JPH03189538A - 腐食環境き裂進展試験装置 - Google Patents
腐食環境き裂進展試験装置Info
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- JPH03189538A JPH03189538A JP32847789A JP32847789A JPH03189538A JP H03189538 A JPH03189538 A JP H03189538A JP 32847789 A JP32847789 A JP 32847789A JP 32847789 A JP32847789 A JP 32847789A JP H03189538 A JPH03189538 A JP H03189538A
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
係り、特に、直流ポテンシャル法によりオンラインでき
裂長さを測定して、き裂長さの時間変化からき裂進展速
度を計算し、荷重とき裂長さから応力拡大係数を計算し
て、き裂進展速度を応力拡大係数との関係を自動的に求
めると共に、その関係と腐食環境との関係を求めるのに
好適な装置に関する。
用いられるCT試験片の切欠き部の変位を測定するコン
プライアンス法によるか、または、−旦圧力容器の温度
を下げて、炉外にCT試験片を取り出し、その表面を研
磨して金属顕微鏡でき裂長さを測定していた。
は、−回のき裂長さ測定に十時間程度を要するため、非
常に非効率であり、また、測定回数が限られるため、き
裂進展速度の精度が良くないという欠点があった。
オンラインで評価するために、直流ポテンシャル法によ
り測定すると共に、き裂進展速度と応力拡大係数との関
係を自動的に算出できる装置を提供することにある。
定化直流電源、電流極性切換え装置、マルチプレクサ、
微小電位差計、水質モニター、荷重検出器、GP−IB
インターフェースとコンピュータで構成した計測装置を
設け、圧力容器の外に配置した直流電源、微小電位差計
と圧力容器内に設置されたCT試験片とをリード線を介
して接続し、CT試験片の少なくとも二箇所の電位差を
測定し、同時に水質モニタにより腐食環境を測定するこ
とにより達成される。即ち、測定された電位差と腐食環
境のデータから電位差比の計算、予め有限要素法等によ
り求めた電位差比とき裂長さとの関係のマスターカーブ
の数式モデルによるき裂長さへの変換、き裂長さの時間
変化からのき裂進展速度の計算、荷重検出器の信号から
荷重への変換、荷重とき裂長さから応力拡大係数の計算
。
展速度と腐食環境の関係の算出、などの機能を有するプ
ログラムをコンピュータで実行させることにより達成さ
れる。
コンピュータにより計測装置を制御して測定すると共に
、データ処理を行って、き裂長さ。
を持たせたことにより、き裂進展速度と応力拡大係数の
関係や、き裂進展速度と腐食環境の関係を自動的に、且
つ、精度良く算出することができる。
腐食環境き裂進展試験装置を示すものである。高温純水
中でCT試験片2に引張り荷重を負荷するために環境中
荷重負荷装@1の圧力容器3には、純水製造袋M4から
加圧加熱袋@6を介して高温高圧の純水が供給される。
される加圧加熱装置6でほぼ所定の温度まで加熱される
が、途中の配管で多少温度が低下するため、圧力容器3
は外部に設けたヒーター7により温度調節器8で所定の
温度に加熱、保持される。複数のCT試験片2は互いに
接続用治具9′により連結され、一端は保持治具9′を
介して圧力容器3に固定され、もう一端は別の保持治具
9を介して圧力容器3の外部に引き出されて、荷重検出
器21に接続され、更に荷重検出器21は油圧シリンダ
11のピストンロッドの先端に取付けられる。圧力計1
5を有する油圧ポンプ16から油圧シリンダ11への配
管13の途中にはストップバルブ14とアキュムレータ
12を設ける。CT試験片2に荷重を負荷する場合には
、油圧ポンプ16で所定の圧力、または、荷重に設定し
た後、ストップバルブ14を閉める。しかし、き裂の進
展に伴ってCT試験片のき袋開口量大きくなって、油圧
シリンダ11のピストン位置が移動すると圧力が下がっ
てCT試験片に加わる荷重が低下するが、アキュムレー
タ12により圧力が低下しないようにする。このように
、荷重負荷時に油圧系システムを用いると、従来のカン
チレバー式による静荷重負荷方式に比して機構が簡単で
、コンパクトな構造とすることが可能である。
電位差測定用のリード線31は、ハーメチックシール等
を介して圧力容器3の外側に引出し、電位差測定水質監
視装置29に配線する。
述する。複数の直流電源32.32’から供給される直
流電流はその極性を電流極性切換え装置33により間欠
的に切換えられて、直流電流供給用リード線31を介し
てCT試験片2に供給される。電位差測定用のリード線
31’ 、31’は、マルチプレクサ34により測定さ
れる位置を切り換えられて微小電位差計35に接続され
て、電位差を測定される。測定された電位差はGP−I
Bインターフェース39を介してコンピュータ37に転
送される。電流極性切り換え装置33やマルチプレクサ
34はインターフェース40を介してコンピュータ37
に制御される。
指示値により分かるが、デジタルデータとしてコンピュ
ータ37に取り込むため、荷重検出器21の信号はアン
プ22を介して増幅され、AD変換された荷重データは
インターフェース39または40を介してコンピュータ
37に転送される。
酸素濃度計や電気電導度肝などにより確認されるが、高
温である圧力容器内では室温とは異なることもあるため
、CT試験片2の腐食雰囲気を測定するために、圧力容
器3の内部には腐食電位を測定するECPセンサー26
を設置し、水質モニター30と接続して、そのデータは
コンピュータ37に転送される。
間データと共に一定時間毎に測定される電位差からCT
試験片2のき裂長さを後述する方法により計算し、同時
にECPセンサ26の出力から腐食電位を記録する。そ
してき裂進展曲線を求めて、その勾配からき裂進展速度
を計算し、負荷された荷重とき裂長さから計算される応
力拡大係数との関係を求めて、CRT38の画面上に表
示したり、プリンタ36に出力する。
。ステップ(1)でC′F試験片の取り付け、純水の温
度や水質の設定、などの初期状態を設定する。ステップ
(2)で油圧シリンダ16により油圧シリンダ11に高
圧を付与してCT試験片2に荷重を負荷する。ステップ
(3)で試験を開始すると、ステップ(4)で試験時間
測定用の時計をスタートさせる。ステップ(5)でCT
試験片2の電位差を測定し、き裂長さa / Wを計算
する。
、ステップ(7)で警報を出力してステップ(8)で試
験を中止する。ステップ(6)で試験条件が正常であれ
ば、ステップ(9)で測定終了か否かをチエツクして、
試験が継続中であれば、ステップ(10)でき裂長さa
/Wが0.9以上であるか否かをチエツクして、0.9
より小さければステップ(5)に戻って、再び、き裂
長さ測定のため、電位差を測定する。これを繰返して、
き裂長さa/Wが0.9 になるまで試験を継続する
。
裂長さ測定方法を示す。CT試験片2には直流電流供給
用のリード線31が、例えば、スポット溶接等により切
欠き側の両端付近に取付けられる。このリード線31は
圧力容器3の外に引き出されて、電位差測定水質監視装
置29内に設けられた複数の直流電源32.32’ に
接続される。供給される直流電流はその極性を、インタ
ーフェース40を介してコンピュータ37に制御される
電流極性切換え装置33により間欠的に切換えられる。
31′はCT試験片のき裂前方の端面の両端付近に取付
け、き裂長さ測定のための電位差測定用のリード線31
1は、切欠きの両側に取付ける。二カ所の電位差Voと
Vは、マルチプレクサ34により測定される位置を切り
換えられて微小電位差計35に接続されて測定される。
介してコンピュータ37に転送される。このように基準
電位差Voと電位差Vの両方を測定するのは、電位差測
定値に係るCT試験片2の比抵抗が温度の影響を受ける
ため、その影響を打ち消すために電位差を無次元化する
ためである。別の理由としては、万一、直流電源から供
給される電流が何等かの原因で変動した場合、その影響
を無くすためである。一方、直流電流の極性を切り換え
て電位差を測定するのは、CT試験片2の材質がリード
線31’ 、31’と異なり、CT試験片2に多少とも
温度分布があると、リード線とCT試験片の間に熱起電
力が生じるため、電流の極性を切り換えて電位差の振幅
を測定することにより、熱起電力の影響を排除するため
である。また、感度の良い微小電位差計35を使用する
とドリフトを避けることはできない。その影響を排除す
るためにも電流の極性を切り換えて電位差の振幅を測定
することは有効である。なお、リード線31’ 、31
’の取り付は位置は有限要素法によるCT試験片の電場
解析により感度が最適と判定された場所である。
。ステップ(12)で、例えば、十の電流を流したとき
の電位差Vo(+)とV(+)を測定する。ステップ(
13)で電流極性切換え装置33により電流の極性を切
換えて、ステップ(14)で−の電流を流したときの電
位差Vo(−)と■(−)を測定する。ステップ(15
)で電流の極性を切り換えて元の極性に戻す。ステップ
(16)でnに1を加算して、ステップ(17)で測定
回数が、例えば、所定の回数十回を超えたかどうかを判
定し、まだ十回に達していなければステップ(12)へ
戻る。十回に達した場合には、ステップ(18)で電位
差測定値が正常であるか否かの判定を行い、異常があっ
た場合にはステップ(19)で再測定となり、ステップ
(11)へ戻る。
トである。ステップ(21)で第4図のフローチャート
に従い電位差が測定されると、ステップ(22)で電位
差の振幅V i = ((V o (+)−V(−))
/2とVoi =((VO(+) VO())を計算
する。ステップ(23)では電位差比V / V oi
==Vj/Voi を計算する。ステップ(24)では
、電位差測定のばらつきを考慮して、電位差比の最大と
最大から二番目の電位差比と、最小と最小から二番目の
電位差比を除外する。そしてステップ(25)で残りの
六個の電位差比から平均の電位差比V/Vom=Σ(V
i/ Voi)/ 6 を計算する。
、ステップ(27)で、例えば、それが0.005
よりも大きければ、測定異常と判定してステップ(28
)の再測定を経由してステップ(21)へ戻る。
裂長さ判定のマスターカーブを示す。縦軸は電位差比V
/Vo、横軸はCT試験片の板幅Wで正規化したき裂長
さa/Wである。き裂長さa / Wが0.35程度よ
りも大きくなると、電位差比V / V oはき裂長さ
a/Wにほぼ比例して減少する。そこで、電位差比から
き裂長さへの変換はa/W=0.2〜0.26.a/W
=0.26〜0.36.a/W=0.36〜0..9の
範囲でそれぞれ直線近似式により行うものとした。
。
ラーチエツクをV/Vo<5,689であるか否かで判
断する。V/Vo>5.689であれば、a / W
< 0 、2 となり、存在し得ないき裂長さとなる
のでステップ(33)で再測定と判定されてステップ(
11)へ戻る。V/Vo<5.689であれば、一応正
常な測定値となり、次のステップ(34)でV/Vo>
5.623であればa / W =0.2〜0.26と
判定されて、ステップ(35)で a/W=5.3718−0.9091V/V。
36)で生のき裂長さaに直される。ステップ(34)
でV/Vo<5.623であれば、次にステップ(37
)でV/Vo>5.225であればa / W = 0
、26−0 、36と判定されて、ステップ(38)
で a/W=1.6729−0.2513V/V。
でV/Vo<5.225であれば、次に、ステップ(3
9)でV/Vθ>2.169であればa / W =
0 、36−0 、9と判定されて、ステップ(40)
で a/W=1.2831 0.1767V/V。
でV/Vo<2.169であればa/W>0.9 とな
るので、試験は終了となる。
要となる。第1図に示した腐食試験機は、全て、コンピ
ュータ37により制御され、データ処理も可能である。
き裂進展曲線を示す。縦軸はき裂長さ、横軸は試験時間
である。き裂は試験時間と共に徐々に進展し、き裂が長
くなるにつれて段々進展速度は早くなる。コンピュータ
37では、第9図に示したようなフローチャートに従っ
て、内蔵の時計と電位差測定から得られたき裂長さのデ
ータより、ステップ(41)で第8図のようなき裂進展
曲線をCRT38の画面上に表示する。同時にステップ
(42)でき裂長さaと試験時間tよりa=Ao+At
t+Azt2+Aat3+・= −・(t)のような
n次式によりき裂進展曲線を最小自乗法により近似する
。次に、ステップ(43)でき裂長さaと試験時間tよ
り t=Bo+Bxa+Bza”+Baa3+−・・(2)
のようなn次式によりき裂進展曲線の逆関数を最小自乗
法により近似する。ステップ(44)ではき裂進展曲線
を微分して d a/d t=AI+2Azt+3Ast 2+−・
−−−−(3)き裂進展速度の評価式を作成する。ステ
ップ(45)でき裂長さの増分Δa毎のき裂長さa(1
)をa(i)=ao+n・Δa ・・・
(4)によりもとめ、それを(2)式に代入して、a
(i)に対応するt (i)を計算する。ここでaoは
初期き裂寸法であり、通常、0.1mm程度である。n
は整数である。ステップ(46)では、得られたt(i
)を(3)式に代入してき裂進展速度da/dt(i)
を計算する。次に、ステップ(47)でき裂長さa (
i)と荷重検出器21により測定された荷重からa (
i)に対する応力拡大係数K (i)を計算する。以上
の操作により応力拡大係数K(i)とき裂進展速度da
/dt(i)の関連データが収集されたので、ステップ
(48)では第10図に示すようなK(i)とda/d
t(i)の関係の図をCRT38の画面上に作成2表示
する。ステップ(49)ではK(i)とda/dt(i
)の関係を、d a/d t=c−K”
・=(5)のようなParis則で近似するため、
近似する範囲をKについては、 Kwin≦に≦Kmax d a / d tについては、 da/dtmtn≦d a / d t≦da/dt+
saxのように設定する。通常は10−6+no+/c
≦da/dt≦10−2re / cのような範囲で近
似する。近似範囲が指定されると、ステップ(50)で
最小自乗法により(5)式のように近似し、係数Cと指
数mを求める。ステップ(51)ではステップ(48)
で作成したKとd a / d tの関係の図面上に近
似曲線を描くと共に、近似式を表示する。
i)、応力拡大係数K (i)とき裂進展速度da/d
t(i)のリストをプリンタ36に出力する。
a / d tの関係はプリンタ38にハードコピーが
とれるようにする。
電圧直流電源52から供給される定電圧の電流はフロー
ティング定電流回路53により、安定化定電流となる。
換えられて、入出力ボート55の電流端子56に供給さ
れる。この電流端子と圧力容器3のCT試験片2はリー
ト線31で接続される。電位差測定用のリード線31′
32″は電位差端子57と接続され、マルチプレクサ5
8により測定する端子を切り換えられて、直Jεアンプ
59で電位差は測定される。電位差はA/Dコンバータ
60によりA/D変換されて、バスバッファ61を通っ
てコンピュータ62に転送される。コンピュータ62の
周辺にはCRTまたは液晶ディスプレイ63.プリンタ
64.フロッピィディスクドライブ65などが接続され
、データ処理や、データ格納2画面表示などに使用され
る。
ては、第3図の方法と基本的には同じであるが、測定精
度を良くするため、同じような電位差測定位置で複数の
電位差を測定して、その平均の電位差比を求めることに
よりリード線31′31′の取り付は誤差を補償しよう
とするものである。即ち、基準電位差Vo、電位差V共
に、CT試験片2の取り付は位置において、板厚の中央
、及び、例えば、板中心と端面との中間の三カ所にリー
ド線をスポット溶接して、電位差を測定し、互いの電位
差比からき裂長さを評価するものである。第13図にそ
のフローチャートを示す。
) 、 V (3) 。
、ステップ(62)でそれぞれの基準電位差について電
位差比の平均V / Vo(1) 、 V / Vo(
2) 、 V / Vo(3)を計算する。そしてステ
ップ(63)で、三カ所の測定位置の平均の電位差比V
/ V oを求め、ステップ(64)で第6図のよう
な電位差比V / V 。
さを判定する。
2の切欠き側の両端付近がら印加し、基準電位差は切欠
きと平行な上下二面の電位差を測定する。その位置は、
w=50−のCT試験片の場合には切欠きと反対側の面
から30〜35+a++の付近が最適である。第14図
には32.5a++の位置での電位差を基準電位差とし
て求めた電位差比V / V o とき裂長さa/Wの
マスターカーブである。得られた電位差比V / V
oからき裂長さa/Wへの変換に当たっては、第7図に
示したものと同様にa/W=0.2〜0.26.a/W
=0.26−0.36.a/W=0.36−0.9の範
囲でそれぞれ直線近似式により行うものとした。
度、精度が良いが、第14図の測定方法は比抵抗の大き
い材料の場合に精度が良い。
切欠き側の両端にスポット溶接されたリード線から極性
を切換えながら直流電流を印加して、切欠きを挾む位置
で測定された電位差■と、切欠きと反対側の両端にスポ
ット溶接されたリード線から極性を切換えながら直流電
流を印加して測定された切欠きを挾む位置の電位差Vo
の比からき裂長さを測定することものである。従って、
この方法を具現化するためには直流電源32から供給さ
れた電流は電流極性切換え装置33でその極性を切換え
られ、更に、電流用のマルチプレクサ41により、CT
試験片への電流供給先を切り換えられるようになってい
る。第16図には第15図の測定方法のための電位差測
定システムを示す。定電圧直流電源52から供給される
定電圧の電流はフローティイング定電流回路53により
。
により一定間隔毎に切換えられ、更に、電流用マルチプ
レクサ66により電流の供給先を切り換えられて、入出
力ポート55の電流端子56に供給される。この電流端
子と圧力容器3のCT試験片2はリード線31で接続さ
れる。電位差測定用のリード線31′は電位差端子57
と接続され、直流アンプ59で電位差は測定される。電
位差はA/Dコンバータ60によりA/D変換されて、
バスバッファ61を通ってコンピュータ62に転送され
る。
片を用いたき裂進展試験において、直流ポテンシャル法
によりCT試験片の数個所の電位差をオンラインで測定
して、予め有限要素法により求めた電位差比とき裂長さ
の関係のマスターカーブを用いてき裂長さに変換し、き
裂進展曲線をn次式で近似して、き裂進展速度評価式を
作成し、更に、応力拡大係数を求めて、き裂進展速度と
応力拡大係数の関係を算出できるため、腐食環境下のき
裂進展速度を従来の方法に比して非常に短時間で、精度
良く求めることが可能である。
、第2図は腐食試験全体のフローチャート、第3図はき
裂長さ測定のための電位差測定システムのブロック図、
第4図は電位差測定のフローチャート、第5図は電位差
測定値の異常判定のためのフローチャート、第6図は電
位差比とき裂長さの関係の特性図、第7図はき裂長さ判
定のフローチャート、第8図はき裂進展説明図、第9図
はき裂進展速度の計算及び図表作成のフローチャート、
第10図はき裂進展速度と応力拡大係数の関係の説明図
、第11図は電位差測定システムのブロック図、第12
図はCT試験片の電位差測定のリード線の配置図、第1
3図は電位差測定のフローチャート、第14図は電位差
比とき裂長さの関係の特性図、第15図はき裂長さ測定
のための電位差測定システムのブロック図、第16図は
電位差測定システムのブロック図である。 1・・・環境中背重負荷装置、2・・・CT試験片、3
・・・圧力容器、4・・・純水製造装置、5・・・純水
製造装置制御装置、6・・・加圧加熱装置、7・・・ヒ
ータ、11・・・油圧シリンダ、12・・・アキュムレ
ータ、13・・・油圧配管、14・・・ストップバルブ
、15・・・圧力計、16・・・油圧ポンプ、21・・
・ロードセル、22・・・ロードアンプ、26・・・水
質センサー、29・・・電位差測定水質監視システム、
30・・・水質モニター32・・・直流電源、33・・
・電流極性切り換え装置、34・・・マルチプレクサ、
35・・・微小電位差計、36・・・プリンタ、37・
・・コンピュータ、38・・・CRT、40・・・イン
ターフェース、41・・・GP−IBインターフェース
、51・・・直流電源、53・・・フローティング定電
流回路、58・・・マルチプレクサ、59・・・直流ア
ンプ、60・・・A/Dコンバータ、61・・・バスバ
ッファ、62・・・コンピュータ、63・・・表示装置
、64・・・プリンタ、65・・・フロッピィ260 第2図 粥 図 錫 図 第6図 (12(L3 (140+5 (160−
7(180−9き裂長さ&/W 電位差比とき裂長さの関係 第8図 時間 第 7図 第9図 第10図 応力拡大係数 に に12図 第11図 第 3図 電位差比と 第14図 裂 長 き袋長 さ 関係 第1(、図 会宝に
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、水質を制御できる純水製造装置から加圧加熱装置を
通して高温純水を供給される圧力容器内に複数のコンパ
クト型の試験片を設置し、前記試験片に荷重を負荷する
ための治具の一端を前記圧力容器の外部に設けた荷重検
出器を介して油圧シリンダと接続し、前記油圧シリンダ
には油圧ポンプよりアキュムレータを中間に設けた油圧
配管を通して高圧を供給し、前記試験片には数組のリー
ド線対を取り付け、前記圧力容器の外部に設けた直流電
源と微小電位差計と接続して前記試験片の複数ケ所の電
位差を測定し、前記複数カ所の電位差の比から前記試験
片のき裂長さを求め、荷重さき裂長さから求めたき裂の
応力拡大係数とき裂進展速度の関係を自動的に測定する
ことを特徴とする腐食環境き裂進展試験装置。 2、特許請求の範囲第1項記載のものにおいて、直流定
電圧電源、フローティング定電流回路、マルチプレクサ
、直流アンプ、A/Dコンバータ、バスバッファ、イン
ターフェース、液晶ディスプレイ、フロッピーディスク
駆動装置、プリンタ、及びコンピュータで構成されるき
裂長さ測定装置を具備したことを特徴とする腐食環境き
裂進展試験装置。 3、特許請求の範囲第1項または第2項記載のものにお
いて、前記試験片の初期切欠き側の両端にスポット溶接
されたリード線から極性を切換えながら直流電流を印加
し、切欠きを挾む位置の電位差と切欠きと反対側の両端
の電位差をスポット溶接されたリード線を介して測定し
、その両者の比からき裂長さを測定することを特徴とす
る腐食環境き裂進展試験装置。 4、特許請求の範囲第1項または第2項記載のものにお
いて、前記試験片の初期切欠き側の両端にスポット溶接
されたリード線から極性を切換えながら直流電流を印加
し、切欠きを挾む位置の電位差と切欠きと平行な二面の
電位差をスポット溶接されたリード線を介して測定し、
その両者の比からき裂長さを測定することを特徴とする
腐食環境き裂進展試験装置。 5、特許請求の範囲第3項または第4項記載のものにお
いて、切欠きを挾む位置の電位差の切欠きと反対側の両
端の電位差、または、切欠きと平行な二面の電位差に対
する比とき裂長さとの関係をn次式、または、多直線で
近似して、測定された電位差比からき裂長さを判定する
ことを特徴とする腐食環境き裂進展試験装置。 6、特許請求の範囲第3項または第4項記載のものにお
いて、切欠きを挾む位置の電位差として、板厚の中心に
スポット溶接されたリード線を介して測定された電位差
、または互いに板厚の両端よりにスポット溶接されたリ
ード線を介して板厚中心に対して斜いの位置で測定され
た電位差を用いることを特徴とする腐食環境き裂進展試
験装置。 7、特許請求の範囲第6項記載のものにおいて、切欠き
を挾む位置の電位差として、板厚の中心にスポット溶接
されたリード線を介して測定された電位差と、互いに板
厚の両端よりにスポット溶接されたリード線を介して板
厚中心に対して斜いの位置で測定された二カ所の電位差
、計三カ所の電位差の平均値を用いることを特徴とする
腐食環境き裂進展試験装置。 8、特許請求の範囲第1項または第2項記載のものにお
いて、コンパクト試験片の試験片の初期切欠き側の両端
にスポット溶接されたリード線から極性を切換えながら
直流電流を印加して測定された切欠きを挾む位置の電位
差と、切欠きと反対側の両端にスポット溶接されたリー
ド線から極性を切換えながら直流電流を印加して測定さ
れた切欠きを挾む位置の電位差の比からき裂長さを測定
することを特徴とする腐食環境き裂進展試験装置。 9、特許請求の範囲第1項または第2項記載のものにお
いて、コンパクト試験片の初期切欠き側の両端にスポッ
ト溶接されたリード線から極性を切換えながら直流電流
を印加して測定された切欠きを挾む位置の電位差と、切
欠きと反対側の両端にスポット溶接されたリード線から
極性を切換えながら直流電流を印加して測定された切欠
き側の両端の電位差の比からき裂長さを測定することを
特徴とする腐食環境き裂進展試験装置。 10、特許請求の範囲第1項ないし第9項記載のものに
おいて、コンパクト試験片の二カ所の電位差の比から試
験片のき裂長さを求め、き裂長さの時間、または繰返し
数に対する関係をn次式で近似して、その一次微分式か
らき裂進展速度を計算し、荷重とき裂長さから求めたき
裂の応力拡大係数とき裂進展速度の関係を自動的に測定
することを特徴とする腐食環境き裂進展試験装置。 11、特許請求の範囲第10項記載のものにおいて、コ
ンパクト試験片の二カ所の電位差の比から得られたき裂
長さの時間、または繰返し数に対する関係をn次式で近
似して、その一次微分式から一定のき裂長さ増分、また
は、一定の応力拡大係数増分に対してき裂進展速度を計
算し、応力拡大係数とき裂進展速度の関係を自動的に測
定することを特徴とする腐食環境き裂進展試験装置。 12、特許請求の範囲第1項ないし第11項記載のもの
において、コンパクト試験片の二カ所の電位差の比から
得られたき裂長さの時間、または繰返し数に対する関係
、及び応力拡大係数とき裂進展速度の関係を液晶ディス
プレイ上に表示し、それのハードコピーをプリンタに出
力することが可能なことを特徴とする腐食環境き裂進展
試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1328477A JP2512178B2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 腐食環境き裂進展試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1328477A JP2512178B2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 腐食環境き裂進展試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03189538A true JPH03189538A (ja) | 1991-08-19 |
| JP2512178B2 JP2512178B2 (ja) | 1996-07-03 |
Family
ID=18210711
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1328477A Expired - Fee Related JP2512178B2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 腐食環境き裂進展試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2512178B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007218826A (ja) * | 2006-02-20 | 2007-08-30 | Toshiba Corp | 応力腐食割れ評価方法および応力腐食割れ評価システム |
| JP2009068862A (ja) * | 2007-09-10 | 2009-04-02 | Toshiba Corp | 環境助長割れ監視試験方法および環境助長割れ監視試験装置 |
| CN107238531A (zh) * | 2017-07-21 | 2017-10-10 | 中国科学院金属研究所 | 一种紧凑拉伸试样裂纹扩展速率测量的装置及方法 |
| CN120595099A (zh) * | 2025-08-06 | 2025-09-05 | 南京讯联液压技术股份有限公司 | 压力开关误动作检测方法及系统 |
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| JPS6329748U (ja) * | 1986-08-12 | 1988-02-26 |
-
1989
- 1989-12-20 JP JP1328477A patent/JP2512178B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2512178B2 (ja) | 1996-07-03 |
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