JPH03192915A - フリップフロップ - Google Patents
フリップフロップInfo
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- JPH03192915A JPH03192915A JP1333514A JP33351489A JPH03192915A JP H03192915 A JPH03192915 A JP H03192915A JP 1333514 A JP1333514 A JP 1333514A JP 33351489 A JP33351489 A JP 33351489A JP H03192915 A JPH03192915 A JP H03192915A
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- inverter
- output
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 101150079361 fet5 gene Proteins 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Shift Register Type Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はフリップフロ、ブに関し、特に0MO81相ス
タテイツクDフリツプフロツプに関する。
タテイツクDフリツプフロツプに関する。
この種のDフリップフロップはクロック信号の立上りお
よび立下りの一方のエツジが現れる直前のデータを同エ
ツジに同期して出力、保持するものである。
よび立下りの一方のエツジが現れる直前のデータを同エ
ツジに同期して出力、保持するものである。
第4図に従来例を示す、かかるDフリップフロップハイ
ンバータ100、及び0R−NANDゲート102及び
103と、AND−NORゲート104及び105で構
成されている。クロック信号Cが“L″ (ロウ)レベ
ルの時にデータDが0R−NANDゲート102及び1
03で構成されるマスタラッチに取込ま8%0R−NA
NDゲ−)102および103からは入力データDの逆
相および同相データがそhぞれ出力される。りロック信
号Cが“L″レベルら“H” (ハイ)レベルに変わる
と0R−NANDゲート102及び103の各ORゲー
トは閉じ、その時のデータを保持する。一方、AND−
NORゲート104及び105のそれぞれのANDゲー
トは開き、これらで構成されるスレーブラッチはマスク
ラッチの出力を取り入れる。AND−NORゲー)10
4は0R−NANDゲート102の出力の逆相をデータ
出力端子Qに出力する。かくして、クロック信号Cの立
上りエツジに同期して同エツジ直前の入力データをデー
タ出力端子Qに出力して保持する。
ンバータ100、及び0R−NANDゲート102及び
103と、AND−NORゲート104及び105で構
成されている。クロック信号Cが“L″ (ロウ)レベ
ルの時にデータDが0R−NANDゲート102及び1
03で構成されるマスタラッチに取込ま8%0R−NA
NDゲ−)102および103からは入力データDの逆
相および同相データがそhぞれ出力される。りロック信
号Cが“L″レベルら“H” (ハイ)レベルに変わる
と0R−NANDゲート102及び103の各ORゲー
トは閉じ、その時のデータを保持する。一方、AND−
NORゲート104及び105のそれぞれのANDゲー
トは開き、これらで構成されるスレーブラッチはマスク
ラッチの出力を取り入れる。AND−NORゲー)10
4は0R−NANDゲート102の出力の逆相をデータ
出力端子Qに出力する。かくして、クロック信号Cの立
上りエツジに同期して同エツジ直前の入力データをデー
タ出力端子Qに出力して保持する。
第5図は他の従来例の回路図である。インバータ110
はクロック信号Cの逆相クロック信号てを作る働きをし
ている。クロック信号Cが“L”レベルの時にNチャン
ネルFETIII及ヒPチャンネルFET 112によ
り構成されるトランスフアゲ−)123がオンし、Nチ
ャンネルFET115及びPチャンネルFET 116
により構成されるトランスファゲート124がオフする
ので、データDがインバータ113に入力され、インバ
ータ114から入力データDと同相データが出力される
。次にクロック信号CがH”レベルになると、トランス
ファゲート123はオフし、トランスファゲート124
はオンするので、インバータ114の出力をインバータ
113の入力に正帰還をかけてマスクラッチ部がデータ
を保持する。これと同時にNチャンネルFET117及
びPチャンネルFET118とで構成される。トランス
ファゲート125はオンして、NチャンネルFET 1
21及びPチャンネルFET123で構成されるトラン
スファゲート126はオフするのでインバータ114の
出力(マスタラッチの出力)がインバータ119に入力
1反転されインバータ120によってさらに反転されて
データ出力端子Qに出力される。クロック信号が“Lル
ベルになると、トランスファゲート125はオフし、ト
ランスファゲート126はオンするのでインバータ12
0の出力がインバータ119に正帰還されスレーブラッ
チ部が出力データQを保持する動作をする。かくして、
動作的には第4図のものと同一になる。
はクロック信号Cの逆相クロック信号てを作る働きをし
ている。クロック信号Cが“L”レベルの時にNチャン
ネルFETIII及ヒPチャンネルFET 112によ
り構成されるトランスフアゲ−)123がオンし、Nチ
ャンネルFET115及びPチャンネルFET 116
により構成されるトランスファゲート124がオフする
ので、データDがインバータ113に入力され、インバ
ータ114から入力データDと同相データが出力される
。次にクロック信号CがH”レベルになると、トランス
ファゲート123はオフし、トランスファゲート124
はオンするので、インバータ114の出力をインバータ
113の入力に正帰還をかけてマスクラッチ部がデータ
を保持する。これと同時にNチャンネルFET117及
びPチャンネルFET118とで構成される。トランス
ファゲート125はオンして、NチャンネルFET 1
21及びPチャンネルFET123で構成されるトラン
スファゲート126はオフするのでインバータ114の
出力(マスタラッチの出力)がインバータ119に入力
1反転されインバータ120によってさらに反転されて
データ出力端子Qに出力される。クロック信号が“Lル
ベルになると、トランスファゲート125はオフし、ト
ランスファゲート126はオンするのでインバータ12
0の出力がインバータ119に正帰還されスレーブラッ
チ部が出力データQを保持する動作をする。かくして、
動作的には第4図のものと同一になる。
ここでDフリップフロップを0M08回路で構成すると
、よく知られているように0M08回路では各論理ゲー
トについて入力信号数の2倍の素子(トランジスタ)が
必要である。したがって、第4図では、インバータ10
0に2素子、0R−NANDゲー)102及び103に
共に6素子、AND−NORゲート104及び105に
共に6素子それぞれ必要になるので計26素子を必要と
する。このためこの回路の占有面積が大きくなる欠点が
ある。さらに、データDの入力からデータQの出力まで
の遅延時間が大きいという欠点もある。すなわち、クロ
ック信号Cの立上りに対するデータDのセットアツプ時
間はインバータ100の遅延時間と、0R−NANDゲ
ート103の遅延時間及び102の遅延時間の和であり
、クロック信号Cの立上りからのデータQ出力までの遅
延時間はAND−NORゲート104及び105の遅延
時間の和で示される。0R−NANDゲートやAND−
NORゲートは直列になったMOSFETにより構成さ
れるので、スイッチングスピードがインバータに比較し
て2倍〜3倍遅くなる。
、よく知られているように0M08回路では各論理ゲー
トについて入力信号数の2倍の素子(トランジスタ)が
必要である。したがって、第4図では、インバータ10
0に2素子、0R−NANDゲー)102及び103に
共に6素子、AND−NORゲート104及び105に
共に6素子それぞれ必要になるので計26素子を必要と
する。このためこの回路の占有面積が大きくなる欠点が
ある。さらに、データDの入力からデータQの出力まで
の遅延時間が大きいという欠点もある。すなわち、クロ
ック信号Cの立上りに対するデータDのセットアツプ時
間はインバータ100の遅延時間と、0R−NANDゲ
ート103の遅延時間及び102の遅延時間の和であり
、クロック信号Cの立上りからのデータQ出力までの遅
延時間はAND−NORゲート104及び105の遅延
時間の和で示される。0R−NANDゲートやAND−
NORゲートは直列になったMOSFETにより構成さ
れるので、スイッチングスピードがインバータに比較し
て2倍〜3倍遅くなる。
つまりセットアツプ時間はインバータ遅延時間の約5〜
7倍であり、クロック信号C入力からデータQ出力まで
の出力遅延はインバータ遅延時間の約4倍になるために
高速に動作できない。
7倍であり、クロック信号C入力からデータQ出力まで
の出力遅延はインバータ遅延時間の約4倍になるために
高速に動作できない。
一方、第5図に示す回路では、構成素子数が18個であ
り、第4図に示す回路を構成するのに要する素子数に比
べて少なくできる。しかしながら、クロック信号Cの立
上り又は立下り時間が大きいとクロックCとその反転ク
ロックでの位相差が大きくなり、すべてのトランスフア
ゲ−)123乃至126における少なくとも一方のFE
Tが全て同時にオンし誤動作をもたらす場合がある。す
なわち、クロ、り信号Cの立上り時間が長く、“L″レ
ベルら“H”レベルへゆっくりト変ワるとすると、逆相
クロック信号ではインバータ110から生成されている
ので、クロ、りCの電圧レベルがインバータ110の論
理しきい値を越えるまではインバータ110の出力は反
転せずH”レベルを出力し続ける。したがって、クロッ
クCの電圧レベルがNチャンネルMOSFETのしきい
値電圧を越えインバータ110の論理しきい値に達する
までは、FETI 11,112゜115.117,1
21および122がオン状態となる。クロック信号の電
圧レベルがインバータ110の論理しきい値に達しその
出力でか″L″レヘレベ方へ変化してPチャンネルMO
8FETのしきい値電圧に達すると、FET116,1
18もオン状態となり、すべてのFETがオン状態とな
る。そして、クロックCが“H”レベル、反転クロック
でか“L”レベルとなると、トランスファゲート123
,126が閉じる。このように、クロックCの“L”レ
ベルから“H″レベルの変化時にすべてのトランスファ
ゲート123乃至126の少なくとも一方のFETが同
時にオンとなり、その状態となっている時間はクロック
Cの立上りが遅いほど長くなる。このため、例えばスレ
ーブラッチ部が“L”をラッチ(すなわち、データ出力
Qが“L”)L一方“H”のデータ入力りが供給されて
いる状態でクロックCがゆるやかに“H″レベル変化す
ると、マスタラッチ部からの“H″レベルスレーブラッ
チ部からの“L”レベルとが衝突することになり、その
結果、本来は”H″レベルのデータ出力Qが得られなけ
ればならないにもかかわらず、データ出力Qは“L”レ
ベルのままとなる場合がある。更に、クロック信号Cの
立上りからデータQの出力までの遅延時間は、インバー
タ110の遅延時間とトランスフアゲ−)126がオフ
するまでの遅延時間とインバータ119及び120の遅
延時間の和となるのでインバータの5倍の遅延時間を生
じる欠点がある。
り、第4図に示す回路を構成するのに要する素子数に比
べて少なくできる。しかしながら、クロック信号Cの立
上り又は立下り時間が大きいとクロックCとその反転ク
ロックでの位相差が大きくなり、すべてのトランスフア
ゲ−)123乃至126における少なくとも一方のFE
Tが全て同時にオンし誤動作をもたらす場合がある。す
なわち、クロ、り信号Cの立上り時間が長く、“L″レ
ベルら“H”レベルへゆっくりト変ワるとすると、逆相
クロック信号ではインバータ110から生成されている
ので、クロ、りCの電圧レベルがインバータ110の論
理しきい値を越えるまではインバータ110の出力は反
転せずH”レベルを出力し続ける。したがって、クロッ
クCの電圧レベルがNチャンネルMOSFETのしきい
値電圧を越えインバータ110の論理しきい値に達する
までは、FETI 11,112゜115.117,1
21および122がオン状態となる。クロック信号の電
圧レベルがインバータ110の論理しきい値に達しその
出力でか″L″レヘレベ方へ変化してPチャンネルMO
8FETのしきい値電圧に達すると、FET116,1
18もオン状態となり、すべてのFETがオン状態とな
る。そして、クロックCが“H”レベル、反転クロック
でか“L”レベルとなると、トランスファゲート123
,126が閉じる。このように、クロックCの“L”レ
ベルから“H″レベルの変化時にすべてのトランスファ
ゲート123乃至126の少なくとも一方のFETが同
時にオンとなり、その状態となっている時間はクロック
Cの立上りが遅いほど長くなる。このため、例えばスレ
ーブラッチ部が“L”をラッチ(すなわち、データ出力
Qが“L”)L一方“H”のデータ入力りが供給されて
いる状態でクロックCがゆるやかに“H″レベル変化す
ると、マスタラッチ部からの“H″レベルスレーブラッ
チ部からの“L”レベルとが衝突することになり、その
結果、本来は”H″レベルのデータ出力Qが得られなけ
ればならないにもかかわらず、データ出力Qは“L”レ
ベルのままとなる場合がある。更に、クロック信号Cの
立上りからデータQの出力までの遅延時間は、インバー
タ110の遅延時間とトランスフアゲ−)126がオフ
するまでの遅延時間とインバータ119及び120の遅
延時間の和となるのでインバータの5倍の遅延時間を生
じる欠点がある。
本発明の目的は、構成素子数をさらに減少させて占有面
積を減らし、かつデータ入力からデータ出力までに生じ
る遅延時間を短縮して高速化をはかったフリップフロッ
プを提供することにある。
積を減らし、かつデータ入力からデータ出力までに生じ
る遅延時間を短縮して高速化をはかったフリップフロッ
プを提供することにある。
本発明のフリップフロップは、データ入力端子と、デー
タ出力端子と、第1のインバータと、前記データ出力端
子に出力が接続された第2のインバータと、前記データ
入力端子と前記第1のインバータの入力との間に接続さ
れた一導電型の第1のMOSFETと、前記第1のイン
バータの出力と前記第2のインバータの入力との間に接
続された逆導電型の第2のMOSFETと、前記第1及
び第2のMOSFETのゲートにクロ、り信号を共通に
供給する手段と、前記第1のインバータの出力を反転さ
せて入力に帰還し駆動能力が前記第1のMOSFETよ
り小さい第3のインバータと、前記第2のインバータの
出力を反転させて入力に帰還し駆動能力が前記第2のM
OSFETより小さい第4のインバータとから構成され
る。
タ出力端子と、第1のインバータと、前記データ出力端
子に出力が接続された第2のインバータと、前記データ
入力端子と前記第1のインバータの入力との間に接続さ
れた一導電型の第1のMOSFETと、前記第1のイン
バータの出力と前記第2のインバータの入力との間に接
続された逆導電型の第2のMOSFETと、前記第1及
び第2のMOSFETのゲートにクロ、り信号を共通に
供給する手段と、前記第1のインバータの出力を反転さ
せて入力に帰還し駆動能力が前記第1のMOSFETよ
り小さい第3のインバータと、前記第2のインバータの
出力を反転させて入力に帰還し駆動能力が前記第2のM
OSFETより小さい第4のインバータとから構成され
る。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の回路図である。本フリップ
フロップは、トランスファゲートとしてのPチャンネル
MO3FETI、)ランスファゲートとしてのNチャン
ネルMOSFET5、および4つのCMOSインバータ
2,6.9.10ヲ有スル。MOSFETIはデータ入
力端子りとインバータ2の入力との間に接続されゲート
にクロック信号Cが供給される。インバータ2の出力は
インバータ9を介して入力に帰還されマスタラッチとな
る。MOSFET5はインバータ2の出力とインバータ
6の入力との間に接続されゲートにはクロック信号Cが
供給されている。インバータ6の出力はインバータlO
を介して入力に帰還されスレーブラッチとなる。インバ
ータ6の出力がデータ出力端子Qとして取り出されてい
る。
フロップは、トランスファゲートとしてのPチャンネル
MO3FETI、)ランスファゲートとしてのNチャン
ネルMOSFET5、および4つのCMOSインバータ
2,6.9.10ヲ有スル。MOSFETIはデータ入
力端子りとインバータ2の入力との間に接続されゲート
にクロック信号Cが供給される。インバータ2の出力は
インバータ9を介して入力に帰還されマスタラッチとな
る。MOSFET5はインバータ2の出力とインバータ
6の入力との間に接続されゲートにはクロック信号Cが
供給されている。インバータ6の出力はインバータlO
を介して入力に帰還されスレーブラッチとなる。インバ
ータ6の出力がデータ出力端子Qとして取り出されてい
る。
インバータ9はPチャンネルMO3FET3及びNチャ
ンネルMOSFET4で構成され、インバータ10はP
チャンネルMO8FET7及びNチャンネルMOSFE
T8で構成されている。図示しないが、インバータ2,
6も同様にPチャンネル及びNチャンネルMOSFET
で構成されている。
ンネルMOSFET4で構成され、インバータ10はP
チャンネルMO8FET7及びNチャンネルMOSFE
T8で構成されている。図示しないが、インバータ2,
6も同様にPチャンネル及びNチャンネルMOSFET
で構成されている。
MOSFETのチャンネル幅をW、チャンネル長をLと
すれば、MOSFET3のW/LはMO8FETIのW
/Lの約115に設定され、MOSFET4のW/Lは
MO3FETIのW/Lの約l/10に設定されている
。つまり、MOSFET3及び4ともチャンネル幅Wは
小さく、チャンネル長りは大きく設定されており、これ
らでなるインバータ9の駆動能力はFET1のそれより
も小さい。同様に、Pチャンネル型MO8FET7のW
/LはNチャンネル型MO8FET5の約1/3に設定
され、Nチャンネル型MO3FET8のW/LはNチャ
ンネル型MO8FET5の約1/3に設定され、Nチャ
ンネル型MO3FET8のW/LはN + −? 7ネ
ル型MO8FET5のW/Lの約115に設定されてい
る。つまり、MOSFET7及び8ともチャンネル幅W
を小さく、チャンネル長りを大きく設定されており、イ
ンバータlOの駆動能力はFET5のそれよりも小さい
。
すれば、MOSFET3のW/LはMO8FETIのW
/Lの約115に設定され、MOSFET4のW/Lは
MO3FETIのW/Lの約l/10に設定されている
。つまり、MOSFET3及び4ともチャンネル幅Wは
小さく、チャンネル長りは大きく設定されており、これ
らでなるインバータ9の駆動能力はFET1のそれより
も小さい。同様に、Pチャンネル型MO8FET7のW
/LはNチャンネル型MO8FET5の約1/3に設定
され、Nチャンネル型MO3FET8のW/LはNチャ
ンネル型MO8FET5の約1/3に設定され、Nチャ
ンネル型MO3FET8のW/LはN + −? 7ネ
ル型MO8FET5のW/Lの約115に設定されてい
る。つまり、MOSFET7及び8ともチャンネル幅W
を小さく、チャンネル長りを大きく設定されており、イ
ンバータlOの駆動能力はFET5のそれよりも小さい
。
次に、本フリップフロップの動作を第2図のタイミング
図を用いて説明する。時点t0でクロック信号Cが“L
″レベルあると、MOSFET 1はオンしており、M
OSFET5はオフしている。
図を用いて説明する。時点t0でクロック信号Cが“L
″レベルあると、MOSFET 1はオンしており、M
OSFET5はオフしている。
このとき、データ入力りが“H″レベルあると、MO8
FETIの出力は“H″レベルなり、インバータ2の出
力は“L”レベルとなる。インバータ9の出力は“H″
レベルなるからMO8FETIの出力はH”レベルを保
持する。このとき、インバータ6の入力は“L″レベル
したがって出力Qは“Hルベルになっているとする。
FETIの出力は“H″レベルなり、インバータ2の出
力は“L”レベルとなる。インバータ9の出力は“H″
レベルなるからMO8FETIの出力はH”レベルを保
持する。このとき、インバータ6の入力は“L″レベル
したがって出力Qは“Hルベルになっているとする。
時点t1でデータ人力りが“L″レベルなると、これに
応答してMO8FETIはインバータ20入力を下げよ
うとする。このときMOSFET3はオン状態となって
いるが、前述のように、MOSFET3のコンダクタン
スはMO8FETIのそれよりも小さいから、MO3F
ETIが″L″レベルにする力の方がMOSFET3が
“H″レベルする力よりも強い。したがって、インバー
タ2の入力は入力データDの“L” レベルの変化に応
答して低下する。インバータ20入力レベルがその論理
しきい値■1に達すると(時点t2)、その出力はH”
レベルに反転し、MOSFET3は完全にオフ状態、M
OSFET4は完全にオン状態になり、この結果MO8
FETIの出力は第2図のように急峻にGNDレベル(
“L”レベル)になって、インバータ2の出力は完全に
V。Dレベル(“H″レベルになる。ここで、インバー
タ2の論理しきい値v1は第2図に示すように電源電圧
■DDの近くに設定されている。すなわち、MO8FE
TIのスレッショールド電圧をvT4、バックバイアス
効果によるスレッショールド電圧の変化分をΔ■0.と
すると、MO8FETIはインバータ20入力を1Vt
p+Δv0,1のレベルまで低下させることができる。
応答してMO8FETIはインバータ20入力を下げよ
うとする。このときMOSFET3はオン状態となって
いるが、前述のように、MOSFET3のコンダクタン
スはMO8FETIのそれよりも小さいから、MO3F
ETIが″L″レベルにする力の方がMOSFET3が
“H″レベルする力よりも強い。したがって、インバー
タ2の入力は入力データDの“L” レベルの変化に応
答して低下する。インバータ20入力レベルがその論理
しきい値■1に達すると(時点t2)、その出力はH”
レベルに反転し、MOSFET3は完全にオフ状態、M
OSFET4は完全にオン状態になり、この結果MO8
FETIの出力は第2図のように急峻にGNDレベル(
“L”レベル)になって、インバータ2の出力は完全に
V。Dレベル(“H″レベルになる。ここで、インバー
タ2の論理しきい値v1は第2図に示すように電源電圧
■DDの近くに設定されている。すなわち、MO8FE
TIのスレッショールド電圧をvT4、バックバイアス
効果によるスレッショールド電圧の変化分をΔ■0.と
すると、MO8FETIはインバータ20入力を1Vt
p+Δv0,1のレベルまで低下させることができる。
したがって、原理的にはインバータ2の論理しきい値電
圧V1をそのレベル以上に設定しておけばインバータ2
はMOSFET1による入力レベルの低下によってその
出力を“H″レベル反転することができる。しかしなが
ら、MO8FETIによるインバータ20入力レベル低
下スピードは上記1v1.十ΔVTPレベルに近づくに
従って非常に遅くなる。このため、インバータ2の論理
しきい値をそのレベル付近に設定すると動作スピードが
かなり低下する。
圧V1をそのレベル以上に設定しておけばインバータ2
はMOSFET1による入力レベルの低下によってその
出力を“H″レベル反転することができる。しかしなが
ら、MO8FETIによるインバータ20入力レベル低
下スピードは上記1v1.十ΔVTPレベルに近づくに
従って非常に遅くなる。このため、インバータ2の論理
しきい値をそのレベル付近に設定すると動作スピードが
かなり低下する。
それ故に、インバータ2の論理しきい値V1を電源電圧
vDt+近に設定し、動作スピードの低下を防止してい
る。具体的には、IVTP+ΔVtplは電源電圧vD
Dが5vのとき2v程度となるので、vlとしては電源
電圧5vの70%程度、すなわち約3.5vに設定して
いる。
vDt+近に設定し、動作スピードの低下を防止してい
る。具体的には、IVTP+ΔVtplは電源電圧vD
Dが5vのとき2v程度となるので、vlとしては電源
電圧5vの70%程度、すなわち約3.5vに設定して
いる。
時点t、でクロック信号Cが“H”レベルになると、M
O8FETIはオフ状態になる。インバータ2とインバ
ータ9で入力データを保持しているから、インバータ2
の出力は“H″レベルままである。また、この時点t、
でMOSFET5はオン状態になり、インバータ6の入
力を上げようとする。このときMOSFET8はオン状
態になっているが、前述のようにMOSFET8のコン
ダクタンスはMOSFET5のそれよりも小さいからM
OSFET5が″H″レベルにする力の方がMOSFE
T8が“L”レベルにする力よりも強い、したがって、
インバータ6の入力はMOSFET5によって上昇する
。
O8FETIはオフ状態になる。インバータ2とインバ
ータ9で入力データを保持しているから、インバータ2
の出力は“H″レベルままである。また、この時点t、
でMOSFET5はオン状態になり、インバータ6の入
力を上げようとする。このときMOSFET8はオン状
態になっているが、前述のようにMOSFET8のコン
ダクタンスはMOSFET5のそれよりも小さいからM
OSFET5が″H″レベルにする力の方がMOSFE
T8が“L”レベルにする力よりも強い、したがって、
インバータ6の入力はMOSFET5によって上昇する
。
インバータ6の入力レベルがインバータ6の論理しきい
値vtを越えると(時点14)その出力は“H” レベ
ルに反転する。この結果、MOSFET8はオフ、MO
SFET7はオン状態になって、インバータ6の入力は
第2図のように急峻にvDDレベル(“H”レベル)に
なり、その出力は完全にGNDレベル(“L” レベル
)になる。
値vtを越えると(時点14)その出力は“H” レベ
ルに反転する。この結果、MOSFET8はオフ、MO
SFET7はオン状態になって、インバータ6の入力は
第2図のように急峻にvDDレベル(“H”レベル)に
なり、その出力は完全にGNDレベル(“L” レベル
)になる。
ここで、インバータ6の論理しきい値v1は第2図のよ
うにGNDレベルの近に設定されている。
うにGNDレベルの近に設定されている。
すなわち、MOSFET5のスレッショールド電圧をv
78、バックバイアス効果によるその変化分をΔVt’
sとすると、MOSFET5はVt+t+ (VrN
+ΔVTN)の電圧レベルまでインバータ60入力を増
大させることができるが、その増大スピードはインバー
タ6の入力がその電圧レベルに近づくほど急激に低下す
る。それ故に、インバータ6の論理しきい値V2をGN
Dレベルの近くに設定して、動作スピードの低下を防止
している。具体的には、5vの電源電圧v1.Dに対シ
(V TN + ΔV TN )は約2Vであるので、
■、としてはvDDの約30%、すなわち1.5v程度
に設定している。
78、バックバイアス効果によるその変化分をΔVt’
sとすると、MOSFET5はVt+t+ (VrN
+ΔVTN)の電圧レベルまでインバータ60入力を増
大させることができるが、その増大スピードはインバー
タ6の入力がその電圧レベルに近づくほど急激に低下す
る。それ故に、インバータ6の論理しきい値V2をGN
Dレベルの近くに設定して、動作スピードの低下を防止
している。具体的には、5vの電源電圧v1.Dに対シ
(V TN + ΔV TN )は約2Vであるので、
■、としてはvDDの約30%、すなわち1.5v程度
に設定している。
時点tsでデータ人力りが“H″レベルなっても、MO
8FETlはオフ状態のままなので、MO8FETIの
出力は変化しない。
8FETlはオフ状態のままなので、MO8FETIの
出力は変化しない。
時点t、でクロック信号Cが“L″レベルなると、MO
SFET5はオフ状態になるが、インバータ6と9によ
り“H″レベル出力データQは保持され続ける。一方、
MO8FETIはオン状態になる。このとき、データ入
力りは″H″レベルであるので、MO8FETIはイン
バータ2の入力を上げようとする。MOSFET4はオ
ン状態になっているが、前述のように、MOSFET4
のコンダクタンスはMO8FETIのそれよりも小さい
からMO8FETIが“H”レベルにする力の方がMO
SFET4が“L”レベルにする力よりも強い。したが
って、インバータ2の入力はMO8FETIによって“
H”レベルに向って上昇される。インバータ20入力レ
ベルがインバータ2の論理しきい値v1を越えると、そ
の出力は“L″レベル反転する。この結果MO3FET
4は完全にオン状態になって、MO8FETlの出力は
■DDレベル(“H″レベルになり、インバータ2の出
力は完全にGNDレベル(L”レベル)になる。MO8
FETIはそのゲート。
SFET5はオフ状態になるが、インバータ6と9によ
り“H″レベル出力データQは保持され続ける。一方、
MO8FETIはオン状態になる。このとき、データ入
力りは″H″レベルであるので、MO8FETIはイン
バータ2の入力を上げようとする。MOSFET4はオ
ン状態になっているが、前述のように、MOSFET4
のコンダクタンスはMO8FETIのそれよりも小さい
からMO8FETIが“H”レベルにする力の方がMO
SFET4が“L”レベルにする力よりも強い。したが
って、インバータ2の入力はMO8FETIによって“
H”レベルに向って上昇される。インバータ20入力レ
ベルがインバータ2の論理しきい値v1を越えると、そ
の出力は“L″レベル反転する。この結果MO3FET
4は完全にオン状態になって、MO8FETlの出力は
■DDレベル(“H″レベルになり、インバータ2の出
力は完全にGNDレベル(L”レベル)になる。MO8
FETIはそのゲート。
ソースがそれぞれ“L″ ″H″であり、また比較的
大きなコンダクタンスであるから、充分な駆動能力をも
ってインバータ2の入力を″°H″レベルに反転させる
。
大きなコンダクタンスであるから、充分な駆動能力をも
ってインバータ2の入力を″°H″レベルに反転させる
。
時点t、でクロック信号Cが“Hn レベルになるとM
O8FETIはオフ状態になるが、インバータ2と9で
°゛H”の入力データを保持している。一方、MOSF
ET5はオンとなり、インバータ60入力を″L″レベ
ルに下げようとする。
O8FETIはオフ状態になるが、インバータ2と9で
°゛H”の入力データを保持している。一方、MOSF
ET5はオンとなり、インバータ60入力を″L″レベ
ルに下げようとする。
MOSFET7はオン状態になっているが、前述のよう
に、MOSFET7のコンダクタンスはMOSFETの
5のそれよりも小さいからMOSFET5が“L”レベ
ルにする力の方がMOSFET7が“H”レベルにする
力よりも強い。したがって、インバータ6の入力は“L
”レベルに向って低下する。インバータ60入力レベル
がインバータの論理しきい値v2を越えると、その出力
はH”レベルに反転する。この結果MO8FET8は完
全にオン状態になって、MOSFET5の出力は第2図
のように急峻にGNDレベル(″Lルベル)になって、
インバータ6の出力は完全にV□レベル(“H”レベル
)になる0M08FET5はそのゲート、ソースが“H
”“L”であり、大きなコンダクタンスをもつので、充
分な駆動能力でインバータ60入力を″L″レベルにす
る。
に、MOSFET7のコンダクタンスはMOSFETの
5のそれよりも小さいからMOSFET5が“L”レベ
ルにする力の方がMOSFET7が“H”レベルにする
力よりも強い。したがって、インバータ6の入力は“L
”レベルに向って低下する。インバータ60入力レベル
がインバータの論理しきい値v2を越えると、その出力
はH”レベルに反転する。この結果MO8FET8は完
全にオン状態になって、MOSFET5の出力は第2図
のように急峻にGNDレベル(″Lルベル)になって、
インバータ6の出力は完全にV□レベル(“H”レベル
)になる0M08FET5はそのゲート、ソースが“H
”“L”であり、大きなコンダクタンスをもつので、充
分な駆動能力でインバータ60入力を″L″レベルにす
る。
時点t、でクロック信号Cが“L″レベルなると、MO
SFET5はオフ状態になり、インバータ2とlOで出
力データを保持する。
SFET5はオフ状態になり、インバータ2とlOで出
力データを保持する。
このように本実施例によるフリップフロップは1相クロ
ツクCの立上りに同期して入力データを出力し保持する
0MO8構成のDフリップフロップであり、わずか10
素子で構成されている。しかも、クロック信号Cの立上
りにもとづいてデータのセットアツプ時間は、MOSF
ET1の遅延時間とインバータ2の遅延時間の和である
。またクロック信号Cの立上りからデータ出力までの遅
延時間は、MOSFET5の遅延時間とインバータの遅
延時間の和である。したがって、クロック信号Cの立上
りからデータQ出力までの遅延時間はインバータの遅延
時間の2.5倍程になり、高速に動作する。また、クロ
ックCの立上り又は立下りがゆるやかに変化してMO8
FETI、5が同時にオンとなっても、前述したFET
1.5とインバータ9,10の駆動能力の関係から誤動
作は生じない。
ツクCの立上りに同期して入力データを出力し保持する
0MO8構成のDフリップフロップであり、わずか10
素子で構成されている。しかも、クロック信号Cの立上
りにもとづいてデータのセットアツプ時間は、MOSF
ET1の遅延時間とインバータ2の遅延時間の和である
。またクロック信号Cの立上りからデータ出力までの遅
延時間は、MOSFET5の遅延時間とインバータの遅
延時間の和である。したがって、クロック信号Cの立上
りからデータQ出力までの遅延時間はインバータの遅延
時間の2.5倍程になり、高速に動作する。また、クロ
ックCの立上り又は立下りがゆるやかに変化してMO8
FETI、5が同時にオンとなっても、前述したFET
1.5とインバータ9,10の駆動能力の関係から誤動
作は生じない。
第3図は本発明の他の実施例を示す回路図である。本フ
リップフロップはクロック信号Cの立下りに同期して入
力データを出力し保持する。すなわち、第1図に示した
一実施例の回路のマスクラッチとスレーブラッチをとり
かえた構成になっている。
リップフロップはクロック信号Cの立下りに同期して入
力データを出力し保持する。すなわち、第1図に示した
一実施例の回路のマスクラッチとスレーブラッチをとり
かえた構成になっている。
クロック信号Cの立下りエツジの現れる直前の入力デー
タDをとりこんで立下りエツジの現れる時点から一周期
間データQとして出力する動作を行いスタティックにデ
ータを保持するDフリップフロップである。一実施例の
第1図と同じ<10素子の0MO3で構成することがで
きる。なお、各トランジスタのコンダクタンスおよびイ
ンバータの論理しきい値は上記動作において若干変更す
ることができる。
タDをとりこんで立下りエツジの現れる時点から一周期
間データQとして出力する動作を行いスタティックにデ
ータを保持するDフリップフロップである。一実施例の
第1図と同じ<10素子の0MO3で構成することがで
きる。なお、各トランジスタのコンダクタンスおよびイ
ンバータの論理しきい値は上記動作において若干変更す
ることができる。
以上のとおり、本発明は、第1のインバータとその入力
および出力に出力および入力がそれぞれ接続された第2
のインバータを有する回路を2組設け、データ入力端子
と一方の回路との間および二組の回路間にそれぞれ互い
に異なる導電型のMOSFETを接続してこれらのゲー
トにクロックを共通に供給しているので、従来例に比し
て構成素子が削減され、かつデータ入力からデータ出力
までの遅延時間を約2倍に短くすることができる。
および出力に出力および入力がそれぞれ接続された第2
のインバータを有する回路を2組設け、データ入力端子
と一方の回路との間および二組の回路間にそれぞれ互い
に異なる導電型のMOSFETを接続してこれらのゲー
トにクロックを共通に供給しているので、従来例に比し
て構成素子が削減され、かつデータ入力からデータ出力
までの遅延時間を約2倍に短くすることができる。
素子数が少ないことは配線に要する面積を小さくできる
ため半導体チップ上で占有する面積を従来例に対し70
〜55%も削減可能とすることができる。
ため半導体チップ上で占有する面積を従来例に対し70
〜55%も削減可能とすることができる。
第1図は本発明の一実施例の回路図、第2図は第1図の
動作を示すタイミング図、第3図は本発明の他の実施例
の回路図、第4図は従来例の回路図、第5図は他の従来
例の回路図である。 l・・・・・・Pチャンネル型MO8FET、5・・・
・・・Nチャンネル型MO8FET、2,6,9.10
・・・・・CMOSインバータ。
動作を示すタイミング図、第3図は本発明の他の実施例
の回路図、第4図は従来例の回路図、第5図は他の従来
例の回路図である。 l・・・・・・Pチャンネル型MO8FET、5・・・
・・・Nチャンネル型MO8FET、2,6,9.10
・・・・・CMOSインバータ。
Claims (1)
- データ入力端子と、データ出力端子と、第1のインバー
タと、前記データ出力端子に出力が接続された第2のイ
ンバータと、前記データ入力端子と前記第1のインバー
タの入力との間に接続された一導電型の第1のMOSF
ETと、前記第1のインバータの出力と前記第2のイン
バータの入力との間に接続された逆導電型の第2のMO
SFETと、前記第1および第2のMOSFETのゲー
トにクロック信号を共通に供給する手段と、前記第1の
インバータの出力を反転させて入力に帰還し駆動能力が
前記第1のMOSFETより小さい第3のインバータと
、前記第2のインバータの出力を反転させて入力に帰還
し駆動能力が前記第2のMOSFETより小さい第4の
インバータとを有することを特徴とするフリップフロッ
プ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1333514A JPH03192915A (ja) | 1989-12-22 | 1989-12-22 | フリップフロップ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1333514A JPH03192915A (ja) | 1989-12-22 | 1989-12-22 | フリップフロップ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03192915A true JPH03192915A (ja) | 1991-08-22 |
Family
ID=18266895
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1333514A Pending JPH03192915A (ja) | 1989-12-22 | 1989-12-22 | フリップフロップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03192915A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997049183A1 (de) * | 1996-06-19 | 1997-12-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Synchrones schaltwerk mit transparent schaltbaren signalspeichern |
| JP2010220249A (ja) * | 2003-07-31 | 2010-09-30 | Qualcomm Inc | 論理回路におけるクロック分配のための遅延マッチング |
| JP2013055653A (ja) * | 2009-12-18 | 2013-03-21 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
| JP5182291B2 (ja) * | 2007-11-12 | 2013-04-17 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体装置 |
| US8873308B2 (en) | 2012-06-29 | 2014-10-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Signal processing circuit |
| US8923076B2 (en) | 2011-03-31 | 2014-12-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Memory circuit, memory unit, and signal processing circuit |
| US8994400B2 (en) | 2009-12-11 | 2015-03-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Nonvolatile latch circuit and logic circuit, and semiconductor device using the same |
| US9024669B2 (en) | 2011-01-05 | 2015-05-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Storage element, storage device, and signal processing circuit |
| US9058892B2 (en) | 2012-03-14 | 2015-06-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and shift register |
| US9608005B2 (en) | 2013-08-19 | 2017-03-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Memory circuit including oxide semiconductor devices |
| US10090333B2 (en) | 2011-05-19 | 2018-10-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Arithmetic circuit and method of driving the same |
-
1989
- 1989-12-22 JP JP1333514A patent/JPH03192915A/ja active Pending
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997049183A1 (de) * | 1996-06-19 | 1997-12-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Synchrones schaltwerk mit transparent schaltbaren signalspeichern |
| JP2010220249A (ja) * | 2003-07-31 | 2010-09-30 | Qualcomm Inc | 論理回路におけるクロック分配のための遅延マッチング |
| US9287857B2 (en) | 2007-11-12 | 2016-03-15 | Socionext Inc. | Semiconductor device |
| JP5182291B2 (ja) * | 2007-11-12 | 2013-04-17 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体装置 |
| US8816739B2 (en) | 2007-11-12 | 2014-08-26 | Fujitsu Semiconductor Limited | Semiconductor device |
| US10382016B2 (en) | 2009-12-11 | 2019-08-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Nonvolatile latch circuit and logic circuit, and semiconductor device using the same |
| US8994400B2 (en) | 2009-12-11 | 2015-03-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Nonvolatile latch circuit and logic circuit, and semiconductor device using the same |
| JP2013055653A (ja) * | 2009-12-18 | 2013-03-21 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
| US9692421B2 (en) | 2009-12-18 | 2017-06-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Non-volatile latch circuit and logic circuit, and semiconductor device using the same |
| US9024669B2 (en) | 2011-01-05 | 2015-05-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Storage element, storage device, and signal processing circuit |
| US9330759B2 (en) | 2011-01-05 | 2016-05-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Storage element, storage device, and signal processing circuit |
| US9818749B2 (en) | 2011-01-05 | 2017-11-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Storage element, storage device, and signal processing circuit |
| US8923076B2 (en) | 2011-03-31 | 2014-12-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Memory circuit, memory unit, and signal processing circuit |
| US10090333B2 (en) | 2011-05-19 | 2018-10-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Arithmetic circuit and method of driving the same |
| US9058892B2 (en) | 2012-03-14 | 2015-06-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and shift register |
| US8873308B2 (en) | 2012-06-29 | 2014-10-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Signal processing circuit |
| US9608005B2 (en) | 2013-08-19 | 2017-03-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Memory circuit including oxide semiconductor devices |
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