電圧の半
周期Toの2/3の期間積分が行なわれるので、第３
図Ｂに示すように正負相殺されて第３高調波は除
去される。
うにブリツジ電源電圧の第３高調波Ｈが含まれる
ときは、積分器４においてブリツジ電源電圧の半
周期Toの2/3の期間積分が行なわれるので、第３
図Ｂに示すように正負相殺されて第３高調波は除
去される。
尚以上の実施例では、Ａ−Ｄ変換回路６を用い
てデイジタル量に変換しているが、アナログ量の
まゝ演算回路で演算処理してもよい。
てデイジタル量に変換しているが、アナログ量の
まゝ演算回路で演算処理してもよい。
このように本発明によるときはブリツジ回路の
出力信号を交流増幅器を介して積分器に供給し、
該積分器で出力信号を交流電源電圧の各半周期に
おいて積分し、その積分電圧をサンプルホールド
回路でサンプルホールドし、互に隣接する交流電
圧の半周期における各サンプルホールド値の算術
平均を演算回路で行なうようにしたので、ドリフ
ト電圧が除去でき、またノイズの影響も少ない等
の効果を有する。また多点測定の場合、交流増幅
器３の入力側に切換器を挿入することにより１点
の増幅器等を設けるだけですみ、構成が簡単にな
る効果を有する。
出力信号を交流増幅器を介して積分器に供給し、
該積分器で出力信号を交流電源電圧の各半周期に
おいて積分し、その積分電圧をサンプルホールド
回路でサンプルホールドし、互に隣接する交流電
圧の半周期における各サンプルホールド値の算術
平均を演算回路で行なうようにしたので、ドリフ
ト電圧が除去でき、またノイズの影響も少ない等
の効果を有する。また多点測定の場合、交流増幅
器３の入力側に切換器を挿入することにより１点
の増幅器等を設けるだけですみ、構成が簡単にな
る効果を有する。
第１図は本発明の一実施例のブロツク図、第２
図Ａ，Ｂ，Ｃ及びＤは第１図示の回路各部におけ
る波形図、第３図Ａ，Ｂは動作説明図を示す。 １……ひずみゲージを含むブリツジ回路、２…
…ブリツジ電源、３……交流増幅器、４……積分
器、５……サンプルホールド回路、６……Ａ−Ｄ
変換器、７……演算回路、８……コントロール回
路。
図Ａ，Ｂ，Ｃ及びＤは第１図示の回路各部におけ
る波形図、第３図Ａ，Ｂは動作説明図を示す。 １……ひずみゲージを含むブリツジ回路、２…
…ブリツジ電源、３……交流増幅器、４……積分
器、５……サンプルホールド回路、６……Ａ−Ｄ
変換器、７……演算回路、８……コントロール回
路。
Claims (1)
- １ 交流電源に接続されたひずみゲージを含むブ
リツジ回路の出力信号を交流増幅器を介して積分
器に供給し、該積分器で出力信号を交流電源電圧
の各半周期において積分し、その積分電圧をサン
プルホールド回路でサンプルホールドし、互に隣
接する交流電源の半周期における各サンプルホー
ルド値の算術平均を演算回路で行うようにしたこ
とを特徴とするひずみ測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24848783A JPS60143702A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | ひずみ測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24848783A JPS60143702A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | ひずみ測定回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60143702A JPS60143702A (ja) | 1985-07-30 |
| JPH0315961B2 true JPH0315961B2 (ja) | 1991-03-04 |
Family
ID=17178889
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24848783A Granted JPS60143702A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | ひずみ測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60143702A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4903312B2 (ja) * | 2001-01-17 | 2012-03-28 | 大和製衡株式会社 | 重量測定装置 |
-
1983
- 1983-12-29 JP JP24848783A patent/JPS60143702A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60143702A (ja) | 1985-07-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3960010A (en) | Analog-digital converter for a resistance bridge | |
| JPH0315961B2 (ja) | ||
| JP3085496B2 (ja) | サンプリング式測定装置 | |
| JPH0521026Y2 (ja) | ||
| JP3314843B2 (ja) | 交流測定装置 | |
| JPH0450510Y2 (ja) | ||
| JP2562046Y2 (ja) | 平均化演算回路 | |
| JPS623734Y2 (ja) | ||
| JPS6339613Y2 (ja) | ||
| SU1264204A2 (ru) | Устройство дл определени средней мощности случайных сигналов | |
| JPS6438030U (ja) | ||
| SU748868A1 (ru) | Способ экспериментального определени динамических характеристик преобразователей напр жение-частота | |
| JPH0348449B2 (ja) | ||
| JPH0548457A (ja) | センサ出力信号のａ／ｄ変換方法 | |
| JPH07110349A (ja) | 位相角測定装置 | |
| JPS6117300B2 (ja) | ||
| SU394829A1 (ru) | Впт g | |
| JPS60210773A (ja) | 積算電力計 | |
| JPH062343Y2 (ja) | 周波数測定用波形整形回路 | |
| JPS5925449B2 (ja) | 測光量変換装置 | |
| JPS6340034U (ja) | ||
| JPH02126723A (ja) | アナログデジタル変換器のオフセットキャンセル回路 | |
| JPS6055028B2 (ja) | 表面電位計 | |
| JPS6047347U (ja) | Ａ／ｄ変換器用自動測定装置 | |
| JPH044554B2 (ja) |