JPH03181836A - 反射光による光学系の特性評価装置 - Google Patents

反射光による光学系の特性評価装置

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JPH03181836A
JPH03181836A JP32069089A JP32069089A JPH03181836A JP H03181836 A JPH03181836 A JP H03181836A JP 32069089 A JP32069089 A JP 32069089A JP 32069089 A JP32069089 A JP 32069089A JP H03181836 A JPH03181836 A JP H03181836A
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JP
Japan
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light
optical system
reflected light
optical
measured
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JP32069089A
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English (en)
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Hidetoshi Miyao
宮尾 英俊
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Anritsu Corp
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Anritsu Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野J 本発明は、光通信又は光通信用光測定器における光学系
の反射光に対する特性を評価する特性評価装置に関する
[従来の技術] 光源モジュール又は光回路部品等の光学系からファイバ
に光を入射すると、ファイバから光学系に反射光が返る
。この反射光によってその光学系が影響され、光学特性
に悪影響を及ぼすことが多い。
この反射率を測定する装置として第3図に示す反射率光
測定器があった。この反射率測定装置は、光源等の光学
系30と、遠端部が全反射処理されたファイバ31との
間に光方向性結合器32を設け、ファイバ31からの反
射光を光方向性結合器32に接続された光検出器33で
検出する構成である。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上記反射率光測定器では、反射光を検出
することができるのみであり、光学系30の反射光に対
する特性変化を測定することができなかった。
これにより、ファイバ31からの反射量がどの位あれば
光学系30側の影響が出るのが不明であリ、具体的には
光学系30の反射光による光レベル安定度、スペクトル
半値幅、伝送特性等の特性を得ることができず、光学系
の特性評価をすることができなかった。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたちのであり、光
学系の反射光に対する特性を評価することができる反射
光による光学系の特性評価装置を提供することを目的と
している。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため本発明の反射光による光学系の
特性評価装置は、被測定光学系からの光を受けて2方向
に分岐する光分岐結合手段と、該光分岐結合手段で分岐
された一方の光を受ける光測定器と、 前記光分岐結合手段で分岐されたもう一方の光を受け、
その光を所定量反射させる光反射量可変手段とを備える
ことにより、 前記光反射量可変手段からの反射光が前記被測定光学系
に戻り、前記光測定器によって被測定光学系の該反射光
による特性評価を行なうことを特徴とする。
[作用] 上記構成によれば、被測定光学系の反射光による特性評
価を行なうことができる。
また、反射光は反射光可変手段により定量的に可変する
ことができ、反射量に対応した被測定光学系の特性変化
を得ることができる。
[実施例1 第1図は、本発明による反射光による光学系の特性評価
装置の実施例を示すブロック図である。
光反射特性を評価しようとする被測定光学系lは、光源
、あるいは光源、アイソレータ、減衰器、光スィッチ等
からなる光学部品により構成され、この被測定光学系l
の光出射端は光分岐結合手段3の一端側のボート13a
に接続される。
光分岐結合手段3は、図に示されるファイバカップラ1
3により構成され、双方からの光の入射を分岐して他方
側へ出力する。
ここで、ボート13aには被測定光学系1の光が入射さ
れ、この光は光分岐結合手段3によりボート13c、1
3dに出射されることになる。
光分岐結合手段3の他端側のボート13cには、図示し
ないが光測定器が接続される。この光測定器としては、
パワーメータ、スペクトラムアナライザ、伝送特性試験
器等があり、被測定光学系lの光特性を評価するもので
ある。
また、ボート13dには、光反射量可変手段5が接続さ
れる。この光反射量可変手段5は、光減衰器15a、お
よび端部を全反射処理したファイバ15bにより構成さ
れる。そして、この光反射量可変手段5は、ボート13
dから入射される光を所定量反射して再びボート13d
から光分岐結合手段3の一端側に戻す。そして、光減衰
器5aは、全反射された反射光を任意量減衰し、これに
より反射量を可変することができる。
尚、ボート13bにはパワーメータ7等を接続でき、こ
のパワーメータ7により前記反射光をモニタすることが
できる。
次に、上記構成による作用を説明する。
被測定光学系1から出射される光は、光分岐結合器3に
おいてボート13aから入射され、ボー)1.3c、1
3dから出射される。ボート13dから゛出射された光
は、光反射量可変手段5に供給される。光反射量可変手
段5では、ファイバ15bで全反射される光が光減衰器
1.5 aにより任意M減衰され(厳密には入射時およ
び反射時の双方で減衰されて)、ボート13dに戻る。
この反射光は光分岐結合手段3のボート13a、13b
から出射される。
したがって、被測定光学系lには所定量の反射光が戻る
ことになり、この反射光による特性評価を行なうことが
できる。
この特性評価は、ボート13cに接続された光測定器に
より行なわれる。この光測定器がパワーメータである場
合には、前記光反射量可変手段5による反射光量に対応
した被測定光学系lのパワー特性への影響を測定するこ
とができる。
また、ボート13cにスペクトラムアナライザを接続す
ることにより、反射光量に対応した被測走光学系lのス
ペクトラム特性(スペクトル半値幅、線幅)への影響を
測定することができる。
さらに、ボート13cに伝送特性試験器を接続すること
により、反射光量に対する周波数特性への影響を測定す
ることができる。尚、この伝送特性試験器を用いる場合
には被測定光学系1に設けられた光源駆動用の電源部に
対して周波数変調を可変するためのループ経路を設ける
ことになる。
そして、第2図に示すのは、上記実施例の変形例である
ここで、前記光分岐結合器3としては光方向性結合器2
3を用いる。また、光反射型可変手段5として前記光減
衰器15aのみを用い、かつ、後端部に全反射ミラー1
5cを設ける構成とすることにより、前記実施例と同様
の作用効果を得ることができる。
また、光反射型可変手段5として、ファイバ1、5 b
のみを用い、このファイバ15b後端部を任意に処理し
て所望の反射量を得る構成としてもよい。この場合には
、各種反射量のファイバ15bを予め用意し、ボート2
3dに着脱操作することにより、各種反射量を得ること
ができる。
[発明の効果] 本発明によれば、被測定光学系の反射光による特性評価
を簡単な構成で安価、かつ容易に測定することができる
また1反射光量を定量的に可変することができるので、
上記特性評価を反射光量に対応して連続的に行なうこと
ができる。
そして、被測定光学系としての光源に用いられているL
D等について、反射光量による緒特性の変化を測定でき
るようになり、このLDの品質管理を行なうことができ
るようになった。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の反射光による光学系の特性評価装置
を示すブロック図、第2図は、同装置の変形例を示すブ
ロック図、第3図は、従来の反射率光測定器を示す図で
ある。 1・・・被測定光学系、3・・・光分岐結合手段、5・
・・光反射型可変手段、13・・・ファイバカップラ、
13a、13b、13c、13d−ボート、15a・・
・光減衰器、15b・・・ファイバ、23・・・光方向
性結合器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 被測定光学系からの光を受けて2方向に分岐する光分岐
    結合手段と、 該光分岐結合手段で分岐された一方の光を受ける光測定
    器と、 前記光分岐結合手段で分岐されたもう一方の光を受け、
    その光を所定量反射させる光反射量可変手段とを備える
    ことにより、 前記光反射量可変手段からの反射光が前記被測定光学系
    に戻り、前記光測定器によって被測定光学系の該反射光
    による特性評価を行なうことを特徴とする反射光による
    光学系の特性評価装置。
JP32069089A 1989-12-12 1989-12-12 反射光による光学系の特性評価装置 Pending JPH03181836A (ja)

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JP32069089A JPH03181836A (ja) 1989-12-12 1989-12-12 反射光による光学系の特性評価装置

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JP32069089A JPH03181836A (ja) 1989-12-12 1989-12-12 反射光による光学系の特性評価装置

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JPH03181836A true JPH03181836A (ja) 1991-08-07

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JP (1) JPH03181836A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5455671A (en) * 1993-04-08 1995-10-03 Koninklijke Ptt Nederland N.V. Optical circuit for a measuring system for measuring the reflection sensitivity of an optical transmission system
US5589933A (en) * 1994-10-24 1996-12-31 Photon Kinetics, Inc. Optical fiber test instrument with mechanically positioned attenuator

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5455671A (en) * 1993-04-08 1995-10-03 Koninklijke Ptt Nederland N.V. Optical circuit for a measuring system for measuring the reflection sensitivity of an optical transmission system
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