JPH03191850A - X線を用いた成分分析装置 - Google Patents
X線を用いた成分分析装置Info
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- JPH03191850A JPH03191850A JP1332279A JP33227989A JPH03191850A JP H03191850 A JPH03191850 A JP H03191850A JP 1332279 A JP1332279 A JP 1332279A JP 33227989 A JP33227989 A JP 33227989A JP H03191850 A JPH03191850 A JP H03191850A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、X線を用いた成分分析装置、特にX線装置な
どにより被測定物中にX線を照射してその通過X線の線
量を測定し、被測定物の成分、例えば骨の骨塩量などを
分析する装置に関する。
どにより被測定物中にX線を照射してその通過X線の線
量を測定し、被測定物の成分、例えば骨の骨塩量などを
分析する装置に関する。
[従来の技術]
医療分野において、放射線を被検体に照射してその通過
線量を測定し、該被検体中の所望測定部位の成分分析を
することが広範囲に行われている。
線量を測定し、該被検体中の所望測定部位の成分分析を
することが広範囲に行われている。
具体的には、例えば生体内の骨に含まれているカルシウ
ムを中心とする成分の測定が行われておリ、骨中の含有
カルシウムを中心とする成分量を骨塩量として計測して
いる。
ムを中心とする成分の測定が行われておリ、骨中の含有
カルシウムを中心とする成分量を骨塩量として計測して
いる。
そして、この骨塩量により、特に腎透析患者の腎性骨形
成異常、ステロイドホルモン治療における骨消失、又は
代謝性骨疾患等の診断を行うことが可能となる。
成異常、ステロイドホルモン治療における骨消失、又は
代謝性骨疾患等の診断を行うことが可能となる。
この種の放射線を用いた成分分析装置において、単色化
放射線の被検体中の透過率変化により、生体中の骨塩量
変化を測定することは、臨床上有用であり、近年、老人
人口の増加と共に高年齢者に多く見られる骨粗壓(こつ
そしよう)症等の診断にとって最も重要である。
放射線の被検体中の透過率変化により、生体中の骨塩量
変化を測定することは、臨床上有用であり、近年、老人
人口の増加と共に高年齢者に多く見られる骨粗壓(こつ
そしよう)症等の診断にとって最も重要である。
一般的に、従来の1251 (ヨウ素)等のR1(放射
性同位元素)を放射線源として利用した分析装置におい
ては、主に骨塩量の測定が行われている。
性同位元素)を放射線源として利用した分析装置におい
ては、主に骨塩量の測定が行われている。
例えば、R1を使用する骨塩量分析装置では、放射線源
から被検体に照射されるγ線は、水槽、水袋及び被検体
軟組織と骨組織とでは、異なった減衰が認められる性質
があり、これにより、透過された骨の大きさや骨塩量に
応じた放射線強度の変化を測定し、この測定結果から骨
塩量が計測される。
から被検体に照射されるγ線は、水槽、水袋及び被検体
軟組織と骨組織とでは、異なった減衰が認められる性質
があり、これにより、透過された骨の大きさや骨塩量に
応じた放射線強度の変化を測定し、この測定結果から骨
塩量が計測される。
このようにして、骨塩量の測定装置としては、R1分析
装置が広範囲に利用されている。
装置が広範囲に利用されている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、従来の放射線源を用いた成分分析装置に
よれば、特に前述したR1を線源125工、153Gd
として利用した骨塩量測定装置においては、使用される
放射線源は半減期が短いために照射線量が経時的に低下
し、これによって測定精度が悪化していた。
よれば、特に前述したR1を線源125工、153Gd
として利用した骨塩量測定装置においては、使用される
放射線源は半減期が短いために照射線量が経時的に低下
し、これによって測定精度が悪化していた。
従って、測定精度を保つためには、比較的頻繁に放射線
源を交換しなければならず、これには高額な放射線設備
管理費用がかかり、更に該放射性廃棄物は法律に定めら
れた手続に従って廃棄しなければならず、放射線設備管
理が非常に煩雑であった。
源を交換しなければならず、これには高額な放射線設備
管理費用がかかり、更に該放射性廃棄物は法律に定めら
れた手続に従って廃棄しなければならず、放射線設備管
理が非常に煩雑であった。
また、従来のR1分析装置においては、十分な放射線エ
ネルギー強度が得られず、被測定物の11定精度や、そ
の再現性が悪くなるという欠点があった。
ネルギー強度が得られず、被測定物の11定精度や、そ
の再現性が悪くなるという欠点があった。
そこで、X線源を用いて成分分析を行う骨塩量測定装置
が用いられ、特に回折法によりX線の単色化を行い、こ
の単色化X線を利用して所望の骨塩量を高精度に分析す
る骨塩量測定装置が本出願人により出願されている(特
開昭64−49547号)。
が用いられ、特に回折法によりX線の単色化を行い、こ
の単色化X線を利用して所望の骨塩量を高精度に分析す
る骨塩量測定装置が本出願人により出願されている(特
開昭64−49547号)。
すなわち、このX線回折法を利用した骨塩量測定装置は
、例えば回折格子を用いて2種類の異なった低エネルギ
ーの単色化X線ビームを被測定物に照射し、該被測定物
におけるX線の通過率変化により生体中の骨塩量を測定
することが特徴であり、これにより、X線回折格子を用
いた分析装置は、前述したR1における問題点を改善す
ることが可能となり、高精度にかつ長期間にわたって、
優れた再現性を有する骨塩量の分析結果が得られるとい
う利点がある。
、例えば回折格子を用いて2種類の異なった低エネルギ
ーの単色化X線ビームを被測定物に照射し、該被測定物
におけるX線の通過率変化により生体中の骨塩量を測定
することが特徴であり、これにより、X線回折格子を用
いた分析装置は、前述したR1における問題点を改善す
ることが可能となり、高精度にかつ長期間にわたって、
優れた再現性を有する骨塩量の分析結果が得られるとい
う利点がある。
しかしながら、このようなX線回折法による骨塩量測定
装置によれば、X線発生器から照射される白色X線スペ
クトル分布から複数の単色化された所定エネルギーのX
線を得る必要があり、このためにX線発生器とX線検出
器との間に所定のX線ビーム幅を得るためのコリメータ
と、このX線ビームから所定エネルギー幅の単色X線ス
ペクトルに変換するための回折格子とを所望のエネルギ
ーレベルに応じて複数個設けなければならない。
装置によれば、X線発生器から照射される白色X線スペ
クトル分布から複数の単色化された所定エネルギーのX
線を得る必要があり、このためにX線発生器とX線検出
器との間に所定のX線ビーム幅を得るためのコリメータ
と、このX線ビームから所定エネルギー幅の単色X線ス
ペクトルに変換するための回折格子とを所望のエネルギ
ーレベルに応じて複数個設けなければならない。
この結果、測定装置自体が複雑になり、非常に大型にな
っていた。
っていた。
そして、前記X線回折格子を介して得られる単色化され
たX線ビームのエネルギー幅は、X線ビーム幅に依存し
ており、高精度の分析結果を得るためには、コリメータ
及び回折格子により、前記X線ビームを幅の細いビーム
に絞る必要がある。
たX線ビームのエネルギー幅は、X線ビーム幅に依存し
ており、高精度の分析結果を得るためには、コリメータ
及び回折格子により、前記X線ビームを幅の細いビーム
に絞る必要がある。
すなわち、これは、第8図に示されるように、例えば、
60keVの広いエネルギー幅を有する白色X線スペク
トルAのエネルギー領域から非常にエネルギー幅の狭い
領域、例えば27±1,5keVの単色化X線ビームB
を取り出すことになり、この照射X線ビーム幅を細くし
たために、使用するエネルギー領域は、ごくわずかにな
る。
60keVの広いエネルギー幅を有する白色X線スペク
トルAのエネルギー領域から非常にエネルギー幅の狭い
領域、例えば27±1,5keVの単色化X線ビームB
を取り出すことになり、この照射X線ビーム幅を細くし
たために、使用するエネルギー領域は、ごくわずかにな
る。
従って、このようなX線回折格子を用いた成分分析装置
では、X線エネルギー領域を効率的に使用することが困
難であった。
では、X線エネルギー領域を効率的に使用することが困
難であった。
また、このX線回折格子を用いた分析装置は、従来のR
1分析装置よりも、強いビーム強度が得られ、これによ
り、被検体が全身の場合においては、比較的精度の良い
分析結果が得られ、更に測定あるいは検査も短時間で行
えるようになったが、被検体の一部分である例えば、腕
部等のAl1J定の場合においては、照射X線線量が強
すぎるために、X線検出器側に検出誤差が生じる場合が
あった。
1分析装置よりも、強いビーム強度が得られ、これによ
り、被検体が全身の場合においては、比較的精度の良い
分析結果が得られ、更に測定あるいは検査も短時間で行
えるようになったが、被検体の一部分である例えば、腕
部等のAl1J定の場合においては、照射X線線量が強
すぎるために、X線検出器側に検出誤差が生じる場合が
あった。
すなわち、X線回折格子を用いた成分分析装置では、例
えば、照射X線が強いので、全身への照射には」−分な
線量強度が得られるので、高精度測定が可能とな−】た
が、例えば腕部、腰椎、大腿部等の被検体の一部分につ
いては、被検体の種類や大きさに応じて適切な照射X線
線量に減少させ、調整する必要がある。
えば、照射X線が強いので、全身への照射には」−分な
線量強度が得られるので、高精度測定が可能とな−】た
が、例えば腕部、腰椎、大腿部等の被検体の一部分につ
いては、被検体の種類や大きさに応じて適切な照射X線
線量に減少させ、調整する必要がある。
しか【7、従来においては、このような線量の調整は何
ら行われておらず、このために、被検体を通過したX線
線量が強すぎて、検出器側で誤差が生じ、これにより、
高精度測定が困難であった。
ら行われておらず、このために、被検体を通過したX線
線量が強すぎて、検出器側で誤差が生じ、これにより、
高精度測定が困難であった。
これは、X線検出器の最大線量の検出能力において、限
界があるために生ずるものであり、検出されるX線線量
が強すぎると、例えば該検出信号のパルス数に換算すれ
ば、数百k c p s (7)lilffi強度以上
において、著しい検出誤差を生ずることが実験的に確認
されている。
界があるために生ずるものであり、検出されるX線線量
が強すぎると、例えば該検出信号のパルス数に換算すれ
ば、数百k c p s (7)lilffi強度以上
において、著しい検出誤差を生ずることが実験的に確認
されている。
一方、以上のような照射X線の線量を調整することは、
例えば、X線管へ印加される高圧管電流を増減させて調
整し、これにより前記白色X線スペクトル分布のピーク
値を変える手法があるが、どうしても被検体の大きさや
種類に応じて微調整することが困難であり、また管電流
の調整に時間がかかっていた。
例えば、X線管へ印加される高圧管電流を増減させて調
整し、これにより前記白色X線スペクトル分布のピーク
値を変える手法があるが、どうしても被検体の大きさや
種類に応じて微調整することが困難であり、また管電流
の調整に時間がかかっていた。
このため、例えば被検体が全身の場合は問題ないが、腕
部などの場合の測定には、照射X線線量が強すぎてしま
い、これにより複雑で微妙な変化を有する被測定物の成
分を高精度にかつ短時間で分析することができなかった
。
部などの場合の測定には、照射X線線量が強すぎてしま
い、これにより複雑で微妙な変化を有する被測定物の成
分を高精度にかつ短時間で分析することができなかった
。
すなわち、この種のX線を用いた成分分析装置において
は、X線エネルギーを効率的に使用するとともに、あら
ゆる種類や大きさの被測定物に応じてX線線量を最適値
に設定し、これにより、被測定物の成分分析をより短時
間でかつ高精度に行うことが要求されている。
は、X線エネルギーを効率的に使用するとともに、あら
ゆる種類や大きさの被測定物に応じてX線線量を最適値
に設定し、これにより、被測定物の成分分析をより短時
間でかつ高精度に行うことが要求されている。
発明の目的
本発明は、上記従来の課題に鑑みなされたものであり、
その目的は、被測定物の種類や大きさなどに応じて照射
X線強度を減衰させて最適値を得ることにより、より短
時間で高精度に被測定物の成分分析を行うことができ、
これにより測定精度を常に一定に保ち、再現性を有する
成分分析結果を得ると共に、照射X線エネルギーを効率
的に使用することのできるX線を用いた成分分析装置を
提供することにある。
その目的は、被測定物の種類や大きさなどに応じて照射
X線強度を減衰させて最適値を得ることにより、より短
時間で高精度に被測定物の成分分析を行うことができ、
これにより測定精度を常に一定に保ち、再現性を有する
成分分析結果を得ると共に、照射X線エネルギーを効率
的に使用することのできるX線を用いた成分分析装置を
提供することにある。
[課題を解決するための手段]
X線の照射軸上に配置され被測定物を照射するXi!i
t及び被/JPJ定物を通過した通過X線のどちらか一
方を所定のエネルギー領域にに殻吸収端を有する吸収特
性により減衰させ低エネルギー及び高エネルギーの各領
域に該吸収特性に応じた線量ピーク値を有するX線吸収
スペクトル分布の透過X線を得る第1のフィルタと、前
記白色X線スペクトル分布及びX線吸収スペクトル分布
のどちらが一方のX線線量を所定レベルに減衰させて減
衰X線を得る第2のフィルタと、前記第2のフィルタを
X線照射軸上から退避する位置と照射軸上の位置とに進
退可能に移動させるフィルタ切換え手段と、を有し、前
記フィルタ切換え手段により被測定物に応じて被測定物
を照射するX線の線量を所定レベルに減衰させ該被測定
物を通過した通過X線線量を測定して被測定物の成分分
析を可能とすることを特徴とする。
t及び被/JPJ定物を通過した通過X線のどちらか一
方を所定のエネルギー領域にに殻吸収端を有する吸収特
性により減衰させ低エネルギー及び高エネルギーの各領
域に該吸収特性に応じた線量ピーク値を有するX線吸収
スペクトル分布の透過X線を得る第1のフィルタと、前
記白色X線スペクトル分布及びX線吸収スペクトル分布
のどちらが一方のX線線量を所定レベルに減衰させて減
衰X線を得る第2のフィルタと、前記第2のフィルタを
X線照射軸上から退避する位置と照射軸上の位置とに進
退可能に移動させるフィルタ切換え手段と、を有し、前
記フィルタ切換え手段により被測定物に応じて被測定物
を照射するX線の線量を所定レベルに減衰させ該被測定
物を通過した通過X線線量を測定して被測定物の成分分
析を可能とすることを特徴とする。
[作用]
以上のような構成としたので、本発明に係るX線を用い
た成分分析装置によれば、所定線量の白色X線スペクト
ル分布を有するxvaをX線発生器から被測定物に向か
って照射する。
た成分分析装置によれば、所定線量の白色X線スペクト
ル分布を有するxvaをX線発生器から被測定物に向か
って照射する。
そして、前記白色X線スペクトル分布を有する照射X線
は、所定のエネルギー領域にに殻吸収端を有する吸収特
性により、被測定物を照射するX線及び被測定物を通過
した通過X線のどちらか一方をX線照射軸上に配置され
ている第1のフィルタにより減衰させて、低エネルギー
及び高エネルギーの各領域に前記吸収特性に応じた線量
ピーク値を有するX線吸収スペクトル分布を得る。
は、所定のエネルギー領域にに殻吸収端を有する吸収特
性により、被測定物を照射するX線及び被測定物を通過
した通過X線のどちらか一方をX線照射軸上に配置され
ている第1のフィルタにより減衰させて、低エネルギー
及び高エネルギーの各領域に前記吸収特性に応じた線量
ピーク値を有するX線吸収スペクトル分布を得る。
そして、前記白色X線スペクトル分布及びX線吸収スペ
クトル分布のどちらか一方のX線線量を第2のフィルタ
により所定レベルに減衰させて、減衰X線を得る。
クトル分布のどちらか一方のX線線量を第2のフィルタ
により所定レベルに減衰させて、減衰X線を得る。
このような、X線線量が所定レベルに減衰された吸収ス
ペクトル分布を得るための前記第2のフィルタをX線照
射軸上から退避する位置と、照射軸上の位置とに進退可
能に移動させるフィルタ切換え手段により、前記第1の
フィルタのみと、第1、第2フイルタ双方とのどちらか
を選択、切換え可能としている。
ペクトル分布を得るための前記第2のフィルタをX線照
射軸上から退避する位置と、照射軸上の位置とに進退可
能に移動させるフィルタ切換え手段により、前記第1の
フィルタのみと、第1、第2フイルタ双方とのどちらか
を選択、切換え可能としている。
従って、第1フイルタのみの選択時には、該第1のフィ
ルタの減衰により得られた透過X線が被測定物に照射さ
れ、また前記フィルタ切換え手段により前記第1フイル
タに加えて第2のフィルタ選択時には、該第1フイルタ
と第2のフィルタとによる両者の減衰量によって得られ
た透過X線が被測定物に照射される。
ルタの減衰により得られた透過X線が被測定物に照射さ
れ、また前記フィルタ切換え手段により前記第1フイル
タに加えて第2のフィルタ選択時には、該第1フイルタ
と第2のフィルタとによる両者の減衰量によって得られ
た透過X線が被測定物に照射される。
そして、該透過X線が被測定物を通過し、該測定物を通
過した通過X線の線量をX線検出器により、検出するこ
とができる。
過した通過X線の線量をX線検出器により、検出するこ
とができる。
従って、前記フィルタ切換え手段により、被測定物に応
じて照射されるX線の線量を最適なレベルに減衰させ、
該被測定物を通過した通過X線線量を測定し、被測定物
の成分分析が可能となる。
じて照射されるX線の線量を最適なレベルに減衰させ、
該被測定物を通過した通過X線線量を測定し、被測定物
の成分分析が可能となる。
この結果、X線エネルギーを効率的に使用してあらゆる
種類及び大きさの被測定物において、例えば被検体組織
内の異なる物質の減衰量を他の組織と良好に識別して、
例えば骨の骨塩量を短時間にかつ高精度に測定すること
が可能となる。
種類及び大きさの被測定物において、例えば被検体組織
内の異なる物質の減衰量を他の組織と良好に識別して、
例えば骨の骨塩量を短時間にかつ高精度に測定すること
が可能となる。
[実施例]
以下、図面に基づいて本発明の好適な実施例を説明する
。
。
第1図には、本発明に係るX線を用いた成分分析装置の
基本原理が示されており、また第2図には、本発明に係
るX線を用いた成分分析装置の回路構成が示されている
。
基本原理が示されており、また第2図には、本発明に係
るX線を用いた成分分析装置の回路構成が示されている
。
本実施例において特徴的なことは、前記フィルタ切換え
手段により、前記第1のフィルタに加えて第2のフィル
タを所定の周期で選択、切換え可能としたことにあり、
これにより被測定物に応じて該被測定物に照射される照
射X線線量を減衰させ、最適レベルに設定可能としたこ
とにある。
手段により、前記第1のフィルタに加えて第2のフィル
タを所定の周期で選択、切換え可能としたことにあり、
これにより被測定物に応じて該被測定物に照射される照
射X線線量を減衰させ、最適レベルに設定可能としたこ
とにある。
第1図の基本原理の説明
以下、第1図を用いて、本発明に係る分析装置の基本原
理を説明する。
理を説明する。
第1図(a)は、前述した第8図(a)と同様のX線発
生器から被測定物に向かって照射される白色X線スペク
トル分布Aを示しており、第1図(b)は、前記白色X
線スペクトル分布Aを減衰させるための吸収特性を示し
た図であり、これは所定のエネルギー領域にに殻吸収端
を有し、図に示すように、例えば中エネルギー領域に減
衰値をもったフィルタ特性であり、縦軸には、X線の吸
収係数を示し、横軸には、エネルギーを示している。
生器から被測定物に向かって照射される白色X線スペク
トル分布Aを示しており、第1図(b)は、前記白色X
線スペクトル分布Aを減衰させるための吸収特性を示し
た図であり、これは所定のエネルギー領域にに殻吸収端
を有し、図に示すように、例えば中エネルギー領域に減
衰値をもったフィルタ特性であり、縦軸には、X線の吸
収係数を示し、横軸には、エネルギーを示している。
このに殻吸収端は、X線の光電効果による光電吸収が急
激に変化して、例えばに殻電子による吸収が始まるエネ
ルギー状態を示しており、このエネルギー状態では、第
1図(b)に示すようにX線の減衰が急激に変化してい
ることが理解される。
激に変化して、例えばに殻電子による吸収が始まるエネ
ルギー状態を示しており、このエネルギー状態では、第
1図(b)に示すようにX線の減衰が急激に変化してい
ることが理解される。
このようなに殻吸収端を有する単色化X線吸収スペクト
ル分布を得る方法は、平衡フィルタ法と呼ばれ、一般的
には前記白色X線スペクトル分布を減衰させて、単色条
件を得る一つの方法として用いられている。
ル分布を得る方法は、平衡フィルタ法と呼ばれ、一般的
には前記白色X線スペクトル分布を減衰させて、単色条
件を得る一つの方法として用いられている。
すなわち、この平衡フィルタ法によれば、第1図(b)
に示されたフィルタ特性は、例えば物質ガドリニウムG
d、セリウムCe、鉛Pb1金Au等から成り、所定エ
ネルギー範囲に対しては、等しい吸収を示すようにその
物質の厚さが調整される。
に示されたフィルタ特性は、例えば物質ガドリニウムG
d、セリウムCe、鉛Pb1金Au等から成り、所定エ
ネルギー範囲に対しては、等しい吸収を示すようにその
物質の厚さが調整される。
そして、これらの物質を用いたフィルタ特性は、前記物
質の厚さの設定により、K膜吸収端の狭いエネルギー範
囲以外の全てのエネルギー領域に対し、第1図(b)に
示す特性の傾き部分が同一の吸収特性を示すことになる
。
質の厚さの設定により、K膜吸収端の狭いエネルギー範
囲以外の全てのエネルギー領域に対し、第1図(b)に
示す特性の傾き部分が同一の吸収特性を示すことになる
。
これにより、該物質の厚さを厚くすることにより、所定
レベルにX線線量を減衰させることができる。
レベルにX線線量を減衰させることができる。
そこで、本出願人は、この平衡フィルタ法を用いてK殻
吸収端エネルギーの異なる種類の物質及びその物質の厚
さを調整したフィルタ特性を利用し、第1図(c)に示
すように、低エネルギー及び高エネルギーの各領域に吸
収特性に応した線量ピーク値を有する透過X線の吸収ス
ペクトル分布の所定線Mピーク値レベルを下げることに
着目した。
吸収端エネルギーの異なる種類の物質及びその物質の厚
さを調整したフィルタ特性を利用し、第1図(c)に示
すように、低エネルギー及び高エネルギーの各領域に吸
収特性に応した線量ピーク値を有する透過X線の吸収ス
ペクトル分布の所定線Mピーク値レベルを下げることに
着目した。
これにより、被測定物に応じて被測定物を通過した通過
X線強度を得て、該X線強度の線量を測定することを考
え出した。
X線強度を得て、該X線強度の線量を測定することを考
え出した。
すなわち、前記第1、第2のX線吸収スペクトル分布c
、 c’は、前記第1図(b)に示す所定エネルギー
領域にK殻吸収端を有する第1.第2吸収特性B、
B’に応じて、前記白色スペクトル分布Aを減衰させる
ことにより得られ、これにより、低エネルギー及び高エ
ネルギーの各領域に所定のX線強度の線量ピーク値を有
する減衰特性が得られる。
、 c’は、前記第1図(b)に示す所定エネルギー
領域にK殻吸収端を有する第1.第2吸収特性B、
B’に応じて、前記白色スペクトル分布Aを減衰させる
ことにより得られ、これにより、低エネルギー及び高エ
ネルギーの各領域に所定のX線強度の線量ピーク値を有
する減衰特性が得られる。
コノff1l、第2のX線吸収スペクトル分布c、
c’の特徴は、吸収特性B、 B’に示すK殻吸収端
のエネルギーレベルが第1図(C)に示す1つ目の山の
線量ピーク値エネルギーレベルと同一になっていること
であり(第1図に示す一点鎖線)、かつ図に示すように
物質の厚さの設定により、減衰量ΔBが定められ、該減
衰量に対応した二つの線2ピーク値のX線強度変化幅Δ
Cを得ることができることである。
c’の特徴は、吸収特性B、 B’に示すK殻吸収端
のエネルギーレベルが第1図(C)に示す1つ目の山の
線量ピーク値エネルギーレベルと同一になっていること
であり(第1図に示す一点鎖線)、かつ図に示すように
物質の厚さの設定により、減衰量ΔBが定められ、該減
衰量に対応した二つの線2ピーク値のX線強度変化幅Δ
Cを得ることができることである。
従って、第1図(b)に示すように、フィルタ特性を得
るための物質の厚さを薄くした場合の第1吸収特性Bと
、厚さを厚くした場合の第2吸収特性B°とによって、
X線吸収スペクトル分布は、第1、第2吸収特性に応じ
て、X線強度の強い第1のX線吸収スペクトルCと、X
線強度の弱い第2のX線吸収スペクトルC゛とが得られ
る。
るための物質の厚さを薄くした場合の第1吸収特性Bと
、厚さを厚くした場合の第2吸収特性B°とによって、
X線吸収スペクトル分布は、第1、第2吸収特性に応じ
て、X線強度の強い第1のX線吸収スペクトルCと、X
線強度の弱い第2のX線吸収スペクトルC゛とが得られ
る。
もちろん、第1図(e)に示すX線線量ピーク値の強度
変化幅ΔCは、前記フィルタとして使用される物質の厚
さに応じて所定レベル減衰されることになる。
変化幅ΔCは、前記フィルタとして使用される物質の厚
さに応じて所定レベル減衰されることになる。
第2図の主要構成の説明
次に、前記第1図に示されているX線を用いた分析方法
を適用して、例えば、骨塩量測定装置の一例を第2図に
示し、以下構成を説明する。
を適用して、例えば、骨塩量測定装置の一例を第2図に
示し、以下構成を説明する。
図において、X線発生器10は、第1図Ca>に示す白
色X線スペクトル分布Aを有するX線を被測定物に向か
って照射する、例えばX線管であり、図示しないX線管
用高圧電源により高電圧が供給され、コーンビーム等の
所定線量の照射X線10aを発生する。
色X線スペクトル分布Aを有するX線を被測定物に向か
って照射する、例えばX線管であり、図示しないX線管
用高圧電源により高電圧が供給され、コーンビーム等の
所定線量の照射X線10aを発生する。
この照射X線10aは、フィルタ切換え手段としてのフ
ィルタ装置12に透過されて、透過X線12eを得る。
ィルタ装置12に透過されて、透過X線12eを得る。
前記フィルタ装置12は、白色X線スペクトル分布Aを
有する照射X線1.0 aを透過させ、該X線線量を所
定レベルに減衰させるフィルタであり、所定線量レベル
に減衰させる第1、第2のフィルタと、該フィルタをX
線照射方向に面して対向配置するための円板状のフィル
タ板12aと、該フィルタ板12aを回転させるための
回転駆動源であるフィルタモータ12bとから構成され
ている。
有する照射X線1.0 aを透過させ、該X線線量を所
定レベルに減衰させるフィルタであり、所定線量レベル
に減衰させる第1、第2のフィルタと、該フィルタをX
線照射方向に面して対向配置するための円板状のフィル
タ板12aと、該フィルタ板12aを回転させるための
回転駆動源であるフィルタモータ12bとから構成され
ている。
このフィルタ板12aは、前記フィルタモータ12bの
回転軸先端部に該フィルタ板12aの円板中心部がくる
ように取り付けられており、これによって、該フィルタ
板12aを回転させながら、照射X線10aを各第1.
第2フイルタに透過するようにしている。
回転軸先端部に該フィルタ板12aの円板中心部がくる
ように取り付けられており、これによって、該フィルタ
板12aを回転させながら、照射X線10aを各第1.
第2フイルタに透過するようにしている。
すなわち、前記フィルタ板12gには、第3図、第4図
に示すように、例えば2組から成る4種類の物質で構成
された第1のフィルタ]、 2 cと、1つの物質で構
成された第2のフィルタ12dとが重合されて設けられ
ている。つまり、第1のフィルタ12cがフィルタ板側
周に配設されており、このフィルタ板12aには、第1
のフィルタ12Cとしては、所定の厚さtlに設定され
た物質、例えば、低エネルギー用にGd5Ceが使われ
、高エネルギー用にPbSAuが使われる。
に示すように、例えば2組から成る4種類の物質で構成
された第1のフィルタ]、 2 cと、1つの物質で構
成された第2のフィルタ12dとが重合されて設けられ
ている。つまり、第1のフィルタ12cがフィルタ板側
周に配設されており、このフィルタ板12aには、第1
のフィルタ12Cとしては、所定の厚さtlに設定され
た物質、例えば、低エネルギー用にGd5Ceが使われ
、高エネルギー用にPbSAuが使われる。
また、第2のフィルタ12dとしては、第3図に示すよ
うに前記円板状の第1のフィルタの円形状に対して、半
円状に形成されており、所定の厚さt2に設定された物
質、例えば銅Cu又はZnとCuの合金である真鍮など
が使われる。
うに前記円板状の第1のフィルタの円形状に対して、半
円状に形成されており、所定の厚さt2に設定された物
質、例えば銅Cu又はZnとCuの合金である真鍮など
が使われる。
そして、前記フィルタ装置12には、第3図A−A断面
に示すように円形状のmlのフィルタと半円状の第2の
フィルタとが、フィルタ板12aを介して、交互に重合
されて配設されている。
に示すように円形状のmlのフィルタと半円状の第2の
フィルタとが、フィルタ板12aを介して、交互に重合
されて配設されている。
このフィルタ装置12は、第1図及び第3図に示されて
いるようにフィルタモータ12bにより矢印の方向へ該
フィルタ板12aを所定周期で回転させ、これにより、
前記照射X線IDaを、第1のフィルタ12cではGd
、Ce、Pb、Auを、T42のフィルタ12dでは例
えばCuをそれぞれ、所定時間ごとに透過させる。
いるようにフィルタモータ12bにより矢印の方向へ該
フィルタ板12aを所定周期で回転させ、これにより、
前記照射X線IDaを、第1のフィルタ12cではGd
、Ce、Pb、Auを、T42のフィルタ12dでは例
えばCuをそれぞれ、所定時間ごとに透過させる。
そして、前記フィルタ装置12により、前記各第1、第
2のフィルタを透過した透過X線12eが被検体14に
照射される。
2のフィルタを透過した透過X線12eが被検体14に
照射される。
前記被検体14は、例えば人体の全身又は腕部、腰椎部
など、あるいは被測定物としての被破壊性検査用物質等
であり、この被検体14には、前記X線吸収スペクトル
分布Aが通過され、これにより、腕部の骨の骨塩量を測
定する場合には、骨塩量に応じたX線線量が減衰される
。
など、あるいは被測定物としての被破壊性検査用物質等
であり、この被検体14には、前記X線吸収スペクトル
分布Aが通過され、これにより、腕部の骨の骨塩量を測
定する場合には、骨塩量に応じたX線線量が減衰される
。
前記被検体14を通過した通過X線14aは、例えば、
2次元検出素子としてのCdTeアレイ等のX線検出器
16で検出され、通過X線の線量に応じた検出信号16
gに変換される。
2次元検出素子としてのCdTeアレイ等のX線検出器
16で検出され、通過X線の線量に応じた検出信号16
gに変換される。
前記検出信号16aは、例えば図示しないプリアンプで
所定振幅レベルまで増幅され、線量に応じた検出信号1
6aをコンパレータ18に出力する。
所定振幅レベルまで増幅され、線量に応じた検出信号1
6aをコンパレータ18に出力する。
前記検出信号16aが入力されるコンパレータ18は、
該検出信号16aを所定波高値以上に弁別し、あらかじ
め設定されている弁別レベル以上の検出信号のみが出力
され、カウンタ20に入力して、計数される。
該検出信号16aを所定波高値以上に弁別し、あらかじ
め設定されている弁別レベル以上の検出信号のみが出力
され、カウンタ20に入力して、計数される。
前記カウンタ20は、該計数結果を記憶したり、演算し
たりするためにデジタル信号20aに変換して出力し、
メモリ22と演算器24とに供給する。
たりするためにデジタル信号20aに変換して出力し、
メモリ22と演算器24とに供給する。
前記メモリ22は、例えば、該デジタル信号20aをデ
ータとして一時的に保存したり、又は、あらかじめフィ
ルタ制御パターン等を記憶したりするROM等から成り
、これらの記憶内容は、前記演算器24又は制御回路2
8に供給される。
ータとして一時的に保存したり、又は、あらかじめフィ
ルタ制御パターン等を記憶したりするROM等から成り
、これらの記憶内容は、前記演算器24又は制御回路2
8に供給される。
前記演算器24は、前記メモリ22に記憶されているデ
ジタル信号22aや、前記カウンタ出力のデジタル信号
20aを演算し、所望のエネルギー領域のX線線量に対
応したデジタル信号を算出し、これにより、骨の骨塩量
を求め表示器26に演算信号24gを供給している。
ジタル信号22aや、前記カウンタ出力のデジタル信号
20aを演算し、所望のエネルギー領域のX線線量に対
応したデジタル信号を算出し、これにより、骨の骨塩量
を求め表示器26に演算信号24gを供給している。
前記表示器26は、該演算信号24aを入力して、例え
ば骨の骨塩量の算出結果を画像表示するだめのテレビモ
ニタであり、該演算結果を集計、データ整理し、骨塩量
及び所望の被検体骨部を画像表示している。
ば骨の骨塩量の算出結果を画像表示するだめのテレビモ
ニタであり、該演算結果を集計、データ整理し、骨塩量
及び所望の被検体骨部を画像表示している。
制御回路28は、操作パネル30からの測定者の制御指
令30aや、前記カウンタ20の計数結果あるいは計数
時間、前記メモリ22の記憶内容、前記フィルタ板12
aの回転状態を同期検出器32により検出する等の、各
情報を入力、監視しており、常に最適な測定動作が行え
るように制御する回路である。
令30aや、前記カウンタ20の計数結果あるいは計数
時間、前記メモリ22の記憶内容、前記フィルタ板12
aの回転状態を同期検出器32により検出する等の、各
情報を入力、監視しており、常に最適な測定動作が行え
るように制御する回路である。
この制御回路28は、前記同期検出器32でフィルタモ
ータの回転速度を例えば、前記フィルタ板12aの周辺
端部に設けられている切欠き位置により、1回転毎に検
出している。
ータの回転速度を例えば、前記フィルタ板12aの周辺
端部に設けられている切欠き位置により、1回転毎に検
出している。
この結果、各第1、第2のフィルタGd、Ce。
Pb、Au、あるいはCu等を透過するX線のX線透過
時間を前記カウンタ20の計数時間と同期して回転制御
が行われる。
時間を前記カウンタ20の計数時間と同期して回転制御
が行われる。
従って、各フィルタを透過した透過X線を所定時間検出
し、該第1、第2のフィルタの減衰量に応じたX線線量
を測定することができる。
し、該第1、第2のフィルタの減衰量に応じたX線線量
を測定することができる。
なお、本実施例において、前記フィルタ装置12は、円
板状の回転フィルタ板を一例として示したが、例えば、
スライド式に横方向に可動させて、前記第1、第2のフ
ィルタを選択させるフィルタ板構造としてもよい。
板状の回転フィルタ板を一例として示したが、例えば、
スライド式に横方向に可動させて、前記第1、第2のフ
ィルタを選択させるフィルタ板構造としてもよい。
もちろん、フィルタ切換え手段としてのフィルタ装置]
2は、フィルタ板に限らず第1のフィルタをX線照射軸
上に配置して第2のフィルタをX線照射軸上から退避す
る位置と照射軸上の位置とに進退可能に移動させる第2
のフィルタを切り換える装置であればよい。
2は、フィルタ板に限らず第1のフィルタをX線照射軸
上に配置して第2のフィルタをX線照射軸上から退避す
る位置と照射軸上の位置とに進退可能に移動させる第2
のフィルタを切り換える装置であればよい。
前記操作パネル30は、前記コンパレータ18の弁別レ
ベルを任意に測定者が設定したり、前記カウンタ20の
計数時間を設定したりする制御部を含み、測定者が必要
に応じて任意に所定値を設定するための入力装置である
。
ベルを任意に測定者が設定したり、前記カウンタ20の
計数時間を設定したりする制御部を含み、測定者が必要
に応じて任意に所定値を設定するための入力装置である
。
すなわち、前記操作パネル30から制御信号30aが前
記制御回路28へ供給され、これにより、所望の各制御
が行われる。
記制御回路28へ供給され、これにより、所望の各制御
が行われる。
第2図の動作説明
次に、第2図に示されている成分分析装置の測定動作に
ついて、第3図から第6図を用いて詳細に説明する。
ついて、第3図から第6図を用いて詳細に説明する。
本実施例における成分分析装置の実際の使用動作は、被
検体腕部及び全身の骨塩量の分析をX線コーンビーム照
射により行った場合の一例を説明する。
検体腕部及び全身の骨塩量の分析をX線コーンビーム照
射により行った場合の一例を説明する。
まず、測定者は、被検体14例えば腕部等の所望患部を
定位置に配置し、次に操作パネル30の操作により、操
作信号30aが制御回路28に入力される。
定位置に配置し、次に操作パネル30の操作により、操
作信号30aが制御回路28に入力される。
そして、前記制御回路28は、フィルタ装置12のフィ
ルタモータ12bを回転駆動させて、フィルタ板12a
を例えば、第3図に示す矢印の方向に回転させると共に
、X線発生器10から白色X線スペクトル分布Aを有す
る照射X線10aを前記フィルタ装置12を介し、被検
体14に照射させる。
ルタモータ12bを回転駆動させて、フィルタ板12a
を例えば、第3図に示す矢印の方向に回転させると共に
、X線発生器10から白色X線スペクトル分布Aを有す
る照射X線10aを前記フィルタ装置12を介し、被検
体14に照射させる。
この結果、前記照射X線10aは、第1図(a)に示す
白色X線スペクトル分布Aを有するX線が前記フィルタ
装置12のフィルタ板12aに設けられている、例えば
第1フイルタ12cの第1吸収特性Bにより、照射X線
はそれぞれのフィルタ減衰特性に応じて透過される。
白色X線スペクトル分布Aを有するX線が前記フィルタ
装置12のフィルタ板12aに設けられている、例えば
第1フイルタ12cの第1吸収特性Bにより、照射X線
はそれぞれのフィルタ減衰特性に応じて透過される。
ここで、前記フィルタ板12aの回転速度は、前記同期
検出回路32により検出され、同期信号32aを前記制
御回路28に入力しており、これにより、例えば所定の
一定周期τで同期して、フィルタ板12aが回転される
。
検出回路32により検出され、同期信号32aを前記制
御回路28に入力しており、これにより、例えば所定の
一定周期τで同期して、フィルタ板12aが回転される
。
これは、第5図、第6図に示すように、1回転の周期T
が例えば、被検体の全身用又は腰椎・大腿用に応じて、
高精度・標準モード等により設定されている。すなわち
、低エネルギー用及び高エネルギー用の第1フイルタす
なわちGd、 Ce。
が例えば、被検体の全身用又は腰椎・大腿用に応じて、
高精度・標準モード等により設定されている。すなわち
、低エネルギー用及び高エネルギー用の第1フイルタす
なわちGd、 Ce。
Pb、Auには、それぞれ、τ:T/8″r5IISの
周期でX線が透過される。
周期でX線が透過される。
もちろん、図に示す周期Tは、例えば操作パネル30の
操作指令により、前記制御回路28を介して任意に可変
可能である。
操作指令により、前記制御回路28を介して任意に可変
可能である。
ここで、第1フイルタとして例えば、低エネルギー用の
GdがX線を透過した場合を説明すれば、X線吸収スペ
クトル分布は、第1図(b)に示す第1減衰特性Bの第
1フイルタにより減衰されて、被検体14に照射される
X線としては、第1図(C)の第1のX線吸収スペクト
ル分布Cのようになる。
GdがX線を透過した場合を説明すれば、X線吸収スペ
クトル分布は、第1図(b)に示す第1減衰特性Bの第
1フイルタにより減衰されて、被検体14に照射される
X線としては、第1図(C)の第1のX線吸収スペクト
ル分布Cのようになる。
そして、この第1のX線吸収スペクトル分布は、前記被
検体14を通過し、骨塩量に応じた通過X線14aがX
線検出器16で検出され、検出信号に変換され、更にコ
ンパレータ18で所定レベルに弁別されて検出信号]、
8 aを得る。
検体14を通過し、骨塩量に応じた通過X線14aがX
線検出器16で検出され、検出信号に変換され、更にコ
ンパレータ18で所定レベルに弁別されて検出信号]、
8 aを得る。
そして、この検出信号18aは、カウンタ20に入力さ
れ、計数される。
れ、計数される。
もちろん、前記カウンタ20は、前記制御回路28によ
りオンオフ切換えが行われ、計数時にはオン状態にあり
、第5図に示されているように、透過X線10aが第1
フイルタGdを通過している時間を一τ/ 8 ”=
5 msの間だけ前記カウンタ20で計数が行われる。
りオンオフ切換えが行われ、計数時にはオン状態にあり
、第5図に示されているように、透過X線10aが第1
フイルタGdを通過している時間を一τ/ 8 ”=
5 msの間だけ前記カウンタ20で計数が行われる。
しかし、これは、具体的には第5図に示すように立上が
りで計数開始、立下がりで計数終了となり、第5図に示
すような順序で、すなわち、まず第1のフィルタでは、
Gd→Ce −+ P b→Auの順序で各t”F5m
sでて一〇〜20m5まで順次計数が行われる。
りで計数開始、立下がりで計数終了となり、第5図に示
すような順序で、すなわち、まず第1のフィルタでは、
Gd→Ce −+ P b→Auの順序で各t”F5m
sでて一〇〜20m5まで順次計数が行われる。
そして、前記カウンタ20で計数された計数値は、第1
図(C)のスペクトル分布に対応したデジタル信号20
aに変換されて、前記メモリ22に一時的に記憶される
。
図(C)のスペクトル分布に対応したデジタル信号20
aに変換されて、前記メモリ22に一時的に記憶される
。
次に、τ−20〜40Imsの間においては、前記第1
のフィルタに加えて、第2のフィルタである例えば、銅
CuにX線が透過され(第3図に示す平面図の斜線部分
及び第5図の斜線部分)、前述したように、同様に吸収
スペクトルは、第1図(b)の第2吸収特性B゛のよう
になり、これにより、被検体に照射される白色X線スペ
クトル分布Aは、第2フイルタにより更に減衰されて、
第1図(c)の第2のX線吸収スペクトル分布(斜線部
分)C″のようになる。
のフィルタに加えて、第2のフィルタである例えば、銅
CuにX線が透過され(第3図に示す平面図の斜線部分
及び第5図の斜線部分)、前述したように、同様に吸収
スペクトルは、第1図(b)の第2吸収特性B゛のよう
になり、これにより、被検体に照射される白色X線スペ
クトル分布Aは、第2フイルタにより更に減衰されて、
第1図(c)の第2のX線吸収スペクトル分布(斜線部
分)C″のようになる。
これは、第3図のA−A断面図に示すように、物質の厚
さが第1のフィルタtiに加えて第2のフィルタt2に
より増加され、これにより、第1図(b)に示す減衰量
(ΔB)が増加するためである。
さが第1のフィルタtiに加えて第2のフィルタt2に
より増加され、これにより、第1図(b)に示す減衰量
(ΔB)が増加するためである。
従って、この第2のフィルタにより、X線が透過された
場合には、そのX線強度は、前記減衰量ΔBに対応して
第1図(c)に示すように線量ピーク値がΔCだけ減少
する。そして、この第2のX線吸収スペクトル分布C°
は、被検体14を通過し、骨塩量変化に応じた通過X線
14aが上記と同様にして、前記X線検出器16で検出
信号16aに変換される。
場合には、そのX線強度は、前記減衰量ΔBに対応して
第1図(c)に示すように線量ピーク値がΔCだけ減少
する。そして、この第2のX線吸収スペクトル分布C°
は、被検体14を通過し、骨塩量変化に応じた通過X線
14aが上記と同様にして、前記X線検出器16で検出
信号16aに変換される。
そして更に、前記カウンタ20で前記第1図(C)に示
す第1のxga吸収吸収スペクトル分布芯じて検出信号
が計数されて、デジタル信号20aに変換される。この
計数値を所定のデジタル信号20aに変換することは、
該計数結果を記憶したり、演算したりするために行われ
る。
す第1のxga吸収吸収スペクトル分布芯じて検出信号
が計数されて、デジタル信号20aに変換される。この
計数値を所定のデジタル信号20aに変換することは、
該計数結果を記憶したり、演算したりするために行われ
る。
ここで、第5図に示すように、各フィルタのそれぞれの
物質の切換え時には、カウンタ20は、前記制御回路2
8により、立下がりLレベルから立上りHレベル間に瞬
間的にオフ状態(2τ2゜又はτ1+τ2)にされ、前
記カウンタ20の計数を停止させて、フィルタ切換え時
の計数変動及び誤差の発生を防止している(第5図には
、tl−IIIIS、 t2<lll5として一例を
示す)。
物質の切換え時には、カウンタ20は、前記制御回路2
8により、立下がりLレベルから立上りHレベル間に瞬
間的にオフ状態(2τ2゜又はτ1+τ2)にされ、前
記カウンタ20の計数を停止させて、フィルタ切換え時
の計数変動及び誤差の発生を防止している(第5図には
、tl−IIIIS、 t2<lll5として一例を
示す)。
このようにして、フィルタ板12aの回転速度に応じて
、所定時間、検出信号が計数されて、第1図(C)の第
2のX線吸収スペクトル分布C゛に対応したデジタル信
号20aが演算器24に供給される。
、所定時間、検出信号が計数されて、第1図(C)の第
2のX線吸収スペクトル分布C゛に対応したデジタル信
号20aが演算器24に供給される。
そして、前記第1、第2フイルタにより得られた前記各
デジタル信号20a、22aは、前記演算器24により
それぞれ骨の骨塩量を算出するために演算され、被検体
患部の骨塩量及び画像情報等が前記表示器26に送られ
、表示器26でテレビモニタに画像表示される。
デジタル信号20a、22aは、前記演算器24により
それぞれ骨の骨塩量を算出するために演算され、被検体
患部の骨塩量及び画像情報等が前記表示器26に送られ
、表示器26でテレビモニタに画像表示される。
他の実施例を示した第7図の説明
次に、被検体の一部分の骨塩量をより高精度にΔp」定
する場合を他の実施例として第7図を用いて説明する。
する場合を他の実施例として第7図を用いて説明する。
第7図は、第2図に示されている本発明の分析装置を用
いて、より高精度に骨塩量を測定する場合の一例を示し
ている。
いて、より高精度に骨塩量を測定する場合の一例を示し
ている。
図に示されている実施例においては、前記フィルタ切換
え手段であるフィルタ装置12により、透過X線を第1
のフィルタのGdと第2のフィルタのCu選択時に吸収
スペクトル分布D(第7図(e))として求め、第1の
フィルタのCeと、第2のフィルタのCu選択時に前記
吸収スペクトル分布りと異なる吸収スペクトル分布E(
T47図(f))として求め、これらの両者をそれぞれ
被検体に通過させて、前記吸収スペクトル分布りから吸
収スペクトル分布Eを演算器24により減算して、低エ
ネルギー領域において、単色化差分スペクトル分布F(
T57図(g))を算出し、これにより、被検体腕部等
のX線量を求めることができる。
え手段であるフィルタ装置12により、透過X線を第1
のフィルタのGdと第2のフィルタのCu選択時に吸収
スペクトル分布D(第7図(e))として求め、第1の
フィルタのCeと、第2のフィルタのCu選択時に前記
吸収スペクトル分布りと異なる吸収スペクトル分布E(
T47図(f))として求め、これらの両者をそれぞれ
被検体に通過させて、前記吸収スペクトル分布りから吸
収スペクトル分布Eを演算器24により減算して、低エ
ネルギー領域において、単色化差分スペクトル分布F(
T57図(g))を算出し、これにより、被検体腕部等
のX線量を求めることができる。
そして、これにより、より高精度に被検体の例えばf1
塩量の成分分析が可能となる。
塩量の成分分析が可能となる。
第7図の動作説明
以下、第2図に基づいて、第7図を詳細に説明する。
すなわち、前記白色X線スペクトル分布Aを有する照射
X線3− Oaは、例えば高エネルギー領域にに殻吸収
端がγr存する第1のフィルタGdの吸収特性dにより
、減衰された透過X線を得る。
X線3− Oaは、例えば高エネルギー領域にに殻吸収
端がγr存する第1のフィルタGdの吸収特性dにより
、減衰された透過X線を得る。
これは低−ネルギー及び高エネルギーの各領域に該吸収
特性dに応じた線mピーク値を持つX線の吸収スベク1
ヘル分I′l’i Dとなる(第7図(e))。
特性dに応じた線mピーク値を持つX線の吸収スベク1
ヘル分I′l’i Dとなる(第7図(e))。
もぢろん、この場合、第3図に示すように、第2のフィ
ルタのCuにより、更に所定レベル減衰されている。
ルタのCuにより、更に所定レベル減衰されている。
また、低エネルギー領域にに殻吸収端が存在する第1の
フィルタCeの吸収特性e(第7図(d))により、減
衰された透過X線を得る。これは、低エネルギー及び高
エネルギーの各領域に該吸収特性eに応じた線量ピーク
値を持つ前記X線の吸収スペクトル分布りと異なる吸収
スペクトル分布Eとなる(第7図(f))。
フィルタCeの吸収特性e(第7図(d))により、減
衰された透過X線を得る。これは、低エネルギー及び高
エネルギーの各領域に該吸収特性eに応じた線量ピーク
値を持つ前記X線の吸収スペクトル分布りと異なる吸収
スペクトル分布Eとなる(第7図(f))。
もちろん、前述したと同様に、この場合も第3図に示す
ように、第2フイルタCuにより減衰される。
ように、第2フイルタCuにより減衰される。
このような、所定の吸収スペクトル分布り、 Eを得
るための第1のフィルタ(Gd、Ce)は、第2のフィ
ルタCIJと共通した基板に配置されたフィルタ板12
aにより、制御回路28の回転制御で所定の周期で任
意に選択・切換えを可能にしている。
るための第1のフィルタ(Gd、Ce)は、第2のフィ
ルタCIJと共通した基板に配置されたフィルタ板12
aにより、制御回路28の回転制御で所定の周期で任
意に選択・切換えを可能にしている。
従って、第1のフィルタGd十第2のフィルタCu選択
時には、該フィルタ特性の減衰により得られた透過X線
が被検体に照射され、X線検出器16により該被検体を
通過したX線線量を検出して線量に応じた検出信号を出
力する。そして、この検出信号を計数して、該計数結果
を記憶したり、演算したりするために、デジタル信号2
0aに変換し、メモリ22に記憶する。
時には、該フィルタ特性の減衰により得られた透過X線
が被検体に照射され、X線検出器16により該被検体を
通過したX線線量を検出して線量に応じた検出信号を出
力する。そして、この検出信号を計数して、該計数結果
を記憶したり、演算したりするために、デジタル信号2
0aに変換し、メモリ22に記憶する。
また次に、前記フィルタ板12aの回転により第1のフ
ィルタCe十第2のフィルタCu選択時には、該フィル
タによる減衰によって得られた透過X線が前記Cd選択
時と同様にX線検出器16により検出信号に変換され、
更にデジタル信号20aに変換されて前記メモリ22に
記憶される。
ィルタCe十第2のフィルタCu選択時には、該フィル
タによる減衰によって得られた透過X線が前記Cd選択
時と同様にX線検出器16により検出信号に変換され、
更にデジタル信号20aに変換されて前記メモリ22に
記憶される。
そして、該メモリ22に記憶された内容のうち、演算器
24により、第1のフィルタGd選択時の吸収スペクト
ル分布D(第7図(e))に対応したデジタル信号から
第1のフィルタCe選択時の吸収スペクトル分布E(第
7図(f))に対応したデジタル信号を演算して、単色
化差分スペクトル分布F(第7図(g))に対応したデ
ジタル信号を算出する。
24により、第1のフィルタGd選択時の吸収スペクト
ル分布D(第7図(e))に対応したデジタル信号から
第1のフィルタCe選択時の吸収スペクトル分布E(第
7図(f))に対応したデジタル信号を演算して、単色
化差分スペクトル分布F(第7図(g))に対応したデ
ジタル信号を算出する。
この演算結果により、所定エネルギー領域のX線線量を
求めて透過X線が照射された、例えば被検体腕部の成分
分析を行うことが可能となる。
求めて透過X線が照射された、例えば被検体腕部の成分
分析を行うことが可能となる。
これにより、X線エネルギーを効率的に使用し、前記被
検体腕部に応じた最適な照射X線量が得られ、これによ
り、被検体の一部分の組織内における異なる物質の減衰
量を求めることができ、他の組織と良好に識別して骨の
骨塩量を短時間にかつ、より高精度にA11I定するこ
とが可能となる。
検体腕部に応じた最適な照射X線量が得られ、これによ
り、被検体の一部分の組織内における異なる物質の減衰
量を求めることができ、他の組織と良好に識別して骨の
骨塩量を短時間にかつ、より高精度にA11I定するこ
とが可能となる。
また、本実施例では、第2のフィルタのCuと共に第1
のフィルタを低エネルギー用にGd。
のフィルタを低エネルギー用にGd。
Ceを選択した場合を示したが、第3図に示すように、
高エネルギー用にPb、Auを選択した場合も同様にし
て行うことができる。
高エネルギー用にPb、Auを選択した場合も同様にし
て行うことができる。
また、もちろん、被検体14が全身の場合には、第1の
フィルタのみを選択して、第2のフィルタによる減衰を
なくし、強い照射X線線量を得ることができる(第7図
(c)、 (d)、、(e)。
フィルタのみを選択して、第2のフィルタによる減衰を
なくし、強い照射X線線量を得ることができる(第7図
(c)、 (d)、、(e)。
(f)、 (g)に−点鎖線で示す)。
以上のようにして、第7図(g)のような所定エネルギ
ー幅を有するX線量(単色化差分スペクトルF)を測定
することができ、演算器24の減算算出により、より高
精度な骨塩量を求めることが可能となる。
ー幅を有するX線量(単色化差分スペクトルF)を測定
することができ、演算器24の減算算出により、より高
精度な骨塩量を求めることが可能となる。
以上のようにして、本実施例におけるX線を用いた成分
分析装置においては、被検体の大きさや種類、例えば人
体の全身あるいは腰椎・大腿部等に応じて、前記白色X
線スペクトル分布Aを第1、第2のフィルタにより吸収
特性の減衰量を可変させ、これにより、被検体に応じて
最適な照射X線強度を得ることが可能となる。
分析装置においては、被検体の大きさや種類、例えば人
体の全身あるいは腰椎・大腿部等に応じて、前記白色X
線スペクトル分布Aを第1、第2のフィルタにより吸収
特性の減衰量を可変させ、これにより、被検体に応じて
最適な照射X線強度を得ることが可能となる。
すなわち、本実施例においては、前記フィルタ装置12
を用いて、照射X線線量を減衰させて、第1のフィルタ
のみにより強い線量を得て、被検体全身の骨塩量を測定
したり、また第1のフィルタに加えて、更に第2のフィ
ルタにより減衰された最適な弱い線量を得て、被検体腕
部の骨塩量を測定したりすることができる。
を用いて、照射X線線量を減衰させて、第1のフィルタ
のみにより強い線量を得て、被検体全身の骨塩量を測定
したり、また第1のフィルタに加えて、更に第2のフィ
ルタにより減衰された最適な弱い線量を得て、被検体腕
部の骨塩量を測定したりすることができる。
もちろん、このような第2のフィルタの切換え制御は、
制御回路28により前述した第3図〜第6図に示すよう
に被dl11定物の種類や、大きさに応じて行うことが
できる。
制御回路28により前述した第3図〜第6図に示すよう
に被dl11定物の種類や、大きさに応じて行うことが
できる。
なお、本実施例では、フィルタ装置12を第2図に示す
ように、X線発生器10と、被検体14との間に配置さ
せて、前記白色X線スペクトルAを吸収特性に応じて減
衰させ、X線吸収スペクトル分布Cの透過X線を被検体
14に照射した場合を示したが、もちろん、前記フィル
タ装置12を被検体14と、前記X線検出器16との間
に設けて前記白色X線スペクトルを、まず被検体14に
通過させ、その通過X線スペクトルを前記6第1、第2
のフィルタで減衰させて、透過X線として第1、第2の
吸収スペクトルを前記X線検出器16で検出するように
してもよい。
ように、X線発生器10と、被検体14との間に配置さ
せて、前記白色X線スペクトルAを吸収特性に応じて減
衰させ、X線吸収スペクトル分布Cの透過X線を被検体
14に照射した場合を示したが、もちろん、前記フィル
タ装置12を被検体14と、前記X線検出器16との間
に設けて前記白色X線スペクトルを、まず被検体14に
通過させ、その通過X線スペクトルを前記6第1、第2
のフィルタで減衰させて、透過X線として第1、第2の
吸収スペクトルを前記X線検出器16で検出するように
してもよい。
また、各実施例において、フィルタ切換え手段としての
フィルタ装置12は、第3図に示されているように、第
1のフィルタとしてGd、Ce。
フィルタ装置12は、第3図に示されているように、第
1のフィルタとしてGd、Ce。
Pb、Auの4tl類、第2のフィルタとしてCu18
類をフィルタ板12aに設けた一例を示したが、もちろ
ん、前記各フィルタの物質は、多種類設けてもよく、前
記制御回路28により回転制御し、所定のタイミングで
同期して第1.第2のフィルタの各物質の透過X線を検
出することも可能である。
類をフィルタ板12aに設けた一例を示したが、もちろ
ん、前記各フィルタの物質は、多種類設けてもよく、前
記制御回路28により回転制御し、所定のタイミングで
同期して第1.第2のフィルタの各物質の透過X線を検
出することも可能である。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明に係るX線を用いた成分分
析装置によれば、従来のRIを用いた分析装置の問題点
を解決できると共に、更にX線回折法による分析装置の
ような回折格子を用いることなく、平衡フィルタ法を応
用して前記白色X線スペクトル分布を効率的に、かつ被
7I−1定物に応じて最適に照射X線線量を減衰させ、
X線吸収スペクトルエネルギー分布を求めて、所望の照
射X線強度のX線線量を得ることが可能となる。
析装置によれば、従来のRIを用いた分析装置の問題点
を解決できると共に、更にX線回折法による分析装置の
ような回折格子を用いることなく、平衡フィルタ法を応
用して前記白色X線スペクトル分布を効率的に、かつ被
7I−1定物に応じて最適に照射X線線量を減衰させ、
X線吸収スペクトルエネルギー分布を求めて、所望の照
射X線強度のX線線量を得ることが可能となる。
この結果、被測定物に照射されるX線の線量を最適に設
定することが可能となり、X線回折法による成分分析結
果よりも、被測定物が全身あるいは、腕部等においても
、より高精度にかつ短時間に分析が可能となり、複雑で
微妙な成分変化を有する被測定物の測定を高精度に行う
ことができる。
定することが可能となり、X線回折法による成分分析結
果よりも、被測定物が全身あるいは、腕部等においても
、より高精度にかつ短時間に分析が可能となり、複雑で
微妙な成分変化を有する被測定物の測定を高精度に行う
ことができる。
また、このX線回折格子を用いた分析装置では、必然的
にスキャン機構が必要であったが、本発明においては、
スキャン操作しなくても成分分析ができる効果がある。
にスキャン機構が必要であったが、本発明においては、
スキャン操作しなくても成分分析ができる効果がある。
更に、本発明では所望のエネルギーレベルに応じた数の
回折格子等をまったく用いる必要がなく、前記フィルタ
切換え手段により、被測定物に応じた強さのX線線量を
得て、Au定、分析が可能となるので、装置自体の構造
の簡単化を図ることができ、装置の小型化が可能となる
。
回折格子等をまったく用いる必要がなく、前記フィルタ
切換え手段により、被測定物に応じた強さのX線線量を
得て、Au定、分析が可能となるので、装置自体の構造
の簡単化を図ることができ、装置の小型化が可能となる
。
第1図は、本発明に係るX線を用いた成分分析装置の基
本原理を示すスペクトル分布図、第2図は、本発明に係
るX線を用いたX線分析装置の回路構成図、 第3図、第4図は、フィルタ装置の構造及び第1フイル
タ、第2フイルタの使用例を示した説明図、 第5図、第6図は、フィルタ装置の動作状態を示した説
明図、 第7図は、本発明に係るX線を用いた成分分析装置にお
ける他の実施例を示した説明図、第8図は、従来のX線
を用いた成分分析装置の基本原理を示したスペクトル分
布図である。 10a ・・・ 照射X線 12 ・・・ フィルタ装置 12a ・・・ フィルタ板 12F) 12c 2d 4 2e 6 6a 8 0 0a 2 4 6 8 0 0a 2 フィルタモータ 第1のフィルタ 第2のフィルタ 被検体 透過X線 X線検出器 検出信号 コンパレータ カウンタ デジタル信号 メモリ 演算器 表示器 制御回路 ■・■作パネル 操作信号 同期検出部 白色X線スペクトル分布 第1吸収特性 第2吸収特性 第 1図 B C゛ ΔC d、 e D、 E 減衰量 第1のX線吸収スペクトル 第2のX線吸収スペクトル X線強度の変化量 吸収特性 吸収スペクトル分布 単色化差分スペクトル分布。
本原理を示すスペクトル分布図、第2図は、本発明に係
るX線を用いたX線分析装置の回路構成図、 第3図、第4図は、フィルタ装置の構造及び第1フイル
タ、第2フイルタの使用例を示した説明図、 第5図、第6図は、フィルタ装置の動作状態を示した説
明図、 第7図は、本発明に係るX線を用いた成分分析装置にお
ける他の実施例を示した説明図、第8図は、従来のX線
を用いた成分分析装置の基本原理を示したスペクトル分
布図である。 10a ・・・ 照射X線 12 ・・・ フィルタ装置 12a ・・・ フィルタ板 12F) 12c 2d 4 2e 6 6a 8 0 0a 2 4 6 8 0 0a 2 フィルタモータ 第1のフィルタ 第2のフィルタ 被検体 透過X線 X線検出器 検出信号 コンパレータ カウンタ デジタル信号 メモリ 演算器 表示器 制御回路 ■・■作パネル 操作信号 同期検出部 白色X線スペクトル分布 第1吸収特性 第2吸収特性 第 1図 B C゛ ΔC d、 e D、 E 減衰量 第1のX線吸収スペクトル 第2のX線吸収スペクトル X線強度の変化量 吸収特性 吸収スペクトル分布 単色化差分スペクトル分布。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 所定線量の白色X線スペクトル分布を有するX線を被測
定物に向かって照射するX線発生器と、前記被測定物を
通過した通過X線を検出するX線検出器と、を有し、前
記X線検出器により検出されたX線線量を測定し被測定
物の成分分析を行うX線を用いた成分分析装置において
、 X線の照射軸上に配置され被測定物を照射するX線及び
被測定物を通過した通過X線のどちらか一方を所定のエ
ネルギー領域にK殻吸収端を有する吸収特性により減衰
させ低エネルギー及び高エネルギーの各領域に該吸収特
性に応じた線量ピーク値を有するX線吸収スペクトル分
布の透過X線を得る第1のフィルタと、 前記白色X線スペクトル分布及びX線吸収スペクトル分
布のどちらか一方のX線線量を所定レベルに減衰させて
減衰X線を得る第2のフィルタと、前記第2のフィルタ
をX線照射軸上から退避する位置と照射軸上の位置とに
進退可能に移動させるフィルタ切換え手段と、を有し、 前記フィルタ切換え手段により被測定物に応じて被測定
物を照射するX線の線量を所定レベルに減衰させ該被測
定物を通過した通過X線線量を測定し、被測定物の成分
分析を可能とすることを特徴とするX線を用いた成分分
析装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1332279A JPH03191850A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | X線を用いた成分分析装置 |
| EP90123814A EP0432730B1 (en) | 1989-12-14 | 1990-12-11 | Bone mineral content measuring apparatus |
| DE69033232T DE69033232T2 (de) | 1989-12-14 | 1990-12-11 | Vorrichtung zur Messung des Kalziumgehaltes von Knochen |
| US07/628,619 US5204888A (en) | 1989-12-14 | 1990-12-14 | Bone mineral content measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1332279A JPH03191850A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | X線を用いた成分分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03191850A true JPH03191850A (ja) | 1991-08-21 |
Family
ID=18253173
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1332279A Pending JPH03191850A (ja) | 1989-12-14 | 1989-12-20 | X線を用いた成分分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03191850A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001190531A (ja) * | 1999-11-01 | 2001-07-17 | General Electric Co <Ge> | X線撮影用放射線フィルタを含む撮影システム |
| JP2006155925A (ja) * | 2004-11-25 | 2006-06-15 | Tokyo Metropolis | マルチx線の発生方法及びその装置 |
| JP2009000293A (ja) * | 2007-06-21 | 2009-01-08 | Toshiba Corp | デュアルエネルギシステム及びその画像収集方法 |
| JP2012055420A (ja) * | 2010-09-07 | 2012-03-22 | Shimadzu Corp | X線撮影装置 |
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