JPH03188611A - 金属化フィルムコンデンサ - Google Patents
金属化フィルムコンデンサInfo
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- JPH03188611A JPH03188611A JP1328743A JP32874389A JPH03188611A JP H03188611 A JPH03188611 A JP H03188611A JP 1328743 A JP1328743 A JP 1328743A JP 32874389 A JP32874389 A JP 32874389A JP H03188611 A JPH03188611 A JP H03188611A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、力率改善用などの電力用コンデンサ、電気機
器用コンデンサ、各種電源回路用コンデンサおよび通信
機器などに使われる電子機器用コンデンサに関する。
器用コンデンサ、各種電源回路用コンデンサおよび通信
機器などに使われる電子機器用コンデンサに関する。
［従来の技術］
近年、電子機器などの小形化にともない、これに収容さ
れる各種電子部品への小形化が高まってきている。フィ
ルムコンデンサにおいても、小形・大容量化を目的とし
て種々の材料、構造が検討されている。たとえばポリエ
ステルフィルムの両面をアルミ蒸着などにより金属化し
、その表面にラッカー層を形成して、これを積層、また
は巻回して金属化フィルムコンデンサとすることが前記
小形・大容量化の一手段として知られている。
れる各種電子部品への小形化が高まってきている。フィ
ルムコンデンサにおいても、小形・大容量化を目的とし
て種々の材料、構造が検討されている。たとえばポリエ
ステルフィルムの両面をアルミ蒸着などにより金属化し
、その表面にラッカー層を形成して、これを積層、また
は巻回して金属化フィルムコンデンサとすることが前記
小形・大容量化の一手段として知られている。
また、コンデンサが異常を生じたとき、発火、爆発など
により二次災害を引き起こさないように、金属ケースを
用いた油含浸のコンデンサには、保安装置が取り付けら
れるようになり、さらに、乾式コンデンサにも保安機構
が取り付けられるようになった。従来から提案されてい
るこのような保安機構は、少なくとも一方の電極（蒸着
電極）が分割電極になっており、この分割電極内に間欠
的な蒸着空白部を設けたものである（特開昭５８１８２
２１６号公報、同５７−１５４８２３号公報、同５８−
１０３１１号公報、同５７−２１．０６１７号公報など
）。
により二次災害を引き起こさないように、金属ケースを
用いた油含浸のコンデンサには、保安装置が取り付けら
れるようになり、さらに、乾式コンデンサにも保安機構
が取り付けられるようになった。従来から提案されてい
るこのような保安機構は、少なくとも一方の電極（蒸着
電極）が分割電極になっており、この分割電極内に間欠
的な蒸着空白部を設けたものである（特開昭５８１８２
２１６号公報、同５７−１５４８２３号公報、同５８−
１０３１１号公報、同５７−２１．０６１７号公報など
）。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、前記した従来技術では、蒸着電極空白部
を隔てた電極間の沿面の耐圧不足に起因する保安性の低
下、および蒸着電極溝に隣接する分割電極間での沿面の
耐圧不足に起因する長期間使用時の容量減少を招くとい
う課題があった。
を隔てた電極間の沿面の耐圧不足に起因する保安性の低
下、および蒸着電極溝に隣接する分割電極間での沿面の
耐圧不足に起因する長期間使用時の容量減少を招くとい
う課題があった。
本発明は、前記した従来技術の課題を解決するため、保
安性の低下を防ぐとともに、長期間使用時の容量減少を
防ぎ、寿命性を向上した金属化コンデンサを提供するこ
とを目的とする。
安性の低下を防ぐとともに、長期間使用時の容量減少を
防ぎ、寿命性を向上した金属化コンデンサを提供するこ
とを目的とする。
［課題を解決するための手段］
前記目的を達成するため本発明は、下記の構成からなる
。すなわち、基材フィルム表面に形成した対向する２極
の金属薄膜電極を含む金属化フィルムコンデンサであっ
て、前記２極の金属薄膜電極のうち、少なくとも１極の
金属薄膜電極を分割電極で構成するとともに、前記分割
電極に間欠的な電極空白部を設け、該電極空白部の幅Ｌ
（単位二ｍｍ）と、コンデンサのＡＣ定格電圧Ｖ（単位
：ＶＡＣ）との関係を、Ｌ／Ｖ≧０．０００５にしたこ
とを特徴とする金属化フィルムコンデンサである。
。すなわち、基材フィルム表面に形成した対向する２極
の金属薄膜電極を含む金属化フィルムコンデンサであっ
て、前記２極の金属薄膜電極のうち、少なくとも１極の
金属薄膜電極を分割電極で構成するとともに、前記分割
電極に間欠的な電極空白部を設け、該電極空白部の幅Ｌ
（単位二ｍｍ）と、コンデンサのＡＣ定格電圧Ｖ（単位
：ＶＡＣ）との関係を、Ｌ／Ｖ≧０．０００５にしたこ
とを特徴とする金属化フィルムコンデンサである。
本発明においては、前記構成に加えてさらに、分割電極
の分割電極溝の幅Ｗ（ｍｍ）と、コンデンサのＡＣ定格
電圧Ｖ（単位：ＶＡＣ）との関係を、Ｗ／Ｖ≧０．００
０５とすることが好ましい。
の分割電極溝の幅Ｗ（ｍｍ）と、コンデンサのＡＣ定格
電圧Ｖ（単位：ＶＡＣ）との関係を、Ｗ／Ｖ≧０．００
０５とすることが好ましい。
［作用コ
前記した本発明の構成によれば、２極の金属薄膜電極を
含む金属化フィルムコンデンサのうち少なくとも１極の
金属薄膜電極を分割電極で構成するとともに、該分割電
極に間欠的な電極空白部を設け、該電極空白部の幅りと
、コンデンサのＡＣＣ定格電圧色の関係を、Ｌ／Ｖ≧０
．０００５にしたので、保安性の低下を防ぐとともに、
長期間使用時の容量減少を防ぎ、寿命性を向上すること
ができる。
含む金属化フィルムコンデンサのうち少なくとも１極の
金属薄膜電極を分割電極で構成するとともに、該分割電
極に間欠的な電極空白部を設け、該電極空白部の幅りと
、コンデンサのＡＣＣ定格電圧色の関係を、Ｌ／Ｖ≧０
．０００５にしたので、保安性の低下を防ぐとともに、
長期間使用時の容量減少を防ぎ、寿命性を向上すること
ができる。
さらに前記構成に加えて、蒸着電極分割溝の幅Ｗと、コ
ンデンサのＡＣＣ定格電圧色の関係を、Ｗ／Ｖ≧０．０
００５以上とすることにより、電気容量変化率（△Ｃ／
Ｃ）低下は少なく、さらに長期間使用時の容量減少を防
げることができる。
ンデンサのＡＣＣ定格電圧色の関係を、Ｗ／Ｖ≧０．０
００５以上とすることにより、電気容量変化率（△Ｃ／
Ｃ）低下は少なく、さらに長期間使用時の容量減少を防
げることができる。
［実施例］
以下実施例を用いて本発明をさらに具体的に説明する。
なお本発明は下記の実施例によって限定されるものでは
ない。
ない。
第１図は本実施例の金属化フィルムを示すものである。
第１図において、１１は基材フィルム表面に設けられた
蒸着金属などの金属薄膜である。
蒸着金属などの金属薄膜である。
１２は金属薄膜１１に設けられた電極空白部である。１
３は分割電極溝である。Ｌは電極空白部の幅（単位：ｍ
ｍ）であり、Ｗは分割電極溝の幅（単位：ｍｍ）である
。
３は分割電極溝である。Ｌは電極空白部の幅（単位：ｍ
ｍ）であり、Ｗは分割電極溝の幅（単位：ｍｍ）である
。
以上の構成を有する金属化フィルムについて以下その製
造例を説明する。フィルム基材としては、ポリエチレン
テレフタレートフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポ
リフェニレンサルファイドフィルム、ポリイミドフィル
ム、ポリイミドアミドフィルムなどの樹脂フィルムを使
用することができる。金属薄膜としては、Ａ／などの蒸
着膜を使用することができる。蒸着膜は電極としての機
能を果たす。この蒸着薄膜の表面にラッカー組成物を乾
燥後の厚さが約１μｍとなるように塗布してもよい。
造例を説明する。フィルム基材としては、ポリエチレン
テレフタレートフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポ
リフェニレンサルファイドフィルム、ポリイミドフィル
ム、ポリイミドアミドフィルムなどの樹脂フィルムを使
用することができる。金属薄膜としては、Ａ／などの蒸
着膜を使用することができる。蒸着膜は電極としての機
能を果たす。この蒸着薄膜の表面にラッカー組成物を乾
燥後の厚さが約１μｍとなるように塗布してもよい。
実施例１
試料としてポリプロピレンフィルム（厚さ６μｍのもの
と８μｍのもの、幅８０ｍｍ）の片面蒸着フィルムを用
いて、ＡＣ定格電圧４００Ｖ（ボルト）、５０μＦのコ
ンデンサを作成した。
と８μｍのもの、幅８０ｍｍ）の片面蒸着フィルムを用
いて、ＡＣ定格電圧４００Ｖ（ボルト）、５０μＦのコ
ンデンサを作成した。
そして、蒸着電極空白部の幅りが、０．００５ｍｍ、０
．１ｍｍ、０．１５ｍｍ、０．２ｍｍ。
．１ｍｍ、０．１５ｍｍ、０．２ｍｍ。
Ｑ、３ｍｍの各サンプルを作成した。また分割電極溝の
幅Ｗ、は、−律に０．３ｍｍとした。かかるサンプルの
蒸着電極空白部の幅Ｌ （ｍｍ）とコンデンサのＡＣ定
格電圧（ＶＡＣ）との比Ｌ／Ｖは下記の通りである。
幅Ｗ、は、−律に０．３ｍｍとした。かかるサンプルの
蒸着電極空白部の幅Ｌ （ｍｍ）とコンデンサのＡＣ定
格電圧（ＶＡＣ）との比Ｌ／Ｖは下記の通りである。
電極空白部の幅Ｌ （ｍｍ） Ｌ／Ｖ値０． ０
５ ０．０００１２５０、 １
０．０００２５０、 １５
０．［１００３７５０、２０，０００５ ０、３０，０００７５ 保安試験トシテハ、ＪＩＳ−Ｃ−４９０８１ｍ準じて測
定した。この結果を第１表に示す。
５ ０．０００１２５０、 １
０．０００２５０、 １５
０．［１００３７５０、２０，０００５ ０、３０，０００７５ 保安試験トシテハ、ＪＩＳ−Ｃ−４９０８１ｍ準じて測
定した。この結果を第１表に示す。
第 １ 表
第１表から明らかなとおり、誘電体であるフィルムの厚
みにかかわらず、蒸着電極空白部の幅Ｌ（ｍｍ）とコン
デンサのＡＣ定格との比Ｌ／Ｖが０．０００５以上のサ
ンプルは合格率が高いことが確認できた（実験番号４．
５）。
みにかかわらず、蒸着電極空白部の幅Ｌ（ｍｍ）とコン
デンサのＡＣ定格との比Ｌ／Ｖが０．０００５以上のサ
ンプルは合格率が高いことが確認できた（実験番号４．
５）。
これに対して実験番号１〜３の合格率が好ましくなかっ
たのは、ヒユーズ部溶断後の蒸着電極空白部を隔てた電
極間に加わる電圧によって、電極空白部でレアーショー
トが発生し、空白部近傍での絶縁劣化が進み、破壊に至
ったものと考えられる。
たのは、ヒユーズ部溶断後の蒸着電極空白部を隔てた電
極間に加わる電圧によって、電極空白部でレアーショー
トが発生し、空白部近傍での絶縁劣化が進み、破壊に至
ったものと考えられる。
実施例２
試料としてポリプロピレンフィルム（厚さ６μｍのもの
、幅８０ｍｍ）の片面蒸着フィルムを用いて、ＡＣ定格
電圧４００Ｖ、５０μＦのコンデンサを作成した。
、幅８０ｍｍ）の片面蒸着フィルムを用いて、ＡＣ定格
電圧４００Ｖ、５０μＦのコンデンサを作成した。
そして、分割電極の幅Ｗが０．０５ｍｍ、０゜１ｍｍ、
０．１５ｍｍ、０．２ｍｍ、０．３ｍｍの各サンプルを
作成し、連続耐用性試験を行なった。このときの蒸着電
極空白部の幅は一律に０゜３ｍｍとした。測定条件は、
温度０℃の雰囲気を有する恒温槽内でＡＣ３００Ｖを印
加し、測定前の初期値に対する電気容量変化率（ΔＣ／
Ｃ）を調べた。１０００時間後の電気容量変化率（△Ｃ
／Ｃ）を第２図に示す。
０．１５ｍｍ、０．２ｍｍ、０．３ｍｍの各サンプルを
作成し、連続耐用性試験を行なった。このときの蒸着電
極空白部の幅は一律に０゜３ｍｍとした。測定条件は、
温度０℃の雰囲気を有する恒温槽内でＡＣ３００Ｖを印
加し、測定前の初期値に対する電気容量変化率（ΔＣ／
Ｃ）を調べた。１０００時間後の電気容量変化率（△Ｃ
／Ｃ）を第２図に示す。
次に、ポリプロピレンフィルムの厚さを８μｍとした以
外は前記と同様に、サンプルを作成し、連続耐用性試験
を行なった。このサンプルの１０００時間後の電気容量
変化率（△Ｃ／Ｃ）を第３図に示す。
外は前記と同様に、サンプルを作成し、連続耐用性試験
を行なった。このサンプルの１０００時間後の電気容量
変化率（△Ｃ／Ｃ）を第３図に示す。
第２図および第３図から明らかなとおり、誘電体である
フィルムの厚みにかかわらず、蒸着電極分割溝の幅Ｗが
０．２ｍｍ以上（Ｗ／Ｖの値が０゜０００５以上）であ
れば、１０００時間後の電気容量変化率（△Ｃ／Ｃ）低
下は少なく、したがって容量減少を防げることが確認で
きた。
フィルムの厚みにかかわらず、蒸着電極分割溝の幅Ｗが
０．２ｍｍ以上（Ｗ／Ｖの値が０゜０００５以上）であ
れば、１０００時間後の電気容量変化率（△Ｃ／Ｃ）低
下は少なく、したがって容量減少を防げることが確認で
きた。
これに対して蒸着電極分割溝の幅Ｗが０．２ｍｍ未満（
Ｗ／Ｖの値が０．０００５未満）のサンプルは容量減少
が大きく好ましいものではなかった。この理由は、何ら
かの原因でヒユーズ部の溶断が生じた場合、蒸着電極溝
に隣接する分離された電極部と、分離されていない電極
部間に電圧が加わり、蒸着電極溝間でのレアーショート
により、隣接する電極部のヒユーズの溶断が発生し、容
量減少が起きたものと考えられる。
Ｗ／Ｖの値が０．０００５未満）のサンプルは容量減少
が大きく好ましいものではなかった。この理由は、何ら
かの原因でヒユーズ部の溶断が生じた場合、蒸着電極溝
に隣接する分離された電極部と、分離されていない電極
部間に電圧が加わり、蒸着電極溝間でのレアーショート
により、隣接する電極部のヒユーズの溶断が発生し、容
量減少が起きたものと考えられる。
実施例３
蒸着電極空白部を隔てた電極間の沿面の耐圧不足による
レアーショートの確認のため、厚さ６μｍのポリプロピ
レンフィルムを用いた実施例１と同様のコンデンサによ
り、ＡＣ定格電圧を変化させ、保安性試験を行なった。
レアーショートの確認のため、厚さ６μｍのポリプロピ
レンフィルムを用いた実施例１と同様のコンデンサによ
り、ＡＣ定格電圧を変化させ、保安性試験を行なった。
この結果を第２表に示す。
第２表から明らかなとおり、定格電圧を低い値に設定し
たにもかかわらず、Ｌ／Ｖ値が０．０００５未満の試料
は保安性試験にて低い保安性合確率を示した。また、不
合格試料の破壊箇所はすべて蒸着空白部でのレアーショ
ートであった。このことからもわかるように、蒸着電極
空白部を隔てた電極間の沿面耐圧不足によるレアーショ
ートは、Ｌ／Ｖ値が０．０００５未満で発生することが
確認できた。
たにもかかわらず、Ｌ／Ｖ値が０．０００５未満の試料
は保安性試験にて低い保安性合確率を示した。また、不
合格試料の破壊箇所はすべて蒸着空白部でのレアーショ
ートであった。このことからもわかるように、蒸着電極
空白部を隔てた電極間の沿面耐圧不足によるレアーショ
ートは、Ｌ／Ｖ値が０．０００５未満で発生することが
確認できた。
［発明の効果］
以上説明した通り本発明によれば、２極の金属薄膜電極
を含む金属化フィルムコンデンサのうち少なくとも１極
の金属薄膜電極を分割電極で構成するとともに、該分割
電極に間欠的な電極空白部を設け、該電極空白部の幅り
と、コンデンサのＡＣＣ定格電圧色の関係を、Ｌ／Ｖ≧
０．０００５にしたので、保安性の低下を防ぐとともに
、長期間使用時の容量減少を防ぎ、寿命性を向上するこ
とができるという特別の効果を達成することかできる。
を含む金属化フィルムコンデンサのうち少なくとも１極
の金属薄膜電極を分割電極で構成するとともに、該分割
電極に間欠的な電極空白部を設け、該電極空白部の幅り
と、コンデンサのＡＣＣ定格電圧色の関係を、Ｌ／Ｖ≧
０．０００５にしたので、保安性の低下を防ぐとともに
、長期間使用時の容量減少を防ぎ、寿命性を向上するこ
とができるという特別の効果を達成することかできる。
さらに前記効果に加えて、蒸着電極分割溝の幅Ｗと、コ
ンデンサのＡＣＣ定格電圧色の関係を、Ｗ／Ｖ≧０．０
００５以上とすることにより、電気容量変化率（△Ｃ／
Ｃ）低下は少なく、さらに長期間使用時の容量減少を防
げることができる。
ンデンサのＡＣＣ定格電圧色の関係を、Ｗ／Ｖ≧０．０
００５以上とすることにより、電気容量変化率（△Ｃ／
Ｃ）低下は少なく、さらに長期間使用時の容量減少を防
げることができる。
第１図は本発明の一実施例を示すコンデンサの展開図で
あり、第２図および第３図は本発明の一実施例の試験時
容量変化を示す特性図である。 １１：金属薄膜 １．２：電極空白部 １３：分割電極溝 Ｌ：電極空白部の幅 Ｗ：分割電極溝の幅 １１：金属薄膜 １２・電極空白部 １３：分割電極溝 Ｌ：電極空白部の幅 Ｗ：分割電極溝の幅 分割電極溝の幅Ｗ（単位・ｍｍ） （カッコ内はＷ／Ｖを表す） 第３図
あり、第２図および第３図は本発明の一実施例の試験時
容量変化を示す特性図である。 １１：金属薄膜 １．２：電極空白部 １３：分割電極溝 Ｌ：電極空白部の幅 Ｗ：分割電極溝の幅 １１：金属薄膜 １２・電極空白部 １３：分割電極溝 Ｌ：電極空白部の幅 Ｗ：分割電極溝の幅 分割電極溝の幅Ｗ（単位・ｍｍ） （カッコ内はＷ／Ｖを表す） 第３図
Claims (2)
- （１）基材フィルム表面に形成した対向する２極の金属
薄膜電極を含む金属化フィルムコンデンサであって、前
記２極の金属薄膜電極のうち、少なくとも１極の金属薄
膜電極を分割電極で構成するとともに、前記分割電極に
間欠的な電極空白部を設け、該電極空白部の幅Ｌ（単位
：ｍｍ）と、コンデンサのＡＣ定格電圧Ｖ（単位：ＶＡ
Ｃ）との関係を、Ｌ／Ｖ≧０．０００５にしたことを特
徴とする金属化フィルムコンデンサ。 - （２）分割電極の分割電極溝の幅Ｗ（ｍｍ）と、コンデ
ンサのＡＣ定格電圧Ｖ（単位：ＶＡＣ）との関係を、Ｗ
／Ｖ≧０．０００５にした請求項１記載の金属化フィル
ムコンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1328743A JP2595359B2 (ja) | 1989-12-18 | 1989-12-18 | 金属化フィルムコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1328743A JP2595359B2 (ja) | 1989-12-18 | 1989-12-18 | 金属化フィルムコンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03188611A true JPH03188611A (ja) | 1991-08-16 |
| JP2595359B2 JP2595359B2 (ja) | 1997-04-02 |
Family
ID=18213678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1328743A Expired - Lifetime JP2595359B2 (ja) | 1989-12-18 | 1989-12-18 | 金属化フィルムコンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2595359B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0640996A1 (de) * | 1993-08-25 | 1995-03-01 | SIEMENS MATSUSHITA COMPONENTS GmbH & CO. KG | Elektrischer Kondensator |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2216559A (en) * | 1937-01-20 | 1940-10-01 | Bosch Gmbh Robert | Electrostatic condenser |
| JPS57114220A (en) * | 1981-01-07 | 1982-07-16 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Metallized film capacitor |
| JPS58103113A (ja) * | 1981-12-15 | 1983-06-20 | 松下電器産業株式会社 | コンデンサ |
| JPS58225625A (ja) * | 1982-06-24 | 1983-12-27 | 松下電器産業株式会社 | コンデンサ |
| JPS58225624A (ja) * | 1982-06-24 | 1983-12-27 | 松下電器産業株式会社 | 金属化フイルムコンデンサ |
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| JPS59115510A (ja) * | 1982-12-23 | 1984-07-04 | ニチコン株式会社 | 油浸金属化フイルムコンデンサ |
| US4494168A (en) * | 1981-01-07 | 1985-01-15 | Matsushita Electric Industrial Company, Limited | Roll type capacitor having segmented metallized areas |
| JPS6146011A (ja) * | 1984-08-10 | 1986-03-06 | 松下電器産業株式会社 | コンデンサ |
-
1989
- 1989-12-18 JP JP1328743A patent/JP2595359B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| EP0640996A1 (de) * | 1993-08-25 | 1995-03-01 | SIEMENS MATSUSHITA COMPONENTS GmbH & CO. KG | Elektrischer Kondensator |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2595359B2 (ja) | 1997-04-02 |
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