JPH03164407A - 超伝導薄膜作製法 - Google Patents
超伝導薄膜作製法Info
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- JPH03164407A JPH03164407A JP30577189A JP30577189A JPH03164407A JP H03164407 A JPH03164407 A JP H03164407A JP 30577189 A JP30577189 A JP 30577189A JP 30577189 A JP30577189 A JP 30577189A JP H03164407 A JPH03164407 A JP H03164407A
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- Japan
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- thin film
- plasma
- laser
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- Pending
Links
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Landscapes
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- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(1)産業上の利用分野
本発明は、YBa2Cu30v−x及びBl2Ca2S
r 2C Ll 30+11等酸化物超伝導体薄膜の
製造方法に関するものである。
r 2C Ll 30+11等酸化物超伝導体薄膜の
製造方法に関するものである。
(2)従来の技術
レーザ・アブレーション法は、レーザのターゲソトへの
照射によりターゲットより原子状、分子状あるいはクラ
スター状原料を発生させて、それを基板上に堆積させ’
F4 ffIを形成する方法である。
照射によりターゲットより原子状、分子状あるいはクラ
スター状原料を発生させて、それを基板上に堆積させ’
F4 ffIを形成する方法である。
そのうち特に、エキシマレーザを使用するエキシマレー
ザアブしーション法は、20Onm付近の短波長領域の
高エネルギー光を使用する方法で、下記の利点があり薄
膜を高速且つ低温で得られる方法として注目されている
。
ザアブしーション法は、20Onm付近の短波長領域の
高エネルギー光を使用する方法で、下記の利点があり薄
膜を高速且つ低温で得られる方法として注目されている
。
■夕一ゲットと絹成とのずれの無い薄膜が得られる。
■雰囲気の圧力がITorr付近までの広い領域で成膜
ができる。
ができる。
■成長速度を極めて速くすることができる。
■高エネルギー光による非熱平衡過程である。
しかし、エキシマレーザはパルス発振であり、lO数ナ
ノ秒程度の極めて短いパルス状のレーザが発生し、ター
ゲットに照刺される。モして煕躬時のみ原料が基板上に
供給され、成膜することになる。
ノ秒程度の極めて短いパルス状のレーザが発生し、ター
ゲットに照刺される。モして煕躬時のみ原料が基板上に
供給され、成膜することになる。
また、パルス幅の極めて短くエネルギーの高いエキシマ
レーザでは、多量の原科を生成させ基板上に堆積させる
ことができ成長速度を非常に速くすることができるが、
そのため結晶化が充分行われず膜質を悪くすることがあ
る。
レーザでは、多量の原科を生成させ基板上に堆積させる
ことができ成長速度を非常に速くすることができるが、
そのため結晶化が充分行われず膜質を悪くすることがあ
る。
一方一成肢温度の低温化は,慕材の熱による劣化あるい
は反応を防ぐ必要から、機能性薄膜の電子工学上の応用
にとり必須の技術である。低温化の方法として、プラズ
マ技雨との複合化が考えられる。すなわち、基板近傍に
おいてプラズマを発生させ、これによりさらに非熱平衡
状態を助長させ、より低温での成膜が可能になると考え
られる。
は反応を防ぐ必要から、機能性薄膜の電子工学上の応用
にとり必須の技術である。低温化の方法として、プラズ
マ技雨との複合化が考えられる。すなわち、基板近傍に
おいてプラズマを発生させ、これによりさらに非熱平衡
状態を助長させ、より低温での成膜が可能になると考え
られる。
さらに、プラズマの付加により膜質の改善ができること
も考えられる。
も考えられる。
(3)発明が解決しようとする課題
プラズマ技所との複合化は成膜の高品質化、高速1ヒ、
低温化にとり重要になっている。しかし、エキシマレー
ザ・アフ゛レーション?去では成膜はレーザが煕剥され
ている間のみ間欠的に起こり、レーザが熊剥されない間
は、原科の供給無しにプラズマのみに基板表面がさらさ
れ、生成膜が損傷を受ける問題があり、充分にその効果
が発揮されない。すなわち、プラズマの添加を効果的に
行う必要がある。
低温化にとり重要になっている。しかし、エキシマレー
ザ・アフ゛レーション?去では成膜はレーザが煕剥され
ている間のみ間欠的に起こり、レーザが熊剥されない間
は、原科の供給無しにプラズマのみに基板表面がさらさ
れ、生成膜が損傷を受ける問題があり、充分にその効果
が発揮されない。すなわち、プラズマの添加を効果的に
行う必要がある。
(4)課題を解決するための手段
プラズマの添加方法としては、種々ある内DCあるいは
ACプラズマ法を使用し、基板とターゲット間に電極を
設け、電極と基板間に電圧を印加する事、あるいは、基
板とターゲット間に電圧を印加する事により、DCある
いはACプラズマの発生可能な状況をつくりだす。次に
レーザを夕一ゲット上あるいは基板間及び基板上に煕剥
させ、電圧及び雰囲気圧力、レーザ強度を調整して、パ
ルスレーザの煕躬と同間させてプラズマを発生させる。
ACプラズマ法を使用し、基板とターゲット間に電極を
設け、電極と基板間に電圧を印加する事、あるいは、基
板とターゲット間に電圧を印加する事により、DCある
いはACプラズマの発生可能な状況をつくりだす。次に
レーザを夕一ゲット上あるいは基板間及び基板上に煕剥
させ、電圧及び雰囲気圧力、レーザ強度を調整して、パ
ルスレーザの煕躬と同間させてプラズマを発生させる。
このとき、レーザは第1図または第2図に示すようにタ
ーゲット上に集光レンズを用いて焦点を当てると特に効
果的である。
ーゲット上に集光レンズを用いて焦点を当てると特に効
果的である。
(5)作用
レーザの煕躬と同朋して間欠的にプラズマが発生する理
由は明確になっていないが次のように考えられる。電極
と基板間に電圧が印加された状態で、レーザを電極と基
板間あるいは基板上及びターゲット上に超射させること
により雰囲気ガスをイオン化させ、そのイオンの発生が
トリガーとなりプラズマが起こる。レーザが照剥されな
いとイオンの発生が無くなり、プラズマの発生も停止す
る。あるいは、エキシマレーザによる光電効果により、
非自続放電が起こっている事も考えられる。
由は明確になっていないが次のように考えられる。電極
と基板間に電圧が印加された状態で、レーザを電極と基
板間あるいは基板上及びターゲット上に超射させること
により雰囲気ガスをイオン化させ、そのイオンの発生が
トリガーとなりプラズマが起こる。レーザが照剥されな
いとイオンの発生が無くなり、プラズマの発生も停止す
る。あるいは、エキシマレーザによる光電効果により、
非自続放電が起こっている事も考えられる。
そして、これらの現象が起こる条件は限られた範囲にあ
る。
る。
この条件の適正化により、レーザによるアブレーション
が起きて原料が基板上に供給される時のみプラズマを発
生させることができるので、原科が供給されない時にお
こるプラズマによる基板面及び成長面の損傷を無くす事
ができる。
が起きて原料が基板上に供給される時のみプラズマを発
生させることができるので、原科が供給されない時にお
こるプラズマによる基板面及び成長面の損傷を無くす事
ができる。
この時に用いる圧力としては10−’Torr〜ITo
r rの圧力範囲が望ましく、1 0−’T o r
r未満またはITorrを越えるとプラズマの発生が起
こりにくい。
r rの圧力範囲が望ましく、1 0−’T o r
r未満またはITorrを越えるとプラズマの発生が起
こりにくい。
雰囲気としては、02. N2. N20等のガス
を使用することも考えられる。特に酸化物薄膜を得る場
合には02、また窒化物薄膜を用いる場合はN 2 1
百台≦蔓イPダ勿蒲『δスシ 4l ス L巳仝17?
+ r)、 〜l,/Tl う苓仝→イ ゛フ?
たはN20等のガスを使用することができる。
を使用することも考えられる。特に酸化物薄膜を得る場
合には02、また窒化物薄膜を用いる場合はN 2 1
百台≦蔓イPダ勿蒲『δスシ 4l ス L巳仝17?
+ r)、 〜l,/Tl う苓仝→イ ゛フ?
たはN20等のガスを使用することができる。
本願の別の特徴は、非熱平衡過程を用いる点にある。す
なわち、高エネルギーのレーザビームを用いるので、タ
ーゲットから出てくる原子,分子,クラスターは大変活
性の高い状態となっている。
なわち、高エネルギーのレーザビームを用いるので、タ
ーゲットから出てくる原子,分子,クラスターは大変活
性の高い状態となっている。
従って基板の温度は従来法に比較して低い温度でも結晶
性の高い薄膜を得ることができる。
性の高い薄膜を得ることができる。
また、このようにして発生せしめた蒸発物質は、ほぼタ
ーゲットに垂直に飛敗し、指向性の高い状態なので効率
よく基板に蒸着することができる。
ーゲットに垂直に飛敗し、指向性の高い状態なので効率
よく基板に蒸着することができる。
なお、ターゲットは通常回転させて極部的な蒸発を防止
するのが通常である。
するのが通常である。
(6)実施例
実施例I
MgO単結晶を基板として使用し、ターゲットにYBa
2Cu307粉末の成形体を使用した。第1図に示す装
置にて、酸素ガスを導入して雰囲気圧力を100mTo
rrにした。基板ホルダーとターゲットとの間隔を40
mmにして、基板側を陽梅Lこt,Tlfi0Vの直河
雷r+,G印加hかへ其ネ■タ!度は600℃に設定し
た。温度の測定は、通常の幼電対て更正し九シース幼電
対を使用しk.次にーエキシマレーザを2J/cm”、
5Hzでターゲット面上に照射したところ、.レーザの
パルスに呼応して基板面にプラズマの発生が認められた
。10分間の成膜のあと、20℃/m i n. で
徐冷した。
2Cu307粉末の成形体を使用した。第1図に示す装
置にて、酸素ガスを導入して雰囲気圧力を100mTo
rrにした。基板ホルダーとターゲットとの間隔を40
mmにして、基板側を陽梅Lこt,Tlfi0Vの直河
雷r+,G印加hかへ其ネ■タ!度は600℃に設定し
た。温度の測定は、通常の幼電対て更正し九シース幼電
対を使用しk.次にーエキシマレーザを2J/cm”、
5Hzでターゲット面上に照射したところ、.レーザの
パルスに呼応して基板面にプラズマの発生が認められた
。10分間の成膜のあと、20℃/m i n. で
徐冷した。
得られた薄膜の電気抵抗の温度変化を測定したが、電気
抵抗が零になる温度、すなわちキュウリー温度(Tc)
が90Kであることが分かった。
抵抗が零になる温度、すなわちキュウリー温度(Tc)
が90Kであることが分かった。
また、77Kでの臨界電流密度(J c)を測定したと
ころ、1.3X106A/cm2であることが分かった
。
ころ、1.3X106A/cm2であることが分かった
。
SEXII察では極めて滑らかな面をしめしており、面
徂さ計測定による面粗さは10nm程度であった。
徂さ計測定による面粗さは10nm程度であった。
さらに、得られた薄膜の膜厚は触針式の膜厚測定計で測
定したが、膜厚は0.20umで、成膜速度が1.20
L1m/hr. になっており、他の方法と比較して一
桁高い速度で上記高品質膜が合成されたことが判明した
。
定したが、膜厚は0.20umで、成膜速度が1.20
L1m/hr. になっており、他の方法と比較して一
桁高い速度で上記高品質膜が合成されたことが判明した
。
実施例2
MgO単結晶を基板として使用し一 ターゲットにYB
a2Cu307粉末の成形体を使用した。第2図に示す
装置にて、酸素ガスを導入して雰囲気圧力を100mT
orrにした。基板ホルダーとターゲットとの間隔を5
0mm、ループ状電極と基板ホルダーとの間隔を40m
mに各々して、電極と基板ホルダー間に150Vの直流
電圧を印加した。基板温度は600℃に設定した。次に
、エキシマレーザを2J/crn2、5Hzでターゲッ
ト面上に煕躬したところ、レーザのパルスに呼応して基
板面にプラズマの発生が認められた。10分間の成■莫
のあと、20℃/min. で徐冫合した。
a2Cu307粉末の成形体を使用した。第2図に示す
装置にて、酸素ガスを導入して雰囲気圧力を100mT
orrにした。基板ホルダーとターゲットとの間隔を5
0mm、ループ状電極と基板ホルダーとの間隔を40m
mに各々して、電極と基板ホルダー間に150Vの直流
電圧を印加した。基板温度は600℃に設定した。次に
、エキシマレーザを2J/crn2、5Hzでターゲッ
ト面上に煕躬したところ、レーザのパルスに呼応して基
板面にプラズマの発生が認められた。10分間の成■莫
のあと、20℃/min. で徐冫合した。
得られた薄膜の電気抵抗の温度変化を測定したが、電気
抵抗が零になる温度、すなわちキュウリー温度(Tc)
が90Kであることが分かった。
抵抗が零になる温度、すなわちキュウリー温度(Tc)
が90Kであることが分かった。
また、77Kでの臨界電流密度(J c)を>ul定し
たところ、1.4X106A/cm2であることが分か
った。
たところ、1.4X106A/cm2であることが分か
った。
SEM観察では極めて滑らかな面をしめしており、面粗
さ計測定による面粗さは10nm程度であった。
さ計測定による面粗さは10nm程度であった。
さらに、得られた薄膜の膜厚は触針式の膜厚測定計で測
定したが、膜厚は0.22umで、成膜速度が1.32
um/hr. になっており、他の方法と比較して一桁
高い速度で上記高品質膜が合成されたことが判明した。
定したが、膜厚は0.22umで、成膜速度が1.32
um/hr. になっており、他の方法と比較して一桁
高い速度で上記高品質膜が合成されたことが判明した。
(7)発明の効果
以上述べた様に本発明により、酸化物超伝導体の高品質
薄膜を低温で且つ高速で成膜できるようになり、それら
の用途展開を大きく広げることができる。
薄膜を低温で且つ高速で成膜できるようになり、それら
の用途展開を大きく広げることができる。
第1図及び第2図に実施例で使用した装置を示す。
1−エキシマレーザ 6−ターゲット2−レンズ
7−ターゲットホルダー3−チャンバー
8一直流電源4一基板 9一電線 5一基板ホルダー 10−電線導入ボート1 1 一排気系 1 4−レーザ人躬窓 1 2−レーザ光 1 5一酸素導入口 1 3−プラズマ
7−ターゲットホルダー3−チャンバー
8一直流電源4一基板 9一電線 5一基板ホルダー 10−電線導入ボート1 1 一排気系 1 4−レーザ人躬窓 1 2−レーザ光 1 5一酸素導入口 1 3−プラズマ
Claims (1)
- (1)レーザのターゲットへの照射により、超伝導体タ
ーゲットより原子状、分子状あるいはクラスター状原料
を発生させて、それを基板上に堆積させ超伝導薄膜を形
成する方法に於て、レーザの照射と同期してプラズマを
発生させる事を特徴とする薄膜形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30577189A JPH03164407A (ja) | 1989-11-24 | 1989-11-24 | 超伝導薄膜作製法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30577189A JPH03164407A (ja) | 1989-11-24 | 1989-11-24 | 超伝導薄膜作製法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03164407A true JPH03164407A (ja) | 1991-07-16 |
Family
ID=17949149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30577189A Pending JPH03164407A (ja) | 1989-11-24 | 1989-11-24 | 超伝導薄膜作製法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03164407A (ja) |
-
1989
- 1989-11-24 JP JP30577189A patent/JPH03164407A/ja active Pending
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