JPH03195938A - 光学機器アライメント計測装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は人工衛星搭載用光学機器の室温時と低温時の変
化を地上において計測し、光学機器のアライメント調整
を行うための光学機器アライメント計測装置に関する。

〔従来の技術〕

従来、この種の光学機器アライメント計測装置は、室温
環境で光学機器のアライメントを調整し、その後低温用
アライメント検出器を取り付けて、スペースチャンバー
内で低温環境での光学機器のアライメント調整を行なっ
ていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の光学機器アライメト計測装置は、室温環
境と低温環境で光学機器のコンフィギユレーションを変
えるために、温度変化に供なう光学機器アライメント変
動量を正確に測定することが困難となる欠点がある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の光学機器アライメント計測装置は、人工衛星に
搭載される光学機器の室温から低温時におけるアライメ
ント調整を行うための光学機器アライメント計測１装置
において、室温から低温度まで作動する赤外半導体検出
器を前記光学機器に取り付けて、所定の温度変化と気圧
変化を与えるテスト槽内における前記光学機器の温度変
動によるアライメント変化量を測定する。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。

第１図は本発明の一実施例の構成図である。第１図の実
施例は、光学機器に対して光を照射する光源１、光軸を
設定するスリット２、赤外半導体検出器３、人工衛星本
体内の光検出装置である光学機器４、赤外半導体検出器
３の計測器５、温度可変装置、真空排気弁７から構成さ
れる。本実施例の動作は室温から低温度領域で作動可能
な赤外半導体検出器３を光学機器４に固定し、温度可変
装置６の内部を排気弁７を通して真空に排気した後、排
気弁７を閉じる。この状態で、第１段階として温度可変
装置６により室温環境温度に設定し、光源１からの光を
スリット２を通して赤外半導体検出器３で受光し、室温
時のアライメントを測定する０次いで温度可変装置６に
より低温環境を作り、同様な測定を行なう、この室温と
低温時におけるアライメントの変動量が計測器４により
第２図の特性図に示すように、△ｊで評価できる。

〔発明の効果〕 以上説明したように、本発明は室温がら低温度領域で作
動する赤外半導体検出器を用いることにより、室温環境
及び低温環境において光学機器のコンフィギユレーショ
ンを変化させることなく、アライメントの温度ヒステリ
シスが測定できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成図、第２図は本実施例
を適用して計測した特性図である。 １・・・光源、２・・・スリット、３・・・赤外半導体
検出器、４・・・光学機器、５・・・計測器、６・・・
温度可変装置７・・・真空排気弁。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 人工衛星に搭載される光学機器の室温から低温時におけ
   るアライメント調整を行うための光学機器アライメント
   計測装置において、室温から低温度まで作動する赤外半
   導体検出器を前記光学機器に取り付けて、所定の温度変
   化と気圧変化を与えるテスト槽内における前記光学機器
   の温度変動によるアライメント変化量を測定することを
   特徴とする光学機器アライメント計測装置。