JPH03191835A - 赤外線光学装置 - Google Patents
赤外線光学装置Info
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- JPH03191835A JPH03191835A JP63314694A JP31469488A JPH03191835A JP H03191835 A JPH03191835 A JP H03191835A JP 63314694 A JP63314694 A JP 63314694A JP 31469488 A JP31469488 A JP 31469488A JP H03191835 A JPH03191835 A JP H03191835A
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- optical system
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/06—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
- G01J5/061—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity by controlling the temperature of the apparatus or parts thereof, e.g. using cooling means or thermostats
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、例えば赤外線画像を得る赤外線光学装置に
関するものである。
関するものである。
［従来の技術］
第２図は、例えばＲ，Ｄ、Ｈｕｄｓｏｎ、Ｊｒ、“Ｉｎ
ｆｒａｒｅｄＳｙｓｔｅｍ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ”
、Ｊｏｈｎ Ｖｉｌｃｙ ＆ ５ｏｎｓ、 １９６９
年、 ｐ、３５４に示された従来の赤外線光学装置を示
す断面図であり１図において、１は赤外線を結像する赤
外光学系、２は上記赤外光学系１に入射する赤外線、：
３は上記赤外光学系１を保持する鏡筒、４は真空、低温
状態を得るためのデユア（Ｄｅｗａｒ）瓶、５は上記デ
ユア瓶４の赤外光学系側開口に設けられたデユア窓、６
はデユア瓶４の凸状底面に設けられた４例えば微小な素
子を２次元アレイ状に並べた赤外固体撮像素子などの赤
外線検出素子、７は上記赤外線検出素子６への雑音光の
入射を遮るためのコールドシールド、８は」二記デユア
瓶４を覆うとともに鏡筒３を保持する筐体、９は筺体８
に取り付けられ冷却部がデユア瓶４の四部に挿入された
冷却装置である。
ｆｒａｒｅｄＳｙｓｔｅｍ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ”
、Ｊｏｈｎ Ｖｉｌｃｙ ＆ ５ｏｎｓ、 １９６９
年、 ｐ、３５４に示された従来の赤外線光学装置を示
す断面図であり１図において、１は赤外線を結像する赤
外光学系、２は上記赤外光学系１に入射する赤外線、：
３は上記赤外光学系１を保持する鏡筒、４は真空、低温
状態を得るためのデユア（Ｄｅｗａｒ）瓶、５は上記デ
ユア瓶４の赤外光学系側開口に設けられたデユア窓、６
はデユア瓶４の凸状底面に設けられた４例えば微小な素
子を２次元アレイ状に並べた赤外固体撮像素子などの赤
外線検出素子、７は上記赤外線検出素子６への雑音光の
入射を遮るためのコールドシールド、８は」二記デユア
瓶４を覆うとともに鏡筒３を保持する筐体、９は筺体８
に取り付けられ冷却部がデユア瓶４の四部に挿入された
冷却装置である。
次に動作について説明する。
赤外光学系１に入射した赤外線２は、デユア窓５及びコ
ールドシールド７の開［」７ａを通って赤外線検出素子
６上に結像する。赤外線検出素子６は、感度を得るため
に冷却装置９によって冷却される。デユア瓶４とデユア
窓５で囲まれた空間は、効率良く赤外線検出素子６を冷
却するために真空にしである。コールドシールド７はデ
ユア瓶４に取付けられ、赤外線検出素子６と同程度に冷
却されており、コールドシールド７から放射される赤外
線は検出すべき赤外線２に比べ無視できる程小さい。コ
ールドシールド７の開ロアａは、赤外線検出素子６の下
端６ａに結像する赤外線２ａ及び赤外線検出素子６の上
端６ｂに結像する赤外線２ｂがそれぞれコールドシール
ド７に妨げられることなく赤外線検出素子６に到達する
ために必要な径である。従って、コールドシールド７を
設置することにより、赤外光学系１を透過した赤外線２
以外に、鏡ｗＪ３等の常温の背景から放射され赤外線検
出素子６に入射する不要な雑音光を極力少なくする構成
となっている。コールドシールド７の雑音光低減の効率
ηは、第１式に示すように、赤外線検出素子６からコー
ルドシールド７の開ロアａを見込む立体角Ω６と、赤外
線検出素子６に結像する赤外線２の光束の立体角Ω。の
比η＝Ω。／Ω。 ＋１１で表さ
れる。ηく１．すなわちΩ。〈Ω。では、第２図に斜線
で示した立体角内で鏡筒３から放射された雑音光が赤外
線検出素子６の下端６ａに入射する。赤外線検出素子６
の他の点においても同様に雑音光が入射する。従ってη
く］では、検出信号のＳ／Ｎの低下だけでなく、赤外線
光学装置の環境温度が変化して鏡筒３の温度が上昇した
ときには、最悪の場合、赤外線検出素子６の出力が雑音
光で飽和してしまい信号が検出できなくなる恐れがある
。
ールドシールド７の開［」７ａを通って赤外線検出素子
６上に結像する。赤外線検出素子６は、感度を得るため
に冷却装置９によって冷却される。デユア瓶４とデユア
窓５で囲まれた空間は、効率良く赤外線検出素子６を冷
却するために真空にしである。コールドシールド７はデ
ユア瓶４に取付けられ、赤外線検出素子６と同程度に冷
却されており、コールドシールド７から放射される赤外
線は検出すべき赤外線２に比べ無視できる程小さい。コ
ールドシールド７の開ロアａは、赤外線検出素子６の下
端６ａに結像する赤外線２ａ及び赤外線検出素子６の上
端６ｂに結像する赤外線２ｂがそれぞれコールドシール
ド７に妨げられることなく赤外線検出素子６に到達する
ために必要な径である。従って、コールドシールド７を
設置することにより、赤外光学系１を透過した赤外線２
以外に、鏡ｗＪ３等の常温の背景から放射され赤外線検
出素子６に入射する不要な雑音光を極力少なくする構成
となっている。コールドシールド７の雑音光低減の効率
ηは、第１式に示すように、赤外線検出素子６からコー
ルドシールド７の開ロアａを見込む立体角Ω６と、赤外
線検出素子６に結像する赤外線２の光束の立体角Ω。の
比η＝Ω。／Ω。 ＋１１で表さ
れる。ηく１．すなわちΩ。〈Ω。では、第２図に斜線
で示した立体角内で鏡筒３から放射された雑音光が赤外
線検出素子６の下端６ａに入射する。赤外線検出素子６
の他の点においても同様に雑音光が入射する。従ってη
く］では、検出信号のＳ／Ｎの低下だけでなく、赤外線
光学装置の環境温度が変化して鏡筒３の温度が上昇した
ときには、最悪の場合、赤外線検出素子６の出力が雑音
光で飽和してしまい信号が検出できなくなる恐れがある
。
一方、η〉１．すなわちΩ。〉Ω。のときは、鏡筒３か
ら放射される雑音光が直接赤外線検出素子６に入射する
ことはないが、赤外光学系１を透過して赤外線検出素子
６に結像する赤外線２がコールドシールド７の開ロアａ
で制限され、信号光が減少する。従って、信号光を減少
させることなく最も雑音光を低減できるのは、コールド
シールド７の効率η＝１．すなわちΩ。＝Ω０のときで
ある。
ら放射される雑音光が直接赤外線検出素子６に入射する
ことはないが、赤外光学系１を透過して赤外線検出素子
６に結像する赤外線２がコールドシールド７の開ロアａ
で制限され、信号光が減少する。従って、信号光を減少
させることなく最も雑音光を低減できるのは、コールド
シールド７の効率η＝１．すなわちΩ。＝Ω０のときで
ある。
η＝１である赤外線光学装置は、コールドシールド７の
開ロアａを赤外光学系１の開口絞りと一致させることに
より得られる。第３図は、例えばＲ，Ｅ、Ｆｉｓｃｈｅ
ｒ、 Ｐｈｏｔｏｎｉｃｓ ５ｐｅｃｔｒａ、 ｐ、５
３〜６０（１９８Ｂ）に示されたコールドシールド７の
効率η＝１である従来の赤外線光学装置を示す断面図で
あり、図において、１〜９は第２図に示した従来例と同
様なものである。１０は赤外光学系１の開口絞り、１１
は赤外光学系１の光軸である。
開ロアａを赤外光学系１の開口絞りと一致させることに
より得られる。第３図は、例えばＲ，Ｅ、Ｆｉｓｃｈｅ
ｒ、 Ｐｈｏｔｏｎｉｃｓ ５ｐｅｃｔｒａ、 ｐ、５
３〜６０（１９８Ｂ）に示されたコールドシールド７の
効率η＝１である従来の赤外線光学装置を示す断面図で
あり、図において、１〜９は第２図に示した従来例と同
様なものである。１０は赤外光学系１の開口絞り、１１
は赤外光学系１の光軸である。
第３図に示した赤外線光学装置において、赤外線検出素
子６の中心から見込むコールドシールド７の開ロアａの
立体角Ω。は、赤外光学系１のＦ数で決まり。
子６の中心から見込むコールドシールド７の開ロアａの
立体角Ω。は、赤外光学系１のＦ数で決まり。
Ω。＝−Ｌゴ （ｓｒ） （２１Ｆ
である。これにより、赤外線検出素子６に入射する雑音
光は、赤外光学系１自身の放射光と、冷却されたコール
ドシールド７から放射される微かな放射光に低減される
。
光は、赤外光学系１自身の放射光と、冷却されたコール
ドシールド７から放射される微かな放射光に低減される
。
［発明が解決しようとする課題］
第３図に示した従来の赤外線光学装置において、赤外線
検出素子６の中心に対する上端６ｂでの赤外線２の相対
的な照度Ｓは、赤外光学系１に歪曲がなければ、第３式 ％式％（３） で与えられる。第３式においてθは、赤外線検出素子６
の上端６ｂと開口絞り１０の中心を結ぶ直線と、赤外光
学系１の光軸１１とが成す角度である。
検出素子６の中心に対する上端６ｂでの赤外線２の相対
的な照度Ｓは、赤外光学系１に歪曲がなければ、第３式 ％式％（３） で与えられる。第３式においてθは、赤外線検出素子６
の上端６ｂと開口絞り１０の中心を結ぶ直線と、赤外光
学系１の光軸１１とが成す角度である。
第３式から、赤外線検出素子６上の赤外線２の照度分布
は、θが小、すなわち開口絞り１０と赤外線検出素子６
間の距離が赤外線検出素子６の寸法に比して大である程
、−様となることがわかる。
は、θが小、すなわち開口絞り１０と赤外線検出素子６
間の距離が赤外線検出素子６の寸法に比して大である程
、−様となることがわかる。
鏡筒３から放射される雑音光が赤外線検出素子６に入射
しない低雑音な赤外線光学装置とするためには、上記で
説明したようにコールドシールド７の開［」７ ａを赤
外光学系１の開ｌ二］絞り１０と一致させる必要がある
。従って、赤外線検出素子６−■−の赤外線２の照度を
一様に近くするためには、」−ルドシールド′７の開ｒ
ｊ ７ ａと赤外線検出素子６間の距離（以トコールド
シールドの高さと呼ぶ）を大きくとらねばならず、コー
ルドシールド７が長くなる。また、赤外線２が制限、す
、れることなく赤外線検出素子６に入射するために必要
なコールドシールド７の開「１７ａを見込む立体角は、
第２式で示したように赤外光学系１のＦ数で決まるので
、コールドシールドの高さが増大するにつれ開［１も増
大し、大形のコールドシールド７が必要となる２ 特に、赤外線画像を得るために赤外線検出素子６として
微小な素子を２次元アレイ状に並べた赤外固体撮像素子
を用いる場合、広視野、高分解能な画像をネ：）るため
に多数の素子を用いた人形の赤外固体撮像素子が開発さ
れつつあり、かなり大形のコール［くシールド７が必要
となる。
しない低雑音な赤外線光学装置とするためには、上記で
説明したようにコールドシールド７の開［」７ ａを赤
外光学系１の開ｌ二］絞り１０と一致させる必要がある
。従って、赤外線検出素子６−■−の赤外線２の照度を
一様に近くするためには、」−ルドシールド′７の開ｒ
ｊ ７ ａと赤外線検出素子６間の距離（以トコールド
シールドの高さと呼ぶ）を大きくとらねばならず、コー
ルドシールド７が長くなる。また、赤外線２が制限、す
、れることなく赤外線検出素子６に入射するために必要
なコールドシールド７の開「１７ａを見込む立体角は、
第２式で示したように赤外光学系１のＦ数で決まるので
、コールドシールドの高さが増大するにつれ開［１も増
大し、大形のコールドシールド７が必要となる２ 特に、赤外線画像を得るために赤外線検出素子６として
微小な素子を２次元アレイ状に並べた赤外固体撮像素子
を用いる場合、広視野、高分解能な画像をネ：）るため
に多数の素子を用いた人形の赤外固体撮像素子が開発さ
れつつあり、かなり大形のコール［くシールド７が必要
となる。
このようにコールドシールド７が人形化すると、コール
ドシールド７はデユア瓶４に取付けｌｌｙ。
ドシールド７はデユア瓶４に取付けｌｌｙ。
れ赤外線検出素子６とともに冷却されるのｅ、冷却装置
９は、大形の赤外線検出素子〇に加えて大形のコールド
シールド７を冷却しなければならず、熱負荷が増大する
という課題があった。
９は、大形の赤外線検出素子〇に加えて大形のコールド
シールド７を冷却しなければならず、熱負荷が増大する
という課題があった。
更に、冷却装置９の熱負荷が増大４ると、赤外線２以外
（−６を所定の温度２例えば液体窒素４１１度まで冷却
するのに要する時間が増し１７．赤外線ソロ学装置が動
作するまでに時間を要するという課題があった。
（−６を所定の温度２例えば液体窒素４１１度まで冷却
するのに要する時間が増し１７．赤外線ソロ学装置が動
作するまでに時間を要するという課題があった。
この発明は−１−記のような課題を解消するためになさ
れたもので、コールドシールドを大形化することなく低
雑音化が図れる赤外線光学装置を得ることを目的とする
。
れたもので、コールドシールドを大形化することなく低
雑音化が図れる赤外線光学装置を得ることを目的とする
。
Ｌ課題を解決するための手段」
この発明に係る赤外線光学装置は、赤外線検出素子・と
コールドシールドを冷却する冷却装置とは別の第２の冷
却装置により冷却される冷却絞りを赤外光学系とコール
ドシールドの間に、設置して。
コールドシールドを冷却する冷却装置とは別の第２の冷
却装置により冷却される冷却絞りを赤外光学系とコール
ドシールドの間に、設置して。
赤外線検出素子からコールドシールドの１１旧−１を見
込む立体角と赤外光学系の開口絞りを見込む立体角間を
覆うようにしたものである。
込む立体角と赤外光学系の開口絞りを見込む立体角間を
覆うようにしたものである。
［作用］
この発明における冷却絞りは、第２の冷却装置によって
冷却され、赤外光学系とコールドシールド間の背景から
赤外線検出素子へ入射する雑音光を低減するので、雑音
光を低減するためにコールドシールドの開［」を赤外光
学系の開］コ絞りと一致させる必要がなく、小形のコー
ルドシールドを用いることにより、赤外線検出素子及び
コールドシールドを冷却する冷却装置の熱負荷を増大さ
せることなく、赤外線検出素子の周辺光量の低下の少な
い、低雑音な赤外線光学装置を構成することができる。
冷却され、赤外光学系とコールドシールド間の背景から
赤外線検出素子へ入射する雑音光を低減するので、雑音
光を低減するためにコールドシールドの開［」を赤外光
学系の開］コ絞りと一致させる必要がなく、小形のコー
ルドシールドを用いることにより、赤外線検出素子及び
コールドシールドを冷却する冷却装置の熱負荷を増大さ
せることなく、赤外線検出素子の周辺光量の低下の少な
い、低雑音な赤外線光学装置を構成することができる。
［実施例］
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第１図は、この発明の一実施例を示す断面図であり１図
において、１〜１１は上記従来例と同様のものである。
において、１〜１１は上記従来例と同様のものである。
】−２は赤外光学系１の開口絞り１０の位置にその赤外
光学系側聞［コ１２ａが一致するように設置した冷却絞
り、１３は上記冷却絞り１２に取付けられた第２の冷却
装置であり、Ｊ−記冷却絞り１−２は冷却装置１−：３
を介して筐体８の内壁に取付けられ、この筐体８に断熱
材１４を介して鏡筒３が取付けられている。。
光学系側聞［コ１２ａが一致するように設置した冷却絞
り、１３は上記冷却絞り１２に取付けられた第２の冷却
装置であり、Ｊ−記冷却絞り１−２は冷却装置１−：３
を介して筐体８の内壁に取付けられ、この筐体８に断熱
材１４を介して鏡筒３が取付けられている。。
冷却絞り１２は、第１図に斜線で示したように、赤外線
検出素子６−Ｌの点から＝］−ルドシールド７の開ロア
ａを見込む立体角Ω。と赤外光学系１の開口絞り１０を
見込む立体角Ω。の差であるΩ。−Ω０の立体角内の部
分を覆うように設置する。冷却絞り１２の内壁はベルベ
ットコーティング等を塗布して反射率を低減することに
より、赤外光学系１及び鏡筒３から放射された不要な赤
外線が冷却絞り１２の内壁で反射して赤外線検出素子６
に入射するのを防ぐ。
検出素子６−Ｌの点から＝］−ルドシールド７の開ロア
ａを見込む立体角Ω。と赤外光学系１の開口絞り１０を
見込む立体角Ω。の差であるΩ。−Ω０の立体角内の部
分を覆うように設置する。冷却絞り１２の内壁はベルベ
ットコーティング等を塗布して反射率を低減することに
より、赤外光学系１及び鏡筒３から放射された不要な赤
外線が冷却絞り１２の内壁で反射して赤外線検出素子６
に入射するのを防ぐ。
このように冷却絞り１２が設置されているので、検出す
べき信号光である赤外線２以外に赤外線検出素子６に入
射する不要な雑音光は、赤外光学系１白身、冷却絞り１
２及びコールドシールド７からの放射光に限られる。
べき信号光である赤外線２以外に赤外線検出素子６に入
射する不要な雑音光は、赤外光学系１白身、冷却絞り１
２及びコールドシールド７からの放射光に限られる。
絶対温度Ｔである黒体の分光放射輝度Ｗ（λ。
Ｔ）は、第４式
％式％）
（４）
で与えられる。ここで、λは放射光の波長、ｈはブラン
ク定数、にはボルツマン定数、Ｃは光速塵である。第４
式から、例えば放射光の波長λを４μｍとした場合、２
０℃のときの放射輝度は６０℃のときの放射輝度の１／
４以下となることがわかる。従って、冷却絞り１２は必
ずしも赤外線検出素子６と同程度の温度まで冷却される
必要はなく、第２の冷却袋Ｍ１３を例えばペルチェ素子
などで構成し、冷却絞り１２を常温以下に保つことで鏡
筒３の温度が上昇しても雑音光の増大を防ぐことができ
る。
ク定数、にはボルツマン定数、Ｃは光速塵である。第４
式から、例えば放射光の波長λを４μｍとした場合、２
０℃のときの放射輝度は６０℃のときの放射輝度の１／
４以下となることがわかる。従って、冷却絞り１２は必
ずしも赤外線検出素子６と同程度の温度まで冷却される
必要はなく、第２の冷却袋Ｍ１３を例えばペルチェ素子
などで構成し、冷却絞り１２を常温以下に保つことで鏡
筒３の温度が上昇しても雑音光の増大を防ぐことができ
る。
第２の冷却装置１３としてペルチェ素子を用いた場合、
冷却絞り１２の冷却に伴う放熱は筐体８を介して行うこ
とができる。この場合、第２の冷却装置１３の放熱によ
り鏡筒３及び赤外光学系１の温度が上昇するのを防ぐた
めに、！ｌＩ筒３は断熱材１４を介して筐体８に取付け
られる。
冷却絞り１２の冷却に伴う放熱は筐体８を介して行うこ
とができる。この場合、第２の冷却装置１３の放熱によ
り鏡筒３及び赤外光学系１の温度が上昇するのを防ぐた
めに、！ｌＩ筒３は断熱材１４を介して筐体８に取付け
られる。
また、鏡筒３．デユア瓶４及び筐体８で囲まれた空間に
窒素ガス等の乾燥ガスを封入しておくことにより、冷却
絞り１２を常温以下の低温に冷却しても結露を防ぐこと
ができる。
窒素ガス等の乾燥ガスを封入しておくことにより、冷却
絞り１２を常温以下の低温に冷却しても結露を防ぐこと
ができる。
以上のように、この赤外線光学装置によれば、コールド
シールド７の開ロアａは赤外光学系１の開口絞り１０と
一致する必要がないので、赤外線検出素子６上における
赤外線２の照度分布を一様にするために開口絞り１０を
赤外線検出素子６から離した構成としても、コールドシ
ールド７の高さを高くして大形にする必要がなく、赤外
線検出素子６及びコールドシールド７を冷却する冷却装
置９の負荷が増大することはない。
シールド７の開ロアａは赤外光学系１の開口絞り１０と
一致する必要がないので、赤外線検出素子６上における
赤外線２の照度分布を一様にするために開口絞り１０を
赤外線検出素子６から離した構成としても、コールドシ
ールド７の高さを高くして大形にする必要がなく、赤外
線検出素子６及びコールドシールド７を冷却する冷却装
置９の負荷が増大することはない。
なお、上記実施例では、赤外光学系１とコールドシール
ド７の間に開口絞り１０があり、開口絞り１０と冷却絞
り１２の赤外光学系側間【］７ａが一致している場合に
ついて説明したが、開口絞り１０が赤外光学系１の内部
にある場合についても、冷却絞り１２を赤外光学系１と
コールドシールド７の間に設置することにより、鏡筒３
から放射され赤外線検出素子６に入射する雑音光を低減
でき、同様の効果が得られる。
ド７の間に開口絞り１０があり、開口絞り１０と冷却絞
り１２の赤外光学系側間【］７ａが一致している場合に
ついて説明したが、開口絞り１０が赤外光学系１の内部
にある場合についても、冷却絞り１２を赤外光学系１と
コールドシールド７の間に設置することにより、鏡筒３
から放射され赤外線検出素子６に入射する雑音光を低減
でき、同様の効果が得られる。
［発明の効果コ
以上のように、この発明によれば、赤外光学系とコール
ドシールドとの間に、赤外線検出素子からコールドシー
ルドの開口を見込む立体角と赤外光学系の開口絞りを見
込む立体角間を覆い第２の冷却装置によって冷却される
冷却絞りを備え、赤外光学系とコールドシールド間の背
景から赤外線検出素子へ入射する雑音光を低減する構成
としたので、背景温度が上昇しても低雑音の赤外線光学
装置が得られ、また、赤外線検出素子とともに冷却され
るコールドシールドを小形なもので構成できるので、赤
外線検出素子の冷却装置の熱負荷を軽減し、冷却に要す
る時間を短縮するという効果がある。
ドシールドとの間に、赤外線検出素子からコールドシー
ルドの開口を見込む立体角と赤外光学系の開口絞りを見
込む立体角間を覆い第２の冷却装置によって冷却される
冷却絞りを備え、赤外光学系とコールドシールド間の背
景から赤外線検出素子へ入射する雑音光を低減する構成
としたので、背景温度が上昇しても低雑音の赤外線光学
装置が得られ、また、赤外線検出素子とともに冷却され
るコールドシールドを小形なもので構成できるので、赤
外線検出素子の冷却装置の熱負荷を軽減し、冷却に要す
る時間を短縮するという効果がある。
第１図はこの発明の一実施例を示す断面図、第２図は従
来の赤外線光学装置を示す断面図、第３図は低雑音化さ
れた従来の赤外線光学装置を示す断面図である。 １は赤外光学系、２は赤外線、３は鏡筒、４はデユア瓶
、５はデユア窓、６は赤外線検出素子、７はコールドシ
ールド、７ａはコールドシールドの開口、８は筐体、９
は冷却装置、１０は開口絞り、１１は光軸、１２は冷却
絞り、１３は第２の冷却装置、１４は断熱材。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
来の赤外線光学装置を示す断面図、第３図は低雑音化さ
れた従来の赤外線光学装置を示す断面図である。 １は赤外光学系、２は赤外線、３は鏡筒、４はデユア瓶
、５はデユア窓、６は赤外線検出素子、７はコールドシ
ールド、７ａはコールドシールドの開口、８は筐体、９
は冷却装置、１０は開口絞り、１１は光軸、１２は冷却
絞り、１３は第２の冷却装置、１４は断熱材。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 赤外線を結像する赤外光学系と、冷却装置によってそれ
ぞれ冷却され、上記赤外光学系の結像位置に設けられた
赤外線検出素子及び上記赤外光学系側に面して開口を有
し赤外線検出素子への雑音光を遮蔽するコールドシール
ドとを備えた赤外線光学装置において、 上記赤外光学系とコールドシールドとの間に、赤外線検
出素子からコールドシールドの開口を見込む立体角と赤
外光学系の開口絞りを見込む立体角間を覆い上記冷却装
置とは異なる第２の冷却装置によって冷却される冷却絞
りを備えたことを特徴とする赤外線光学装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63314694A JPH0629778B2 (ja) | 1988-12-13 | 1988-12-13 | 赤外線光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63314694A JPH0629778B2 (ja) | 1988-12-13 | 1988-12-13 | 赤外線光学装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03191835A true JPH03191835A (ja) | 1991-08-21 |
| JPH0629778B2 JPH0629778B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=18056424
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63314694A Expired - Fee Related JPH0629778B2 (ja) | 1988-12-13 | 1988-12-13 | 赤外線光学装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0629778B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6057550A (en) * | 1993-02-04 | 2000-05-02 | Steinheil Optronik Gmbh | Infrared objective |
| WO2007140901A1 (de) * | 2006-06-09 | 2007-12-13 | ArcelorMittal Eisenhüttenstadt GmbH | Vorrichtung zur unterdrückung von messwert verfälschenden strahlungsanteilen bei berührungslos arbeitenden ir-messeinrichtungen in hochtemperaturöfen |
| CN111238659A (zh) * | 2020-01-20 | 2020-06-05 | 武汉高芯科技有限公司 | 一种具有抑制杂散光功能的冷屏及制冷型红外探测器 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20250354868A1 (en) * | 2024-05-16 | 2025-11-20 | Rtx Corporation | Hot stop aperture fixtures for thermal imaging measurements |
-
1988
- 1988-12-13 JP JP63314694A patent/JPH0629778B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6057550A (en) * | 1993-02-04 | 2000-05-02 | Steinheil Optronik Gmbh | Infrared objective |
| WO2007140901A1 (de) * | 2006-06-09 | 2007-12-13 | ArcelorMittal Eisenhüttenstadt GmbH | Vorrichtung zur unterdrückung von messwert verfälschenden strahlungsanteilen bei berührungslos arbeitenden ir-messeinrichtungen in hochtemperaturöfen |
| CN111238659A (zh) * | 2020-01-20 | 2020-06-05 | 武汉高芯科技有限公司 | 一种具有抑制杂散光功能的冷屏及制冷型红外探测器 |
| CN111238659B (zh) * | 2020-01-20 | 2021-09-07 | 武汉高芯科技有限公司 | 一种具有抑制杂散光功能的冷屏及制冷型红外探测器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0629778B2 (ja) | 1994-04-20 |
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