JPH0318752A - 導管の潰れや擦過の検出装置 - Google Patents
導管の潰れや擦過の検出装置Info
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- JPH0318752A JPH0318752A JP2125283A JP12528390A JPH0318752A JP H0318752 A JPH0318752 A JP H0318752A JP 2125283 A JP2125283 A JP 2125283A JP 12528390 A JP12528390 A JP 12528390A JP H0318752 A JPH0318752 A JP H0318752A
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- conduit
- semiconductor layer
- internal semiconductor
- core
- electrical switching
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/08—Locating faults in cables, transmission lines, or networks
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Rigid Pipes And Flexible Pipes (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Electric Cable Installation (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、アセンブリの他の構造体によって潰れたり擦
り傷をつけられ易い導管に係るものであり、更にそのよ
うな導管と潰れや擦れを検出しその位置を測定する手段
とより成るアセンブリに係るものである。
り傷をつけられ易い導管に係るものであり、更にそのよ
うな導管と潰れや擦れを検出しその位置を測定する手段
とより成るアセンブリに係るものである。
本発明はアセンブリの要素から非剛性的に延びている導
管、例えばケーブル、チューブ、ホースなどに利用でき
る。これらの導管は、例えば電気ケーブル、光ファイバ
ーもしくは種々の流体ラインを芯もしくはコアとして含
んでいる。
管、例えばケーブル、チューブ、ホースなどに利用でき
る。これらの導管は、例えば電気ケーブル、光ファイバ
ーもしくは種々の流体ラインを芯もしくはコアとして含
んでいる。
それらの導管は油圧もしくは空気圧ホースや張力ケーブ
ルとして使用することもある。特に本発明は、隠れて見
えない処に電気ケーブルを設置する場合やケーブルに容
易に近接できず、従ってケーブルが潰れたり、擦れたり
しているかどうかを視覚で確かめることができない場合
に有利である。
ルとして使用することもある。特に本発明は、隠れて見
えない処に電気ケーブルを設置する場合やケーブルに容
易に近接できず、従ってケーブルが潰れたり、擦れたり
しているかどうかを視覚で確かめることができない場合
に有利である。
アセンブリを設置するときや、後で取り外して再設置す
るとき、例えば、ハウジングと構造部材との間に導管を
うっかり挟んだりして、固定していない導管をしばしば
損傷させることがある。
るとき、例えば、ハウジングと構造部材との間に導管を
うっかり挟んだりして、固定していない導管をしばしば
損傷させることがある。
このように導管が潰れると直ぐ破損するか或いは後で破
損したりする。また、それ程ひどく潰れていなくても、
例えば導管を摩損させる振動によるなどして破損状態が
次第に進行していくことがある。このような破損は、植
空機や他の同様な人命に係わる設備や装置では殊に重大
であるが、それと言って潜在的な破損箇所を反復して検
査するということも実際的でない。更に、実際の破損個
所を探索したり、存在することがわかっている欠陥状態
を突きとめるのは非常に時間がかかることである。
損したりする。また、それ程ひどく潰れていなくても、
例えば導管を摩損させる振動によるなどして破損状態が
次第に進行していくことがある。このような破損は、植
空機や他の同様な人命に係わる設備や装置では殊に重大
であるが、それと言って潜在的な破損箇所を反復して検
査するということも実際的でない。更に、実際の破損個
所を探索したり、存在することがわかっている欠陥状態
を突きとめるのは非常に時間がかかることである。
通常の使用上の破損に加えて、通信線、コンピュータの
ケーブル、その他比較的近接し易い重要な導管が故意に
破損されるかもしれないという懸念があるが、そのよう
な破損行為は発見できない。発見できてもできなくても
、長いそして多数の導管の潰れを迅速に検出し、その破
損箇所を出来るだけ迅速に点検しなければならない。
ケーブル、その他比較的近接し易い重要な導管が故意に
破損されるかもしれないという懸念があるが、そのよう
な破損行為は発見できない。発見できてもできなくても
、長いそして多数の導管の潰れを迅速に検出し、その破
損箇所を出来るだけ迅速に点検しなければならない。
これまでは潰れが生じた位置を探索することは実際には
できなかった。米国特許３，７９４，７９０号に開示さ
れたタイプの電気スイッチのような装置は破損個所を突
きとめることができない。「電気的に接地されている構
造体に対するケーブル構造の擦過を検出する装置」と題
して、１９８９年５月１５日に出願され、本願の出願人
に譲渡された米国特許出願０７／３５１，４９８号に開
示されている装置は擦過減らすような擦れでないと役に
立たない。
できなかった。米国特許３，７９４，７９０号に開示さ
れたタイプの電気スイッチのような装置は破損個所を突
きとめることができない。「電気的に接地されている構
造体に対するケーブル構造の擦過を検出する装置」と題
して、１９８９年５月１５日に出願され、本願の出願人
に譲渡された米国特許出願０７／３５１，４９８号に開
示されている装置は擦過減らすような擦れでないと役に
立たない。
本発明の主目的は、入念な検査によりはじめて発見可能
な破損個所を見つけるためにアセンブリを引き裂いたり
、多数の導管を全長にわたって検査しなくても、潰れた
状態のような潜在的な又は実際に生じた破損個所を簡単
に検出もしくは測定できる構造を有する導管を備えるア
センブリを堤供することである。
な破損個所を見つけるためにアセンブリを引き裂いたり
、多数の導管を全長にわたって検査しなくても、潰れた
状態のような潜在的な又は実際に生じた破損個所を簡単
に検出もしくは測定できる構造を有する導管を備えるア
センブリを堤供することである。
この目的を念頭に置いて、潰れ易い軸方向長さ部分と芯
とを有する導管において、芯を包囲して、導管の長さに
わたって延び、潰れや擦過を検出する検出手段に電気的
に接続するようになっている内部半導体層と、潰れてい
ないときは非導電性であり、潰れると導電性となる、弾
性的に圧縮可能な電圧抵抗電気スイッチング層とを備え
、この電気スイッチング層が芯の周りで、内部半導体層
に重なっていることを特徴とした導管を提供する。
とを有する導管において、芯を包囲して、導管の長さに
わたって延び、潰れや擦過を検出する検出手段に電気的
に接続するようになっている内部半導体層と、潰れてい
ないときは非導電性であり、潰れると導電性となる、弾
性的に圧縮可能な電圧抵抗電気スイッチング層とを備え
、この電気スイッチング層が芯の周りで、内部半導体層
に重なっていることを特徴とした導管を提供する。
更に、本発明は、一つの要素から延びている少なくとも
一つの導管が、この導管の軸長に沿って存在する潰れや
擦れの位置を測定する計算ユニットと接続しているアセ
ンブリにおいて、導管が内部半導体層と、弾性的に圧縮
可能な電圧抵抗電気スイッチング層とを有し、前記内部
半導体層が芯を包囲し且つ、計算ユニットと電気的に接
続される基準点を有し、前記電気スイッチング層が潰れ
ていないときは非導電性であり、潰れると導電性となり
、芯の周りで内部半導体層に重なっていることを特徴と
す・るアセンブリを提供する。
一つの導管が、この導管の軸長に沿って存在する潰れや
擦れの位置を測定する計算ユニットと接続しているアセ
ンブリにおいて、導管が内部半導体層と、弾性的に圧縮
可能な電圧抵抗電気スイッチング層とを有し、前記内部
半導体層が芯を包囲し且つ、計算ユニットと電気的に接
続される基準点を有し、前記電気スイッチング層が潰れ
ていないときは非導電性であり、潰れると導電性となり
、芯の周りで内部半導体層に重なっていることを特徴と
す・るアセンブリを提供する。
以下において本発明を実施例につき添付図面を参照して
詳述する。
詳述する。
本明細書では、潰れ易い軸方向長さ部分と芯とを有する
構造体を対象として説明する。一般的にアセンブリに導
管が使用され、その場合接地構造体によって導管が潰れ
ることがある。内部半導体層が導管の全長にわたって延
び、実質的に芯を包囲している。内部半導体層は潰れが
生じた個所を検出及び又は測定する手段と電気的に接続
されるようになっている．内部半導体層は導管の芯を包
囲しているのが好ましい．内部半導体層と接地構造体と
の間に電圧抵抗材料を使用すると都合がよい。電圧抵抗
材料とは、機械的な歪みを受けると非導電性材料から導
電性材料に変わるか、もしくは導電性材料から非導電性
材料に変わる材料である。この電圧抵抗材料を電気スイ
ッチとして使用する。潰れた状態で導電性となる弾性的
に圧縮可能な電圧抵抗電気スイッチング層を内部半導体
層に重ね、導管の芯を包囲する。例えば導管の垂下部分
に運動中の物体が当たることがあり、それ故接地構造体
によって潰されることのない状態で使用されるように設
計された導管、または接地構造体が非導電性材料から構
戒されている場合に使用されるように設計された導管は
、金属導体のような外郎導電性要素もしくはスイッチン
グ層に重ねた半導体層を有する。その場合導管は非接地
物体と接触して潰れたり、接地構造体と電気的に接触す
る。
構造体を対象として説明する。一般的にアセンブリに導
管が使用され、その場合接地構造体によって導管が潰れ
ることがある。内部半導体層が導管の全長にわたって延
び、実質的に芯を包囲している。内部半導体層は潰れが
生じた個所を検出及び又は測定する手段と電気的に接続
されるようになっている．内部半導体層は導管の芯を包
囲しているのが好ましい．内部半導体層と接地構造体と
の間に電圧抵抗材料を使用すると都合がよい。電圧抵抗
材料とは、機械的な歪みを受けると非導電性材料から導
電性材料に変わるか、もしくは導電性材料から非導電性
材料に変わる材料である。この電圧抵抗材料を電気スイ
ッチとして使用する。潰れた状態で導電性となる弾性的
に圧縮可能な電圧抵抗電気スイッチング層を内部半導体
層に重ね、導管の芯を包囲する。例えば導管の垂下部分
に運動中の物体が当たることがあり、それ故接地構造体
によって潰されることのない状態で使用されるように設
計された導管、または接地構造体が非導電性材料から構
戒されている場合に使用されるように設計された導管は
、金属導体のような外郎導電性要素もしくはスイッチン
グ層に重ねた半導体層を有する。その場合導管は非接地
物体と接触して潰れたり、接地構造体と電気的に接触す
る。
本発明の導管は半導体層と弾性的に圧縮可能なスイッチ
ング層との電気的特性とを組み合わせて潰れが生じた個
所と相関関係を有するアナログ電気信号を発生させる。
ング層との電気的特性とを組み合わせて潰れが生じた個
所と相関関係を有するアナログ電気信号を発生させる。
半導体層の電気抵抗率は少なくと，も約１０−４乃至１
０−２オーム／ｃｍ’であり、これは従来の電気スイッ
チで使用される銅のような金属の抵抗率の約１０”乃至
１０４倍である。商業的に有用な導管のうち最も短かい
ものでも弾性的に圧縮されたスイッチに比較して十分に
大きな抵抗を有し、このため弾性的に圧縮されたスイッ
チのスイッチ抵抗を無視できるため現在入手可能な計測
機器の使用が容易である。内部半導体層の基準点から遠
い処で電気スイッチング層が十分に圧縮されると（すな
わち、ケーブルが潰れると）、内部半導体層はその点で
接地され、その点までの距離に比例した変化が基準点の
電圧に生じる。すると、アナログもしくはデジタル信号
が検出回路及び／又は計算ユニットに送られて、潰れガ
生じた個所を計算により求める。
０−２オーム／ｃｍ’であり、これは従来の電気スイッ
チで使用される銅のような金属の抵抗率の約１０”乃至
１０４倍である。商業的に有用な導管のうち最も短かい
ものでも弾性的に圧縮されたスイッチに比較して十分に
大きな抵抗を有し、このため弾性的に圧縮されたスイッ
チのスイッチ抵抗を無視できるため現在入手可能な計測
機器の使用が容易である。内部半導体層の基準点から遠
い処で電気スイッチング層が十分に圧縮されると（すな
わち、ケーブルが潰れると）、内部半導体層はその点で
接地され、その点までの距離に比例した変化が基準点の
電圧に生じる。すると、アナログもしくはデジタル信号
が検出回路及び／又は計算ユニットに送られて、潰れガ
生じた個所を計算により求める。
第１図は本発明の可撓導管１０の一部を示し、この導管
は電線１４を支持する軸長１３と芯１２とを有し、電線
１４は図に示すようにビンコネクタ１６へ、もしくはコ
ンピュータのようなアセンブリの他の要素へ延びる。導
管はアセンブリの隣接要素、構造部材等（図示せず）に
よって潰されることがある。導管１０としては光ファイ
バー計測器のエアーライン、張力ケーブル（エレベータ
、クレーン等）等により芯１２が構成されるものである
。同様の導管を使用して産業的用途でガスや油圧流体を
運んだり、医学的用途で酸素を運んだり、そして他の重
要な用途で他の流体を運んだりするのに使用できる。
は電線１４を支持する軸長１３と芯１２とを有し、電線
１４は図に示すようにビンコネクタ１６へ、もしくはコ
ンピュータのようなアセンブリの他の要素へ延びる。導
管はアセンブリの隣接要素、構造部材等（図示せず）に
よって潰されることがある。導管１０としては光ファイ
バー計測器のエアーライン、張力ケーブル（エレベータ
、クレーン等）等により芯１２が構成されるものである
。同様の導管を使用して産業的用途でガスや油圧流体を
運んだり、医学的用途で酸素を運んだり、そして他の重
要な用途で他の流体を運んだりするのに使用できる。
導管１０の全長に沿って内部半導体層２０が配設されて
いる．内部半導体層２０の基準点２２はビンコネクタ１
６へのリード線２４により接続されている。基準点２２
は、第３図に示す漬れ検出回路２６と計算ユニット２８
とに最終的に接続されている。内部半導体層２０は好ま
しくは芯１２を包囲する。内部半導体層２０は、ゴム、
ポリ塩化ビニールもしくは他の適当なエラストマー又は
ポリマーで炭素もしくは適当な導体の導電性粒子を分散
させたものであるのが好ましい。
いる．内部半導体層２０の基準点２２はビンコネクタ１
６へのリード線２４により接続されている。基準点２２
は、第３図に示す漬れ検出回路２６と計算ユニット２８
とに最終的に接続されている。内部半導体層２０は好ま
しくは芯１２を包囲する。内部半導体層２０は、ゴム、
ポリ塩化ビニールもしくは他の適当なエラストマー又は
ポリマーで炭素もしくは適当な導体の導電性粒子を分散
させたものであるのが好ましい。
内部半導体層２０は芯１２を包囲しているらせんもしく
はスリーブを形戒するように線１４の周りに巻いたテー
プでもよいし、チューブ状でもよい。
はスリーブを形戒するように線１４の周りに巻いたテー
プでもよいし、チューブ状でもよい。
導管１０の弾性的に圧縮可能な電圧抵抗電気スイッチは
内部半導体層２０に重ねられており、それは好ましくは
芯を包囲している層３０のようなものである。スイッチ
ング層３０の金属要素は、銀、ニッケルもしくは他の適
当な導電性金属もしくは合金でよい。シリコンエラスト
マーにコロイド状に金属球体を分散させた典型的な電圧
抵抗性の、弾性的に圧縮可能な組成物のスイッチング層
の導電変化特性を第２図に示す。金属球体を体積で約３
０％含む組戊物の体積変化が約５％であると導電率は約
１２乗も殆ど階段状に変化することを第２図は示してい
る。
内部半導体層２０に重ねられており、それは好ましくは
芯を包囲している層３０のようなものである。スイッチ
ング層３０の金属要素は、銀、ニッケルもしくは他の適
当な導電性金属もしくは合金でよい。シリコンエラスト
マーにコロイド状に金属球体を分散させた典型的な電圧
抵抗性の、弾性的に圧縮可能な組成物のスイッチング層
の導電変化特性を第２図に示す。金属球体を体積で約３
０％含む組戊物の体積変化が約５％であると導電率は約
１２乗も殆ど階段状に変化することを第２図は示してい
る。
本発明の好ましい実施例では弾性的に圧縮可能なエラス
トマーは直径約１乃至１０ミクロンのコロイドニッケル
球体を分散して含んでいる。
トマーは直径約１乃至１０ミクロンのコロイドニッケル
球体を分散して含んでいる。
適当な力で圧縮可能な組成物に力のかかっていない状態
で通常の導電率は導電率曲線の膝のすぐ下の値であり、
そして圧縮状態では少なくとも約５乗大きい導電率を有
するようにエラストマーと金属の組成物とそれらの体積
比を選定する。
で通常の導電率は導電率曲線の膝のすぐ下の値であり、
そして圧縮状態では少なくとも約５乗大きい導電率を有
するようにエラストマーと金属の組成物とそれらの体積
比を選定する。
また、圧縮状態での圧縮可能な組成物の抵抗は内部半導
体層２０の抵抗に比して問題にならない程であるべきで
ある。
体層２０の抵抗に比して問題にならない程であるべきで
ある。
第３図は接地構造体Ｃより個所３６で潰される導管１０
を示している。個所３６は内部半導体層２０の基準点２
２から距離ｄの処にある。第４図に示す同様な導管４０
は基準点４３を有する内部半導体層４２と重ねられた、
弾性的に圧縮可能な電気スイッチング層４４を有し、こ
の層４４は点４８で接地されている外部導電層４６を有
している。外部導電層４６はアルミの展開可能な編み組
のような金属導体であるのが好ましい。アルミの展開可
能な編み組は、航空機やその他の用途で重量を軽くする
のに使用すると有利である。導管の芯を電磁妨害から遮
蔽するため、そして導管４０の擦過を防止するため金属
の鞘を使用するとよい。外部導電性要素は内部半導体層
として使用したタイプの半導体層でもよい。このように
すると、外部導電性要素４６は弾性的に圧縮可能な層３
０の全長に沿う軸方向のスリーブもしくはらせん状の覆
いでもよい。
を示している。個所３６は内部半導体層２０の基準点２
２から距離ｄの処にある。第４図に示す同様な導管４０
は基準点４３を有する内部半導体層４２と重ねられた、
弾性的に圧縮可能な電気スイッチング層４４を有し、こ
の層４４は点４８で接地されている外部導電層４６を有
している。外部導電層４６はアルミの展開可能な編み組
のような金属導体であるのが好ましい。アルミの展開可
能な編み組は、航空機やその他の用途で重量を軽くする
のに使用すると有利である。導管の芯を電磁妨害から遮
蔽するため、そして導管４０の擦過を防止するため金属
の鞘を使用するとよい。外部導電性要素は内部半導体層
として使用したタイプの半導体層でもよい。このように
すると、外部導電性要素４６は弾性的に圧縮可能な層３
０の全長に沿う軸方向のスリーブもしくはらせん状の覆
いでもよい。
第３図に略図で示す導管１０は潰，れ検出回路２６と潰
れが生じた個所３６を測定する計算ユニット２８とへ電
気的に接続されている。
れが生じた個所３６を測定する計算ユニット２８とへ電
気的に接続されている。
第３図に示すように、内部半導体層２２の基準点２２は
直列抵抗５４を介して電源５２（もしくは電流源５６）
へ接続されている。潰れや擦れかないときは、電圧■。
直列抵抗５４を介して電源５２（もしくは電流源５６）
へ接続されている。潰れや擦れかないときは、電圧■。
が検出回路２６へ出力され、これは論理状態「１」に対
応する。例えば個所３６で接地構造体によって潰れが生
じたときは、弾性的に圧縮可能な電気スイッチング層３
０の導電率がかなり増大して内部半導体層２０が接地さ
れ、次式の低電圧■，が出力される．Ｖｄ”Ｖｔ源［（
Ｒ ｏ） （ｄ） ］／ ［（Ｒ ．）＋（Ｒｏ） （
ｄ） ］ここで、Ｒ０は内部半導体層２０の単位長当た
りの抵抗、Ｒ．は直列抵抗５４の抵抗（これは論理レベ
ル「Ｏ」に相当する）である。この条件が潰れ検出回路
２６のラッチ６０をセットし、そして発光ダイオード６
２のような指示器を働かす。電圧ＶｄをＡ／ＤｙＲ換器
６６によりデジタル信号に変えて、それをマイクロプロ
セッサであってもよい計算ユニット２８へ送る。１９８
９年５月１５日に出願された上述の米国特許出願に本発
明の導管と併用できる漬れ検出回路と潰れ位置計算ユニ
ットが説明されている。
応する。例えば個所３６で接地構造体によって潰れが生
じたときは、弾性的に圧縮可能な電気スイッチング層３
０の導電率がかなり増大して内部半導体層２０が接地さ
れ、次式の低電圧■，が出力される．Ｖｄ”Ｖｔ源［（
Ｒ ｏ） （ｄ） ］／ ［（Ｒ ．）＋（Ｒｏ） （
ｄ） ］ここで、Ｒ０は内部半導体層２０の単位長当た
りの抵抗、Ｒ．は直列抵抗５４の抵抗（これは論理レベ
ル「Ｏ」に相当する）である。この条件が潰れ検出回路
２６のラッチ６０をセットし、そして発光ダイオード６
２のような指示器を働かす。電圧ＶｄをＡ／ＤｙＲ換器
６６によりデジタル信号に変えて、それをマイクロプロ
セッサであってもよい計算ユニット２８へ送る。１９８
９年５月１５日に出願された上述の米国特許出願に本発
明の導管と併用できる漬れ検出回路と潰れ位置計算ユニ
ットが説明されている。
内部半導体層２０の基準端２２を直列抵抗５４の代わり
に定電流源５６へ接続し、そしてスケール増幅器７０を
使用して潰れ個所を直接読み取れるようにしてもよい。
に定電流源５６へ接続し、そしてスケール増幅器７０を
使用して潰れ個所を直接読み取れるようにしてもよい。
振動や非常に高い頻度で加えられる力によって構造体が
導管１０を潰さないまでも接地構造体上に保持させた弾
性的に圧縮可能な電気スイッチング層３０を部分的に擦
過させて摩損させることがある航空機や同様のアセンブ
リに本発明の導管を用いると有利である。これらのアセ
ンブリにおいて弾性的に圧縮可能な層３０が摩損すると
圧縮可能な層を介してもしくは内部半導体層との直接接
触により電気的接触が生じ、いずれの場合でも漬れ検出
回路２６と計算ユニット２８の動作が開始される。
導管１０を潰さないまでも接地構造体上に保持させた弾
性的に圧縮可能な電気スイッチング層３０を部分的に擦
過させて摩損させることがある航空機や同様のアセンブ
リに本発明の導管を用いると有利である。これらのアセ
ンブリにおいて弾性的に圧縮可能な層３０が摩損すると
圧縮可能な層を介してもしくは内部半導体層との直接接
触により電気的接触が生じ、いずれの場合でも漬れ検出
回路２６と計算ユニット２８の動作が開始される。
第１図は本発明の導管を、一部破断して示す斜視図であ
る。 第２図は第１図の導管と併用する電圧抵抗電気スイッチ
ング層の特性を示すグラフである。 第３図は潰れ検出回路と計算ユニットとに第１図の実施
例を組み合わせた概略図である。 第４図は導管を潰す構造体が非導電性の場合に有用な本
発明の別の実施例の概略図である。 図中、１０，４０は導管、１２は芯、１４は線、２０は
半導体層、２２、４３は基準点、２６は擦れ検出回路、
２８は計算ユニット、３０，４４はスイッチング層、４
６は外部導電層、５２は電源、５４は直列抵抗、５６は
電流源、６０はラッチそして６２は発光ダイ才一ドであ
る。
る。 第２図は第１図の導管と併用する電圧抵抗電気スイッチ
ング層の特性を示すグラフである。 第３図は潰れ検出回路と計算ユニットとに第１図の実施
例を組み合わせた概略図である。 第４図は導管を潰す構造体が非導電性の場合に有用な本
発明の別の実施例の概略図である。 図中、１０，４０は導管、１２は芯、１４は線、２０は
半導体層、２２、４３は基準点、２６は擦れ検出回路、
２８は計算ユニット、３０，４４はスイッチング層、４
６は外部導電層、５２は電源、５４は直列抵抗、５６は
電流源、６０はラッチそして６２は発光ダイ才一ドであ
る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、潰れ易い軸方向長さ部分と芯とを有する導管におい
て、芯を包囲して、導管の長さにわたって延び、潰れや
擦過を検出する検出手段に電気的に接続するようになっ
ている内部半導体層と、 潰れていないときは非導電性であり、潰れると導電性と
なる、弾性的に圧縮可能な電圧抵抗電気スイッチング層
とを備え、この電気スイッチング層が芯の周りで、内部
半導体層に重なっていることを特徴とした導管。 ２、検出手段が潰れや擦れの位置を求める計算ユニット
を含み、内部半導体層がこの計算ユニットと電気的に接
続される基準点を有している請求項１に記載の導管。 ３、内部半導体層が導管の芯を包囲している請求項１ま
たは２に記載の導管。 ４、内部半導体層は導電性粒子を分散させたエラストマ
ーから成り、半導体層の抵抗率は少なくとも約１０＾−
＾４ないし１０＾−＾２オーム／ｃｍ＾３である請求項
１または３に記載の導管。 ５、電気スイッチング層がエラストマーに均一に分散さ
せた導電性粒子から成る請求項１または２に記載の導管
。 ６、電気スイッチング層が、直径１乃至１０ミクロンの
分散金属球体を（全体積で）約３０％含むエラストマー
から成る請求項５に記載の導管。 ７、電気スイッチング層に外部導電性要素が被覆されて
おり、この外部導電性要素が、内部半導体層の基準点の
電位と異なる電位と電気的に接触するようになっている
請求項１または２に記載の導管。 ８、一つの要素から延びている少なくとも一つの導管が
、この導管の軸長に沿って存在する潰れや擦れの位置を
測定する計算ユニットと接続しているアセンブリにおい
て、導管が内部半導体層と、弾性的に圧縮可能な電圧抵
抗電気スイッチング層とを有し、前記内部半導体層が芯
を包囲し且つ、計算ユニットと電気的に接続される基準
点を有し、前記電気スイッチング層が潰れていないとき
は非導電性であり、潰れると導電性となり、芯の周りで
内部半導体層に重なっていることを特徴とするアセンブ
リ。 ９、導管の潰れや擦過が発生するとこれを検出するため
内部半導体層と接続している検出手段も含んでいる請求
項８に記載のアセンブリ。
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
| US07/351,496 US4935699A (en) | 1989-05-15 | 1989-05-15 | Means to detect and locate pinching and chafing of conduits |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2125283A Pending JPH0318752A (ja) | 1989-05-15 | 1990-05-15 | 導管の潰れや擦過の検出装置 |
Country Status (4)
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|---|---|
| US (1) | US4935699A (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 1990-05-15 JP JP2125283A patent/JPH0318752A/ja active Pending
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