JPH0319142A - 光学ヘッド - Google Patents
光学ヘッドInfo
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- JPH0319142A JPH0319142A JP1154283A JP15428389A JPH0319142A JP H0319142 A JPH0319142 A JP H0319142A JP 1154283 A JP1154283 A JP 1154283A JP 15428389 A JP15428389 A JP 15428389A JP H0319142 A JPH0319142 A JP H0319142A
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Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光学的に情報を記録もしくは再生を行なう装
置における光学ヘッドに関するものである. 〔従来技術〕 光学的に情報を記録もしくは再生する記録媒体に向けて
光を照射するために光学へ・ンドを用いる.情報記録再
生装置も年々小型化が進み、それに伴ない光学ヘッドそ
のものの小型化も次々と着手されつつある.例えば特開
昭62−277635号には、光学ヘッドに用いる光学
系を一軸化して小型化する技術が示されている。一軸化
のために格子レンズを用いて、半導体レーザから出射し
た光はO次回折光を通してディスクに照射し、ディスク
からの反射光は1次回折光を用いて光軸外に取り出して
光検出器上に照射して制御信号(トラッキングエラー信
号やフォーカスエラー信号)を得ている. また、これら制御信号が互いに干渉しないように、格子
レンズを4分割し、各々の格子方向とレンズパワーを変
えてある.更にフォーカスエラー信号を得るときに光検
出器の前後で焦点を結ぶように構戒すると、光検出器上
でデフオーカスするためにトラッキングエラー信号がフ
ォーカスエラー信号にまわり込みやすくなる.これを防
止するためにディスクからの戻り光は光検出器上でフォ
ーカスするようにしている.〔発明が解決しようとする
!l題〕 特開昭62 − 277635号第5図(a)はディス
ク上の光スポットが合焦状態にあるときの光検出器の探
子を示しており、これを本出願の図面第17図に示す.
この図で示すように、合焦時には光検出器l上でスポッ
ト2.3が分割線4上に位置することがわかる.(スボ
ノト2.3はわかり易い様に大きく示してある.)実際
に分割型光検出器を作威すると、拡大図で示すように割
分線部分は検出素子と検出素子との間隙であり光に対し
て不感帯頷域4aとなり、通常は合焦時のスポット径よ
りも大きい.従って、合焦時にはこの不感帯領域4aに
スポットが入り込み、光スポットは感知されず、差出力
も0となって合焦であることが検知される. しかしながら、特開昭62 − 277635号で用い
ている格子レンズは各分割領域でレンズパワーや焦点距
離を変えただけのレンズであり他に特別な加工は何らな
されていないので、各分割領域においては通常の球面単
レンズと変わらない。
置における光学ヘッドに関するものである. 〔従来技術〕 光学的に情報を記録もしくは再生する記録媒体に向けて
光を照射するために光学へ・ンドを用いる.情報記録再
生装置も年々小型化が進み、それに伴ない光学ヘッドそ
のものの小型化も次々と着手されつつある.例えば特開
昭62−277635号には、光学ヘッドに用いる光学
系を一軸化して小型化する技術が示されている。一軸化
のために格子レンズを用いて、半導体レーザから出射し
た光はO次回折光を通してディスクに照射し、ディスク
からの反射光は1次回折光を用いて光軸外に取り出して
光検出器上に照射して制御信号(トラッキングエラー信
号やフォーカスエラー信号)を得ている. また、これら制御信号が互いに干渉しないように、格子
レンズを4分割し、各々の格子方向とレンズパワーを変
えてある.更にフォーカスエラー信号を得るときに光検
出器の前後で焦点を結ぶように構戒すると、光検出器上
でデフオーカスするためにトラッキングエラー信号がフ
ォーカスエラー信号にまわり込みやすくなる.これを防
止するためにディスクからの戻り光は光検出器上でフォ
ーカスするようにしている.〔発明が解決しようとする
!l題〕 特開昭62 − 277635号第5図(a)はディス
ク上の光スポットが合焦状態にあるときの光検出器の探
子を示しており、これを本出願の図面第17図に示す.
この図で示すように、合焦時には光検出器l上でスポッ
ト2.3が分割線4上に位置することがわかる.(スボ
ノト2.3はわかり易い様に大きく示してある.)実際
に分割型光検出器を作威すると、拡大図で示すように割
分線部分は検出素子と検出素子との間隙であり光に対し
て不感帯頷域4aとなり、通常は合焦時のスポット径よ
りも大きい.従って、合焦時にはこの不感帯領域4aに
スポットが入り込み、光スポットは感知されず、差出力
も0となって合焦であることが検知される. しかしながら、特開昭62 − 277635号で用い
ている格子レンズは各分割領域でレンズパワーや焦点距
離を変えただけのレンズであり他に特別な加工は何らな
されていないので、各分割領域においては通常の球面単
レンズと変わらない。
球面単レンズは通過した光に比較的大きな球面収差を生
じさせるので、格子レンズを通過した光は球面収差を有
し、合焦時にスボノトが不感帯領域から不均一にはみ出
して、ゼロとなるべきフォーカスエラー信号にオフセン
トを持った場合が生じる.すると、フォーカスエラー信
号を検出して制御を行なっても、フォーカスエラー信号
がゼロとなる位置に対物レンズ等が制御されるため、合
焦位置に制御することができないという課題が生じる. 本発明は上記課題に着目してなされたもので、フォーカ
ス検出を行なう光ビームに球面収差を発生させず、フォ
ーカスエラー信号からオフセットを取り除く光学ヘッド
を提供することを目的とする. また、本発明の他の目的としては、フォーカスエラー信
号からオフセットを取り除くために使用する受光器に光
ビームを集束させるレンズによる球面収差の低減効果の
向上を簡単な構或で実現することにある. 〔課題を解決する手段および作用〕 本発明は、光記録媒体からの反射光を受光手段で受けて
フォーカス検出を行なうが、受光手段上に光ビームを集
束する光学素子のフォーカス検出用光ビームが通遇する
部分に両面非球面効果をもたせるものである.これによ
ると第16図に示すが、レンズの開口数が0.2〜0.
3程度のガラス球面単レンズA、片面非球面単レンズB
、両面非球面単レンズCにおける像高く光検出器上での
入射角θ、レンズの焦点距離をfとした場合のr −
tanθ〉に対する球面収差の関係を示す.この関係
から両面非球面単レンズの球面収差が最も少ないことが
わかる. 従って、受光手段上でのフォーカスオフセットの発生は
低減され、光記録媒体上での光スポットは正確に合焦状
態に制御される. また、両面非球面単レンズは製造する際にはその両面を
加工する必要がある.加工の方法はレンズの側面を挟み
込み固定をして片面ずつ加工する.従ってレンズの心出
しはレンズの母線に基づき行なうため、両面の輪合せに
関してはその機械的精度が精度の限界となる.更に片面
加工の後にとりはずして、それから逆面に対して固定し
て加工を行なうので両面の軸ずれをなくすことは非常に
難しい.軸ずれが発生すると、特開昭64−21410
号の第3図で示すように紬ずれの大きさに比例して球面
収差が発生する.そこで本発明においては、両面非球面
レンズをホログラムレンズで作威するようにした.ホロ
グラムレンズで作成すると、画面の軸ずれを光学的に検
出することができるので作或時に非常に梢度よく軸合せ
が行なえ両面非球面レンズの作威も簡単に行なえる.更
に、曲率半径の異なる非球面のホログラムレンズを各々
別に作威して組合せるようにすると、組合せる際に軸合
せを行なえばよいので更に簡単に柚ずれのない両面非球
面レンズの作戒が可能となる. 〔実施例〕 次に、図面に基づき本発明の実施例について説明する. 第1図〜第7図は第1実施例を示す. 第1図は第1実施例の全体構成を示す概要図である. 半導体レーザ5から出射する光はP偏光であり、コリメ
ータレンズ6により平行光とされる.この平行先は偏光
ビームスプリッタ7を通過し、1/4波長板8で円偏光
に変換された後、対物レンズ9により光記録媒体10上
にスポット状で照射される.照射された光は光記録媒体
10で反射され、対物レンズ9を通過して平行光となる
.平行光は1/4波長板8でS偏光となり、偏光ビーム
スプリンタクで反射される.反射された光は複合レンズ
11を通過して、フォーカス検出用の光とトラッキング
検出用の光に分けられ光検出器12にて充電変換されて
各制御信号を得る.次に、複合レンズl1の構或につい
て第2図〜第5図に基づき詳細に説明する.第2図は複
合レンズ11の斜視図、第3図は側面図、第4図は入射
側からみた図、第5図は出射側からみた図である.各々
の方向を示すためにx,y,z軸を添記してある. 複合レンズ11はガラスで作威したレンズ基板の一部に
ホログラムレンズを貼付したものである.ガラス基板l
3の入射面は半分を平面l4に、残りの半分を峰状ウェ
ッジプリズム15に、出射面は全面平面l6に研削、研
磨を行ない加工してある.ガラス基板13の千面l4に
は曲率半径の小さい非球面効果を持たせた第1のホログ
ラムレンズl7が貼付してあり、平面16のうち平面l
4に対応する半分には曲率半径の大きい非球面効果を持
たせた第2のホログラムレンズl8が貼付してある. 次に第6図(a)(ロ)に基づき、第1および第2のホ
ログラムレンズの作威法について説明する.図示はして
いないが、−Sにレーザからの光をコリメータレンズ等
により平行光とし、この光を半透鏡で2分割する.第6
図(a)に示すように分割された平面波の一方は参照光
としてホログラム作或用の感材面19に法線方向から照
射する.他方の光は、1方の面が光軸に垂直な面をもつ
曲率半径の小さい非球面レンズ20に反射ミラー等(図
示せず)を用いて導き、ピンホール2lを介して感材面
に参照光とは逆の面から同時に照射する.このように感
材面19に参照光と物体光を同時に照射(二重露光法)
すると、感材面l9には放物線状の干渉縞が形威され、
これを現倣することにより、参照光と同じ平面波を再生
光として照射したときに、非球面レンズ20と同じ働き
を持ち、出射光が収束するような第1のホログラムレン
ズl7が形威される.第2のホログラムレンズ18は、
第6図伽》に示すように参照光として非球面レンズ20
とピンホール21を介した球面波を感材面22に照射し
、物体光としては1方の面が光紬に垂直な面を持つ曲率
半径の大きい非球面レンズ23とピンホール24を介し
て逆の面から同時に照射して形或する.ここで参照光と
して球面波を照射するのは、第2のホログラムレンズl
8には第1のホログラムレンズ17の出射光、即ち球面
波が再生光として入射するためである.また、ピンホー
ル21. 24を用いるのは、余分な光が感材面19.
22に照射しないためである. 以上の様に作威したホログラムレンズ17. 18を各
々ガラス基Fi13の平面14. 16の所定位置に貼
付して複合レンズ11を形威する.この様に各ホログラ
ムレンズを作威した後に貼付するので、貼付するときに
各ホログラムレンズの光軸を合わせればよい.従って、
軸合せをしながら両面を加工する両面非球面単レンズに
比べると非常に簡単に軸の合った両面非球面レンズの作
用を持つレンズが得られる. この複合レンズ11に光記録媒体から反射した光が入射
すると、第3図で示すように入射光の半円はウェッジプ
リズムl5により屈折して光は2分割される.2分割さ
れた略1/4円の光はガラス基板l3を通過して各々、
光検出・器12の検出?子S■,Slgで集光検出され
て充電変換された後、トラッキングエラー信号として得
られる他の半円はホログラムレンズl7とウェッジプリ
ズムl5との境界によりエッジ効果を持ち、各ホログラ
ムレンズで2分割検出素子SA上に集光検出されて光電
変換された後、フォーカスエラー信号として得られる.
検出器上での受光の様子を第7図に示す.第7図(菊は
ジャストフォーカス時を示してあり、検出素子Sあでは
球面収差によるオフセットは発生せず光はスポット状に
SAIとS■の間の不感帯25に入り込む.このときフ
ォーカスエラー信号もS.,−S..−Oでシャストフ
ォーカスを示す.一方、検出素子S..S.においても
微小スポットとなるがオフトランク量に従ってウェッジ
プリズムで各方向に屈折される光量が変わるのでS■一
Soでトラッキングエラー信号が検出される.第7図伽
)はデフォーカス時を示してある.検出素子S.上では
、Sag上のみに半円の光が検出され、S■一sagが
フォーカスエラー信号であり、デフォーカス?方向と量
を示す.当然ではあるがデフォーカスの方向が第7図(
b)と逆になると、半円の光は(C)で示すようにS■
のみに検出される.また、検出素子S■,S■上では各
々l/4円の光が検出され、各光量がオフトラック状態
に応して異なる. 第7図においては、各検出素子がずれて示してあるが、
複合レンズl1の作威において光の収束位直を調整すれ
ば検出素子はSm+, SA+ slよを一列に並べ
て配置することもできる.また、上記第1実施例ではウ
エ’)ジプリズムを峰状としたが第2実施例として第8
図(a)および(6)で示すように谷状ウェッジプリズ
ム151としてもよい.このとき、(b)で示すように
ウエノジプリズム151で分割された光ビームの進路は
第3図とは異なり、プリズムの谷線から外方へ分割され
る.第3図のときとエラーを示す方向は逆になるが、S
■−SSXによりトラッキングエラー信号が得られるこ
とは第1実施例と同樺である.他の部分に関しては第1
実施例と同じであるので詳細な説明は行なわない. 次に、第9図に基づき第3実施例について説明する.第
3実施例は第1実施例の変形であり、第1実施例と異な
る部分は、ウェッジプリズムの位置である.第1実施例
では、曲率半径の小さい非球面効果をもつ第1のホログ
ラムレンズl7を貼付する入射側にウェッジプリズムを
設けたが、第3実施例では、曲率半径の大きい非球面効
果をもつ第2のホログラムレンズl8を貼付する出射側
にウェッジプリズム152を設けてある.従って入射面
はい)図で示すようにガラス基板13を全面平面141
に加工した後、半面に第1のホログラムレンズ17を貼
付する.出射面は(C)図に示すように、入射面の第1
のホログラムレンズl7に対応する位置である半面ガラ
ス基板13を平面に加工してあり、その部分には第2の
ホログラムレンズ18を貼付し、残りの半面は、峰状の
ウェッジプリズム152に加工してある.入射した光が
屈折を受けて分割する位置が異なる以外は第1実施例と
同じであるので詳細な説明は省略する. 次に第10図〜第12図に基づき第4実施例について説
明する. 第4実施例の特徴部分はウェッジプリズム部分ヲホログ
ラムレンズで作威した点にある.第lO図は複合レンズ
26を入射面からみた場合の図を示し、第11図は複合
レンズ26を側面からみた場合の図を示す. 第11図からわかるように、ガラス基板131は入射面
も出射面も全面平面に加工してあり、その面にホログラ
ムレンズを貼付してある.入射面側は第lO図で示すよ
うに半面に曲率半径の小さい非球面効果を持たせ、他の
半面にはウェッジプリズム効果を持たせたホログラムレ
ンズ27を貼付してある.尚出射面側については、第5
図と同じなので説明は省略する. 次に第12図に基づき、ホログラムレンズ27の作威に
ついて説明する.まず、曲率半径の小さい非球面部27
aの作威については第6図中)で説明した方法で行なう
が、但しこのときウェッジプリズム部27bに相当する
部分は感材面28にてマスキングを行ない、光が照射し
ないようにする.マスキングは光を遮断するもので覆う
ことで簡単に実現できる.次に、非球面部27aの部分
をマスキングする.そして、非球面部27aの作威と同
様に図示はしていないが、レーザからの光をコリメータ
レンズ等により平行光とし、この光を半透鏡で2分割す
る.分割した一方の光は、平面波の参照光として感材面
28に法線方向から照射する.他方の光は、更に半透,
129で2分割した後一方はレンズ30に、他方は反射
ミラー31で反射した後にレンズ32に入射する.そし
て、曲率半径の小さい非球面レンズ20の集束位置のピ
ンホールから各DIIIIIAIれた位直にピンホール
33. 34を設け、レンズ30. 32を通過した光
はピンホール33. 34で集束して通過した後、各々
感材面28の参照光を照射する面とは逆の面の1/4の
領域に斜めに照射される.この感材面28を現像するこ
とによりホログラムレンズ27が作或できる. 以上の様に作成したホログラムレンズ27と第6図(b
)と同様に作威したホログラムレンズ18をガラス碁板
131に軸を合わせて貼付して複合レンズ26を作威す
る.この複合レンズ26は軸ずれのない両面非球面レン
ズを簡単に作威したもので、この複合レンズ26を用い
ることにより光検出器上でのフォーカスオフセットを取
り除き、正確なフォーカス検出を行なうことができる.
第4実施例では入射面側にウェッジプリズム部を作威し
たが出射面側に作威してもよい.次に、上記実施例では
、ガラス基板の両面にホログラムレンズを貼付して複合
レンズを作威したが、ガラス基板を用いない第5実施例
を第13図を用いて説明する.第1図と同じ部分には同
じ番号を付してあり、ホログラムレンズは第4実施例と
同じものを使用している. 半導体レーザ5から放射したP偏光はコリメータレンズ
6で平行先にされ、偏光ビームスプリッタフに入射する
.P偏光であるため平行光は偏光ビームスプリッタ7を
透過し、出射面倒に貼付してある1/4波長板8により
円偏光となる.円偏光となった光は対物レンズ9により
集束され光記録媒体・lO上にスポットとして照射され
る.光記録媒体lOで反射された光は対物レンズ9で平
行光とされ、1/4波長板8でS偏光となる.S偏光と
なった光は偏光ビームスブリッタ7に入射し、偏光膜面
で反射される.反射された光は、その方向の出射面に貼
付された1/4波長板35で円偏光となる.l/4波長
板35には更にホログラムレンズ27が貼付されその上
から多層膜コーティングにより反射面36を形威してあ
る.l74波長板35で変換された円偏光はホログラム
レンズ27により、ウェッジプリズム部では光の2分割
作用を受け、非球面部では屈折集束作用を受けた後反射
面36で反射され、結果的に光は3分割される.3分割
された光は、再びl/4波長板を通過するときにP偏光
となり、偏光ビームスプリンタ7に入射する.P偏光で
あるため偏光膜面は通過し、その方向の出射面の曲率半
径の小さい非球面部に対向する位置に貼付されたホログ
ラムレンズ18で半円だけは更に集束され、光検出器l
2の検出素子S.で受光される.他の2分割された1/
4円も各々検出素子S■l+sl1で受光される.後は
第l図と同様に電気信号に変換され、各制御信号が得ら
れる.第5実施例の樺に構威すると光学系全体が小型化
できるという利点が更に生じる. 以上第1〜第5実施例ではDraw型の光記録もしくは
再生装置に関して説明したが、本発明はこれに限られず
、例えば光磁気記録媒体を用いた書換え可能な装置につ
いても通用できる.例として、第14図に示す.半導体
レーザ5から出射してコリメータレンズ6で平行化され
たP偏光は偏光ビームスブリッタ37を通過して対物レ
ンズ9で光磁気記録媒体38上に集束される.光磁気記
録媒体38から反射された光はカー回転威分を含みS偏
光成分をもつ.この反射光は、P偏光の反射率を50%
程度、S偏光の反射率を100%にした偏光ビームスブ
リッタ37に入射し、P偏光成分は50%、S偏光威分
は100%反射され、みかけ上のカー回転角が増大され
る.更にハーフプリズム39で光が2分割され、一方の
光は複合レンズ26を通過し、光検出器l2により制御
信号を得る.他方の光は1/2波長板40を通過し偏光
ビームスプリッタ41でP偏光と信号成分となるS偏光
に分け各々検出して差出力をとり情報信号を得る. また、第15図に示すように、偏光ピームスプリンタ3
7で反射した光を偏光ビームスプリッタ4lでP偏光と
S偏光に分け、P偏光は複合プリズム26を介して光検
出器12で各制御信号を得る.また、光検出器l2で受
光した全出力和と、S偏光の出力の差をとって情報信号
としてもよい.以上説明した全ての実施例においては、
ホログラムレンズを別に作威してガラス基板や偏光ビー
ムスプリツタに貼付する方法をとっていたが、これら透
明基板が以上の実施例で示すようにガラスより成る場合
には、例えばこのガラス基板上に金型を設けてフォトポ
リマーを注入し、これを紫外線硬化させた後金型を剥離
して成形したり、あるいはガラス基板上に反応性イオン
エッチングによりフォトレジスト薄膜を記録し、これを
現像してパターンを形威した後Cl{F.ガスでイオン
エッチングを行い、その後レジストを除去して形威する
ことができる.また、透明基板はガラスに限られず、プ
ラスチック等の基板に貼付してもよい.更に、透明基板
がプラスチックより成る場合に、基板上にフォトレジス
トを塗布してレーザビームによりパターンを記録し、こ
れを現像した後レジストパターン上からXi等の金属を
電鋳によりメッキしてスタンパを作或することにより威
形することもできる.これら基板と一体成形する場合で
も、作成する場合に平行光を照射して光検出器で透過光
を受光することによりレンズの中心紬を光学的に検出で
きるので稍度の高い軸合せが可能である.また、型によ
り作戒するレプリカ法でるため簡単に多量生産が可能と
なりコストの低減も実現できる. 〔発明の効果〕 以上説明したようにこの発明によれば、フォーカス検出
を行なうにあたり、受光手段上に光ビームを集束する光
学素子のフォーカス検出用光ビームが通過する部分に両
面非球面効果を持たせたので、オフセットを含まないフ
ォーカスエラー信号を得ることができる.また、両面非
球面効果をホログラムレンズにより実施することにより
、簡単に作威できるとともに両面非球面レンズの軸合せ
も簡単に実施でき、球面収差を非常に低減できるためフ
ォーカスエラー信号の精度をあげることができる.
じさせるので、格子レンズを通過した光は球面収差を有
し、合焦時にスボノトが不感帯領域から不均一にはみ出
して、ゼロとなるべきフォーカスエラー信号にオフセン
トを持った場合が生じる.すると、フォーカスエラー信
号を検出して制御を行なっても、フォーカスエラー信号
がゼロとなる位置に対物レンズ等が制御されるため、合
焦位置に制御することができないという課題が生じる. 本発明は上記課題に着目してなされたもので、フォーカ
ス検出を行なう光ビームに球面収差を発生させず、フォ
ーカスエラー信号からオフセットを取り除く光学ヘッド
を提供することを目的とする. また、本発明の他の目的としては、フォーカスエラー信
号からオフセットを取り除くために使用する受光器に光
ビームを集束させるレンズによる球面収差の低減効果の
向上を簡単な構或で実現することにある. 〔課題を解決する手段および作用〕 本発明は、光記録媒体からの反射光を受光手段で受けて
フォーカス検出を行なうが、受光手段上に光ビームを集
束する光学素子のフォーカス検出用光ビームが通遇する
部分に両面非球面効果をもたせるものである.これによ
ると第16図に示すが、レンズの開口数が0.2〜0.
3程度のガラス球面単レンズA、片面非球面単レンズB
、両面非球面単レンズCにおける像高く光検出器上での
入射角θ、レンズの焦点距離をfとした場合のr −
tanθ〉に対する球面収差の関係を示す.この関係
から両面非球面単レンズの球面収差が最も少ないことが
わかる. 従って、受光手段上でのフォーカスオフセットの発生は
低減され、光記録媒体上での光スポットは正確に合焦状
態に制御される. また、両面非球面単レンズは製造する際にはその両面を
加工する必要がある.加工の方法はレンズの側面を挟み
込み固定をして片面ずつ加工する.従ってレンズの心出
しはレンズの母線に基づき行なうため、両面の輪合せに
関してはその機械的精度が精度の限界となる.更に片面
加工の後にとりはずして、それから逆面に対して固定し
て加工を行なうので両面の軸ずれをなくすことは非常に
難しい.軸ずれが発生すると、特開昭64−21410
号の第3図で示すように紬ずれの大きさに比例して球面
収差が発生する.そこで本発明においては、両面非球面
レンズをホログラムレンズで作威するようにした.ホロ
グラムレンズで作成すると、画面の軸ずれを光学的に検
出することができるので作或時に非常に梢度よく軸合せ
が行なえ両面非球面レンズの作威も簡単に行なえる.更
に、曲率半径の異なる非球面のホログラムレンズを各々
別に作威して組合せるようにすると、組合せる際に軸合
せを行なえばよいので更に簡単に柚ずれのない両面非球
面レンズの作戒が可能となる. 〔実施例〕 次に、図面に基づき本発明の実施例について説明する. 第1図〜第7図は第1実施例を示す. 第1図は第1実施例の全体構成を示す概要図である. 半導体レーザ5から出射する光はP偏光であり、コリメ
ータレンズ6により平行光とされる.この平行先は偏光
ビームスプリッタ7を通過し、1/4波長板8で円偏光
に変換された後、対物レンズ9により光記録媒体10上
にスポット状で照射される.照射された光は光記録媒体
10で反射され、対物レンズ9を通過して平行光となる
.平行光は1/4波長板8でS偏光となり、偏光ビーム
スプリンタクで反射される.反射された光は複合レンズ
11を通過して、フォーカス検出用の光とトラッキング
検出用の光に分けられ光検出器12にて充電変換されて
各制御信号を得る.次に、複合レンズl1の構或につい
て第2図〜第5図に基づき詳細に説明する.第2図は複
合レンズ11の斜視図、第3図は側面図、第4図は入射
側からみた図、第5図は出射側からみた図である.各々
の方向を示すためにx,y,z軸を添記してある. 複合レンズ11はガラスで作威したレンズ基板の一部に
ホログラムレンズを貼付したものである.ガラス基板l
3の入射面は半分を平面l4に、残りの半分を峰状ウェ
ッジプリズム15に、出射面は全面平面l6に研削、研
磨を行ない加工してある.ガラス基板13の千面l4に
は曲率半径の小さい非球面効果を持たせた第1のホログ
ラムレンズl7が貼付してあり、平面16のうち平面l
4に対応する半分には曲率半径の大きい非球面効果を持
たせた第2のホログラムレンズl8が貼付してある. 次に第6図(a)(ロ)に基づき、第1および第2のホ
ログラムレンズの作威法について説明する.図示はして
いないが、−Sにレーザからの光をコリメータレンズ等
により平行光とし、この光を半透鏡で2分割する.第6
図(a)に示すように分割された平面波の一方は参照光
としてホログラム作或用の感材面19に法線方向から照
射する.他方の光は、1方の面が光軸に垂直な面をもつ
曲率半径の小さい非球面レンズ20に反射ミラー等(図
示せず)を用いて導き、ピンホール2lを介して感材面
に参照光とは逆の面から同時に照射する.このように感
材面19に参照光と物体光を同時に照射(二重露光法)
すると、感材面l9には放物線状の干渉縞が形威され、
これを現倣することにより、参照光と同じ平面波を再生
光として照射したときに、非球面レンズ20と同じ働き
を持ち、出射光が収束するような第1のホログラムレン
ズl7が形威される.第2のホログラムレンズ18は、
第6図伽》に示すように参照光として非球面レンズ20
とピンホール21を介した球面波を感材面22に照射し
、物体光としては1方の面が光紬に垂直な面を持つ曲率
半径の大きい非球面レンズ23とピンホール24を介し
て逆の面から同時に照射して形或する.ここで参照光と
して球面波を照射するのは、第2のホログラムレンズl
8には第1のホログラムレンズ17の出射光、即ち球面
波が再生光として入射するためである.また、ピンホー
ル21. 24を用いるのは、余分な光が感材面19.
22に照射しないためである. 以上の様に作威したホログラムレンズ17. 18を各
々ガラス基Fi13の平面14. 16の所定位置に貼
付して複合レンズ11を形威する.この様に各ホログラ
ムレンズを作威した後に貼付するので、貼付するときに
各ホログラムレンズの光軸を合わせればよい.従って、
軸合せをしながら両面を加工する両面非球面単レンズに
比べると非常に簡単に軸の合った両面非球面レンズの作
用を持つレンズが得られる. この複合レンズ11に光記録媒体から反射した光が入射
すると、第3図で示すように入射光の半円はウェッジプ
リズムl5により屈折して光は2分割される.2分割さ
れた略1/4円の光はガラス基板l3を通過して各々、
光検出・器12の検出?子S■,Slgで集光検出され
て充電変換された後、トラッキングエラー信号として得
られる他の半円はホログラムレンズl7とウェッジプリ
ズムl5との境界によりエッジ効果を持ち、各ホログラ
ムレンズで2分割検出素子SA上に集光検出されて光電
変換された後、フォーカスエラー信号として得られる.
検出器上での受光の様子を第7図に示す.第7図(菊は
ジャストフォーカス時を示してあり、検出素子Sあでは
球面収差によるオフセットは発生せず光はスポット状に
SAIとS■の間の不感帯25に入り込む.このときフ
ォーカスエラー信号もS.,−S..−Oでシャストフ
ォーカスを示す.一方、検出素子S..S.においても
微小スポットとなるがオフトランク量に従ってウェッジ
プリズムで各方向に屈折される光量が変わるのでS■一
Soでトラッキングエラー信号が検出される.第7図伽
)はデフォーカス時を示してある.検出素子S.上では
、Sag上のみに半円の光が検出され、S■一sagが
フォーカスエラー信号であり、デフォーカス?方向と量
を示す.当然ではあるがデフォーカスの方向が第7図(
b)と逆になると、半円の光は(C)で示すようにS■
のみに検出される.また、検出素子S■,S■上では各
々l/4円の光が検出され、各光量がオフトラック状態
に応して異なる. 第7図においては、各検出素子がずれて示してあるが、
複合レンズl1の作威において光の収束位直を調整すれ
ば検出素子はSm+, SA+ slよを一列に並べ
て配置することもできる.また、上記第1実施例ではウ
エ’)ジプリズムを峰状としたが第2実施例として第8
図(a)および(6)で示すように谷状ウェッジプリズ
ム151としてもよい.このとき、(b)で示すように
ウエノジプリズム151で分割された光ビームの進路は
第3図とは異なり、プリズムの谷線から外方へ分割され
る.第3図のときとエラーを示す方向は逆になるが、S
■−SSXによりトラッキングエラー信号が得られるこ
とは第1実施例と同樺である.他の部分に関しては第1
実施例と同じであるので詳細な説明は行なわない. 次に、第9図に基づき第3実施例について説明する.第
3実施例は第1実施例の変形であり、第1実施例と異な
る部分は、ウェッジプリズムの位置である.第1実施例
では、曲率半径の小さい非球面効果をもつ第1のホログ
ラムレンズl7を貼付する入射側にウェッジプリズムを
設けたが、第3実施例では、曲率半径の大きい非球面効
果をもつ第2のホログラムレンズl8を貼付する出射側
にウェッジプリズム152を設けてある.従って入射面
はい)図で示すようにガラス基板13を全面平面141
に加工した後、半面に第1のホログラムレンズ17を貼
付する.出射面は(C)図に示すように、入射面の第1
のホログラムレンズl7に対応する位置である半面ガラ
ス基板13を平面に加工してあり、その部分には第2の
ホログラムレンズ18を貼付し、残りの半面は、峰状の
ウェッジプリズム152に加工してある.入射した光が
屈折を受けて分割する位置が異なる以外は第1実施例と
同じであるので詳細な説明は省略する. 次に第10図〜第12図に基づき第4実施例について説
明する. 第4実施例の特徴部分はウェッジプリズム部分ヲホログ
ラムレンズで作威した点にある.第lO図は複合レンズ
26を入射面からみた場合の図を示し、第11図は複合
レンズ26を側面からみた場合の図を示す. 第11図からわかるように、ガラス基板131は入射面
も出射面も全面平面に加工してあり、その面にホログラ
ムレンズを貼付してある.入射面側は第lO図で示すよ
うに半面に曲率半径の小さい非球面効果を持たせ、他の
半面にはウェッジプリズム効果を持たせたホログラムレ
ンズ27を貼付してある.尚出射面側については、第5
図と同じなので説明は省略する. 次に第12図に基づき、ホログラムレンズ27の作威に
ついて説明する.まず、曲率半径の小さい非球面部27
aの作威については第6図中)で説明した方法で行なう
が、但しこのときウェッジプリズム部27bに相当する
部分は感材面28にてマスキングを行ない、光が照射し
ないようにする.マスキングは光を遮断するもので覆う
ことで簡単に実現できる.次に、非球面部27aの部分
をマスキングする.そして、非球面部27aの作威と同
様に図示はしていないが、レーザからの光をコリメータ
レンズ等により平行光とし、この光を半透鏡で2分割す
る.分割した一方の光は、平面波の参照光として感材面
28に法線方向から照射する.他方の光は、更に半透,
129で2分割した後一方はレンズ30に、他方は反射
ミラー31で反射した後にレンズ32に入射する.そし
て、曲率半径の小さい非球面レンズ20の集束位置のピ
ンホールから各DIIIIIAIれた位直にピンホール
33. 34を設け、レンズ30. 32を通過した光
はピンホール33. 34で集束して通過した後、各々
感材面28の参照光を照射する面とは逆の面の1/4の
領域に斜めに照射される.この感材面28を現像するこ
とによりホログラムレンズ27が作或できる. 以上の様に作成したホログラムレンズ27と第6図(b
)と同様に作威したホログラムレンズ18をガラス碁板
131に軸を合わせて貼付して複合レンズ26を作威す
る.この複合レンズ26は軸ずれのない両面非球面レン
ズを簡単に作威したもので、この複合レンズ26を用い
ることにより光検出器上でのフォーカスオフセットを取
り除き、正確なフォーカス検出を行なうことができる.
第4実施例では入射面側にウェッジプリズム部を作威し
たが出射面側に作威してもよい.次に、上記実施例では
、ガラス基板の両面にホログラムレンズを貼付して複合
レンズを作威したが、ガラス基板を用いない第5実施例
を第13図を用いて説明する.第1図と同じ部分には同
じ番号を付してあり、ホログラムレンズは第4実施例と
同じものを使用している. 半導体レーザ5から放射したP偏光はコリメータレンズ
6で平行先にされ、偏光ビームスプリッタフに入射する
.P偏光であるため平行光は偏光ビームスプリッタ7を
透過し、出射面倒に貼付してある1/4波長板8により
円偏光となる.円偏光となった光は対物レンズ9により
集束され光記録媒体・lO上にスポットとして照射され
る.光記録媒体lOで反射された光は対物レンズ9で平
行光とされ、1/4波長板8でS偏光となる.S偏光と
なった光は偏光ビームスブリッタ7に入射し、偏光膜面
で反射される.反射された光は、その方向の出射面に貼
付された1/4波長板35で円偏光となる.l/4波長
板35には更にホログラムレンズ27が貼付されその上
から多層膜コーティングにより反射面36を形威してあ
る.l74波長板35で変換された円偏光はホログラム
レンズ27により、ウェッジプリズム部では光の2分割
作用を受け、非球面部では屈折集束作用を受けた後反射
面36で反射され、結果的に光は3分割される.3分割
された光は、再びl/4波長板を通過するときにP偏光
となり、偏光ビームスプリンタ7に入射する.P偏光で
あるため偏光膜面は通過し、その方向の出射面の曲率半
径の小さい非球面部に対向する位置に貼付されたホログ
ラムレンズ18で半円だけは更に集束され、光検出器l
2の検出素子S.で受光される.他の2分割された1/
4円も各々検出素子S■l+sl1で受光される.後は
第l図と同様に電気信号に変換され、各制御信号が得ら
れる.第5実施例の樺に構威すると光学系全体が小型化
できるという利点が更に生じる. 以上第1〜第5実施例ではDraw型の光記録もしくは
再生装置に関して説明したが、本発明はこれに限られず
、例えば光磁気記録媒体を用いた書換え可能な装置につ
いても通用できる.例として、第14図に示す.半導体
レーザ5から出射してコリメータレンズ6で平行化され
たP偏光は偏光ビームスブリッタ37を通過して対物レ
ンズ9で光磁気記録媒体38上に集束される.光磁気記
録媒体38から反射された光はカー回転威分を含みS偏
光成分をもつ.この反射光は、P偏光の反射率を50%
程度、S偏光の反射率を100%にした偏光ビームスブ
リッタ37に入射し、P偏光成分は50%、S偏光威分
は100%反射され、みかけ上のカー回転角が増大され
る.更にハーフプリズム39で光が2分割され、一方の
光は複合レンズ26を通過し、光検出器l2により制御
信号を得る.他方の光は1/2波長板40を通過し偏光
ビームスプリッタ41でP偏光と信号成分となるS偏光
に分け各々検出して差出力をとり情報信号を得る. また、第15図に示すように、偏光ピームスプリンタ3
7で反射した光を偏光ビームスプリッタ4lでP偏光と
S偏光に分け、P偏光は複合プリズム26を介して光検
出器12で各制御信号を得る.また、光検出器l2で受
光した全出力和と、S偏光の出力の差をとって情報信号
としてもよい.以上説明した全ての実施例においては、
ホログラムレンズを別に作威してガラス基板や偏光ビー
ムスプリツタに貼付する方法をとっていたが、これら透
明基板が以上の実施例で示すようにガラスより成る場合
には、例えばこのガラス基板上に金型を設けてフォトポ
リマーを注入し、これを紫外線硬化させた後金型を剥離
して成形したり、あるいはガラス基板上に反応性イオン
エッチングによりフォトレジスト薄膜を記録し、これを
現像してパターンを形威した後Cl{F.ガスでイオン
エッチングを行い、その後レジストを除去して形威する
ことができる.また、透明基板はガラスに限られず、プ
ラスチック等の基板に貼付してもよい.更に、透明基板
がプラスチックより成る場合に、基板上にフォトレジス
トを塗布してレーザビームによりパターンを記録し、こ
れを現像した後レジストパターン上からXi等の金属を
電鋳によりメッキしてスタンパを作或することにより威
形することもできる.これら基板と一体成形する場合で
も、作成する場合に平行光を照射して光検出器で透過光
を受光することによりレンズの中心紬を光学的に検出で
きるので稍度の高い軸合せが可能である.また、型によ
り作戒するレプリカ法でるため簡単に多量生産が可能と
なりコストの低減も実現できる. 〔発明の効果〕 以上説明したようにこの発明によれば、フォーカス検出
を行なうにあたり、受光手段上に光ビームを集束する光
学素子のフォーカス検出用光ビームが通過する部分に両
面非球面効果を持たせたので、オフセットを含まないフ
ォーカスエラー信号を得ることができる.また、両面非
球面効果をホログラムレンズにより実施することにより
、簡単に作威できるとともに両面非球面レンズの軸合せ
も簡単に実施でき、球面収差を非常に低減できるためフ
ォーカスエラー信号の精度をあげることができる.
第1図は、第1実施例の全体概要図、第2図〜第5図は
第1実施例で用いる複合レンズを示す図、第6図は複合
レンズの作威法を示す図、第7図は光検出器上の光の様
子を示す図、第8図は第2実施例を示す図、第9図は、
第3実施例を示す図、第10図および第11図は第4実
施例を示す図、第12図は第4実施例の複合レンズの作
戒法を示す図、第13図は第4実施例の全体概要図、第
14図は、光磁気装置で用いた場合の全体概要図、第1
5図は、第14図の他の例を示す図、第16図は、本発
明に基づく作用を示す図、第17図は、従来例を説明す
る図である. 11. 26−・・・・・・ 複合レンズ17.
18. 27・・・−・・一・−ホログラムレンズ15
・−・−・−・・・一・・− ウェッジプリズ
ム第4 [; オ 5−4 17 }4 16 [3 (0) 第 3 こ (b) 第6(7l (0) (b) (C) Σ 7 二i (0) (b) 第12区 10 警l3 第9 区 131 コ ’5gl4 エ 4o 男 旧S 頁7 図
第1実施例で用いる複合レンズを示す図、第6図は複合
レンズの作威法を示す図、第7図は光検出器上の光の様
子を示す図、第8図は第2実施例を示す図、第9図は、
第3実施例を示す図、第10図および第11図は第4実
施例を示す図、第12図は第4実施例の複合レンズの作
戒法を示す図、第13図は第4実施例の全体概要図、第
14図は、光磁気装置で用いた場合の全体概要図、第1
5図は、第14図の他の例を示す図、第16図は、本発
明に基づく作用を示す図、第17図は、従来例を説明す
る図である. 11. 26−・・・・・・ 複合レンズ17.
18. 27・・・−・・一・−ホログラムレンズ15
・−・−・−・・・一・・− ウェッジプリズ
ム第4 [; オ 5−4 17 }4 16 [3 (0) 第 3 こ (b) 第6(7l (0) (b) (C) Σ 7 二i (0) (b) 第12区 10 警l3 第9 区 131 コ ’5gl4 エ 4o 男 旧S 頁7 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、レーザ光源と、該レーザ光源から出射した光を光記
録媒体上に集束させる対物レンズと、一部は両面非球面
効果を有し、両面非球面効果を有する部分を通過する光
をフォーカス検出用光ビームとして、他の部分を通過す
る光をトラッキング検出用光ビームとして分離する光学
素子と、分離されたフォーカス検出用光ビームを受光す
る第1の受光手段と、分離されたトラッキング検出用光
ビームを受光する第2の受光手段を有することを特徴と
する光学ヘッド。 2、前記光学素子の一部をウェッジプリズムとしてトラ
ッキング検出用光ビームを2分割する請求項1記載の光
学ヘッド。 3、前記光学素子の一部をウェッジプリズム効果をもつ
ホログラムレンズとしてトラッキング検出用光ビームを
2分割する請求項1記載の光学ヘッド。 4、前記光学素子のウェッジプリズム効果をもつ部分は
前記光学素子の入射面もしくは出射面のいずれか一方に
位置する請求項2もしくは3記載の光学ヘッド。 5、前記光学素子の両面非球面部分は入射面と出射面に
曲率半径の異なる非球面効果を有するホログラムレンズ
から成る請求項1記載の光学ヘッド。 6、レーザ光源と、該レーザ光源から出射した光を光記
録媒体上に集束させる対物レンズと、集束スポットが前
記光記録媒体上で合焦状態であることを検出するための
光検出手段と、両面非球面効果をもち前記光記録媒体か
らの反射光を前記光検出手段上に集束させるレンズを有
することを特徴とする光学ヘッド。 7、前記レンズの入射面と出射面には曲率半径の異なる
非球面効果をもつホログラムレンズを有する請求項6記
載の光学ヘッド。 8、前記レンズの一部はウェッジプリズム効果をもち、
前記光記録媒体上の集束スポットのトラッキング状態を
検出するトラッキング検出用光ビームを2分割する請求
項6記載の光学ヘッド。 9、レーザ光源と、該レーザ光源から出射した光を光記
録媒体上に集束させる対物レンズと、前記光記録媒体か
ら反射した光をレーザ光源からの出射光路と分離する手
段と、前記分離手段の分離光路方向の一端には曲率半径
の小さな非球面効果をもつホログラムレンズと、他端に
は曲率半径の大きな非球面効果をもつホログラムレンズ
と、これらのいずれか一方の端面にウェッジプリズム効
果をもつホログラムレンズを有することを特徴とする光
学ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1154283A JP2744289B2 (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 光学ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1154283A JP2744289B2 (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 光学ヘッド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0319142A true JPH0319142A (ja) | 1991-01-28 |
| JP2744289B2 JP2744289B2 (ja) | 1998-04-28 |
Family
ID=15580764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1154283A Expired - Lifetime JP2744289B2 (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 光学ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2744289B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100275682B1 (ko) * | 1996-12-10 | 2000-12-15 | 윤종용 | 광 기록/재생 장치 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63249942A (ja) * | 1987-04-06 | 1988-10-17 | Matsushita Graphic Commun Syst Inc | 光デイスク信号再生装置 |
| JPS644928A (en) * | 1987-06-29 | 1989-01-10 | Mitsubishi Electric Corp | Optical track tracing device |
| JPS6439636A (en) * | 1987-08-04 | 1989-02-09 | Sharp Kk | Optical pickup device |
-
1989
- 1989-06-16 JP JP1154283A patent/JP2744289B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2744289B2 (ja) | 1998-04-28 |
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