JPH031798Y2 - - Google Patents
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- JPH031798Y2 JPH031798Y2 JP1985023299U JP2329985U JPH031798Y2 JP H031798 Y2 JPH031798 Y2 JP H031798Y2 JP 1985023299 U JP1985023299 U JP 1985023299U JP 2329985 U JP2329985 U JP 2329985U JP H031798 Y2 JPH031798 Y2 JP H031798Y2
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- Japan
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- valve
- test
- pressure
- valves
- liquid
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案は弁試験装置に係り、特に効率良く弁試
験を行ない得る弁試験装置に関する。
験を行ない得る弁試験装置に関する。
従来の技術
例えば原子力発電所で行なわれる定期検査にお
いては各種の耐圧試験、漏洩試験が行なわれる。
その中のひとつとして水圧制御ユニツトに設けら
れたセレクタ弁の耐圧及び漏洩試験がある。この
セレクタ弁の耐圧及び漏洩試験は弁試験装置を用
いて行なわれている。
いては各種の耐圧試験、漏洩試験が行なわれる。
その中のひとつとして水圧制御ユニツトに設けら
れたセレクタ弁の耐圧及び漏洩試験がある。この
セレクタ弁の耐圧及び漏洩試験は弁試験装置を用
いて行なわれている。
従来、この種の弁試験装置は移動可能な操作台
に大略漏洩試験用の加圧タンク、耐圧試験用の高
圧力流体が供給される高圧力液体流入バルブ、被
試験弁であるセレクタ弁を取付けられる弁取付け
台、各試験に適応した圧力流体を選択的に弁取付
台に導く導液配管及び種々の圧力ゲージ等を配設
した構成となつていた。セレクタ弁の漏洩、耐圧
試験はこの弁試験装置を用いて実施され、水圧制
御ユニツト（原子炉の規模により異なるが一般に
ひとつの原子力発電所に約70台〜200台設置され
ている）に設けられているセレクタ弁をひとつひ
とつ弁試験装置に装着して試験を行なつていた。
に大略漏洩試験用の加圧タンク、耐圧試験用の高
圧力流体が供給される高圧力液体流入バルブ、被
試験弁であるセレクタ弁を取付けられる弁取付け
台、各試験に適応した圧力流体を選択的に弁取付
台に導く導液配管及び種々の圧力ゲージ等を配設
した構成となつていた。セレクタ弁の漏洩、耐圧
試験はこの弁試験装置を用いて実施され、水圧制
御ユニツト（原子炉の規模により異なるが一般に
ひとつの原子力発電所に約70台〜200台設置され
ている）に設けられているセレクタ弁をひとつひ
とつ弁試験装置に装着して試験を行なつていた。
考案が解決しようとする問題点
しかるに上記従来の弁試験装置ではセレクタ弁
を取付ける弁取付け台がひとつの弁試験装置にひ
とつしか設けられていなかつたため、多数ありか
つ同一試験手順を行なうセレクタ弁をひとつひと
つ弁試験装置に装着し、漏洩、耐圧試験を行なつ
た後、次の未試験のセレクタ弁と交換して試験を
実施しなくてはならず、作業効率が悪いという問
題点があつた。この作業効率の悪さは失験時間を
不要に長くせしめ試験のための作業工数が大とな
るばかりではなく、特に原子力発電所内の放射線
下作業においては試験を行なう者の被曝量を徒ら
に増やす結果となるという問題点があつた。
を取付ける弁取付け台がひとつの弁試験装置にひ
とつしか設けられていなかつたため、多数ありか
つ同一試験手順を行なうセレクタ弁をひとつひと
つ弁試験装置に装着し、漏洩、耐圧試験を行なつ
た後、次の未試験のセレクタ弁と交換して試験を
実施しなくてはならず、作業効率が悪いという問
題点があつた。この作業効率の悪さは失験時間を
不要に長くせしめ試験のための作業工数が大とな
るばかりではなく、特に原子力発電所内の放射線
下作業においては試験を行なう者の被曝量を徒ら
に増やす結果となるという問題点があつた。
そこで本考案は複数の被試験弁を一括的に試験
し得るよう構成することにより上記問題点を解決
した弁試験装置を提供することを目的とする。
し得るよう構成することにより上記問題点を解決
した弁試験装置を提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段
上記の問題点を解決するために、本考案におけ
る弁試験装置は、 基台上に複数個配設されており、電気信号によ
り開閉弁動作する被試験弁が取り付けられる弁取
付部と、 耐圧試験時に開弁操作され、前記複数個の弁取
付部に接続された導液配管を介して高圧液体を弁
取付部に取り付けられた被試験弁に供給する第１
の弁体と、 漏洩試験時に開弁操作され、上記導液配管を介
して圧力流体を上記弁取付部に取り付けられた被
試験弁に供給する第２の弁体と、 上記被試験弁に対し電気信号の供給又は供給停
止を行うスイツチ回路と、 上記スイツチ回路の動作を制御し、試験時間中
上記スイツチ回路を閉成して上記複数の被試験弁
に一括的に電気信号を供給し、試験の終了時に上
記スイツチ回路を開成し、上記被試験弁に対する
電気信号の供給を一括的に停止させるタイマ回路
とを設けた構成としたことを特徴とするものであ
る。
る弁試験装置は、 基台上に複数個配設されており、電気信号によ
り開閉弁動作する被試験弁が取り付けられる弁取
付部と、 耐圧試験時に開弁操作され、前記複数個の弁取
付部に接続された導液配管を介して高圧液体を弁
取付部に取り付けられた被試験弁に供給する第１
の弁体と、 漏洩試験時に開弁操作され、上記導液配管を介
して圧力流体を上記弁取付部に取り付けられた被
試験弁に供給する第２の弁体と、 上記被試験弁に対し電気信号の供給又は供給停
止を行うスイツチ回路と、 上記スイツチ回路の動作を制御し、試験時間中
上記スイツチ回路を閉成して上記複数の被試験弁
に一括的に電気信号を供給し、試験の終了時に上
記スイツチ回路を開成し、上記被試験弁に対する
電気信号の供給を一括的に停止させるタイマ回路
とを設けた構成としたことを特徴とするものであ
る。
実施例
第１図及び第２図に本考案になる弁試験装置の
一実施例を示す。同図に示す弁試験装置１は、大
略基台２に弁取付部３ａ〜３ｄ、液体タンク４、
導液配管５、漏洩試験用バルブ６、高圧管路７、
耐圧試験用バルブ８、電気回路パネル９等を設け
た構成となつており、例えば原子力発電所の定期
検査において水圧制御ユニツトに設けられている
セレクタ弁の試験を行なうものである。
一実施例を示す。同図に示す弁試験装置１は、大
略基台２に弁取付部３ａ〜３ｄ、液体タンク４、
導液配管５、漏洩試験用バルブ６、高圧管路７、
耐圧試験用バルブ８、電気回路パネル９等を設け
た構成となつており、例えば原子力発電所の定期
検査において水圧制御ユニツトに設けられている
セレクタ弁の試験を行なうものである。
基台２はフレーム構造をなし、その底部にはロ
ーラ１０を設けてあり移動可能となつている。基
台２の上面２ａには複数（例えば４個）の弁取付
部３ａ〜３ｄが配設されている。この弁取付部３
ａ〜３ｄはフランジ構造をなし、その上部に被試
験弁であるセレクタ弁１１ａ〜１１ｄ（図中一点
鎖線で示す）が装着される。また夫々の弁取付部
３ａ〜３ｄにはバルブ１２ａ〜１２ｄを介して漏
れゲージ１３ａ〜１３ｄが接続されており、後述
する如く試験者はこの漏れゲージ１３ａ〜１３ｄ
にて被試験弁の漏洩試験を行なう。なおこのバル
ブ１２ａ〜１２ｄは鉛直方向に対し所定角度傾け
て配設されているため、セレクタ弁１１ａ〜１１
ｄの弁取付部３ａ〜３ｄの装着作業に際しバルブ
１２ａ〜１２ｄが邪魔になるようなことはなく円
滑に装着作業を実施することができる。またバル
ブ１２ａ〜１２ｄ及び漏れゲージ１３ａ〜１３ｄ
の下方位置には水受け１４（第１図には図示せ
ず）が基台２に取付けられており、漏れた液体が
飛散しないよう集める構造となつている。またこ
の水受け１４の底部には排水用のドレンバルブ１
５が設けられており、水受け１４が一杯になつた
場合はこのドレンバルブ１５を開弁して所定容器
に排水する。
ーラ１０を設けてあり移動可能となつている。基
台２の上面２ａには複数（例えば４個）の弁取付
部３ａ〜３ｄが配設されている。この弁取付部３
ａ〜３ｄはフランジ構造をなし、その上部に被試
験弁であるセレクタ弁１１ａ〜１１ｄ（図中一点
鎖線で示す）が装着される。また夫々の弁取付部
３ａ〜３ｄにはバルブ１２ａ〜１２ｄを介して漏
れゲージ１３ａ〜１３ｄが接続されており、後述
する如く試験者はこの漏れゲージ１３ａ〜１３ｄ
にて被試験弁の漏洩試験を行なう。なおこのバル
ブ１２ａ〜１２ｄは鉛直方向に対し所定角度傾け
て配設されているため、セレクタ弁１１ａ〜１１
ｄの弁取付部３ａ〜３ｄの装着作業に際しバルブ
１２ａ〜１２ｄが邪魔になるようなことはなく円
滑に装着作業を実施することができる。またバル
ブ１２ａ〜１２ｄ及び漏れゲージ１３ａ〜１３ｄ
の下方位置には水受け１４（第１図には図示せ
ず）が基台２に取付けられており、漏れた液体が
飛散しないよう集める構造となつている。またこ
の水受け１４の底部には排水用のドレンバルブ１
５が設けられており、水受け１４が一杯になつた
場合はこのドレンバルブ１５を開弁して所定容器
に排水する。
基台２の弁取付部３ａ〜３ｄの後方位置には液
体タンク４と電気回路パネル９及び種々の圧力計
１６，１７，１８が設けられている。液体タンク
４はその内部に液体（例えば水）を貯蔵すると共
にその上部より空気（又はチツ素ガス）が圧入さ
れており、よつて液体は加圧状態で貯蔵されてい
る。この液体タンク４内の圧力液体は後述する如
くセレクタ弁１１ａ〜１１ｄの漏洩試験の際セレ
クタ弁１１ａ〜１１ｄに導入される。また電気回
路パネル９は、その内部にタイマー回路を基とす
るリレー回路等が組込まれており、漏洩及び耐圧
試験の時間管理（一般に漏洩及び耐圧試験は所定
時間に亘り被試験弁に圧力液体を付勢して行な
う）を行なわせるものである。またセレクタ弁１
１ａ〜１１ｄは電磁弁であるため、電気回路パネ
ル９はセレクタ弁１１ａ〜１１ｄに電圧供給をも
行なう。圧力計１６は液体タンク４に圧入される
空気圧を表示するものであり、圧力計１７は漏洩
試験の際液体タンク４より弁取付部３ａ〜３ｄを
介してセレクタ弁１１に流入される圧力液体の圧
力を表示するものである。また圧力計１８は耐圧
試験の際、弁試験装置１の外部に設けられた高圧
液体供給手段（図示せず）から弁試験装置１に供
給されセレクタ弁１１ａ〜１１ｄに導入される高
圧液体の圧力を表示するものである。
体タンク４と電気回路パネル９及び種々の圧力計
１６，１７，１８が設けられている。液体タンク
４はその内部に液体（例えば水）を貯蔵すると共
にその上部より空気（又はチツ素ガス）が圧入さ
れており、よつて液体は加圧状態で貯蔵されてい
る。この液体タンク４内の圧力液体は後述する如
くセレクタ弁１１ａ〜１１ｄの漏洩試験の際セレ
クタ弁１１ａ〜１１ｄに導入される。また電気回
路パネル９は、その内部にタイマー回路を基とす
るリレー回路等が組込まれており、漏洩及び耐圧
試験の時間管理（一般に漏洩及び耐圧試験は所定
時間に亘り被試験弁に圧力液体を付勢して行な
う）を行なわせるものである。またセレクタ弁１
１ａ〜１１ｄは電磁弁であるため、電気回路パネ
ル９はセレクタ弁１１ａ〜１１ｄに電圧供給をも
行なう。圧力計１６は液体タンク４に圧入される
空気圧を表示するものであり、圧力計１７は漏洩
試験の際液体タンク４より弁取付部３ａ〜３ｄを
介してセレクタ弁１１に流入される圧力液体の圧
力を表示するものである。また圧力計１８は耐圧
試験の際、弁試験装置１の外部に設けられた高圧
液体供給手段（図示せず）から弁試験装置１に供
給されセレクタ弁１１ａ〜１１ｄに導入される高
圧液体の圧力を表示するものである。
上記各構成（電気回路パネル９を除く）は種々
の配管により接続されており、その配管の系統を
第３図に示して以下説明する。
の配管により接続されており、その配管の系統を
第３図に示して以下説明する。
本考案弁試験装置１はその外部より漏洩試験用
の圧力空気（約0.7atm）または耐圧試験用の高
圧液体（約150atm）が供給される構成となつて
おり、漏洩試験用バルブ６、耐圧試験用バルブ８
を選択的に開閉弁することにより弁取付部３ａ〜
３ｄに所定圧力液体を供給し漏洩、耐圧試験を実
施し得る。
の圧力空気（約0.7atm）または耐圧試験用の高
圧液体（約150atm）が供給される構成となつて
おり、漏洩試験用バルブ６、耐圧試験用バルブ８
を選択的に開閉弁することにより弁取付部３ａ〜
３ｄに所定圧力液体を供給し漏洩、耐圧試験を実
施し得る。
まず漏洩試験において実働する各構成及び配管
について説明する。第一のカプラ２１には弁試験
装置１とは別体をなす圧力空気供給手段（図示せ
ず）からの圧力空気供給ノズル（図示せず）が接
続される。この圧力空気は配管２２により液体タ
ンク４に導入される。カプラ２１から供給された
圧力空気はバルブ２３を介して減圧弁２４に流入
し、減圧弁２４により所定圧力に減圧された後、
バルブ２５、圧力計１６を介して液体タンク４に
流入して液体タンク４内の液体を加圧する。なお
２６は液体タンク４内の圧力空気を解放するため
のボール弁、２７は液体タンク４内の圧力が所定
耐圧値以上となつた場合、液体タンク４内の圧力
空気を解放する安全弁（第１図においてはボール
弁２６の後方位置にあるため図示せず）である。
また２８は液体タンク４内に液体（水）を注入す
る注入口である。
について説明する。第一のカプラ２１には弁試験
装置１とは別体をなす圧力空気供給手段（図示せ
ず）からの圧力空気供給ノズル（図示せず）が接
続される。この圧力空気は配管２２により液体タ
ンク４に導入される。カプラ２１から供給された
圧力空気はバルブ２３を介して減圧弁２４に流入
し、減圧弁２４により所定圧力に減圧された後、
バルブ２５、圧力計１６を介して液体タンク４に
流入して液体タンク４内の液体を加圧する。なお
２６は液体タンク４内の圧力空気を解放するため
のボール弁、２７は液体タンク４内の圧力が所定
耐圧値以上となつた場合、液体タンク４内の圧力
空気を解放する安全弁（第１図においてはボール
弁２６の後方位置にあるため図示せず）である。
また２８は液体タンク４内に液体（水）を注入す
る注入口である。
液体タンク４の底部には流入管２９の一端が接
続されており、この流入管２９の他端は漏洩試験
用バルブ６に接続されている。この漏洩試験用バ
ルブ６には導液配管５の一端が接続されている。
導液配管５の他端は分岐され、分岐された導液配
管５ａ〜５ｄは夫々弁取付部３ａ〜３ｄに接続さ
れている。なお導液配管５には圧力計１７，１８
が設けられており、特に漏洩試験の際用いる圧力
計１７はバルブ３０により導液配管５に導入され
る圧力流体を遮断し得る構成となつている。
続されており、この流入管２９の他端は漏洩試験
用バルブ６に接続されている。この漏洩試験用バ
ルブ６には導液配管５の一端が接続されている。
導液配管５の他端は分岐され、分岐された導液配
管５ａ〜５ｄは夫々弁取付部３ａ〜３ｄに接続さ
れている。なお導液配管５には圧力計１７，１８
が設けられており、特に漏洩試験の際用いる圧力
計１７はバルブ３０により導液配管５に導入され
る圧力流体を遮断し得る構成となつている。
セレクタ弁１１ａ〜１１ｄは第２図に一点鎖線
で示す如く（第２図にはセレクタ弁１１ａのみ図
示する。なお他のセレクタ弁１１ｂ〜１１ｄにお
いても構成は同一である）、流入口１１ａ−1と流
出口１１ａ−2を有してり、分岐された導液配管
５ａは弁取付部３ａにおいて流入口１１ａ−1と
接続される。また、セレクタ弁１１ａの流出口１
１ａ−2はバルブ１２ａを介して漏れゲージ１３
ａに接続される。
で示す如く（第２図にはセレクタ弁１１ａのみ図
示する。なお他のセレクタ弁１１ｂ〜１１ｄにお
いても構成は同一である）、流入口１１ａ−1と流
出口１１ａ−2を有してり、分岐された導液配管
５ａは弁取付部３ａにおいて流入口１１ａ−1と
接続される。また、セレクタ弁１１ａの流出口１
１ａ−2はバルブ１２ａを介して漏れゲージ１３
ａに接続される。
次に耐圧試験において実働する各構成及び配管
について説明する。なお漏洩試験においても機能
する構成及び配管についてはその説明を簡略化し
て述べる。第二のカプラ３１には弁試験装置１と
は別体をなす高圧液体供給手段からの高圧液体供
給ノズル（図示せず）が接続される。カプラ３１
より導入された高圧液体は高圧管路３２に流入す
る。この高圧管路３２は耐圧試験用バルブ８が接
続されており、またこの耐圧試験用バルブ８には
導液配管５が接続されている。なお３３は圧力液
体中に存在するゴミ等を除去するフイルタであ
る。
について説明する。なお漏洩試験においても機能
する構成及び配管についてはその説明を簡略化し
て述べる。第二のカプラ３１には弁試験装置１と
は別体をなす高圧液体供給手段からの高圧液体供
給ノズル（図示せず）が接続される。カプラ３１
より導入された高圧液体は高圧管路３２に流入す
る。この高圧管路３２は耐圧試験用バルブ８が接
続されており、またこの耐圧試験用バルブ８には
導液配管５が接続されている。なお３３は圧力液
体中に存在するゴミ等を除去するフイルタであ
る。
上記配管系統において漏洩試験を実施する時
は、漏洩試験用バルブ６及びバルブ２３，２５，
３０，１２ａ〜１２ｄを開弁すると共に耐圧試験
用バルブ８を閉弁する。これにより液体タンク４
内の圧力液体は流入管２９、漏洩試験用バルブ
６、導液配管５を流れて弁取付部３ａ〜３ｄに到
り、セレクタ弁１１ａ〜１１ｄに流入する。もし
セレクタ弁１１ａ〜１１ｄが不良であり完全に閉
弁されていない場合（漏洩試験時には後述の如く
電気回路パネル９より各セレクタ弁１１ａ〜１１
ｄに電圧が印加され、各セレクタ弁１１ａ〜１１
ｄは閉弁状態となつている）、漏洩した液体は流
出口１１ａ−2（第２図に示す）よりバルブ１２ａ
〜１２ｄを介して漏れゲージ１３ａ〜１３ｄに流
入してこれに溜り試験者はこの漏れゲージ１３ａ
〜１３ｄを観察することによりセレクタ弁１１ａ
〜１１ｄの漏れの有無を判断できる。なお各セレ
クタ弁１１ａ〜１１ｄに印加されている圧力流体
の圧力は圧力計１７により知ることができる。
は、漏洩試験用バルブ６及びバルブ２３，２５，
３０，１２ａ〜１２ｄを開弁すると共に耐圧試験
用バルブ８を閉弁する。これにより液体タンク４
内の圧力液体は流入管２９、漏洩試験用バルブ
６、導液配管５を流れて弁取付部３ａ〜３ｄに到
り、セレクタ弁１１ａ〜１１ｄに流入する。もし
セレクタ弁１１ａ〜１１ｄが不良であり完全に閉
弁されていない場合（漏洩試験時には後述の如く
電気回路パネル９より各セレクタ弁１１ａ〜１１
ｄに電圧が印加され、各セレクタ弁１１ａ〜１１
ｄは閉弁状態となつている）、漏洩した液体は流
出口１１ａ−2（第２図に示す）よりバルブ１２ａ
〜１２ｄを介して漏れゲージ１３ａ〜１３ｄに流
入してこれに溜り試験者はこの漏れゲージ１３ａ
〜１３ｄを観察することによりセレクタ弁１１ａ
〜１１ｄの漏れの有無を判断できる。なお各セレ
クタ弁１１ａ〜１１ｄに印加されている圧力流体
の圧力は圧力計１７により知ることができる。
また耐圧試験を実施する時は、漏洩試験用バル
ブ６、バルブ３０，１２ａ〜１２ｄを閉弁すると
共に耐圧試験用バルブ８を開弁する。これにより
高圧管路３２に流入されている高圧液体は耐圧試
験用バルブ８、導液配管５を流れて弁取付部３ａ
〜３ｄに到り、セレクタ弁１１ａ〜１１ｄに流入
する。この状態を所定時間維持し、試験者はこの
所定時間内にセレクタ弁１１ａ〜１１ｄを構成す
る各部品の接続部等より漏れがないかどうかを観
察する。なお各セレクタ弁１１ａ〜１１ｄに印加
されている高圧液体の圧力は圧力計１８により知
ることができる（圧力計１７は漏洩試験用の物で
ありその最大測定可能圧力は2atm程度であるた
め、約150atmの圧力を有する高圧液体を印加す
ると破損してしまう。よつてバルブ３０を閉弁す
ることにより圧力計１７を保護している）。
ブ６、バルブ３０，１２ａ〜１２ｄを閉弁すると
共に耐圧試験用バルブ８を開弁する。これにより
高圧管路３２に流入されている高圧液体は耐圧試
験用バルブ８、導液配管５を流れて弁取付部３ａ
〜３ｄに到り、セレクタ弁１１ａ〜１１ｄに流入
する。この状態を所定時間維持し、試験者はこの
所定時間内にセレクタ弁１１ａ〜１１ｄを構成す
る各部品の接続部等より漏れがないかどうかを観
察する。なお各セレクタ弁１１ａ〜１１ｄに印加
されている高圧液体の圧力は圧力計１８により知
ることができる（圧力計１７は漏洩試験用の物で
ありその最大測定可能圧力は2atm程度であるた
め、約150atmの圧力を有する高圧液体を印加す
ると破損してしまう。よつてバルブ３０を閉弁す
ることにより圧力計１７を保護している）。
上記の如く、試験者は複数（例えば４台）のセ
レクタ弁１１ａ〜１１ｄの漏洩及び耐圧試験を一
括的に実施することができるので多数あるセレク
タ弁の弁試験を効率良く実施することができ、試
験時間の短縮を行ない得る。これに加えて漏洩試
験及び耐圧試験はセレクタ弁１１ａ〜１１ｄを一
旦弁取付部３ａ〜３ｄに装着した後は、漏洩試験
用バルブ６、耐圧試験用バルブ８及び他のバルブ
類を開閉弁操作するのみで良く、上記二種類の試
験毎にセレクタ弁１１ａ〜１１ｄを装着脱する必
要はなくこれによつても試験時間の短縮を行ない
得る。
レクタ弁１１ａ〜１１ｄの漏洩及び耐圧試験を一
括的に実施することができるので多数あるセレク
タ弁の弁試験を効率良く実施することができ、試
験時間の短縮を行ない得る。これに加えて漏洩試
験及び耐圧試験はセレクタ弁１１ａ〜１１ｄを一
旦弁取付部３ａ〜３ｄに装着した後は、漏洩試験
用バルブ６、耐圧試験用バルブ８及び他のバルブ
類を開閉弁操作するのみで良く、上記二種類の試
験毎にセレクタ弁１１ａ〜１１ｄを装着脱する必
要はなくこれによつても試験時間の短縮を行ない
得る。
続いて電気回路パネル９内に配設された電気回
路について第４図を用いて説明する。同図に示す
電気回路は端子基板TB１，TB２にタイマー回
路３４、リレー接点３５、ブレーカ３６、パイロ
ツトランプPL1〜PL4等を接続した構成となつて
いる。
路について第４図を用いて説明する。同図に示す
電気回路は端子基板TB１，TB２にタイマー回
路３４、リレー接点３５、ブレーカ３６、パイロ
ツトランプPL1〜PL4等を接続した構成となつて
いる。
ソケツト３７より供給されるAC100V電源はブ
レーカ３６を介してリレー接点３５及び端子基板
TB２の端子A9，A10に接続されたタイマー回路
３４に供給されている。またリレー接点３５の出
力側は分流されて端子基板TB１，TB２の端子
A1〜A8に夫々接続されている。そして端子A1，
A2間にはパイロツトランプPL1とセレクタ弁１１
ａが、端子A3，A4間にはパイロツトランプPL2
とセレクタ弁１１ｂが、端子A5，A6間にはパイ
ロツトランプPL3とセレクタ弁１１ｃが、端子
A7，A8にはパイロツトランプPL4とセレクタ弁
１１ｄが夫々接続されている。各セレクタ弁１１
ａ〜１１ｄ及びパイロツトランプPL1〜PL2は後
述する如くタイマー回路３４によりリレー接点３
５が閉成されるとソケツト３７よりの電源が供給
される。
レーカ３６を介してリレー接点３５及び端子基板
TB２の端子A9，A10に接続されたタイマー回路
３４に供給されている。またリレー接点３５の出
力側は分流されて端子基板TB１，TB２の端子
A1〜A8に夫々接続されている。そして端子A1，
A2間にはパイロツトランプPL1とセレクタ弁１１
ａが、端子A3，A4間にはパイロツトランプPL2
とセレクタ弁１１ｂが、端子A5，A6間にはパイ
ロツトランプPL3とセレクタ弁１１ｃが、端子
A7，A8にはパイロツトランプPL4とセレクタ弁
１１ｄが夫々接続されている。各セレクタ弁１１
ａ〜１１ｄ及びパイロツトランプPL1〜PL2は後
述する如くタイマー回路３４によりリレー接点３
５が閉成されるとソケツト３７よりの電源が供給
される。
タイマー回路３４の一実施例を第５図に示す。
同図においてPB１，PB２は夫々押釦スイツチで
あり、Ｔはタイマー、Ｒはリレー、Bzはブザー、
PLはパイロツトランプを夫々示している。本回
路の起動スイツチとなる押釦スイツチPB１を閉
成すると端子A9，A10間に印加されている電圧が
タイマーＴ及びリレＲに印加される。これにより
タイマーＴは時間計数を開始すると共にリレーＲ
は通電励磁されて常開接点r1，r2（この常開接点
r1，r2はリレー接点３５を形成する）を閉成す
る。これにより各パイロツトランプPL1〜PL4が
点燈すると共に各セレクタ弁１１ａ〜１１ｄに電
圧印加され各セレクタ弁１１ａ〜１１ｄは閉弁状
態（前述の如く、セレクタ弁１１ａ〜１１ｄは電
磁弁である）となる。この状態において試験者は
パイロツトランプPL1〜PL4の点燈を確認後前述
の漏洩試験用バルブ６、耐圧試験用バルブ８等を
操作して漏洩、耐圧試験を実施する。
同図においてPB１，PB２は夫々押釦スイツチで
あり、Ｔはタイマー、Ｒはリレー、Bzはブザー、
PLはパイロツトランプを夫々示している。本回
路の起動スイツチとなる押釦スイツチPB１を閉
成すると端子A9，A10間に印加されている電圧が
タイマーＴ及びリレＲに印加される。これにより
タイマーＴは時間計数を開始すると共にリレーＲ
は通電励磁されて常開接点r1，r2（この常開接点
r1，r2はリレー接点３５を形成する）を閉成す
る。これにより各パイロツトランプPL1〜PL4が
点燈すると共に各セレクタ弁１１ａ〜１１ｄに電
圧印加され各セレクタ弁１１ａ〜１１ｄは閉弁状
態（前述の如く、セレクタ弁１１ａ〜１１ｄは電
磁弁である）となる。この状態において試験者は
パイロツトランプPL1〜PL4の点燈を確認後前述
の漏洩試験用バルブ６、耐圧試験用バルブ８等を
操作して漏洩、耐圧試験を実施する。
前述した如く漏洩試験及び耐圧試験は圧力液体
をセレクタ弁１１ａ〜１１ｄに所定時間付勢した
状態を維持して、その間におけるセレクタ弁１１
ａ〜１１ｄの漏れ等を観察する試験である。タイ
マーＴは上記所定時間をセツトし得る構成となつ
ている。従つて所定試験時間を経過するとタイマ
ーＴは作動し、常閉接点T1を開成させると共に
常開接点T2を閉成させる。常閉接点T1の開成に
よりリレーＲへの通電は停止され閉成されていた
常開接点r1，r2は開成されセレクタ弁１１ａ〜１
１ｄ、パイロツトランプPL1〜PL4への電圧供給
が停止される。また常開接点T2の閉成によりブ
ザーBz、パイロツトランプPLに電圧印加され試
験者に試験終了時間が来たことを知らせる。ここ
で試験者は押釦スイツチPB２を開成する。これ
によりタイマーＴがリセツトされ常閉接点T1が
閉成するとともに常開接点T2が開成する。これ
により本回路は押釦スイツチPB１が閉成される
前の状態に戻つたことになる。なお押釦スイツチ
PB２が操作されると押し釦スイツチPB１は開成
される構造となつている。上記の如く電気回路パ
ネル９内に配設された電気回路により、試験者は
漏洩、耐圧試験の試験時間にさほど気に取らわれ
ずにセレクタ弁１１ａ〜１１ｄの弁試験を実施で
きるので、弁試験における試験精度の向上を望む
ことができる。
をセレクタ弁１１ａ〜１１ｄに所定時間付勢した
状態を維持して、その間におけるセレクタ弁１１
ａ〜１１ｄの漏れ等を観察する試験である。タイ
マーＴは上記所定時間をセツトし得る構成となつ
ている。従つて所定試験時間を経過するとタイマ
ーＴは作動し、常閉接点T1を開成させると共に
常開接点T2を閉成させる。常閉接点T1の開成に
よりリレーＲへの通電は停止され閉成されていた
常開接点r1，r2は開成されセレクタ弁１１ａ〜１
１ｄ、パイロツトランプPL1〜PL4への電圧供給
が停止される。また常開接点T2の閉成によりブ
ザーBz、パイロツトランプPLに電圧印加され試
験者に試験終了時間が来たことを知らせる。ここ
で試験者は押釦スイツチPB２を開成する。これ
によりタイマーＴがリセツトされ常閉接点T1が
閉成するとともに常開接点T2が開成する。これ
により本回路は押釦スイツチPB１が閉成される
前の状態に戻つたことになる。なお押釦スイツチ
PB２が操作されると押し釦スイツチPB１は開成
される構造となつている。上記の如く電気回路パ
ネル９内に配設された電気回路により、試験者は
漏洩、耐圧試験の試験時間にさほど気に取らわれ
ずにセレクタ弁１１ａ〜１１ｄの弁試験を実施で
きるので、弁試験における試験精度の向上を望む
ことができる。
なお上記構成においては、複数のセレクタ弁１
１ａ〜１１ｄを一括的に同時に試験する構成とし
たが、これに限られるものではなく各導液配管５
ａ〜５ｄにバルブを設けることにより、このバル
ブ操作により複数の弁取付部３ａ〜３ｄを選択的
に使用し得る構成としてもよい。
１ａ〜１１ｄを一括的に同時に試験する構成とし
たが、これに限られるものではなく各導液配管５
ａ〜５ｄにバルブを設けることにより、このバル
ブ操作により複数の弁取付部３ａ〜３ｄを選択的
に使用し得る構成としてもよい。
考案の効果
上述の如く本考案になる弁試験装置において
は、複数の被試験弁の一括的な漏洩試験及び耐圧
試験が実現でき、かつ一旦被試験弁を装着すれば
漏洩及び耐圧試験を同一装置で行なうことができ
るため大幅な作業効率の向上が望め、これに加え
て試験時間も短縮され原子力発電所内の放射線作
業においても徒らに被曝量を増大させることもな
く試験者の被曝低減をも実現でき、更にはタイマ
ー回路により所定の試験時間が経過するとタイマ
ー回路は作動し、スイツチ回路を開成して被試験
弁への電気信号の供給を自動的に停止させるた
め、試験者は試験時間に気を取られずに作業を行
うことができ、かつ試験を行う各被試験弁に対し
試験時間を一定とすることができるため、試験精
度を向上させることができる等の特長を有する。
は、複数の被試験弁の一括的な漏洩試験及び耐圧
試験が実現でき、かつ一旦被試験弁を装着すれば
漏洩及び耐圧試験を同一装置で行なうことができ
るため大幅な作業効率の向上が望め、これに加え
て試験時間も短縮され原子力発電所内の放射線作
業においても徒らに被曝量を増大させることもな
く試験者の被曝低減をも実現でき、更にはタイマ
ー回路により所定の試験時間が経過するとタイマ
ー回路は作動し、スイツチ回路を開成して被試験
弁への電気信号の供給を自動的に停止させるた
め、試験者は試験時間に気を取られずに作業を行
うことができ、かつ試験を行う各被試験弁に対し
試験時間を一定とすることができるため、試験精
度を向上させることができる等の特長を有する。
第１図は本考案になる弁試験装置の一実施例の
正面図、第２図は第１図の弁試験装置の側面図、
第３図は本考案弁試験装置の配管系統図、第４図
は第１図の弁試験装置の電気回路パネル内に配設
された電気回路の一実施例を示す回路図、第５図
は第４図におけるタイマー回路の一実施例を示す
回路図である。 １……弁試験装置、２……基台、３ａ〜３ｄ…
…弁取付部、４……液体タンク、５，５ａ〜５ｄ
……導液配管、６……漏洩試験用バルブ、７……
高圧配管、８……耐圧試験用バルブ、９……電気
回路パネル、１１ａ〜１１ｄ……セレクタ弁、１
２ａ〜１２ｄ，２３，２５，３０……バルブ、２
９……流入管、３２……高圧管路、３４……タイ
マー回路。
正面図、第２図は第１図の弁試験装置の側面図、
第３図は本考案弁試験装置の配管系統図、第４図
は第１図の弁試験装置の電気回路パネル内に配設
された電気回路の一実施例を示す回路図、第５図
は第４図におけるタイマー回路の一実施例を示す
回路図である。 １……弁試験装置、２……基台、３ａ〜３ｄ…
…弁取付部、４……液体タンク、５，５ａ〜５ｄ
……導液配管、６……漏洩試験用バルブ、７……
高圧配管、８……耐圧試験用バルブ、９……電気
回路パネル、１１ａ〜１１ｄ……セレクタ弁、１
２ａ〜１２ｄ，２３，２５，３０……バルブ、２
９……流入管、３２……高圧管路、３４……タイ
マー回路。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 基台上に複数個配設されており、電気信号によ
り開閉弁動作する被試験弁が取り付けられる弁取
付部と、 耐圧試験時に開弁操作され、前記複数個の弁取
付部に接続された導液配管を介して高圧液体を弁
取付部に取り付けられた被試験弁に供給する第１
の弁体と、 漏洩試験時に開弁操作され、上記導液配管を介
して圧力流体を上記弁取付部に取り付けられた被
試験弁に供給する第２の弁体と、 上記被試験弁に対し電気信号の供給又は供給停
止を行うスイツチ回路と、 上記スイツチ回路の動作を制御し、試験時間中
上記スイツチ回路を閉成して上記複数の被試験弁
に一括的に電気信号を供給し、試験の終了時に上
記スイツチ回路を開成し、上記被試験弁に対する
電気信号の供給を一括的に停止させるタイマ回路
と を設けてなる構成の弁試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985023299U JPH031798Y2 (ja) | 1985-02-20 | 1985-02-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985023299U JPH031798Y2 (ja) | 1985-02-20 | 1985-02-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61139454U JPS61139454U (ja) | 1986-08-29 |
| JPH031798Y2 true JPH031798Y2 (ja) | 1991-01-18 |
Family
ID=30516408
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985023299U Expired JPH031798Y2 (ja) | 1985-02-20 | 1985-02-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH031798Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101093183B1 (ko) | 2009-10-08 | 2011-12-13 | (주)연우 | 화장품 용기용 씨브이 밸브 조립 장치의 밸브 검사장치 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS548581A (en) * | 1977-06-21 | 1979-01-22 | Tomio Yamada | Pressure resistance and leakage testor of pressure resistant container |
-
1985
- 1985-02-20 JP JP1985023299U patent/JPH031798Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61139454U (ja) | 1986-08-29 |
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