JPH0316005Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0316005Y2 JPH0316005Y2 JP1989125723U JP12572389U JPH0316005Y2 JP H0316005 Y2 JPH0316005 Y2 JP H0316005Y2 JP 1989125723 U JP1989125723 U JP 1989125723U JP 12572389 U JP12572389 U JP 12572389U JP H0316005 Y2 JPH0316005 Y2 JP H0316005Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- cladding
- thickness
- base material
- magnetic flux
- Prior art date
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
考案の背景
本考案は、金属の非破壊テストに関し、詳しく
は磁束伝導母材の上に張り付けられこの母材とは
透磁率の異なる磁束伝導クラツド材の厚さを測定
する装置に関する。
は磁束伝導母材の上に張り付けられこの母材とは
透磁率の異なる磁束伝導クラツド材の厚さを測定
する装置に関する。
侵食または熱の保護を要する原子力、石油化
学、及び他の産業にて使用される容器、パイプ、
及び他の部品は、母材の上にその特定の性質によ
つて選択されたクラツド材を張り付けたものが
時々製造される。このクラツド構造は容器、パイ
プ又は他の部品全体をクラツド材料だけで製造す
るよりも経済的である。クラツド材料は時々、容
器、パイプ又は他の部品の母材に溶接によつて張
り付けた後そのクラツド材を機械加工あるいは研
摩して表面仕上げされる。最初のクラツド厚さは
クラツド材を張り付けるに使用される特定の溶接
法から見積られるが、機械加工又は研摩後のクラ
ツド材の厚さを見積ることは難しい。
学、及び他の産業にて使用される容器、パイプ、
及び他の部品は、母材の上にその特定の性質によ
つて選択されたクラツド材を張り付けたものが
時々製造される。このクラツド構造は容器、パイ
プ又は他の部品全体をクラツド材料だけで製造す
るよりも経済的である。クラツド材料は時々、容
器、パイプ又は他の部品の母材に溶接によつて張
り付けた後そのクラツド材を機械加工あるいは研
摩して表面仕上げされる。最初のクラツド厚さは
クラツド材を張り付けるに使用される特定の溶接
法から見積られるが、機械加工又は研摩後のクラ
ツド材の厚さを見積ることは難しい。
クラツド材及び母材間の界面を検出することに
よつてクラツド材の厚さを測定する超音波法が使
われている。超音波法は、クラツド材が母材によ
り張り付いている時よりも母材によく張り付いて
いない時の方がうまく界面を検出する。クラツド
材が母材により張り付いているというより好まし
い条件においては、クラツド材の厚さの確実な超
音波決定は望まれない。
よつてクラツド材の厚さを測定する超音波法が使
われている。超音波法は、クラツド材が母材によ
り張り付いている時よりも母材によく張り付いて
いない時の方がうまく界面を検出する。クラツド
材が母材により張り付いているというより好まし
い条件においては、クラツド材の厚さの確実な超
音波決定は望まれない。
母材に張り付けられたクラツド材の表面に直角
な面に置いて磁石を引張ることによつてクラツド
厚さを測定する方法も使用されている。この方法
は破壊力を測定してクラツド厚さに対するその力
を相関させるものである。クラツド厚さを決定す
るこの方法は、クラツド材の透磁率が低く母材の
透磁率が高い場合の適用に限られる。
な面に置いて磁石を引張ることによつてクラツド
厚さを測定する方法も使用されている。この方法
は破壊力を測定してクラツド厚さに対するその力
を相関させるものである。クラツド厚さを決定す
るこの方法は、クラツド材の透磁率が低く母材の
透磁率が高い場合の適用に限られる。
したがつて、クラツド材の透磁率とは相違する
透磁率の磁束伝導母材に張り付けられた磁束伝導
クラツド材の厚さを決定する非破壊的な装置の必
要性がる。
透磁率の磁束伝導母材に張り付けられた磁束伝導
クラツド材の厚さを決定する非破壊的な装置の必
要性がる。
考案の概要
本考案は、磁束伝導クラツド材の厚さを非破壊
的に決定するためにコア型変圧器を使用してい
る。本考案は、磁束伝導クラツド材が磁束伝導母
材に張り付けられ、クラツド材の透磁率が母材の
透磁率と相違するものに適用される。コア型変圧
器の一次及び二次巻線は不完全コア及びクラツド
厚さ被測定材料を通つて伝導される相互磁界によ
つて相互接続されている。コアの3つの脚部は強
磁性材で、2つの脚部間にエアギヤツプを有し、
形状的には不完全なU字状をしている。磁束経路
はそのエアギヤツプ間に磁束伝導性のクラツド厚
さ被測定材料を置くことによつて完成される。
的に決定するためにコア型変圧器を使用してい
る。本考案は、磁束伝導クラツド材が磁束伝導母
材に張り付けられ、クラツド材の透磁率が母材の
透磁率と相違するものに適用される。コア型変圧
器の一次及び二次巻線は不完全コア及びクラツド
厚さ被測定材料を通つて伝導される相互磁界によ
つて相互接続されている。コアの3つの脚部は強
磁性材で、2つの脚部間にエアギヤツプを有し、
形状的には不完全なU字状をしている。磁束経路
はそのエアギヤツプ間に磁束伝導性のクラツド厚
さ被測定材料を置くことによつて完成される。
コア型変圧器の一次巻線には交流電圧が印加さ
れる。コア型変圧器の一次巻線及び二次巻線は不
完全コア及びクラツド厚さ被測定材料を通つて伝
導される相互磁界によつて相互接続される。二次
巻線に誘起される電圧の大きさは、一次巻線に印
加される電圧の大きさ、一次巻線の巻数に対する
二次巻線の巻数の比、及び磁束経路のリラクタン
スに依存する。
れる。コア型変圧器の一次巻線及び二次巻線は不
完全コア及びクラツド厚さ被測定材料を通つて伝
導される相互磁界によつて相互接続される。二次
巻線に誘起される電圧の大きさは、一次巻線に印
加される電圧の大きさ、一次巻線の巻数に対する
二次巻線の巻数の比、及び磁束経路のリラクタン
スに依存する。
一次巻線に印加された電圧の大きさに対して二
次巻線に誘起される電圧の大きさの比はクラツド
材の厚さの非破壊測定量である。巻数比は変わる
ものではない。一次巻線に印加された電圧の大き
さによつて二次巻線に誘起される電圧を正規化す
ることにより一次巻線に印加される電圧の大きさ
に無関係な電圧比が作られる。このように、電圧
比は一次巻線に印加される電圧の変化と無関係に
なる。巻数比がわかれば、電圧比は磁束経路のリ
ラクタンスのみに依存する。
次巻線に誘起される電圧の大きさの比はクラツド
材の厚さの非破壊測定量である。巻数比は変わる
ものではない。一次巻線に印加された電圧の大き
さによつて二次巻線に誘起される電圧を正規化す
ることにより一次巻線に印加される電圧の大きさ
に無関係な電圧比が作られる。このように、電圧
比は一次巻線に印加される電圧の変化と無関係に
なる。巻数比がわかれば、電圧比は磁束経路のリ
ラクタンスのみに依存する。
強磁性不完全コアのリラクタンスは一定であ
る。クラツド厚さ被測定材料のリラクタンスは、
クラツド材の組成、クラツド材の厚さ、及び母材
の組成に依存する。この3つの変数である、クラ
ツド材の組成、クラツド材の厚さ及び母材の組成
の各組合せにより予測電圧比が得られる。クラツ
ド材の組成及び母材の組成がわかれば、電圧比は
クラツド材の厚さの非破壊測定量となる。
る。クラツド厚さ被測定材料のリラクタンスは、
クラツド材の組成、クラツド材の厚さ、及び母材
の組成に依存する。この3つの変数である、クラ
ツド材の組成、クラツド材の厚さ及び母材の組成
の各組合せにより予測電圧比が得られる。クラツ
ド材の組成及び母材の組成がわかれば、電圧比は
クラツド材の厚さの非破壊測定量となる。
クラツド材の厚さは、電圧比とクラツド材の組
成との交点に近い目盛に基づき特定のクラツド材
−母材電圧比図表を参照することによつて決定さ
れる。このクラツド材−母材電圧比図表は、クラ
ツド材の組成、クラツド材の厚さ及び母材の組成
がわかつている多くのテストブロツクを使つて作
られる。母材の特定の組成に対して、テストブロ
ツクはクラツド材組成の範囲及びクラツド材厚さ
の範囲を変化させる。電圧比は、電圧が一次巻線
に印加されて各テストブロツクが一度に1個を不
完全コアのエアギヤツプ間に置かれた時に記録さ
れる。電圧比はゼロから巻数比まで変化する。
成との交点に近い目盛に基づき特定のクラツド材
−母材電圧比図表を参照することによつて決定さ
れる。このクラツド材−母材電圧比図表は、クラ
ツド材の組成、クラツド材の厚さ及び母材の組成
がわかつている多くのテストブロツクを使つて作
られる。母材の特定の組成に対して、テストブロ
ツクはクラツド材組成の範囲及びクラツド材厚さ
の範囲を変化させる。電圧比は、電圧が一次巻線
に印加されて各テストブロツクが一度に1個を不
完全コアのエアギヤツプ間に置かれた時に記録さ
れる。電圧比はゼロから巻数比まで変化する。
不完全コアは平らなU字状の強磁性積層体を特
定の奥行まで積重ねて作られる。クラツド厚さ被
測定材料と接触状態に置かれた不完全コアの端部
は積層体の任意の1つの平面に実質的に直角にテ
ーパが付けられている。テーパ付端部は積層体の
底部のところに直線の線分をもつたV字状の形を
形成している。テーパの先のところには積層体が
摩耗するのを防ぐためにコアの底全体に亘つて耐
摩耗材が挿入されている。このテーパは不完全コ
アがクラツド厚さ被測定材料と接しているところ
の磁束を集中させるものである。耐摩耗挿入体間
の距離はクラツド厚さ被測定材料の特定の長さを
制定するもので、この間を介して磁界が確立され
る。不完全コアの奥行は磁界の幅を確立する。同
じクラツド材−母材図表を使つて使用しようとす
るコア型変圧器のすべては、耐摩耗挿入体間の距
離を同じにし、不完全コアの奥行きを同じにし、
かつV字状のテーパを同じものにしなければなら
ない。
定の奥行まで積重ねて作られる。クラツド厚さ被
測定材料と接触状態に置かれた不完全コアの端部
は積層体の任意の1つの平面に実質的に直角にテ
ーパが付けられている。テーパ付端部は積層体の
底部のところに直線の線分をもつたV字状の形を
形成している。テーパの先のところには積層体が
摩耗するのを防ぐためにコアの底全体に亘つて耐
摩耗材が挿入されている。このテーパは不完全コ
アがクラツド厚さ被測定材料と接しているところ
の磁束を集中させるものである。耐摩耗挿入体間
の距離はクラツド厚さ被測定材料の特定の長さを
制定するもので、この間を介して磁界が確立され
る。不完全コアの奥行は磁界の幅を確立する。同
じクラツド材−母材図表を使つて使用しようとす
るコア型変圧器のすべては、耐摩耗挿入体間の距
離を同じにし、不完全コアの奥行きを同じにし、
かつV字状のテーパを同じものにしなければなら
ない。
好適な実施例は一次巻線に既知の大きさ及び周
波数の交流電圧を与えて二次巻線に電圧を誘起さ
せている。一次巻線に印加される電圧は既知の値
で一定に維持されている。これにより一次巻線に
印加される電圧によつて二次巻線に誘起される電
圧を正規化する必要性を除いている。二次巻線に
誘起される電圧の大きさは直接に使用することが
できる。
波数の交流電圧を与えて二次巻線に電圧を誘起さ
せている。一次巻線に印加される電圧は既知の値
で一定に維持されている。これにより一次巻線に
印加される電圧によつて二次巻線に誘起される電
圧を正規化する必要性を除いている。二次巻線に
誘起される電圧の大きさは直接に使用することが
できる。
二次巻線に誘起される電圧の大きさは、一次巻
線に印加される電圧の大きさ、二次巻線の巻数に
対する一次巻線の巻数の比、及び磁束経路のリラ
クタンスに依存する。このうち、一次巻線に印加
される電圧の大きさ、巻数比、及び不完全コアの
3つの強磁性脚部のリラクタンスは一定で変わら
ない。クラツド厚さ被測定材料は2つの平行な磁
束経路を与え、それぞれは異なつたリラクタンス
を有している。平行磁束経路の等価リラクタンス
は、クラツド材の組成、クラツド材の厚さ、及び
母材の組成に依存する。3つの変数であるクラツ
ド材の組成、クラツド材の厚さ、及び母材の組成
の各組合せにより、巻数比がわかつていて一次巻
線に印加される電圧がわかつていれば、二次巻線
には予測電圧が誘起される。クラツド材の組成及
び母材の組成がわかつていれば、二次巻線に誘起
される電圧はクラツド材の厚さの非破壊測定量と
なる。
線に印加される電圧の大きさ、二次巻線の巻数に
対する一次巻線の巻数の比、及び磁束経路のリラ
クタンスに依存する。このうち、一次巻線に印加
される電圧の大きさ、巻数比、及び不完全コアの
3つの強磁性脚部のリラクタンスは一定で変わら
ない。クラツド厚さ被測定材料は2つの平行な磁
束経路を与え、それぞれは異なつたリラクタンス
を有している。平行磁束経路の等価リラクタンス
は、クラツド材の組成、クラツド材の厚さ、及び
母材の組成に依存する。3つの変数であるクラツ
ド材の組成、クラツド材の厚さ、及び母材の組成
の各組合せにより、巻数比がわかつていて一次巻
線に印加される電圧がわかつていれば、二次巻線
には予測電圧が誘起される。クラツド材の組成及
び母材の組成がわかつていれば、二次巻線に誘起
される電圧はクラツド材の厚さの非破壊測定量と
なる。
クラツド材の厚さは、二次巻線に誘起された電
圧及びクラツド材の組成の交点に近い目盛に基づ
いて特定のクラツド材−母材図表を参照して決定
される。クラツド材−母材図表は、クラツド材の
組成、クラツド材の厚さ、及び母材の組成がわか
つている多くのテストブロックを使つて作られ
る。母材の特定の組成においては、テストブロッ
クはクラツド材組成の範囲及びクラツド材厚さの
範囲を変化させる。二次巻線に誘起された電圧
は、既知の電圧が一次巻線に印加されて各テスト
ブロックが一度に1つを不完全コア型変圧器のエ
アギヤツプ間に置かれた時、記録される。
圧及びクラツド材の組成の交点に近い目盛に基づ
いて特定のクラツド材−母材図表を参照して決定
される。クラツド材−母材図表は、クラツド材の
組成、クラツド材の厚さ、及び母材の組成がわか
つている多くのテストブロックを使つて作られ
る。母材の特定の組成においては、テストブロッ
クはクラツド材組成の範囲及びクラツド材厚さの
範囲を変化させる。二次巻線に誘起された電圧
は、既知の電圧が一次巻線に印加されて各テスト
ブロックが一度に1つを不完全コア型変圧器のエ
アギヤツプ間に置かれた時、記録される。
不完全コア型変圧器は耐摩耗挿入体間の距離の
半分までの厚さを決定するのに有効である。
半分までの厚さを決定するのに有効である。
好適な実施例の説明
第1図は、クラツド厚さ測定装置10を示す概
要図である。リード線50は一次巻線52を交流
電圧源96と電圧比計算器98とに接続してい
る。
要図である。リード線50は一次巻線52を交流
電圧源96と電圧比計算器98とに接続してい
る。
一次巻線52は不完全コア54の一部を取り巻
くよう示してある。一次巻線52に印加された電
圧は一次巻線52に電流を発生させ不完全コア5
2に磁界を発生させる。磁束回路はクラツド厚さ
被測定材料56によつて完成される。このクラツ
ド厚さ被測定材料56は母材厚さ60の母材58
とクラツド材厚さ64のクラツド材62とで成
る。ほぼすべての磁束線66は不完全コア54を
通過する。磁気回路を完成するには、磁束線66
の一部である磁束線68はクラツド材62を通過
する。磁束線66の残りの磁束線70はクラツド
材62、母材58、そして再びクラツド材62を
通過する。
くよう示してある。一次巻線52に印加された電
圧は一次巻線52に電流を発生させ不完全コア5
2に磁界を発生させる。磁束回路はクラツド厚さ
被測定材料56によつて完成される。このクラツ
ド厚さ被測定材料56は母材厚さ60の母材58
とクラツド材厚さ64のクラツド材62とで成
る。ほぼすべての磁束線66は不完全コア54を
通過する。磁気回路を完成するには、磁束線66
の一部である磁束線68はクラツド材62を通過
する。磁束線66の残りの磁束線70はクラツド
材62、母材58、そして再びクラツド材62を
通過する。
リード線38は二次巻線40を電圧比計算器9
8に接続している。
8に接続している。
電圧比計算器98は、一次巻線52に印加され
た電圧の大きさに対して二次巻線40に誘起され
た電圧の大きさの比を与えるものである。この電
圧比はクラツド材62の厚さ64の非破壊測定量
である。一次巻線52は300の巻数を有し、二次
巻線40は600の巻数を有している。巻数比は一
定である。一次巻線52に印加された電圧の大き
さによつて二次巻線40に誘起された電圧を正規
化することにより一次巻線52に印加される電圧
の大きさに無関係となる電圧比が作られる。この
ように、電圧比は電圧源96の電圧の変化に影響
されない。
た電圧の大きさに対して二次巻線40に誘起され
た電圧の大きさの比を与えるものである。この電
圧比はクラツド材62の厚さ64の非破壊測定量
である。一次巻線52は300の巻数を有し、二次
巻線40は600の巻数を有している。巻数比は一
定である。一次巻線52に印加された電圧の大き
さによつて二次巻線40に誘起された電圧を正規
化することにより一次巻線52に印加される電圧
の大きさに無関係となる電圧比が作られる。この
ように、電圧比は電圧源96の電圧の変化に影響
されない。
既知の巻数比においては、電圧比は磁束経路の
リラクタンスのみに依存する。不完全コア54の
リラクタンスは一定である。クラツド厚さ被測定
材料58のリラクタンスはクラツド材62の組
成、クラツド材の厚さ、及び母材の組成に依存す
る。これら3つの変数である、クラツド材の組
成、クラツド材の厚さ、及び母材の組成の各組合
せによつて電圧比を予測させることができる。ク
ラツド材62の組成及び母材58の組成がわたつ
ていれば、その電圧比はクラツド材62の厚さ6
4の非破壊測定量となる。
リラクタンスのみに依存する。不完全コア54の
リラクタンスは一定である。クラツド厚さ被測定
材料58のリラクタンスはクラツド材62の組
成、クラツド材の厚さ、及び母材の組成に依存す
る。これら3つの変数である、クラツド材の組
成、クラツド材の厚さ、及び母材の組成の各組合
せによつて電圧比を予測させることができる。ク
ラツド材62の組成及び母材58の組成がわたつ
ていれば、その電圧比はクラツド材62の厚さ6
4の非破壊測定量となる。
クラツド材62の厚さは、格別のクラツド材−
母材電圧比図表を参照して電圧比とクラツド材6
2の厚さとの交点に近い目盛から決定される。ク
ラツド材−母材電圧比図表は、フエライト番号の
範囲に亘つて炭素鋼の母材の上にステンレス鋼を
クラツドする場合を、左側の縦座標の目盛を使つ
て第3図のように示される。クラツド材−母材電
圧比図表はクラツド材の組成、クラツド材の厚
さ、及び母材の組成がわかつている多くのテスト
ブロツクも使つて作られる。母材の或る特定の組
成のものでは、テストブロツクはクラツド材組成
の範囲及びクラツド材厚さの範囲に亘つて測定す
る。電圧比は、電圧が一次巻線に印加され各テス
トブロツクが一度にひとつを不完全コア型式の変
圧器54のエアギヤツプに置かれた時に記録され
る。電圧比は0から巻数比まで及ぶ。
母材電圧比図表を参照して電圧比とクラツド材6
2の厚さとの交点に近い目盛から決定される。ク
ラツド材−母材電圧比図表は、フエライト番号の
範囲に亘つて炭素鋼の母材の上にステンレス鋼を
クラツドする場合を、左側の縦座標の目盛を使つ
て第3図のように示される。クラツド材−母材電
圧比図表はクラツド材の組成、クラツド材の厚
さ、及び母材の組成がわかつている多くのテスト
ブロツクも使つて作られる。母材の或る特定の組
成のものでは、テストブロツクはクラツド材組成
の範囲及びクラツド材厚さの範囲に亘つて測定す
る。電圧比は、電圧が一次巻線に印加され各テス
トブロツクが一度にひとつを不完全コア型式の変
圧器54のエアギヤツプに置かれた時に記録され
る。電圧比は0から巻数比まで及ぶ。
第2図は、一次巻線52に印加される電圧が一
定であるようなクラツド厚さ測定装置10の好適
な実施例を示す概略図である。リード線12は定
電圧出力変圧器14を交流電圧源16に接続して
いる。通常60Hzの交流電圧源16は117ボルト
rmsである。定電圧出力変圧器14は105〜130ボ
ルトの範囲に亘つて交流電圧源16の電圧変化を
吸収して117ボルトrmsに固定された出力電圧1
8を維持する。
定であるようなクラツド厚さ測定装置10の好適
な実施例を示す概略図である。リード線12は定
電圧出力変圧器14を交流電圧源16に接続して
いる。通常60Hzの交流電圧源16は117ボルト
rmsである。定電圧出力変圧器14は105〜130ボ
ルトの範囲に亘つて交流電圧源16の電圧変化を
吸収して117ボルトrmsに固定された出力電圧1
8を維持する。
電源20は一定の直流出力電圧を作る半波整流
回路である。降圧変圧器22の一次巻線はリード
線19によつて電圧源18に接続される。降圧変
圧器22の二次巻線は12.6ボルトの交流電圧が誘
起される。降圧変圧器22の二次巻線の第1リー
ド線はダイオード24のアノードに接続される。
コンデンサ26、抵抗28、及びコンデンサ30
はπ型フイルタを成している。ダイオード24の
カソードと降圧変圧器22の二次巻線の第2リー
ド線との間のπ型フイルタに供給された半波整流
電圧は直流電圧が負荷に印加される前にろ波され
て不要なリプルや電圧変動が除かれる。コンデン
サ26は25マイクロフアラツド、抵抗28は500
オーム、コンデンサ30は25マイクロフアラツド
である。
回路である。降圧変圧器22の一次巻線はリード
線19によつて電圧源18に接続される。降圧変
圧器22の二次巻線は12.6ボルトの交流電圧が誘
起される。降圧変圧器22の二次巻線の第1リー
ド線はダイオード24のアノードに接続される。
コンデンサ26、抵抗28、及びコンデンサ30
はπ型フイルタを成している。ダイオード24の
カソードと降圧変圧器22の二次巻線の第2リー
ド線との間のπ型フイルタに供給された半波整流
電圧は直流電圧が負荷に印加される前にろ波され
て不要なリプルや電圧変動が除かれる。コンデン
サ26は25マイクロフアラツド、抵抗28は500
オーム、コンデンサ30は25マイクロフアラツド
である。
ツエナーダイオード32はコンデンサ30と並
列に接続される。ツエナーダイオード32はコン
デンサ30のろ波電圧に残つているリプルにより
小さな9.1ボルトの降伏電圧を有している。この
結果、ゼロ調整ポテンシヨメータ34の両端は
9.1ボルト一定の直流電圧となる。ゼロ調整ポテ
ンシヨメータ34は10回転式25キロオームの可変
抵抗器である。ゼロ調整ポテンシヨメータ34の
共通端子に対する摺動子の電圧は出力電圧計器3
6に供給される。降圧変圧器22の二次巻線の第
2リード線も又、電圧計36に接続されている。
電圧計36は実効真値電圧を測定できる。3.5桁
表示のデイジタル電圧計である。リード線38は
二次巻線40をデイジタル電圧計36の電圧測定
端子に接続している。
列に接続される。ツエナーダイオード32はコン
デンサ30のろ波電圧に残つているリプルにより
小さな9.1ボルトの降伏電圧を有している。この
結果、ゼロ調整ポテンシヨメータ34の両端は
9.1ボルト一定の直流電圧となる。ゼロ調整ポテ
ンシヨメータ34は10回転式25キロオームの可変
抵抗器である。ゼロ調整ポテンシヨメータ34の
共通端子に対する摺動子の電圧は出力電圧計器3
6に供給される。降圧変圧器22の二次巻線の第
2リード線も又、電圧計36に接続されている。
電圧計36は実効真値電圧を測定できる。3.5桁
表示のデイジタル電圧計である。リード線38は
二次巻線40をデイジタル電圧計36の電圧測定
端子に接続している。
降圧変圧器42の一次巻線は定電圧源18に接
続されている。降圧変圧器42の二次巻線に誘起
された6.3ボルトの交流電圧は3つの直列の抵抗
に供給される。第1の電流制限用抵抗44は20オ
ーム、利得調整用ポテンシヨメータ46は10回転
式25オームのポテンシヨメータ、そして、第2の
電流制限用抵抗48は20オームの抵抗である。リ
ード線50は利得調整用ポテンシヨメータ46の
摺動子対共通端子間の電圧を一次巻線52に供給
する。
続されている。降圧変圧器42の二次巻線に誘起
された6.3ボルトの交流電圧は3つの直列の抵抗
に供給される。第1の電流制限用抵抗44は20オ
ーム、利得調整用ポテンシヨメータ46は10回転
式25オームのポテンシヨメータ、そして、第2の
電流制限用抵抗48は20オームの抵抗である。リ
ード線50は利得調整用ポテンシヨメータ46の
摺動子対共通端子間の電圧を一次巻線52に供給
する。
一次巻線52は不完全コア54の一部を取り囲
むよう示されている。一次巻線52に与えられる
電圧は一次巻線52に電流を流して不完全コア5
4の中に磁界を発生させる。磁束回路はクラツド
厚さ被測定材料56によつて完成される。クラツ
ド厚さ被測定材料56は母材厚さ60の母材58
とクラツド厚さ64のクラツド材62かとから成
る。すべての磁束線66は不完全コア54の中を
通る。磁気回路を完成させるために、磁束線66
の一部の磁束線68はクラツド材62の中を通
る。磁束線66の残りの磁束線70はクラツド材
62、母材58、そして再びクラツド材62を通
過する。
むよう示されている。一次巻線52に与えられる
電圧は一次巻線52に電流を流して不完全コア5
4の中に磁界を発生させる。磁束回路はクラツド
厚さ被測定材料56によつて完成される。クラツ
ド厚さ被測定材料56は母材厚さ60の母材58
とクラツド厚さ64のクラツド材62かとから成
る。すべての磁束線66は不完全コア54の中を
通る。磁気回路を完成させるために、磁束線66
の一部の磁束線68はクラツド材62の中を通
る。磁束線66の残りの磁束線70はクラツド材
62、母材58、そして再びクラツド材62を通
過する。
不完全コア54は積層型変圧器コアによつて作
られている。不完全コア54の積層コア構造にお
けるすべての積層体はU状で同じものである。積
層体の3つの脚部の夫々の均一な断面幅は0.9セ
ンチメートル(0.36インチ)である。積層体は奥
行き0.9センチメートル(0.36インチ)まで積層
される。積層された積層体の奥行きは利得、した
がつて後述するクラツド材−母材図表に影響を与
えるものである。
られている。不完全コア54の積層コア構造にお
けるすべての積層体はU状で同じものである。積
層体の3つの脚部の夫々の均一な断面幅は0.9セ
ンチメートル(0.36インチ)である。積層体は奥
行き0.9センチメートル(0.36インチ)まで積層
される。積層された積層体の奥行きは利得、した
がつて後述するクラツド材−母材図表に影響を与
えるものである。
不完全コア54は強磁性材の3つの脚部から成
る。300の巻数を有する一次巻線52は第1脚部
の回りに巻かれている。ハンドル72は不完全コ
ア54の第2脚部に装着されてそこから絶縁され
ている。600の巻数を有する二次巻線40は不完
全コア54の第3脚部に巻かれている。第2脚部
に接続されていない側の第1脚部の端部及び第3
脚部の端部は磁束経路におけるエアギヤツプを形
成するものであり、テーパが付けられている。こ
のテーパ付端部はV字状を成し、そのV字状の端
部のまん中には直線の線分を有している。この直
線の線分は各別の積層体のすべての平面に対して
実質的に直角である。クラツド厚さ被測定材料5
6はテーパ付端部と接触状態でエアギヤツプを横
切つて置かれる。積層体の摩耗を除くためには、
その摩耗特性に対応して選択された材料の挿入体
がテーパ付端部に挿入された材料の挿入体がテー
パ付端部に挿入されて摩耗要素74を構成してい
る。タングステン、304ステンレス鋼、又はステ
ライトの挿入体が使用される。
る。300の巻数を有する一次巻線52は第1脚部
の回りに巻かれている。ハンドル72は不完全コ
ア54の第2脚部に装着されてそこから絶縁され
ている。600の巻数を有する二次巻線40は不完
全コア54の第3脚部に巻かれている。第2脚部
に接続されていない側の第1脚部の端部及び第3
脚部の端部は磁束経路におけるエアギヤツプを形
成するものであり、テーパが付けられている。こ
のテーパ付端部はV字状を成し、そのV字状の端
部のまん中には直線の線分を有している。この直
線の線分は各別の積層体のすべての平面に対して
実質的に直角である。クラツド厚さ被測定材料5
6はテーパ付端部と接触状態でエアギヤツプを横
切つて置かれる。積層体の摩耗を除くためには、
その摩耗特性に対応して選択された材料の挿入体
がテーパ付端部に挿入された材料の挿入体がテー
パ付端部に挿入されて摩耗要素74を構成してい
る。タングステン、304ステンレス鋼、又はステ
ライトの挿入体が使用される。
積層体の平面に実質的に直角な直接の線分を形
成するために不完全コア54の第1及び第3脚部
の端部にテーパを付けることにより、不完全コア
54がクラツド厚さ被測定材料56と接触する部
分の磁束線が集中される。耐摩耗挿入体間の距離
は中を通つて磁界が発生しているクラツド厚さ被
測定材料56の特定の長さを成している。コア5
4の奥行は磁界の幅を成している。摩耗要素74
間の距離、すなわち距離76は2.5センチメート
ラ(1インチ)である。以下に述べるクラツド材
−母材図表はこの距離に依存し、この図表を使う
すべての不完全コア型変圧器はテーパ付端部間に
おいて同じ距離を有していなければならない。繰
返し精度を保証するには、同じクラツド材−母材
図表を使うすべてのコア型変圧器は同じV字状テ
ーパ付端部を有していなければならない。またテ
ーパ付端部は被覆面のクラツド厚さ測定を容易に
するものである。
成するために不完全コア54の第1及び第3脚部
の端部にテーパを付けることにより、不完全コア
54がクラツド厚さ被測定材料56と接触する部
分の磁束線が集中される。耐摩耗挿入体間の距離
は中を通つて磁界が発生しているクラツド厚さ被
測定材料56の特定の長さを成している。コア5
4の奥行は磁界の幅を成している。摩耗要素74
間の距離、すなわち距離76は2.5センチメート
ラ(1インチ)である。以下に述べるクラツド材
−母材図表はこの距離に依存し、この図表を使う
すべての不完全コア型変圧器はテーパ付端部間に
おいて同じ距離を有していなければならない。繰
返し精度を保証するには、同じクラツド材−母材
図表を使うすべてのコア型変圧器は同じV字状テ
ーパ付端部を有していなければならない。またテ
ーパ付端部は被覆面のクラツド厚さ測定を容易に
するものである。
材料の表面抵抗を決定するためにその材料を通
して電流を流すようにした表面抵抗測定法とは違
つて、本考案は材料56に磁束線を通してクラツ
ド材62の厚さ64を非破壊的に決定することに
ある。
して電流を流すようにした表面抵抗測定法とは違
つて、本考案は材料56に磁束線を通してクラツ
ド材62の厚さ64を非破壊的に決定することに
ある。
本考案は、交流電圧源18から降圧変圧器42
及び利得調整ポテンシヨメータ46を介して一次
巻線52へ交流電圧を印加することによつて使用
される。磁気材料の影響を与えないよう不完全コ
ア54を離しておきながら、ゼロ調整ポテンシヨ
メータ34を、二次巻線40で誘起電圧を測定す
る電圧計36がゼロを指示するまで調整する。不
完全コア54を磁気材料の影響から離しておくこ
とは、不完全コア54を磁気材料から離れた空気
中に保持することにより、又はエアギヤツプ間に
非磁性材料を摩耗要素74と接触状態にしておく
ことにより成すことができる。ゼロ調整の間、摩
耗要素74間のパーミアンスは最小である。又
は、リラクタンスはパーミアンスの逆数なので、
摩耗要素74間の磁力線に対するリラクタンスは
最大である。
及び利得調整ポテンシヨメータ46を介して一次
巻線52へ交流電圧を印加することによつて使用
される。磁気材料の影響を与えないよう不完全コ
ア54を離しておきながら、ゼロ調整ポテンシヨ
メータ34を、二次巻線40で誘起電圧を測定す
る電圧計36がゼロを指示するまで調整する。不
完全コア54を磁気材料の影響から離しておくこ
とは、不完全コア54を磁気材料から離れた空気
中に保持することにより、又はエアギヤツプ間に
非磁性材料を摩耗要素74と接触状態にしておく
ことにより成すことができる。ゼロ調整の間、摩
耗要素74間のパーミアンスは最小である。又
は、リラクタンスはパーミアンスの逆数なので、
摩耗要素74間の磁力線に対するリラクタンスは
最大である。
利得は摩耗要素74と接触状態にある不完全コ
ア54のエアギヤツプ間に、炭素鋼のような高磁
束伝導材料を置くことによつて調整される。高磁
束伝導材料の透磁率は少なくともテストされる母
材の透磁率と同じでなければならない。利得調整
ポテンシヨメータ46は二次巻線40の誘起電圧
を測定する電圧計36が500ミリボルトを示すま
で調整される。より高い磁束伝導材料は摩耗要素
74間の磁力線に対してより低いリラクタンスを
与える。
ア54のエアギヤツプ間に、炭素鋼のような高磁
束伝導材料を置くことによつて調整される。高磁
束伝導材料の透磁率は少なくともテストされる母
材の透磁率と同じでなければならない。利得調整
ポテンシヨメータ46は二次巻線40の誘起電圧
を測定する電圧計36が500ミリボルトを示すま
で調整される。より高い磁束伝導材料は摩耗要素
74間の磁力線に対してより低いリラクタンスを
与える。
もし、ゼロ調整及び利得調整が独立してになけ
れば、ゼロ調整及び利得調整を数回繰り返す必要
がある。ゼロ及び利得の調整は、不完全コア54
が磁性材料の影響から離れて位置されている時に
二次巻線40に誘起される電圧を示す電圧計36
がゼロボルトを示すまで、及び高磁束伝導材料が
摩耗要素74と接触状態でエアギヤツプ間に置か
れている時に二次巻線40に誘起される電圧を示
す電圧計36が500ミリボルトを示すまで、行な
われる。一次巻線52に印加される交流電圧の数
値がわかつていることは重要なことではない。一
次巻線52に印加される電圧が一定であること、
及び二次巻線40に誘起される電圧が、リラクタ
ンスが摩耗要素74の間で最大である時ゼロ、リ
ラクタンスが摩耗要素74の間で最小である時
500ミリボルトであることのみをわかればよい。
これらの条件を一旦調整すると、ゼロ調整ポテン
シヨメータ34及び利得調整ポテンシヨメータ4
6はクラツド厚さ測定装置10の使用の間変えな
くてよい。
れば、ゼロ調整及び利得調整を数回繰り返す必要
がある。ゼロ及び利得の調整は、不完全コア54
が磁性材料の影響から離れて位置されている時に
二次巻線40に誘起される電圧を示す電圧計36
がゼロボルトを示すまで、及び高磁束伝導材料が
摩耗要素74と接触状態でエアギヤツプ間に置か
れている時に二次巻線40に誘起される電圧を示
す電圧計36が500ミリボルトを示すまで、行な
われる。一次巻線52に印加される交流電圧の数
値がわかつていることは重要なことではない。一
次巻線52に印加される電圧が一定であること、
及び二次巻線40に誘起される電圧が、リラクタ
ンスが摩耗要素74の間で最大である時ゼロ、リ
ラクタンスが摩耗要素74の間で最小である時
500ミリボルトであることのみをわかればよい。
これらの条件を一旦調整すると、ゼロ調整ポテン
シヨメータ34及び利得調整ポテンシヨメータ4
6はクラツド厚さ測定装置10の使用の間変えな
くてよい。
上記の調整が完了すると、クラツド厚さ、クラ
ツド材及び母材がわかつているテストブロツクが
不完全コア54の摩耗要素74間に置かれる。二
次巻線40に誘起され電圧計36によつて示され
たと同じ電圧が記録される。クラツド厚さ、クラ
ツド材及び母材がわかつている別なテスロブロツ
クが、クラツド材組成の範囲及びクラツド材厚さ
の範囲内に亘つて、摩耗要素74間に置かれ、二
次巻線40に誘起された電圧が記録される。この
結果、各テストブロツクについて一連の点が得ら
れる。このテスト点は曲線を成すように結ばれ
る。一連の曲線からクラツド材−母材図表が得ら
れる。
ツド材及び母材がわかつているテストブロツクが
不完全コア54の摩耗要素74間に置かれる。二
次巻線40に誘起され電圧計36によつて示され
たと同じ電圧が記録される。クラツド厚さ、クラ
ツド材及び母材がわかつている別なテスロブロツ
クが、クラツド材組成の範囲及びクラツド材厚さ
の範囲内に亘つて、摩耗要素74間に置かれ、二
次巻線40に誘起された電圧が記録される。この
結果、各テストブロツクについて一連の点が得ら
れる。このテスト点は曲線を成すように結ばれ
る。一連の曲線からクラツド材−母材図表が得ら
れる。
第3図は、炭素鋼の母材にステンレス鋼をクラ
ツドする場合のクラツド材−母材図表を示してい
る。9本の曲線が示されている。クラツド厚さは
0〜1.27センチメートル(0〜0.5インチ)で変
化させている。クラツド材の組成は0から16まで
変化するフエライト番号によつて示される。曲線
78,80,82,84,86,88,90,9
2及び94はそれぞれ0,2,4,6,8,10,
12,14及び16のフエライト番号を持つたクラツド
材について示している。曲線78〜94はクラツ
ド製造にと広く使用されているフエライト番号の
範囲をカバーしている。曲線78〜94と同様な
曲線を含むクラツド材−母材図表はクラツド材−
母材の組合せ変化ごとに用意される。
ツドする場合のクラツド材−母材図表を示してい
る。9本の曲線が示されている。クラツド厚さは
0〜1.27センチメートル(0〜0.5インチ)で変
化させている。クラツド材の組成は0から16まで
変化するフエライト番号によつて示される。曲線
78,80,82,84,86,88,90,9
2及び94はそれぞれ0,2,4,6,8,10,
12,14及び16のフエライト番号を持つたクラツド
材について示している。曲線78〜94はクラツ
ド製造にと広く使用されているフエライト番号の
範囲をカバーしている。曲線78〜94と同様な
曲線を含むクラツド材−母材図表はクラツド材−
母材の組合せ変化ごとに用意される。
ゼロ及び利得調整が完了し、クラツド材−母材
図表が用意されると、不完全コア54はクラツド
厚さ被測定材料56と接触状態にある摩耗要素7
4と共にクラツド厚さ被測定材料56の上に置か
れる。二次巻線40に誘起され電圧計36によつ
て示された電圧が記録される。クラツド材のフエ
ライト含有量は任意の既知手段を使つて測定され
る。母材、クラツド材のフエライト番号及び二次
巻線40に誘起された電圧がわかれば、その母材
について第3図と同様のクラツド材−母材図表に
より、参照がなされる。二次巻線40に誘起され
た電圧を縦座標の図表に入れると、クラツド厚さ
は二次巻線40に誘起された電圧とクラツド材の
フエライト番号を表わす曲線との交点の下の横座
標目盛から読取られる。中間のフエライト番号を
入れることが必要である。
図表が用意されると、不完全コア54はクラツド
厚さ被測定材料56と接触状態にある摩耗要素7
4と共にクラツド厚さ被測定材料56の上に置か
れる。二次巻線40に誘起され電圧計36によつ
て示された電圧が記録される。クラツド材のフエ
ライト含有量は任意の既知手段を使つて測定され
る。母材、クラツド材のフエライト番号及び二次
巻線40に誘起された電圧がわかれば、その母材
について第3図と同様のクラツド材−母材図表に
より、参照がなされる。二次巻線40に誘起され
た電圧を縦座標の図表に入れると、クラツド厚さ
は二次巻線40に誘起された電圧とクラツド材の
フエライト番号を表わす曲線との交点の下の横座
標目盛から読取られる。中間のフエライト番号を
入れることが必要である。
二次巻線40に誘起される電圧の大きさは、一
次巻線52に印加される電圧、一次巻線52と二
次巻線40との巻数比、及び一次巻線52と二次
巻線40とを相互接続している磁束経路のリラク
タンスに依存する。一次巻線52に印加される電
圧は利得調整がポテンシヨメータ46が調整され
た時決められ、テスト中は一定に維持される。一
次巻線52は300の巻数比、二次巻線40は600の
巻数を有する。巻数比、すなわち一次巻線52の
巻数に対する二次巻線40の巻数の比は一定であ
る。一次巻線52と二次巻線40とを相互接続し
ている磁束経路のリラクタンスのみが変数であ
る。磁束経路は不完全コア54の3つの強磁性の
脚部とクラツド厚さ被測定材料56とから成る。
不完全コア54の3つの強磁性脚部のリラクタン
スは一定である。クラツド厚さ被測定材料56の
リラクタンスはクラツド材62の組成、クラツド
材の厚さ64、及び母材58の組成に依存する。
次巻線52に印加される電圧、一次巻線52と二
次巻線40との巻数比、及び一次巻線52と二次
巻線40とを相互接続している磁束経路のリラク
タンスに依存する。一次巻線52に印加される電
圧は利得調整がポテンシヨメータ46が調整され
た時決められ、テスト中は一定に維持される。一
次巻線52は300の巻数比、二次巻線40は600の
巻数を有する。巻数比、すなわち一次巻線52の
巻数に対する二次巻線40の巻数の比は一定であ
る。一次巻線52と二次巻線40とを相互接続し
ている磁束経路のリラクタンスのみが変数であ
る。磁束経路は不完全コア54の3つの強磁性の
脚部とクラツド厚さ被測定材料56とから成る。
不完全コア54の3つの強磁性脚部のリラクタン
スは一定である。クラツド厚さ被測定材料56の
リラクタンスはクラツド材62の組成、クラツド
材の厚さ64、及び母材58の組成に依存する。
異なつた透磁率の磁束伝導母材58の上の特定
の透磁率の磁束伝導クラツド材62は、不完全コ
ア54のエアギヤツプの間に置かれた時に、摩耗
要素74間のクラツド厚さ被測定材料56を介し
て通る平行磁束経路を与えることになる。2つの
平行なリラクタンスは組合せられて等価リラクタ
ンスを形成する。クラツド被測定材料56の等価
リラクタンスはクラツド材の組成、クラツド材の
厚さ、及び母材の組成に依存する。これら3つの
変数、すなわちクラツド材の組成クラツド材の厚
さ、及び母材の組成の各組合せにより、一次巻線
52に印加された既知電圧に対応する予測電圧を
二次巻線40に誘起させる。これら変数間の関係
は第3図のクラツド材−母材図表にて図式的に表
現される。これによつて、クラツド材62の組成
及び母材の組成がわかれば、二次巻線40に誘起
される電圧がクラツド材厚さ64の非破壊測定量
である。
の透磁率の磁束伝導クラツド材62は、不完全コ
ア54のエアギヤツプの間に置かれた時に、摩耗
要素74間のクラツド厚さ被測定材料56を介し
て通る平行磁束経路を与えることになる。2つの
平行なリラクタンスは組合せられて等価リラクタ
ンスを形成する。クラツド被測定材料56の等価
リラクタンスはクラツド材の組成、クラツド材の
厚さ、及び母材の組成に依存する。これら3つの
変数、すなわちクラツド材の組成クラツド材の厚
さ、及び母材の組成の各組合せにより、一次巻線
52に印加された既知電圧に対応する予測電圧を
二次巻線40に誘起させる。これら変数間の関係
は第3図のクラツド材−母材図表にて図式的に表
現される。これによつて、クラツド材62の組成
及び母材の組成がわかれば、二次巻線40に誘起
される電圧がクラツド材厚さ64の非破壊測定量
である。
第3図のクラツド材−母材図表を使う時、クラ
ツド材の組成はフエライト番号によつて決められ
る。
ツド材の組成はフエライト番号によつて決められ
る。
厚さ0.054センチメートル(0.025インチ)まで
のクラツド材は10〜25センチメートル(4〜10イ
ンチ)の範囲の母材に与えられている。これら適
用においては、母材58の厚さ60は二次巻線4
0に誘起される電圧に影響を与えていなかつた。
のクラツド材は10〜25センチメートル(4〜10イ
ンチ)の範囲の母材に与えられている。これら適
用においては、母材58の厚さ60は二次巻線4
0に誘起される電圧に影響を与えていなかつた。
不完全コア型変圧器は距離76の半分までのク
ラツド厚さを決定するのに有効である。不完全コ
ア型変圧器はわずか距離76の1/4までのクラツ
ド厚さを決定するのに使用されることが推奨され
ている。より薄いクラツド材を測定するために
は、より大きい距離76を持つた不完全コア型変
圧器を構成すべきである。
ラツド厚さを決定するのに有効である。不完全コ
ア型変圧器はわずか距離76の1/4までのクラツ
ド厚さを決定するのに使用されることが推奨され
ている。より薄いクラツド材を測定するために
は、より大きい距離76を持つた不完全コア型変
圧器を構成すべきである。
感度向上は巻数比を上げることによつて達成で
きる。もちろん、これには相当するクラツド材−
母材図表が必要である。
きる。もちろん、これには相当するクラツド材−
母材図表が必要である。
クラツド材の厚さを測定する前に、一般に、ク
ラツド材62の亀裂のようなきずが検出される。
したがつて、クラツド厚さ測定装置10の動作時
において、きずの影響を確認する必要はない。
ラツド材62の亀裂のようなきずが検出される。
したがつて、クラツド厚さ測定装置10の動作時
において、きずの影響を確認する必要はない。
一般に、機械加工され研摩されたクラツドをス
ポツト検査してクラツド材の厚さを決定するのが
適当である。しかし、加工物の上に格子を制定し
てその格子の各四角からクラツド厚さをとるよう
にしてもよい。
ポツト検査してクラツド材の厚さを決定するのが
適当である。しかし、加工物の上に格子を制定し
てその格子の各四角からクラツド厚さをとるよう
にしてもよい。
クラツド材が母材の上に接合されクラツド材及
び母材の透磁率が双方で相違していて比較的高い
ものである場合の適用についてのクラツド厚さ測
定装置10を述べた。また、クラツド厚さ測定装
置10は、金属母材上の塗料の厚さを測定する時
のような、クラツド材の透磁率が母材の透磁率よ
りも相当低いときのクラツド厚さの測定にも使用
することができる。クラツド材の透磁率が母材の
透磁率より相当低い場合の適用にあつて、クラツ
ド厚さ測定装置10は、クラツド材及び母材の両
透磁率が比較的高い場合のように、クラツド厚さ
のほぼ同じ範囲に亘つて有効であることがわかつ
ている。
び母材の透磁率が双方で相違していて比較的高い
ものである場合の適用についてのクラツド厚さ測
定装置10を述べた。また、クラツド厚さ測定装
置10は、金属母材上の塗料の厚さを測定する時
のような、クラツド材の透磁率が母材の透磁率よ
りも相当低いときのクラツド厚さの測定にも使用
することができる。クラツド材の透磁率が母材の
透磁率より相当低い場合の適用にあつて、クラツ
ド厚さ測定装置10は、クラツド材及び母材の両
透磁率が比較的高い場合のように、クラツド厚さ
のほぼ同じ範囲に亘つて有効であることがわかつ
ている。
第1図は不完全コア型変圧器と関連された電気
回路図及び耐摩耗挿入体、クラツド材、及び母材
を通る代表的な磁束線を示した不完全コア型変圧
器の側面図、第2図は一次巻線に印加される電圧
が一定である場合の本考案の実施例を示す図、第
3図はフエライト番号の範囲内の炭素鋼母材の上
にステンレス鋼のクラツドがある場合で1インチ
エアギヤツプによる二次巻線誘起電圧とクラツド
厚さとの関係を示す特定のクラツド材−母材図表
である。 10……クラツド厚さ測定装置、14……定電
圧出力変圧器、20……電源、34……ゼロ調整
ポテンシヨメータ、36……電圧計、40……二
次巻線、46……利得調整ポテンシヨメータ、5
2……一次巻線、54……不完全コア、58……
母材、62……クラツド材。
回路図及び耐摩耗挿入体、クラツド材、及び母材
を通る代表的な磁束線を示した不完全コア型変圧
器の側面図、第2図は一次巻線に印加される電圧
が一定である場合の本考案の実施例を示す図、第
3図はフエライト番号の範囲内の炭素鋼母材の上
にステンレス鋼のクラツドがある場合で1インチ
エアギヤツプによる二次巻線誘起電圧とクラツド
厚さとの関係を示す特定のクラツド材−母材図表
である。 10……クラツド厚さ測定装置、14……定電
圧出力変圧器、20……電源、34……ゼロ調整
ポテンシヨメータ、36……電圧計、40……二
次巻線、46……利得調整ポテンシヨメータ、5
2……一次巻線、54……不完全コア、58……
母材、62……クラツド材。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 定電圧交流電源と、 第1端子、第2端子及び分圧端子を有し前記
第1端子及び前記第2端子を前記定電圧交流電
源に接続した第1分圧器と、 一部を巻回している一次巻線、一部を巻回し
ている二次巻線、及びテーパが付けられた第1
端部及び第2端部を持つ第1及び第2の離間し
た脚部を有するコアであつて、そのテーパの頂
点には長さが実質的にコアの奥行でありコアの
平面に対して直角である直線の線分を形成して
クラツド厚さを測定する材料を接触させると
し、これによつてコアとクラツド厚さを測定す
る材料とを通つて磁束回路を完成させかつ所定
距離を置いて2つの直線の線分を与えてクラツ
ド厚さを測定する材料に特定の長さ及び幅に亘
つて磁界を確立させるとした不完全な変圧器コ
アと、 前記第1分圧器の前記分圧端子及び前記第2
端子を前記不完全な変圧器コアの前記一次巻線
に接続する手段と、 一定の直流電圧を供給する手段と、 第1端子、第2端子及び分圧端子を有しその
第1端子及び第2端子を前記一定の直流電圧を
供給する手段に接続した第2分圧器と、 電圧測定手段と、 前記第2分圧器の前記分圧端子及び前記第2
端子を前記電圧測定手段に接続してそれに電源
を供給する手段と、 前記二次巻線を前記電圧測定手段に接続する
手段と を備え、前記電圧測定手段は、電圧が前記一次
巻線に印加され、透磁率の異なる磁束伝導母材
上の磁束伝導クラツド材が第1端部及び第2端
部と接触状態に置かれて磁束回路が完成した時
に前記二次巻線に透起された電圧を測定するこ
とを特徴とする、透磁率の異なる磁束伝導母材
上の磁束伝導クラツド材の厚さを決定するクラ
ツド厚さ測定装置。 2 テーパ付端部の先端には耐摩耗挿入体が挿入
されていることを特徴とする請求項1記載の、
透磁率の異なる磁束伝導母材上の磁束伝導クラ
ツド材の厚さを決定するクラツド厚さ測定装
置。 3 磁束伝導母材の透磁率は磁束伝導クラツド材
の透磁率より大きいことを特徴とする請求項1
記載の、透磁率の異なる磁束伝導母材上の磁束
伝導クラツド材の厚さを決定するクラツド厚さ
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989125723U JPH0316005Y2 (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989125723U JPH0316005Y2 (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0267206U JPH0267206U (ja) | 1990-05-22 |
| JPH0316005Y2 true JPH0316005Y2 (ja) | 1991-04-08 |
Family
ID=31376582
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989125723U Expired JPH0316005Y2 (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0316005Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5648663B2 (ja) * | 2012-09-20 | 2015-01-07 | センサ・システム株式会社 | 焼入れ硬化層厚さの検査装置及びニッケルめっき皮膜厚さの検査装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5112118Y2 (ja) * | 1971-12-07 | 1976-04-01 | ||
| JPS5122461A (ja) * | 1974-08-19 | 1976-02-23 | Naito Densei Kogyo Co Ltd | Jikimakuatsukei |
| JPS5251601U (ja) * | 1975-10-13 | 1977-04-13 |
-
1989
- 1989-10-30 JP JP1989125723U patent/JPH0316005Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0267206U (ja) | 1990-05-22 |
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