JPH0319143A - 光学式ピックアップ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、円板状記録媒体に対して光学的に情報を記録
し若しくは再生するための光学式ピックアップに関する
ものである． 〔従来の技術〕 第３図および第４図に従来例を示す． この第３図に示す従来例においては、半導体レーザ５０
から出射した光束を平行光とするコリメートレンズ５１
と、平行光を拡大するビーム整形プリズム５２と、この
ビーム整形プリズム５２に隣接して配設された断面直角
三角形の長辺に関して対象に接合した二つの偏光ビーム
スプリッタ５３Ａ．５３Ｂと、この偏光ビームスプリン
タ５３Ａ，５３Ｂのコリメートレンズ５ｌの光軸に平行
な二つの出射面に各々接合されたλ／４板５４Ａ．５４
Ｂと、偏光ビームスプリッタ５３Ａから出射されたコリ
メートレンズ５１の光軸に直角方向の光を円板状記録媒
体５５上に集光する対物レンズ５６とを有している．そ
して、偏光ビームスプリッタ５３Ｂに接合したλ／４板
５４Ｂに．凹面鏡５７を装備し、偏光ビームスプリッタ
５３Ｂに隣接してビームスプリンタ５８を配設するとと
もにビームスプリッタ５８から出射されたコリメートレ
ンズ５ｌの光軸方向の光を任意の割合で遮光するナイフ
５９とを装備している．また、ナイフ５９によって遮光
された残りの光を受ける第１の受光素子６０とビームス
プリンタ５８から出射される光を受ける第２の受光素子
６１とを備えている．次に、この第３図ないし第４図に
示す従来例の動作説明をする． 光源である半導体レーザ５０から出射した光束は、コリ
メートレンズ５１を通過することによって平行光となる
．この平行光はビーム整形プリズム５２によって、半導
体レーザ５０のＰＮ接合面と平行な方向に約２．５倍に
拡大されて円形光束となる．拡大された円形光束は、偏
光ビームスプリッタ５３Ａに入射する．この時、偏光ビ
ームスプリッタ５３Ａにはコリメートレンズ５ｌから出
射された光束がＳ偏光で入射する様に配置されているの
で、偏光ビームスプリッタ５３Ａに入射した光束はその
誘電体多層膜をコートした接合面により１００％反射さ
れる。反射した光束は、λ／４板５４Ａを通過して円偏
光となり、対物レンズ５６により円板状記録媒体５５上
に集光される。

この記録媒体５５によって反射された光束は、再び対物
レンズ５６を透過してλ／４板５４Ａを透過して、当初
半導体レーザ５０から出射された光束に対して９０’方
位角がずれた直線偏光となって偏光ビームスブリッタ５
３Ａに入射する．この時光束は偏光ビームスプリッタ５
３Ａに対してＰ偏光で入射するため、偏光ビームスプリ
・ンタ５３Ｂを１００％透過し、λ／４板５４Ｂを透過
後円偏光となり、凹面鏡５７によって集光させながら、
反射して再びλ／４板５４Ｂを透過して、Ｓ偏光となり
、偏光ビームスプリッタ５３Ｂの誘電体多層膜をコート
した接合面により１００％反射されてビームスプリッタ
５８に入射する。ビームスプリッタ５８に入射した光束
は、その５０％がコリメートレンズ５ｌの光軸と平行な
方向に透過し、残り５０％はそれと直角方向に反射する
。この内、コリメートレンズ５１の光軸と平行な方向に
透過した光束は、ナイフ５９によりさらに５０％が遮光
されて第１の受光素子６０によって受光され、その差動
出力によりフォーカシング制御を行う。

一方、残りのコリメートレンズ５ｌの光軸と直交する方
向に出射した光束は、′ｆＪ，２の受光素子６ｌによっ
て受光されて、トラッキング制御およびＲＦ信号検出を
行う． 〔発明が解決しようとする課題〕 しかしながら、上記従来例においては、偏光ビームスプ
リッタにビームスプリッタが隣接して接合されているた
め、ビーム整形プリズムからフォーカス検出系を構成す
るナイフまでにかなりのスペースを要し、装置全体が大
型化するという欠点があった．また、フォーカス検出系
がプリズム群の長平方向にあるため、コリメートレンズ
とプリズム群との間に光軸のずれを生し易く、またナイ
フの位置決定にばらつきが大きくなって位置決定の精度
が悪くなるという不都合が生していた。

〔発明の目的］ 本発明の目的は、このような従来例に見られる不都合を
改善し、装置全体の小型軽量化をはかり、ナイフの位置
決め精度および遮光精度の向上をはかる光学式ピックア
ップを提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明では、半導体レーザから出射した光束を平行光と
するコリメートレンズと、平行光を拡大するビーム整形
プリズムと、このビーム整形プリズムに隣接して配設さ
れたビーム整形プリズムからの光束を光の光軸に直交す
る方向に反射する断面直角三角形の第１の偏光ビームス
ブリツタと、この第１の偏光ビームスプリッタと同じ形
状でその長辺に関して対象に接合した第２の偏光ビーム
スプリッタと、この二つの偏光ビームスブリツタのコリ
メートレンズの光軸に平行な二つの出射面に各々接合さ
れ位相を波長の４分の１すらすλ／４板と、第１の偏光
ビームスプリッタから出射された光の内コリメートレン
ズの光軸に直角方向の光部分を円板状記録媒体上に集光
する対物レンズと、第２の偏光ビームスプリッタから出
射されたコリメートレンズの光軸方向の光を任意の割合
で遮光するナイフと、このナイフに遮光された残りの光
束を受光する第１の受光素子とを有している．そして、
第２の偏光ビームスプリッタに接合されているλ／４板
に．曲面に半透膜をコーティングしたハーフコート平凸
レンズを接合するとともに、このハーフコート平凸レン
ズを透過した光束を受光する第２の受光素子を装備する
という手法を採っている．これによって前述した目的を
達成しようとするものである． 〔作　用〕 光源である半導体レーザから出射した光束は、コリメー
トレンズを通過することによって平行光となる．この平
行光はビーム整形プリズムによって拡大されて円形光束
となる．拡大された円形光束は、第１の偏光ビームスプ
リッタに入射する．入射した光束は第１の偏光ビームス
プリッタのコーティングされた接合面により反射される
。反射した光束は、λ／４板を通過して円偏光となり、
対物レンズにより円板状記録媒体上に集光される。

この円板状記録媒体によって反射された光束は、再び対
物レンズおよびλ／４板を透過して、第２の偏光ビーム
スプリッタに入射する．入射した光束は第２の偏光ビー
ムスプリッタを透過して反対側にあるλ／４板を透過し
、ハーフコート平凸レンズに入射する．ハーフコート平
凸レンズでは、入射してきた光束の半分が透過し、この
透過した光束を第２の受光素子が受光する．一方、ハー
フコート平凸レンズに入射した残りの光束は、コーティ
ングした曲面によって反射して再びλ／４板を透過して
第２の偏光ビームスプリッタに入射し、コーティングさ
れた接合面により反射されてコリメートレンズの光軸と
平行な方向に出射する。この光束は、ナイフによりさら
に遮光されて、残りの光束が第１の受光素子によって受
光される．〔発明の実施例〕 以下、本発明の一実施例を第１図および第２図に基づい
て説明する．ここで、前述した従来例と同一の構或部材
については同一の符号を用いることとする． この第ｌ図に示す実施例においては、半導体レーザ５０
から出射した光束を平行光とするコリメートレンズ５ｌ
と、この平行光を半導体レーザ５０のＰＮ接合面に平行
な方向に拡大して円形光束とするビーム整形プリズム５
２と、このビーム祭形プリズム５２に隣接して配設され
たビーム整形プリズム５２からの光束を円板状記録媒体
５５の方に反射する断面直角三角形の第１の偏光ビーム
スプリッタ５３Ａと、この第ｌの偏光ビームスプリッタ
５３Ａと同じ形状でその長辺に関して対象に接合した第
２の偏光ビームスプリッタ５３Ｂと、この二つの偏光ビ
ームスプリッタ５３Ａ，５３Ｂのコリメートレンズ５ｌ
の光軸に平行な二つの出射面に各々接合された位相を波
長の４分の１すらすλ／４板５４Ａ，５４Ｂと、第１の
偏光ビームスブリッタ５３Ａから出射されたコリメート
レンズ５ｌの光軸に直角方向の光を円板状記録媒体５５
上に集光する対物レンズ５６と、第２の偏光ビームスプ
リッタ５３Ｂから出射されたコリメートレンズ５ｌの光
軸方向の光を任意の割合で遮光するナイフ５９と、この
ナイフ５９に遮光された残りの光束を受光する第１の受
光素子６０とを有している．そして、第２の偏光ビーム
スブリッタ５３Ｂに接合されているλ／４板５４Ｂに．
曲面に半透膜をコーティングしたハーフコート乎凸レン
ズｌを接合するとともに、このハーフコート平凸レンズ
１を透過した光束を受光する第２の受光素子２を装備し
ている。

次に、動作説明をする。

光源である半導体レーザ５０から出射した光束は、コリ
メートレンズ５１を通過することによって平行光となる
。この平行光はビーム整形プリズム５２によって半導体
レーザ５０のＰＮ接合面に平行の方向に拡大されて円形
光束となる。拡大された円形光束は、第１の偏光ビーム
スプリッタ５３Ａに入射する。この時、第１の偏光ビー
ムスプリッタ５３Ａは、コリメートレンズ５ｌ出射後の
光束がＳ偏光にて入射する様に配置されているので、第
１の偏光ビームスプリッタ５３Ａに入射した光束は誘電
体多層膜をコーティングした第１の偏光ビームスプリッ
タ５３Ａの接合面により１００％反射される．反射した
光束は、λ／４板５４Ａを通過して円偏光となり、対物
レンズ５６により円板状記録媒体５５上に集光される．
この集光された光束はこの円板状記録媒体５５によって
反射されて、再び対物レンズ５６を透過してλ／４板５
４Ａを透過し、半導体レーザ５０出射後の光束となす方
位角が９０゜となる直線偏光となり、再び第１の偏光ビ
ームスプリッタ５３Ａに入射する。入射した光束は、今
度は誘電体多層膜をコーティングした接合面を透過する
ため、第２の偏光ビームスプリッタ５３Ｂを真っ直ぐに
透過して反対側にあるλ／４板５４Ｂを透過し、ハーフ
コート平凸レンズ１に入射する。この時、光束の５０％
の光量は集光されながら透過し、この透過した光束を第
２の受光素子２が受光し、その差動出力によりトラッキ
ング制御およびＲＦ信号検出を行う．一方、ハーフコー
ト平凸レンズ１に入射した残りの光量は、コーティング
した曲面によって集光されながら反射して再びλ／４板
５４Ｂを透過し、再びＳ偏光となる為、第２の偏光ビー
ムスプリッタ５３Ｂの誘電体多層膜をコーティングした
接合面で反射されて、コリメートレンズ５ｌの光軸と平
行な方向に出射する。この光束は、ナイフ５９によりさ
らに遮光されて残りの光束が第１の受光素子６０によっ
て受光され、その差動出力によりフォーカス制御を行う
。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によると、円板状記録媒体
から反射して第１の偏光ビームスプリッタおよび第２の
偏光ビームスプリッタを透過した光束を、第２の偏光ビ
ームスプリッタに接合されたλ／４板にとりつけられて
いる，曲面をコーティングしたハーフコート乎凸レンズ
に入射し、その内の一部をこのハーフコート平凸レンズ
を透過させて第２の受光素子によって受光し、残りの一
部は反射させて第２の偏光ビームスブリツタに入射させ
るとともに、コリメートレンズの光軸と平行な方向に出
射させ、ナイフによって一部遮光されて残りの光束を第
１の受光素子によって受光するという構成を採用したの
で、従来必要とされていたビームスプリッタが不要とな
り、装置全体の小型化を図ることができ、さらに、プリ
ズム群が小型化されることによって、コリメートレンズ
とプリズム群との間の光軸のずれを減少せしめ、またナ
イフの位置決定の精度向上を図り得るという従来にない
優れた光学式ピックアップを提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を表す構戒図、第２図は第１
図を上面から見た横戒図、第３図は従来例を表す構成図
、第４図は第３図を上面から見た構成図である。 １・・・・・・ハーフコート乎凸レンズ、２・・・・・
・第２の受光素子、５０・・・・・・半導体レーザ、５
ｌ・・・・・・コリメートレンズ、５２・・・・・・ビ
ーム整理プリズム、５３Ａ，５３Ｂ・・・・・・第１，
第２の偏光ビームスプリッタ、５４Ａ．５４Ｂ・・・・
・・第１，第２のλ／４板、５５・・・・・・円板状記
録媒体、５６・・・・・・対物レンズ、５９・・・・・
・ナイフ、６０・・・・・・第１の受光素子。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）、半導体レーザから出射した光束を平行光とする
   コリメートレンズと、前記平行光を拡大するビーム整形
   プリズムと、このビーム整形プリズムに隣接して配設さ
   れた前記ビーム整形プリズムからの光束を光の光軸に直
   交する方向に反射する断面直角三角形の第１の偏光ビー
   ムスプリッタと、この第１の偏光ビームスプリッタと同
   じ形状でその長辺に関して対象に接合した第２の偏光ビ
   ームスプリッタと、この二つの偏光ビームスプリッタの
   前記コリメートレンズの光軸に平行な二つの出射面に各
   々接合され位相を波長の４分の１ずらすλ／４板と、前
   記第１の偏光ビームスプリッタから出射された光の内の
   前記コリメートレンズの光軸に直角方向の光部分を円板
   状記録媒体上に集光する対物レンズと、前記第２の偏光
   ビームスプリッタから出射された前記コリメートレンズ
   の光軸方向の光を任意の割合で遮光するナイフと、この
   ナイフに遮光された残りの光束を受光する第１の受光素
   子とを有し、 前記第２の偏光ビームスプリッタに接合されているλ／
   ４板に、曲面に半透膜をコーティングしたハーフコート
   平凸レンズを接合するとともに、このハーフコート平凸
   レンズを透過した光束を受光する第２の受光素子を装備
   したことを特徴とする光学式ピックアップ。