JPH03173946A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JPH03173946A JPH03173946A JP1295271A JP29527189A JPH03173946A JP H03173946 A JPH03173946 A JP H03173946A JP 1295271 A JP1295271 A JP 1295271A JP 29527189 A JP29527189 A JP 29527189A JP H03173946 A JPH03173946 A JP H03173946A
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- Japan
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- light
- axis
- diffracted light
- detector
- diffraction
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光情報記録媒体を用いて情報の記録、再生等
を行う光ピックアップ装置に関する。
を行う光ピックアップ装置に関する。
従来の技術
従来における光ピックアップ装置としては、第−の従来
例として特願昭６３−１５１８号に本出願人により出願
されているものがある。これを第６図に基づいて説明す
る。半導体レーザ１から出射されたレーザ光は、カップ
リングレンズ２、ビームスプリッタ３．４を順次透過し
、偏光ビームスプリッタ５により反射され、対物レンズ
６により集光されて光磁気ディスク７面上に照射され、
これにより情報の記録等が行われる。また、この光磁気
ディスク７からの反射光は、対物レンズ６、偏光ビーム
スプリッタ５を通過した後、信号検出光学系８内に導か
れる。この光学系８では、検出レンズ９を経て、第一回
折格子１０ａと第二回折格子１０ｂとが両面に一体化し
て形成されたデュアル型グレーティング１０に導かれ、
これにより透過光Ｔと回折光にとに２分割される。その
透過光Ｔは４分割受光素子１１に導かれてフォーカスエ
ラー信号が検出され、一方、回折光には２分割受光素子
１２に導かれてトラックエラー信号が検出される。また
、光磁気信号は、それら２つの受光素子１．１．１２の
出力の差分により求めることができる。
例として特願昭６３−１５１８号に本出願人により出願
されているものがある。これを第６図に基づいて説明す
る。半導体レーザ１から出射されたレーザ光は、カップ
リングレンズ２、ビームスプリッタ３．４を順次透過し
、偏光ビームスプリッタ５により反射され、対物レンズ
６により集光されて光磁気ディスク７面上に照射され、
これにより情報の記録等が行われる。また、この光磁気
ディスク７からの反射光は、対物レンズ６、偏光ビーム
スプリッタ５を通過した後、信号検出光学系８内に導か
れる。この光学系８では、検出レンズ９を経て、第一回
折格子１０ａと第二回折格子１０ｂとが両面に一体化し
て形成されたデュアル型グレーティング１０に導かれ、
これにより透過光Ｔと回折光にとに２分割される。その
透過光Ｔは４分割受光素子１１に導かれてフォーカスエ
ラー信号が検出され、一方、回折光には２分割受光素子
１２に導かれてトラックエラー信号が検出される。また
、光磁気信号は、それら２つの受光素子１．１．１２の
出力の差分により求めることができる。
このように、デュアル型グレーティング１０の回折格子
を２重にすることにより波長変動を相殺し、両面の回折
格子１０ａ、ＬＯｂのピッチが同じ時、波長変動による
回折角のずれはＯとなる。
を２重にすることにより波長変動を相殺し、両面の回折
格子１０ａ、ＬＯｂのピッチが同じ時、波長変動による
回折角のずれはＯとなる。
このデュアル型グレーティング１０は微小ピッチのため
第一回折格子１０ａにより互いに直交する２偏光に分離
し、第二回折格子１０ｂを変調ピッチ化することにより
透過光Ｔに非点収差を持たせてフォーカスエラー信号の
検出を行い、回折光Ｋからトラックエラー信号の検出を
行うようにしている。
第一回折格子１０ａにより互いに直交する２偏光に分離
し、第二回折格子１０ｂを変調ピッチ化することにより
透過光Ｔに非点収差を持たせてフォーカスエラー信号の
検出を行い、回折光Ｋからトラックエラー信号の検出を
行うようにしている。
また、第二の従来例として、特願昭６３−３００３９６
号に本出願人により出願されているものがある。これを
第７図に基づいて説明する。これは上述した第一の従来
例と同様な光路を経た後、信号検出光学系８内の第一回
折格子１０ａと第二回折格子１０ｂとが両面に一体化し
て形成されたデュアル型グレーティングｌＯを通過する
ことにより透過光Ｔと回折光にとに２分割される。そし
て、回折光には４分割受光素子１１に検出されることに
よりフォーカスエラー信号を得ることができ、また、透
過光Ｔはその両側に配設された２分割受光素子１２に検
出されることによりトラックエラー信号を得ることがで
きる。
号に本出願人により出願されているものがある。これを
第７図に基づいて説明する。これは上述した第一の従来
例と同様な光路を経た後、信号検出光学系８内の第一回
折格子１０ａと第二回折格子１０ｂとが両面に一体化し
て形成されたデュアル型グレーティングｌＯを通過する
ことにより透過光Ｔと回折光にとに２分割される。そし
て、回折光には４分割受光素子１１に検出されることに
よりフォーカスエラー信号を得ることができ、また、透
過光Ｔはその両側に配設された２分割受光素子１２に検
出されることによりトラックエラー信号を得ることがで
きる。
このように、透過光Ｔと回折光にとを重ねることにより
分離角を小さくし、これにより波長変動を小さくしてい
る。
分離角を小さくし、これにより波長変動を小さくしてい
る。
発明が解決しようとする課題
まず、第一の従来例の場合、デュアル型グレーティング
１０の両面のピッチを等しくすれば、レーザ光の波長変
動による回折角の変動は小さくなるが、第２回折格子１
０ｂに至るまでの第一回折格子１０ａにより回折された
回折光の角度変動分はなくならない。
１０の両面のピッチを等しくすれば、レーザ光の波長変
動による回折角の変動は小さくなるが、第２回折格子１
０ｂに至るまでの第一回折格子１０ａにより回折された
回折光の角度変動分はなくならない。
また、第二の従来例の場合、レーザ光の波長変動による
スポット位置の変動をなくすように２つの受光素子１１
．１２を重ねているが、このようにするとどうしても一
方の光が他方の光のノイズにムってしまう。
スポット位置の変動をなくすように２つの受光素子１１
．１２を重ねているが、このようにするとどうしても一
方の光が他方の光のノイズにムってしまう。
課題を解決するための手段
そこで、このような問題点を解決するために、本発明は
、レーザ光源から出射されたレーザ光を光情報記録媒体
に導き情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体か
らの反射光を２枚の回折格子を有するデュアル型グレー
ティングに導き透過光と回折光とに分離し、これら分離
された光のうち、透過光を透過光検出器に導き回折光を
回折光検出器に導くことによりフォーカスエラー信号や
トラックエラー信号の検出を行う光ピックアップ装置に
おいて、前記光情報記録媒体からの反射光が前記デュア
ル型グレーティングに向かう光路方向をＸ軸とし、前記
各光学部品の配設された同一光学系の面内で前記Ｘ軸と
直交する方向をＹ軸とし、これらＸ軸とＹ軸とにより形
成される平面に直交する方向をＺ軸とし、前記レーザ光
の波長変動量をΔλとし、このΔλの波長変動により前
記回折光の前記回折光検出器面上における光スポットの
Ｘ軸、Ｙ軸からの各々の位置変動量をΔＸ、ΔＹとした
時、 ２０μｍ≧ΔＸ・Δλ ２０μｍ≧ΔＹ・Δλ の条件を満たすＺ軸方向のスポット位置変動許容領域内
に前記回折光検出器を配設し、この回折光検出器の配設
された同一領域内に前記透過光検出器を配設した。
、レーザ光源から出射されたレーザ光を光情報記録媒体
に導き情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体か
らの反射光を２枚の回折格子を有するデュアル型グレー
ティングに導き透過光と回折光とに分離し、これら分離
された光のうち、透過光を透過光検出器に導き回折光を
回折光検出器に導くことによりフォーカスエラー信号や
トラックエラー信号の検出を行う光ピックアップ装置に
おいて、前記光情報記録媒体からの反射光が前記デュア
ル型グレーティングに向かう光路方向をＸ軸とし、前記
各光学部品の配設された同一光学系の面内で前記Ｘ軸と
直交する方向をＹ軸とし、これらＸ軸とＹ軸とにより形
成される平面に直交する方向をＺ軸とし、前記レーザ光
の波長変動量をΔλとし、このΔλの波長変動により前
記回折光の前記回折光検出器面上における光スポットの
Ｘ軸、Ｙ軸からの各々の位置変動量をΔＸ、ΔＹとした
時、 ２０μｍ≧ΔＸ・Δλ ２０μｍ≧ΔＹ・Δλ の条件を満たすＺ軸方向のスポット位置変動許容領域内
に前記回折光検出器を配設し、この回折光検出器の配設
された同一領域内に前記透過光検出器を配設した。
作用
これにより、回折光検出器及び透過光検出器は、レーザ
光の波長変動による回折光のスポット位置変動許容領域
内に配設されるので、レーザ出射光の波長変動の影響を
受けることなくフォーカスエラー信号やトラックエラー
信号等を正確に検出することができ、また、従来のよう
に透過光と回折光とを重ねて検出を行う必要がないため
、有効に信号検出を行うことができる。
光の波長変動による回折光のスポット位置変動許容領域
内に配設されるので、レーザ出射光の波長変動の影響を
受けることなくフォーカスエラー信号やトラックエラー
信号等を正確に検出することができ、また、従来のよう
に透過光と回折光とを重ねて検出を行う必要がないため
、有効に信号検出を行うことができる。
実施例
本発明の一実施例を第１図ないし第５図に基づいて説明
する。まず、全体構成の概略について述べる。レーザ光
源としての半導体レーザ１３から出射されたレーザ光は
、ビーム整形プリズム１４を通過してビーム整形された
後、コリメートレンズ１５により平行化され、ビームス
プリッタ１６により反射され、対物レンズ■７により集
光されて光情報記録媒体としての光磁気ディスク１８の
表面に照射され、これにより情報の記録等が行われる。
する。まず、全体構成の概略について述べる。レーザ光
源としての半導体レーザ１３から出射されたレーザ光は
、ビーム整形プリズム１４を通過してビーム整形された
後、コリメートレンズ１５により平行化され、ビームス
プリッタ１６により反射され、対物レンズ■７により集
光されて光情報記録媒体としての光磁気ディスク１８の
表面に照射され、これにより情報の記録等が行われる。
また、光磁気ディスク１８からの反射光は、対物レンズ
１７、ビームスプリッタ１６を順次透過して信号検出光
学系１９内に導かれる。この信号検出光学系１９では、
ｌ／２波長板２０、検出レンズ２１を通過して、デュア
ル型グレーティング２２の一方の面に形成された回折格
子としての第一回折格子２２ａに導かれ、これにより透
過光Ｔと回折光にとに分離される。これら透過光Ｔと回
折光にとは第二回折格子２２ｂを通過することによって
、透過光Ｔはさらに透過していき、回折光にはさらに回
折されて進む。そして、透過光Ｔは透過光検出器２３に
、回折光には回折光検出器２４にそれぞれ検出されるこ
とによって、従来と同様な方法によりフォーカスエラー
信号やトラックエラー信号、光磁気信号の検出を行うこ
とができる。
１７、ビームスプリッタ１６を順次透過して信号検出光
学系１９内に導かれる。この信号検出光学系１９では、
ｌ／２波長板２０、検出レンズ２１を通過して、デュア
ル型グレーティング２２の一方の面に形成された回折格
子としての第一回折格子２２ａに導かれ、これにより透
過光Ｔと回折光にとに分離される。これら透過光Ｔと回
折光にとは第二回折格子２２ｂを通過することによって
、透過光Ｔはさらに透過していき、回折光にはさらに回
折されて進む。そして、透過光Ｔは透過光検出器２３に
、回折光には回折光検出器２４にそれぞれ検出されるこ
とによって、従来と同様な方法によりフォーカスエラー
信号やトラックエラー信号、光磁気信号の検出を行うこ
とができる。
次に、本実施例の主要部をなす部分について述べる。今
、光磁気ディスク１８からの反射光がデュアル型グレー
ティング２２に向かう光路方向をＸ軸とし、各光学部品
の配設された同一光学系の面内でＸ軸と直交する方向を
Ｙ軸とし、これらＸ軸とＹ軸とにより形成される平面に
直交する方向をＺ軸とし、レーザ光の波長変動量をΔλ
とし、このΔλの波長変動により回折光の回折光検出器
２４面上における光スポットのＸ軸、Ｙ軸からの各々の
位置変動量をΔＸ、ΔＹとした時、２０μｍ≧ΔＸ・Δ
λ ・・・（１）２０μｍ≧ΔＹ・Δλ ・・・（
２）の条件を満たすＺ軸方向のスポット位置変動許容領
域Ａ（第２図のハツチング領域）内に回折光検出器２４
を配設し、この回折光検出器２４の配設された同一領域
Ａ内に透過光検出器２３を配設した。そこで、以下、（
１）、（２）式に設定した理由について述べる。
、光磁気ディスク１８からの反射光がデュアル型グレー
ティング２２に向かう光路方向をＸ軸とし、各光学部品
の配設された同一光学系の面内でＸ軸と直交する方向を
Ｙ軸とし、これらＸ軸とＹ軸とにより形成される平面に
直交する方向をＺ軸とし、レーザ光の波長変動量をΔλ
とし、このΔλの波長変動により回折光の回折光検出器
２４面上における光スポットのＸ軸、Ｙ軸からの各々の
位置変動量をΔＸ、ΔＹとした時、２０μｍ≧ΔＸ・Δ
λ ・・・（１）２０μｍ≧ΔＹ・Δλ ・・・（
２）の条件を満たすＺ軸方向のスポット位置変動許容領
域Ａ（第２図のハツチング領域）内に回折光検出器２４
を配設し、この回折光検出器２４の配設された同一領域
Ａ内に透過光検出器２３を配設した。そこで、以下、（
１）、（２）式に設定した理由について述べる。
第３図はデュアル型グレーティング２２を示したもので
ある。このデュアル型グレーティング２２の表裏両面に
は、回折格子としての透過型の第一回折格子２２ａが形
成されている。今、第４図に示すように、入射側の第一
回折格子２２ａのビッチのＸ方向のピッチをｄｘ。、Ｙ
方向のピッチをｄｙ。とじ、出射側の第二回折格子２２
ｂのピッチのＸ方向のピッチをｄｘ、とし、Ｙ方向のピ
ッチをｄＶ２ とする。また、入射光方向ベクトルを（
Ｑ。９ｍ。、ｎ。）とし、入射側の第一回折格子２２ａ
での回折光（第１回折光）方向ベクトルを（Ｑ ｒ ＋
ｍ ｒ ｒ ｎ ＋ ）とし、波長をλとすると、
Ｑ、＝氾。±λ／ｄｘ０ ・・・（３）ｍ、＝
ｍ。±λ／ｄｙ、 ・ （４）ｎ１＝−Ｊｌ
−Ｑ、−ｍ、” ・ （５）となる。
ある。このデュアル型グレーティング２２の表裏両面に
は、回折格子としての透過型の第一回折格子２２ａが形
成されている。今、第４図に示すように、入射側の第一
回折格子２２ａのビッチのＸ方向のピッチをｄｘ。、Ｙ
方向のピッチをｄｙ。とじ、出射側の第二回折格子２２
ｂのピッチのＸ方向のピッチをｄｘ、とし、Ｙ方向のピ
ッチをｄＶ２ とする。また、入射光方向ベクトルを（
Ｑ。９ｍ。、ｎ。）とし、入射側の第一回折格子２２ａ
での回折光（第１回折光）方向ベクトルを（Ｑ ｒ ＋
ｍ ｒ ｒ ｎ ＋ ）とし、波長をλとすると、
Ｑ、＝氾。±λ／ｄｘ０ ・・・（３）ｍ、＝
ｍ。±λ／ｄｙ、 ・ （４）ｎ１＝−Ｊｌ
−Ｑ、−ｍ、” ・ （５）となる。
また、出射側の透過型の第二回折格子２２ｂでの回折光
（第２回折光）方向ベクトルを（Ｑ。
（第２回折光）方向ベクトルを（Ｑ。
ｍａｔ ｎｚ）とすると、次式が成り立つ。
ＱｘＦＱＩ′：＋λ／ｄｘ、 ・ （６）ｍ
、 ＝ ｍ、 ＋λ／ｄｙ、 −（７）ｎ、
＝Ｊ Ｉ Ｑｚ ｍ、’ ＋＋＋ （８
）第二回折光がＺ座標で−Ｔ （Ｔ＞Ｏ）なる位置にお
けるＸ及びＹ座標は、 次のように表わされる。
、 ＝ ｍ、 ＋λ／ｄｙ、 −（７）ｎ、
＝Ｊ Ｉ Ｑｚ ｍ、’ ＋＋＋ （８
）第二回折光がＺ座標で−Ｔ （Ｔ＞Ｏ）なる位置にお
けるＸ及びＹ座標は、 次のように表わされる。
ｎ、 ｎ２
今、 Ｑ 、 ） Ｏ、ｍ 、 ） Ｏとすると、Ｑ
ｌ＝Ｑ、−λ／ ｄ Ｘ＋、Ｑｚ＝ ”＋十λ／ｄＸ２
、ｍ、＝ ｍ、−λ／ｄｙ、、ｍ２＝ ｍ、＋λ／ ｄ
ｙ ｚである。
ｌ＝Ｑ、−λ／ ｄ Ｘ＋、Ｑｚ＝ ”＋十λ／ｄＸ２
、ｍ、＝ ｍ、−λ／ｄｙ、、ｍ２＝ ｍ、＋λ／ ｄ
ｙ ｚである。
この時、波長変動発生時のＸ、Ｙ座標の変化ΔＸ、ΔＹ
は、次のように表わされる。
は、次のように表わされる。
ここで、（３）〜（１０）式を用いて計算すると、次の
ようになる。
ようになる。
・・・（１３）
・・・（１４）
従って、これら（１３）、（１４）式の値から、ａｘ、
、ｄｘ、、ｄＶ −ｄ Ｖ ｚを適切な値に調整するこ
とによって、ΔＸ、ΔＹを小さくできることがわかる。
、ｄｘ、、ｄＶ −ｄ Ｖ ｚを適切な値に調整するこ
とによって、ΔＸ、ΔＹを小さくできることがわかる。
そこで、今、本実施例のような２重回折格子（第一回折
格子２２ａ、第二回折格子２２ｂ）の設計において、半
導体レーザ１３の不安定性に起因する波長変動がΔλだ
け生じた際に許容されるスポット位置変動許容領域Ａを
微小変動値２０μｍとすると、 ２０μｍ≧ΔＸ・Δλ ・・・（１）２０μｍ≧ΔＹ
Δλ ・・・（２）の条件を満足するように、ｄｘ
。、ｄｘ、、ｄｙｏ、ｄｙｚを設定する。
格子２２ａ、第二回折格子２２ｂ）の設計において、半
導体レーザ１３の不安定性に起因する波長変動がΔλだ
け生じた際に許容されるスポット位置変動許容領域Ａを
微小変動値２０μｍとすると、 ２０μｍ≧ΔＸ・Δλ ・・・（１）２０μｍ≧ΔＹ
Δλ ・・・（２）の条件を満足するように、ｄｘ
。、ｄｘ、、ｄｙｏ、ｄｙｚを設定する。
なお、第一回折格子２２ａ、第二回折格子２２ｂに平行
光が入射する時、ｄｘ、、ｄｘ！、ｄＶｏ−ｄＶ２は格
子面のどの部分でも同じだが、非平行光の場合、（Ｑ、
、 ｍゆ、ｎｏ）は入射光の各部にょって異なるため、
ｄｘ。、ｄｘ２、ｄＶｏ、ｄｙｔは分布をもつようにし
てもよい。
光が入射する時、ｄｘ、、ｄｘ！、ｄＶｏ−ｄＶ２は格
子面のどの部分でも同じだが、非平行光の場合、（Ｑ、
、 ｍゆ、ｎｏ）は入射光の各部にょって異なるため、
ｄｘ。、ｄｘ２、ｄＶｏ、ｄｙｔは分布をもつようにし
てもよい。
そして、第２図に示すように、Ｚ軸方向のスポット位置
変動許容領域Ａ（ハツチング領域）内に回折光検出器２
４を配設し、この回折光検出器２４の配設された同一領
域内に透過光検出器２３を配設することにより、回折光
検出器２４及び透過光検出器２３は、レーザ光の波長変
動による回折光のスポット位置変動許容領域Ａ内に配設
されることになり、これにより波長変動Δλの変動の影
響を受けない正確な信号検出を行うことができる。
変動許容領域Ａ（ハツチング領域）内に回折光検出器２
４を配設し、この回折光検出器２４の配設された同一領
域内に透過光検出器２３を配設することにより、回折光
検出器２４及び透過光検出器２３は、レーザ光の波長変
動による回折光のスポット位置変動許容領域Ａ内に配設
されることになり、これにより波長変動Δλの変動の影
響を受けない正確な信号検出を行うことができる。
なお、本実施例の場合、検出レンズ２１、デュアル型グ
レーティング２２の２つの回折格子２２ａ、２２ｂのピ
ッチ分布、デュアル型グレーティング２２の基板におい
て、それらの少なくとも一つを適切に設定することによ
り、非点収差を発生させることができる。また、第１図
におけるデュアル型グレーティング２２の入力側の検出
レンズ２１を取り除いた構成においても、デュアル型グ
レーティング２２の２つの回折格子２２ａ、２２ｂのピ
ッチ分布、デュアル型グレーティング２２の基板のうち
の少なくとも一つを適切に設定することにより非点収差
を発生させることができる。
レーティング２２の２つの回折格子２２ａ、２２ｂのピ
ッチ分布、デュアル型グレーティング２２の基板におい
て、それらの少なくとも一つを適切に設定することによ
り、非点収差を発生させることができる。また、第１図
におけるデュアル型グレーティング２２の入力側の検出
レンズ２１を取り除いた構成においても、デュアル型グ
レーティング２２の２つの回折格子２２ａ、２２ｂのピ
ッチ分布、デュアル型グレーティング２２の基板のうち
の少なくとも一つを適切に設定することにより非点収差
を発生させることができる。
今、その例を示すと、第一の方法としては、片方の回折
格子には一方向収束性、もう片方の回折格子には２方向
収束性をもたせるようにそれぞれのピッチ分布を規定す
る方法。第二の方法としては、一つの回折格子のみに２
方向収束性をもたせるが、それぞれの収束度はやや異な
るようにするという方法である。このような方法により
、検出レンズ２■の有無に関係なく非点収差を発生させ
ることができる。
格子には一方向収束性、もう片方の回折格子には２方向
収束性をもたせるようにそれぞれのピッチ分布を規定す
る方法。第二の方法としては、一つの回折格子のみに２
方向収束性をもたせるが、それぞれの収束度はやや異な
るようにするという方法である。このような方法により
、検出レンズ２■の有無に関係なく非点収差を発生させ
ることができる。
発明の効果
本発明は、光情報記録媒体からの反射光がデュアル型グ
レーティングに向かう光路方向をＸ軸とし、各光学部品
の配設された同一光学系の面内でＸ軸と直交する方向を
Ｙ軸とし、これらＸ軸とＹ軸とにより形成される平面に
直交する方向をＺ軸とし、レーザ光の波長変動量をΔλ
とし、このΔλの波長変動により回折光の回折光検出器
面上における光スポットのＸ軸、Ｙ軸からの各々の位置
変動量をΔＸ、ΔＹとした時、 ２０／Ｌｍ≧ΔＸ・Δλ ２０１１、ｍ≧ΔＹ−Δλ の条件を満たすＺ軸方向のスポット位置変動許容領域内
に前記回折光検出器を配設し、この回折光検出器の配設
された同一領域内に透過光検出器を配設したので、これ
により、波長変動の影響を受けることなくフォーカスエ
ラー信号やトラックエラー信号等の信号検出を正確に検
出することが可能となり、また、従来のように透過光と
回折光とを重ねて検出を行う必要がないため、効率良く
有効に信号検出を行うことができるものである。
レーティングに向かう光路方向をＸ軸とし、各光学部品
の配設された同一光学系の面内でＸ軸と直交する方向を
Ｙ軸とし、これらＸ軸とＹ軸とにより形成される平面に
直交する方向をＺ軸とし、レーザ光の波長変動量をΔλ
とし、このΔλの波長変動により回折光の回折光検出器
面上における光スポットのＸ軸、Ｙ軸からの各々の位置
変動量をΔＸ、ΔＹとした時、 ２０／Ｌｍ≧ΔＸ・Δλ ２０１１、ｍ≧ΔＹ−Δλ の条件を満たすＺ軸方向のスポット位置変動許容領域内
に前記回折光検出器を配設し、この回折光検出器の配設
された同一領域内に透過光検出器を配設したので、これ
により、波長変動の影響を受けることなくフォーカスエ
ラー信号やトラックエラー信号等の信号検出を正確に検
出することが可能となり、また、従来のように透過光と
回折光とを重ねて検出を行う必要がないため、効率良く
有効に信号検出を行うことができるものである。
第１図は本発明の一実施例を示す構成図、第２図はその
受光素子をＺ軸方向のスポット位置変動許容領域内に配
設した時の様子を示す光路図、第３図はデュアル型グレ
ーティングに光が入射した時の様子を示す斜視図、第４
図はデュアル型グレーティングの回折格子の各軸方向へ
のピッチ形状の割合を示す斜視図、第５図はレーザ光の
波長変動によってビームが移動している様子を示す側面
図、第６図は第一の従来例を示す構成図、第７図は第二
の従来例を示す構成図である。 １３・・・レーザ光源、１８・・・光情報記録媒体、２
２・・・デュアル型グレーティング、２２ａ、２２ｂ・
・・回折格子、２３・・・透過光検出器、２４・・・回
折光検出器、Ａ・・・スポット位置変動許容領域、Ｋ・
・・回折光、Ｔ・・・透過光 出 願 人 株式会社 リ コ
受光素子をＺ軸方向のスポット位置変動許容領域内に配
設した時の様子を示す光路図、第３図はデュアル型グレ
ーティングに光が入射した時の様子を示す斜視図、第４
図はデュアル型グレーティングの回折格子の各軸方向へ
のピッチ形状の割合を示す斜視図、第５図はレーザ光の
波長変動によってビームが移動している様子を示す側面
図、第６図は第一の従来例を示す構成図、第７図は第二
の従来例を示す構成図である。 １３・・・レーザ光源、１８・・・光情報記録媒体、２
２・・・デュアル型グレーティング、２２ａ、２２ｂ・
・・回折格子、２３・・・透過光検出器、２４・・・回
折光検出器、Ａ・・・スポット位置変動許容領域、Ｋ・
・・回折光、Ｔ・・・透過光 出 願 人 株式会社 リ コ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 レーザ光源から出射されたレーザ光を光情報記録媒体に
導き情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体から
の反射光を２枚の回折格子を有するデュアル型グレーテ
ィングに導き透過光と回折光とに分離し、これら分離さ
れた光のうち、透過光を透過光検出器に導き回折光を回
折光検出器に導くことによりフォーカスエラー信号やト
ラックエラー信号の検出を行う光ピックアップ装置にお
いて、前記光情報記録媒体からの反射光が前記デュアル
型グレーティングに向かう光路方向をＸ軸とし、前記各
光学部品の配設された同一光学系の面内で前記Ｘ軸と直
交する方向をＹ軸とし、これらＸ軸とＹ軸とにより形成
される平面に直交する方向をＺ軸とし、前記レーザ光の
波長変動量をΔλとし、このΔλの波長変動により前記
回折光の前記回折光検出器面上における光スポットのＸ
軸、Ｙ軸からの各々の位置変動量をΔＸ、ΔＹとした時
、 ２０μｍ≧ΔＸ・Δλ ２０μｍ≧ΔＹ・Δλ の条件を満たすＺ軸方向のスポット位置変動許容領域内
に前記回折光検出器を配設し、この回折光検出器の配設
された同一領域内に前記透過光検出器を配設したことを
特徴とする光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1295271A JPH03173946A (ja) | 1989-09-21 | 1989-11-14 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1-246114 | 1989-09-21 | ||
| JP24611489 | 1989-09-21 | ||
| JP1295271A JPH03173946A (ja) | 1989-09-21 | 1989-11-14 | 光ピックアップ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03173946A true JPH03173946A (ja) | 1991-07-29 |
Family
ID=26537566
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1295271A Pending JPH03173946A (ja) | 1989-09-21 | 1989-11-14 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03173946A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60171644A (ja) * | 1984-02-17 | 1985-09-05 | Mitsubishi Electric Corp | 光デイスクヘツドのフオ−カスずれ検出装置 |
| JPS63228431A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-09-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光情報ピツクアツプ装置 |
| JPS6486337A (en) * | 1987-09-28 | 1989-03-31 | Nippon Denki Home Electronics | Hologram |
-
1989
- 1989-11-14 JP JP1295271A patent/JPH03173946A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60171644A (ja) * | 1984-02-17 | 1985-09-05 | Mitsubishi Electric Corp | 光デイスクヘツドのフオ−カスずれ検出装置 |
| JPS63228431A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-09-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光情報ピツクアツプ装置 |
| JPS6486337A (en) * | 1987-09-28 | 1989-03-31 | Nippon Denki Home Electronics | Hologram |
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