JPH03203830A - 光記録媒体及び光記録媒体の寿命検知方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、・寿命検知用の基準面が設けられた光記録媒
体、及びこの光記録媒体を用いた寿命検知方法に関する
。

〔従来の技術〕

近年、光学的手段もしくは光学的手段と磁気的手段との
組み合わせ等によって情報を記録する光記録媒体が実用
化され、紙による情報記録にとって変わろうとしている
。

光記録媒体は、記録密度が桁違いに大きい等の点で紙に
勝るが、情報の長期保存性の点で紙よりも信頼性がない
。例えば、和紙は保存条件を良好に保てば数百年〜１０
００年以上の長期にわたって情報を保存することができ
るが、光記録媒体では現在のところ数十年のオーダーで
しか情報を保存することができないとされている。

従って、永久保存の必要がある情報をも安心して記録で
きるようにするためには、光記録媒体の寿命を完全に管
理し、寿命がつきる以前に新たな光記録媒体に情報を移
し換える等の手段がとれなくてはならない。

従来は、■例えば特開昭６３−２２０４８５号公報に記
載されているように、光記録媒体の一部に製造年月日を
記録し、ユーザーにメーカーが定めた保証期間内で使用
するよう求める方法、■例えば特開昭６１−４２７３５
号公報に記載されているように、光記録媒体より読み出
される信号の振幅を検出し、信号振幅の大きさから当該
光記録媒体の寿命を判断する方法、■記録層の光の反射
率を測定し、反射率の低下の程度より当該光記録媒体の
寿命を判断する方法などが提案されている。

Ｃ発明が解決しようとする課題〕 然るに、前記■の方法は個々の情報記録媒体の寿命を直
接測定す、るものではないので、信頼性に乏しい。

すなわち、光記録媒体の保証期間は、通常の使用環境条
件よりも格段に厳しい環境条件下に光記録媒体を放置し
て記録層などの劣化の程度を測定し、そのデータから通
常の使用環境条件下における寿命を推定し、それに安全
率を見込んで定められる。ところが、光記録媒体の寿命
は使用される環境条件によって著しい差違を生じるから
、使用環境条件によっては寿命が保証期間ぎりぎりまで
低下するものもあるし、反対に保証期間よりもがなり長
い寿命を保持できるものもある。

かように、保証期間は、光記録媒体の寿命を判断する厳
密な基準ではないので、寿命が保証期間ぎりぎりまでし
かないにもかかわらず保証期間を超えて使用されてしま
い、貴重な情報を消失してしまったり、反対に、保存状
態が良好で保証期間よりも十分に長い寿命を有するにも
かかわらず、保証期間ごとに情報を移し換えざるを得ず
、光記録媒体や情報を移し換えるための手間が無駄にな
るといった不都合を生じる。

また、前記■の方法は、個々の光記録媒体について寿命
を検知しようとした点で■の方法よりも信頼性の高い寿
命管理を行うことができるが、再生信号の振幅は光記録
媒体の寿命を代表するパラメータではなく、これによっ
て光記録媒体の寿命を正確に判断することは難しい。

例えば、再生信号の振幅は低下しなくてもノイズが増加
することによって情報の再生が不可能になることもある
のであって、再生信号の振幅を測定するだけでは信頼性
の高い寿命評価を行うことができない。

前記■の方法は、例えばドライブに備えられたレーザー
光源の出力低下、あるいは光記録媒体からの反射光強度
を検出するディテクタの感度劣化、それにレーザー光源
から光記録媒体に至る光学系の光軸のずれなど、ドライ
ブ側の劣化に起因する反射率の低下と光記録媒体自体の
劣化に起因する反射率の低下とを区別することができな
いので、やはり光記録媒体の寿命を正確に判断すること
が難しい。

本発明は、前記した従来技術の不備を解消するためにな
されたものであって、その第１の目的は、光記録媒体自
体の劣化に起因する反射率の低下を検知可能な手段を備
えた光記録媒体を提供することにあり、またその第２の
目的は、そのような光記録媒体を用いた寿命検知方法を
提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、前記第１の目的を達成するため、基板のプリ
フォーマットパターン形成面に少なくとも記録層を含む
薄膜層が形成された光記録媒体において、前記基板のプ
リフォーマットパターン形成面の一部に、前記記録層と
は光の反射率、透過率、吸収率、カー回転角、複屈折率
など光学的性質の劣化速度が異なる基準面を形成した。

また、前記第１の目的を達成するための他の手段として
、基板のプリフォーマットパターン形成面に少なくとも
記録層を含む薄膜層が形成された光記録媒体において、
前記基板のプリフォーマットパターン形成面の一部に前
記記録層とは光の反射率、透過率−１吸収率、カー回転
角、複屈折率など光学的性質の劣化速度が異なる基準面
を形成すると共に、前記記録層の形成領域内に当該媒体
の製造時もしくは当該媒体の使用開始時における前記記
録層及び基準面の光学的性質が記録されたメインテナン
ス領域を設けた。

一方、前記第２の目的を達成するため、基板のプリフォ
ーマットパターン形成面に少なくとも記録層を含む薄膜
層と前記記録層とは光の反射率、透過率、吸収率、カー
回転角、複屈折率など光学的性質の劣化速度が異なる基
準面とを設け、前記記録層の形成領域内に当該媒体の製
造時もしくは当該媒体の使用開始時における前記記録層
及び基準面の光学的性質が記録されたメインテナンス領
域を設けた光記録媒体をドライブに装着し、前記記録層
の光学的性質と前記基準面の光学的性質とを測定して前
記メインテナンス領域に記録された初期値からの変化率
を求め、前記記録層の光学的性質の低下に比較して前記
基準面の光学的性質が低下していない場合には媒体自体
の劣化と判断し、前記記録層の光学的性質及び前記基準
面の光学的性質が共に同一比率で低下した場合にはドラ
イブ側の劣化であると判断するようにした。

また、前記第２の目的を達成するための他の手段として
、基板のプリフォーマットパターン形成面に少なくとも
記録層を含む薄腹層と前記記録層とは光の反射率、透過
率、吸収率、カー回転角、複屈折率など光学的性質の劣
化速度が異なる基準面とが設けられた光記録媒体をドラ
イブに装着し、前記記録層の光学的性質と前記基準面の
光学的性質とを測定してドライブ側のメモリに格納され
た基準データからの変化率を求め、前記記録層の光学的
性質の低下に比較して前記基準面の光学的性質が低下し
ていない場合には媒体自体の劣化と判断し、前記記録層
の光学的性質及び前記基準面の光学的性質が共に同一比
率で低下した場合にはドライブ側の劣化であると判断す
るようにした。

〔作用〕

光記録媒体の記録層は、腐食される以前の状態において
は金属光沢を有し高い光の反射率をもつが、腐食される
と光の反射率などの光学的性質が低下し、Ｓ／Ｎ比の低
下によってデータの誤り率が高くなる。記録層の腐食は
ある時点から急激に進行し、遂にはデータ誤り率が許容
限度以上に高くなって正常な情報の記ｉ／再生を行えな
くなる。

従って、記録層の光学的性質を測定することによって、
記録層の寿命を判断することができる。

一方、記録層の光学的性質のみならず、当該記録層に比
べて光学的性質の劣化速度が異なる基準面の光学的性質
を測定し、求められた値と予め記録された初期値とを比
較すると、記録層の光学的性質の低下の有無、及び記録
層の光学的性質の低下が光学系の劣化によるものである
か否かの判断を行うことができるので、信頼性の高い寿
命検知を行うことができる。

かように、本発明の光記録媒体及び寿命検知方法は、個
々の光記録媒体について媒体自体の劣化に起因する光学
的性質の低下を測定するようにしたので、信頼性の高い
寿命検知を行うことができ、貴重な情報を消失してしま
ったり、光記録媒体及び情報を移し換えるための手間を
無駄にすることがない。

〔実施例〕

まず、本発明に係る光記録媒体の一例を第１図及び第２
図によって説明する。

第１図は光記録媒体の平面図、第２図は第１図に示した
Ａ部の拡大断面図であって、１は光記録媒体、２は基板
、３は基板２の片面に形成されたプリフォーマットパタ
ーン、４は基板２のプリフォーマットパターン形成面に
被着された記録層、５はプリフォーマットパターン３及
び記録層４を有する部分に形成される記録領域、６は記
録領域５の一部に形成されたメインテナンス領域、７は
基板２のプリフォーマットパターン形成面の一部に形成
された基準面を示している。

基板２は、透過形の光記録媒体についてはガラスや透明
なプラスチックにて形成され、反射形の光記録媒体につ
いては前記の如き透明体のほか、不透明体にて形成する
こともできる。

プリフォーマットパターン３は、例えばアドレスビット
列や同期ビット列など、情報の記Ｒ／再生に必要なプリ
ピット列と、レーザービームスポットを記録トラックに
沿って案内する案内溝とがら成り、基板２の片面に凹凸
状に形成される。

記録層４は、少なくともヒートモード記録材料から成る
Ｖ！録膜を含んで構成される。すなわち、第２図では記
録層４が単層で表されているが、必要に応じて前記記録
膜と他の薄膜との積層体によって形成することもできる
。記録層４を形成するヒートモード記録材料としては、
例えば孔あけ形のヒートモード記録材料のように１度か
ぎり情報の追記が可能ないわゆるライトワンス形のもの
を用いることもできるし、光磁気形もしくは相変化形の
ヒートモード記録材料のように何度でも情報の書き換え
が可能ないわゆるイレーザブル形のものを用いることも
できる。

基準面７は、前記記録層４とは光の反射率、透過率、吸
収率、カー回転角、複屈折率など光学的性質の劣化速度
が異なる材料によって形成される。

光学的性質の劣化速度が前記記録層４と異なる材料であ
れば任意の材料をもって形成することができるが、化学
的な安定性が高いことから、アルミニウム、あるいは金
、銀、プラチナなどの貴金属が特に好適である。

前記基準面７は、少なくとも光スポットを照射可能な大
きさに形成すれば足りるが、光スポットの位置付けを容
易にするため、第１図に示すようにリング状に形成する
ことが特に好ましい。

記録領域５の一部に形成されたメインテナンス領域６に
は、当該媒体の製造時もしくは当該媒体の使用開始時に
おける前記記録層４及び基準面７の光学的性質（初期値
）が記録される。

以下、光記録媒体の光学的性質として光の反射率を測定
する場合を例にとって、前記光記録媒体の寿命を検知す
るドライブと、このドライブを用いた寿命検知方法につ
いて説明する。

第３図は本発明に係るドライブの一例を示すブロック図
であって、光源１１、光源１１がら出射された光ビーム
を前記光記録媒体の膜面に合焦する対物レンズ１２、光
記録媒体１がらの反射光量を検出するディテクタ１３、
光記録媒体１がらの反射光をディテクタ１３に導くビー
ムスプリッタ１４から成る光学ヘッド１５と、光学ヘッ
ド１５を移送して前記対物レンズ１２を光記録媒体１の
記録層３または基準反射面６に位置付けする移送装置１
６と、前記ディテクタ１３の出力信号をデジタル化する
Ａ／Ｄ変換器１７と、記録層４及び基準反射面７から検
出された反射率データを格納するデータメモリ１８と、
メインテナンス領域６から読み出された初期データを格
納する初期データメモリ１９と、前記両メモリ１８．１
９に格納されたデータより反射率の変化を計算する演算
部２０と、記録層４に反射率の低下を生じたときユーザ
ーに警報を発する警報器２１とから成る。

第４図は二のドライブの動作手順を示すフローチャート
であって、ドライブに備えられたプログラムメモリ（図
示せず）に格納されている。

まず、手順Ｓ−１において光記録媒体１がドライブにコ
ーディングされると、光学ヘッド１５に備えられたオー
トフォーカスサーボ機構（図示せず）が動作を開始する
（手順５−２）。

次いで、移送装置１６が駆動され、対物レンズ１２が記
録層４のランド部、すなわちプリフォーマットパターン
３が形成されていない部分に位置付けされて（手順５−
３）、腋部の反射率が測定される（手順５−４）。

記録層４の反射率を測定した後、再度移送装置１６が駆
動されて対物レンズ１２が基準面７のランド部に位置付
けされ（手順５−５）、腋部の反射率が測定される（手
順５−６）。

しかる後、対物レンズ１２がメインテナンス領域１６に
位置付けされ、腋部より記録層４及び基準面７の反射率
の初期値が読み出される（手順５−７）。

前記した記録層４の反射率及び基準面７の反射率に関す
るデータは前記データメモリ１８に格納され、メインテ
ナンス領域６から読み出された初期データは初期データ
メモリ１９に格納される。

次いで、演算部２０によって、初期データに対する記録
層４の反射率及び基準面７の反射率の変化率が計算され
た後（手順５−８）　、記録層４の反射率が予め設定さ
れた基準値を超えて低下しているか否かの判断が行われ
る（手順５−９）。

手順Ｓ−９において、記録層４の反射率が基準値よりも
低下していると判断された場合には、引き続いて基準面
７の反射率が予め設定された基準値を超えて低下してい
るか否かの判断が行われる（手順Ｓ−１０）。

手順５−１０において、基準面７の反射率が基準値以下
に低下していると判断された場合、すなわち第５図に示
すように記録層４の反射率及び基準面７の反射率が共に
基準値Ｃ以下に低下していると判断された場合には、例
えば対物レンズ１２の汚れなど、ドライブ側に問題が発
生しているものと判断されるので、警報装置２１よりド
ライブのメインテナンスを要求する警報を発してシステ
ムを終了する（手順Ｓ−１１）。

ユーザーはこれによって必要な処置、例えば対物レンズ
の清掃などを行うことができる。

手順５−１０において、基準面７の反射率が基準値以下
に低下していないと判断された場合、すなわち第６図に
示すように記録層４の反射率のみが基準値Ｃ以下に低下
している場合には、記録層４が腐食されたものと判断さ
れるので、警報装置２１より媒体の寿命が尽きかけてい
る旨の警報を発してシステムを終了する（手順Ｓ−１２
）。

ユーザーはこれによって必要な処置、例えば当該光記録
媒体に記録された情報を新たな光記録媒体に移し換える
等の処置を行うことができ、貴重な情報の消失を防止す
ることができる。

手順Ｓ−９において、記録層４の反射率が基準値以下に
低下していないと判断された場合には、光記録媒体が未
だ使用可能な状態にあるものと判断されるので、ユーザ
ー情報の記録、再生など所望のデータ処理を行ってシス
テムを終了する（手順Ｓ−１３）。

前記実施例の光記録媒体及び寿命検知方法は、個々の光
記録媒体について媒体自体の劣化に起因する反射率の低
下を測定するようにしたので、信頼性の高い寿命検知を
行うことができ、貴重な情報を消失してしまったり、光
記録媒体及び情報を移し換えるための手間を無駄にする
ことがない。

なお、他の光学的性質を測定しても同様の効果を得るこ
とができる。

なお、本発明の要旨は、個々の情報記録媒体について寿
命を直接検知できるようにした情報記録媒体とそれを用
いた寿命検知方法を提供する点にあるのであって、情報
記録媒体及び寿命検知方法が前記実施例に挙げたものに
限定されるものではない。以下に、本発明の他の実施例
を列挙する。

■前記実施例においては、記録領域５の一部にメインテ
ナンス領域６を形成し、該領域に反射率の初期値を記録
したが、メインテナンス領域６を省略し、ドライブ側に
備えられたメモリに反射率の初期値を記録しておくこと
のできる。

■前記実施例においては、記録層４のランド部における
反射率と、基準面７のランド部における反射率とを測定
したが、第７図に示すように、プリフォーマットパター
ン３が形成された部分に基準反射面７を形成し、記録層
４のプリフォーマットパターン３上における反射率と、
基準面７のプリフォーマットパターン３上における反射
率とを測定することもできる。

■前記実施例においては、記録層４の反射率が基準値Ｃ
よりも低下した場合、警報装置２１より警報を発するよ
うにしたが、例えば当該光記録媒体の情報を自動的に新
たな光記録媒体に転写するなど、他の処置をとるように
することもできる。

■前記実施例においては、ディスク状の光記録媒体を例
にとって説明したが、カード状など他種の光記録媒体に
ついても同様に実施することができる。

［発明の効果］ 以上説明したように、本発明によると１個々の光記録媒
体について媒体自体の劣化に起因する光学的性質の低下
を測定するようにしたので、信頼性の高い寿命検知を行
うことができ、貴重な情報を消失してしまったり、光記
録媒体及び情報を移し換えるための手間を無駄にするこ
とがない。

【図面の簡単な説明】

図はすべて本発明の詳細な説明するためのものであって
、第１図は光記＃媒体の平面図、第２図は光記録媒体の
要部断面図、第３図はドライブのブロック図、第４図は
ドライブの動作手順を示すフロー図、第５図及び第６図
は記録層と基準←射面の反射率の変化を示すグラフ図、
第７図は本発明にかかる光記録媒体の他の例を示す断面
図である。 １・・・・・・光記録媒体、２・・・・・・基板、３・
・・・・・プリフォーマットパターン、４・・・・・・
記録層、５・・・・・・記録領域、６・・・・・・メイ
ンテナンス領域、７・・・・・基準に参画、１１・・・
・・・光源、１２・・・・・・対物レンズ、１３・・・
・・・ディテクタ、１４・・・・・・ビームスプリッタ
、１５・・・・・・光学ヘッド、１６・・・・・・移送
装置、２１・・・・・・警報器２１゜ 第 １ 図 第４図 第 図 第 図 第 図 時間

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. （１）基板のプリフォーマットパターン形成面に少なく
   とも記録層を含む薄膜層が形成された光記録媒体におい
   て、前記基板のプリフオーマツトパターン形成面の一部
   に、前記記録層とは光の反射率、透過率、吸収率、カー
   回転角、複屈折率など光学的性質の劣化速度が異なる基
   準面を形成したことを特徴とする光記録媒体。
2. （２）基板のプリフォーマットパターン形成面に少なく
   とも記録層を含む薄膜層が形成された光記録媒体におい
   て、前記基板のプリフオーマツトパターン形成面の一部
   に前記記録層とは光の反射率、透過率、吸収率、カー回
   転角、複屈折率など光学的性質の劣化速度が異なる基準
   面を形成すると共に、前記記録層の形成領域内に当該媒
   体の製造時もしくは当該媒体の使用開始時における前記
   記録層及び基準面の光学的性質が記録されたメインテナ
   ンス領域を設けたことを特徴とする光記録媒体。
3. （３）請求項１または２記載において、前記記録層がラ
   イトワンス形のヒートモード記録材料にて形成されてい
   ることを特徴とする光記録媒体。
4. （４）請求項３記載において、前記記録層が孔あけ形の
   ヒートモード記録材料にて形成されていることを特徴と
   する光記録媒体。
5. （５）請求項１または２記載において、前記記録層がイ
   レーザブル形のヒートモード記録材料にて形成されてい
   ることを特徴とする光記録媒体。
6. （６）請求項５記載において、前記記録層が光磁気形の
   ヒートモード記録材料にて形成されていることを特徴と
   する光記録媒体。
7. （７）請求項５記載において、前記記録層が相変化形の
   ヒートモード記録材料にて形成されていることを特徴と
   する光記録媒体。
8. （８）請求項１または２記載において、前記基準反射面
   が、アルミニウムまたは金、銀、プラチナなどの貴金属
   にて形成されていることを特徴とする光記録媒体。
9. （９）基板のプリフオーマットパターン形成面に少なく
   とも記録層を含む薄膜層と前記記録層とは光の反射率、
   透過率、吸収率、カー回転角、複屈折率など光学的性質
   の劣化速度が異なる基準面とを設け、前記記録層の形成
   領域内に当該媒体の製造時もしくは当該媒体の使用開始
   時における前記記録層及び基準面の光学的性質が記録さ
   れたメインテナンス領域を設けた光記録媒体をドライブ
   に装着し、前記記録層の光学的性質と前記基準面の光学
   的性質とを測定して前記メインテナンス領域に記録され
   た初期値からの変化率を求め、前記記録層の光学的性質
   の低下に比較して前記基準面の光学的性質が低下してい
   ない場合には媒体自体の劣化と判断し、前記記録層の光
   学的性質及び前記基準面の光学的性質が共に同一比率で
   低下した場合にはドライブ側の劣化であると判断するよ
   うにしたことを特徴とする光記録媒体の寿命検知方法。
10. （１０）基板のプリフオーマットパターン形成面に少な
    くとも記録層を含む薄膜層と前記記録層とは光の反射率
    、透過率、吸収率、カー回転角、複屈折率など光学的性
    質の劣化速度が異なる基準面とが設けられた光記録媒体
    をドライブに装着し、前記記録層の光学的性質と前記基
    準面の光学的性質とを測定してドライブ側のメモリに格
    納された基準データからの変化率を求め、前記記録層の
    光学的性質の低下に比較して前記基準面の光学的性質が
    低下していない場合には媒体自体の劣化と判断し、前記
    記録層の光学的性質及び前記基準面の光学的性質が共に
    同一比率で低下した場合にはドライブ側の劣化であると
    判断するようにしたことを特徴とする光記録媒体の寿命
    検知方法。
11. （１１）請求項９または１０記載において、前記光学的
    性質の測定を前記記録層のランド部及び前記基準面のラ
    ンド部で行うことを特徴とする光記録媒体の寿命検知方
    法。
12. （１２）請求項９または１０記載において、前記光学的
    性質の測定を前記記録層のプリフオーマットパターン上
    及び前記基準面のプリフォーマットパターン上で行うこ
    とを特徴とする光記録媒体の寿命検知方法。