JPH0320678A - 電源電圧検出回路 - Google Patents

電源電圧検出回路

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JPH0320678A
JPH0320678A JP1154557A JP15455789A JPH0320678A JP H0320678 A JPH0320678 A JP H0320678A JP 1154557 A JP1154557 A JP 1154557A JP 15455789 A JP15455789 A JP 15455789A JP H0320678 A JPH0320678 A JP H0320678A
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voltage
capacitor
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capacitors
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JP1154557A
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Jiro Sakaguchi
治朗 坂口
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電源電圧検出回路さらには電子機器において電
源電圧を検出するための電源電圧検出回路に関し、例え
ば電池を電源とする電子機器用の半導体集積回路に適用
して有効な技術に関するものである。
〔従来技術〕
電池を電源とする携帯用電子機器などに用いられる半導
体集積回路には、機器の正常動作を保証するため、電池
消耗による電源電圧低下を検タ1]シてその状態を告知
するための電源電圧検出回路が内蔵されている。第6図
には,従来の?1′rXfi圧検出回路が示されている
。この回路においては、接地レベルを基準とする電源電
圧Vddが,互いに直列接続された2本の抵抗(分圧抵
抗と称される)Rよ及びR2によって分圧されるように
なっている。
分圧抵抗R1,R,による分圧電位Vxには、電池消耗
によるVddの低下が反映され、このvxがコンパレー
タ1の非反転入力端子(+)に印加されることにより、
参照電圧Vdetと比較される.そしてVx<Vdat
の場合にコンパレータ1の出力状態が反転され、この状
態がラッチ回路2によってラッチされる。従ってこのラ
ッチ回路2の出力に基づいて例えば発光ダイオードを点
灯させるなどして電源電圧の低下を告知することができ
る。
ところで,電池を電源とする携帯用電子機器などに用い
られる半導体集積回路においては、長時間に亘る安定動
作を確保するため、それ自体の消費電流の少ないことが
要求される,電源電圧検出回路での消費電流の多くは上
記分圧抵抗R1, R,によって消費されるため、この
Rエ,R2での電流消費をできる限り低減すべく、比較
的シート抵抗値の高いWELL(ウェル)層を用いるこ
とによりR1, R2を数MΩ以上に設定するのが一般
的である。
尚、電源電圧検出回路について記載された文献の例とし
ては,特開昭60−242586号がある. 〔発明が解決しようとする課題〕 しかしながら、WELL層を用いて高抵抗を実現する場
合,例えばシート抵抗値4KΩ,配線幅]OμmにてI
OMΩの分圧抵抗を形成しようとすると、25anもの
長さを必要とし、このような分圧抵抗のために半導体集
積回路のチップ面積が大幅に増大してしまうという問題
がある。しかも近年の微細加工技術の進歩及びこれに伴
いゲート当りの低消費電力化が進む中で、WELL抵杭
のシート抵抗値に大きな変化はなく、従って半導体集積
回路に占める電源電圧検出回路の面積比率は年々増大す
る傾向にある。
本発明の目的は、消費電流の低減及び占有面積の低減を
図った電源電圧検出回路を提供することにある。
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう
〔課題を解決するための手段〕
本願において開示されている発明のうち代表的なものの
概要を簡単に説明すれば下記の通りである。
すなわち、第1のキャパシタとこれに直列接続された第
2のキャパシタとを有する容量性分圧手段を設け、また
所定の周期でこの容量性分圧手段におけるキャパシタの
充放電を繰返す充放電制御手段を設け、更に上記容量性
分圧手段の分圧出力と参照電圧とを比較してその比較結
果を出力する電圧比較手段を設けて電源電圧検出回路を
構或するものである。
ここで、電源電圧が異なる複数種類の電子機器に同一構
成の電源電圧検出回路を備えた半導体集積回路を適用可
能とするには、上記第1,第2のキャパシタの他に、電
源電圧分圧比調整用の第3のキャパシタを設け、外部制
御信号によって電源電圧分圧比を変更可能とするとよい
。また、電源電圧分圧比の微調整を可能とするには、上
記第3のキャパシタとして複数のキャパシタを適用する
とよい。
〔作 用〕
上記した手段によれば,所定の周期で容量性分圧手段に
おけるキャパシタの充放電が繰返され、直流電流バスが
定率的に形成されることはない。
このことが、電源電圧検出の顔の消費電流を低減するよ
うに作用する。また、分圧抵抗ではなく、微細加工技術
に好適なキャパシタによって電源電圧分圧を行うように
し、しがもここに適用されるキャパシタは浮遊容量など
同路内の分布容量を無視できる範囲で可能な限り小さく
でき,このことが、電′g電圧分圧系の小型化を可能と
し、半導体集積回略の面積比率を低減するように作用す
る。
〔実 施 例1〕 第1図には本発明の第1の実施例である電源電圧検出回
路が示される。同図に示される電源電圧検出回路は.特
に制限されないが5電池を電源とする携帯用電子機器例
えば卓上電子計算機や時計などに用いられる半導体集積
回路に内蔵され、電源電圧が所定値以下となった際に所
定の警告信号を出力可能とするものである。
第1図に示される容量性分圧手段3は、電源ラインに接
続され、接地ラインを基準とする電源電圧Vddを分圧
するもので、第1のキャパシタC1と第2のキャパシタ
C2とが直列接続されて成る。
この第1,第2のキャパシタC1,C2は、特に制限さ
れないが、逆方向バイアスされたPn接合の容量を利用
することにより接合コンデンサとして形或され、あるい
はMOS(又はM. I S )構造により絶縁膜(一
般にはSiO2)を誘電層とすることにより薄膜コンデ
ンサとして形或される。
そして上記第1,第2のキャパシタC,,C2の直列接
続点と電′g電圧Vddとの間には、クロツク信号φに
よってオンオフ動作されるMOS型トランジスタ(Pチ
ャンネル)4が接続され、また第2のキャパシタC2の
一端には、クロック信号φの状態を反転して出力するイ
ンバータ5の出力端子が接続されている。クロック信号
ψはこの電源電圧検出回路が形或されている半導体集積
回路において生威される信号で、第2図に示されるよう
に5所定の周期でハイ,ローの状態が変化する?形波信
号である。そしてこのクロック信号φのハイレベルは電
′g電圧Vddに等しく、またローレベルは接地電位に
等しい。
クロック信号φがローレベルのとき、MOS型トランジ
スタ4がオン状態となり,これにより第1のキャパシタ
Cエの両端子間が短絡され、第工のキャパシタC1の蓄
積電荷が全て放出される。
またこのとき、第工,第2のキャパシタC■,C2の直
列接続点の電位が電源電圧Vddに等しくなり、更にイ
ンバータ5の出力がハイレベルとなるため、第2のキャ
パシタC2の両端子間を短絡したのと等価になり、この
第2のキャパシタC2の蓄積電荷も全て放出される。
一方クロック信号φがハイレベルのときには、MOS型
トランジスタ4はオフ状態、インバータ5の出力はロー
レベルとなるから、第1,第2のキャパシタC■,C2
は電源ラインと接地ラインとの間に直列接続された状態
と等価になり、この状態で両キャパシタC■,C2への
電荷蓄積が行われ,両キャパシタの静電容量比に応じて
電源電圧Vddの分圧が行われる。ここでこの分圧出力
すなわち第1,第2のキャパシタC1,C,の直列接続
点の電位Vxは、下式の如く表わされる。
?■+C, 従って、上記MOS型トランジスタ4とインバータ5と
によってクロック信号φの半周期単位で第1,第2のキ
ャパシタC.,C,の充電及び放電が交互に繰返される
ことになり、このような意味で、上記MClS型トラン
ジスタ4とインバータ5とによって形威される制御回路
10を充放電制御回路と称する。この充放電制御回路1
0が本発明における充放電制御手段に対応する。
そして上記第1,第2のキャパシタCエ,C2の分圧出
力はコンパレータIAの非反転入力端子(+)に印加さ
れ,このコンパレータ1Aにおいて、基準電位として予
め設定された参照電圧Vdetと比較される。この比較
において,第2図に示されるようにVx≧Vdetが戒
立する場合には,コンパレータIAの出力vOはハイレ
ベルであるが、電源電圧Vddの低下によってV x 
< Vdetが或立すると、コンパレータIAの出力状
態が反転され、vOはローレベルとなる。ここで,コン
パレータ1Aの出力状態がハイレベルからローレベルに
反転するときの電源電圧Vddを検出電圧Vd.d(d
at)とすると、このVdd(dat)は次式の如く表
わされる。
この(2)式より明らかなように検出電圧Vdd(d 
a t)の値は,第1,第2のキャパシタC.,C2の
静電容量と参照電位Vdetとによって決定される。
尚、参照電圧Vdetは、特に制限されないが、電流ミ
ラー回路を利用した定電圧回路や,基準電圧発生回路に
よって形成される。
次にこのコンパレータIAの出力状態は,後段のラッチ
回路2Aに伝達され、この電源電圧検出回路が形或され
る半導体集積回路において上記クロック信号φに同期し
て生成されるストローブ信号φがローレベルからハイレ
ベルに変化される立上がりエッジに同期してコンパレー
タ1・Aの出力VOがラッチ回路2Aに保持されるよう
になっており、このラッチ回路2Aの保持出力OUTが
警告信号として出力され,電源電圧低下告知のための発
光ダイオード点灯制御等に供される。
ここで上記コンパレータIAとラッチ回12Aとを有し
て電圧比較回路20が形或され、この回路20により、
本発明における電圧比較手段が実現される。
尚、ストローブ信号φとしてクロック信号ψの反転レベ
ル信号をそのまま使用することもできるが、コンパレー
タ1Aの出力状態Vo保持の確実性を高めるため、第2
図に示されるようにクロック信号φよりもストローブ信
号φの位相の方が若干進むように設定するとよい。
上記実施例によれば以下の作用効果を得ることができる
(1)容量性分圧手段3での消費電流iは第1,第2キ
ャパシタC1,C,の充放電のみで決定され、この充放
電がクロック信号φによって所定の周期で繰返されるよ
うになっているため、この繰返し周期を比較的長く設定
することにより容量性分圧手段3での消費電流iは、分
圧抵抗を用いる場合の如く常時通電する場合に比べて大
幅に低減される。しかもこの場合の消費電流iは、クロ
ック信号φの周波数をfとしたとき, Cエ+C, と表され、第工,第2のキャパシタC1,C,の静電容
量値を小さくするほど、j.の値も小さくなる。
従ってクロック信号φの周期を比較的長く設定し、更に
第1,第2のキャパシタCエ,C2の静電容量値を小さ
く設定することにより、容量性分圧手段3での消費電流
iを極めて少なくでき、これによって電源電圧検出回路
自体の低消費電流化が図れる。
(2)また、キャパシタの形成は抵抗形或と異なり微細
加工技術に好適であり、回路内の浮遊容量を含−むキャ
パシタC、,C2の分圧比精度の許容範囲内で第1,第
2のキャパシタC,,C2の静電容量を小さくシ,容量
性分圧手段3の占有面積を小さくすることにより、電源
電圧検出回路自体の占有面積の減少が図れる。
(3)更に、Pチャンネル型のMOSトランジスタ4及
びインバータ5の構成MOSは、ソース電位が電源電圧
となるため、 の範囲でオンさせることができ、このことは低電′rA
電圧での安定動作が可能であることを意味し、電池を電
源とする電子機器用半導体集積回路に内蔵されるものと
して極めて有利となる。
〔実 施 例2〕 第3図には本発明の第2の実施例である電源電圧検出回
路が示される。同図に示される電源電圧検出回路も上記
実施例と同様に,特に制限されないが、電池を電源とす
る携帯用電子機器に用いられる半導体集積回路に内蔵さ
れるものである。
第3図に示される充放電制御回路10Aは、第1図に示
されるのと同一機能を有するMOS型トランジスタ4と
インバータ5どの他に、ナンドゲート6を備えて成る。
このナンドゲート6の一方の入力端子にはクロック信号
φが入力され、他方の入力端子には外部制御信号として
のセレクト信号S E L C Tが入力されるように
なっている。そしてナンドゲート6の出力端子と、第1
,第2のキャパシタC1,C2の直列接続点との間には
、容量性分圧手段3における電源電圧分圧比を変更し得
る第3のキャパシタC,が接続されている。
この第3のキャパシタC3は、セレクト信号SELCT
がハイレベルとなってナンドゲート6がイネーブル状態
とされた場合には第2のキャパシタC2に対して等価的
に並列接続されたように作用し、逆にセレクト信号S 
E L C Tがローレベルとなってナンドゲート6が
デイスエープル状態とされた場合には第1のキャパシタ
C1に対して等価的に並列接続されたように作用する。
従って、本実施例での検出電圧Vd d (d e t
)は7セレクト信号S E L C. Tが八イレベル
の場合に、 となり、逆にセレク1〜信号S E L. C Tがロ
ーレベルの場合に、 となる。すなわち1セレクl一信号S E L C T
に、{、.って、検出電圧V d. d. (. d 
a t )を2段階に変化させることができ”る。この
ことは、例えばリチウム電池に代表される3■系と、銀
電池に代表される1.5v系との2種類の電池の何れに
対しでも、同一構或の電源電圧検出回路を適用できるこ
とを意味する。
上記実施例によれば以下の作用効果を得ることができる
. (1)分圧抵抗ではなく,キャパシタによって電源電圧
の分圧を行うようにしているので、上記第1の実施例の
場合ヒ同様に,消費電流の減少及び占有面積の減少が図
t1、る9 (2)容量性分圧手段3における電源電圧分圧比を変更
し得る第3のキャパシタを備え、外部制御信号たるセレ
クト信号SELCTによってこの分圧比の変更を可能と
しているので、電源電圧が異なる電子機器に対して同−
4i1!或の電源電圧検出回路を備えた半導体集積回路
を適用することができる。
〔実 施 例3〕 第4図には本発明の第3図の実施例である電源電圧検出
回路が示される。同図に示される電源電圧検出回路も上
記実施例と同様に、特に制限されないが、電池を電源と
する携帯用電子機器に用いられる半導体集積回路に内蔵
されるものである。
第4図に示される電源電圧検出回路では,第3図におけ
る第3のキャパシタC3に対応するものとして複数のキ
ャパシタ30,31,32.33を設け、充放電制御回
路10B内に各キャパシタ30乃至33に対応する複数
のナンドゲート40,41,42,43を配置して或る
。ここで、複数のキャパシタ30乃至33の静電容量は
次のように設定される。
すなわち、キャパシタ30の静電容量値をC0としたと
き,他のキャパシタ31,32.33の静電容量値は,
このC.に対して2のべき乗倍の関係となるように19
定され,それぞれ2C.,4Co,SC.となる。
そして上記ナンドゲート40乃至43の一方の入力端子
には4ビツ1・構或の外部制御信号D0,Di, D,
, D.が与えられ、この外部制御信号D+,乃至D,
のWA理値によってナンドゲート40乃至43を選択的
にイネーブル状態とすることにより,容量性分圧手段3
での電源電圧分圧比の微!IINを可能としている。こ
こで検出電圧Vdd(clet)は次式で表わされる。
・・−・・・・・・(5) 本実施例では,外部制御信号D0乃至D,の論理値によ
って電源電圧分圧比の8通りの変更が可能となる。尚,
第3のキャパシタ数を増大させて分圧?記実施例によれ
ば以下の作用効果を得ることができる。
(1)分圧抵抗ではなく、キャパシタによって電源電圧
の分圧を行うようにしているので,上記第1,第2の実
施例の場合と同様に、消費電流の減少及び占有面積の減
少が図れる. (2)fl源電圧分圧比の変更に関与する第3のキャパ
シタC,として複数のキャパシタ30乃至33を設け、
外部制御信号D。乃至D■の論理値によって電源電圧分
圧比の微調整を可能としているので、参照電圧Vdet
のばらつきや、コンパレータIAのオフセット電圧ある
いはキャパシタの分圧比のミスマッチなどに起因する検
出電圧Vdd(dat)のばらつきを外部制御信号D0
乃至D3によって容易に修正することができる。
〔実 施 例4〕 第5図には本発明の第4の実施例である電:g電圧検出
回路が示される.同図に示されるWl源電圧検出回路も
上記実施例と同様に、特に制限されないられる半導体集
積回路に内蔵されるものである.第5図に示される電源
電圧検出回路において充放電制御回路10Cは,第1−
,第2のキャパシタCエ,C2の直列接続点と電源電圧
Vddとの間に接続され、クロック信号φによってオン
・オフされるMOS型トランジスタ11と、第11第2
のキャパシタC1,C2の一方の端子にそれぞれ接続さ
れたナントゲート12,14と、外部制御信号としての
セレクト信号SELCTを反転してそ九をナンドゲート
14の一方の入力端子に伝えるインバータ13とを有し
て戊る。
セレクト信号S .E L C Tがローレベルのとき
、ナンドゲ−1・14はイネーブル状態となり、クロッ
ク信号φの状態変化を負論理で第2のキャパシタC2に
伝える。このときナンドゲート12はディスエーブル状
態であり、第工のキャパシタC1の一端はクロック信号
φの状態変化にかかわらずハイレベル(Vddレベル)
に固定される。従ってこのときの回路状態は、第1図の
回路構或と等価になり、上記第工の実施例と同様にクロ
ツク信号φがローレベルのときに第1,第2のキャパシ
タC1,C2の蓄@電荷放出が行われ、クロック信号ψ
がハイレベルのときに第l,第2のキャパシタC1. 
C2への電荷蓄積が行われる。そしてこの電荷蓄積によ
る、電源電圧Vddの分圧出力がコンバレータIAに伝
達され、参照電圧Vdetと比較される。
尚、この場合の分圧出力Vx及び検出電圧Vdd(da
t)は、上記第1の実施例と同様(1)式及び(2)式
によってそれぞれ表わされる。
次にセレクト信号SELCTがハイレベルのとき、ナン
ドゲート12はイネーブル状態となり、クロック信号φ
の状態変化を負論理で第工のキャパシタC2に伝える。
このときナンドゲート14はディスエープル状態であり
、第2のキャパシタC2の一端はクロック信号φの状態
変化にかかわらず、ハイレベル(Vcldレベル)に固
定される.従ってこのときの回路状態は、第1図におい
て第1,第2のキャパシタCエ,C2を置換えたのと等
価になり、この場合の分圧出力Vxは、?■+02 となり、検出電圧Vdd(dat)は、となる。
従って、第1,第2のキャパシタC1, C,の静電容
量を予め異ならせておけば、セレクト信号SELCTに
よって電源電圧分圧出力の変更が可能となる。
また、この電源電圧分圧出力の変更作用を利用して、回
路にヒステリシス特性を持たせ、これによって回路の動
作安定を図ることもできる。
すなわち、コンパレータ1Aの出力(又はラッチ回路2
Aの出力)を、セレクト信号S E LCTの代わりに
ナンドゲート12及びインバータ13に入力するように
すれば、電圧比較回路2oにおいて、Vx<Vdetに
よりコンパレータ1Aの出力状態(又はランチ回路2A
の出力状態)がロー1ノベルに反転した直後に第l,第
2のキャパシタC,, C,による電源電圧分圧出力の
変更がなされるので,この分圧出力変更により検出電圧
Vxが更に低下するようにC1,C,の静電容量値を予
め設定しておくことによりヒステリシス特性を実現でき
、Vx:Vd e tでの回路のチャタリング動作を防
ぐことができる。
上記実施例によれば以下の作用効果を得ることができる
(1)分圧抵抗ではなく、キャパシタによって電源電圧
の分圧を行うようにしているので、上記第1,第2,第
3の実施例の場合と同様に、消費電流の減少及び占有面
積の減少が図れる。
(2)セレクト信号SELCTの状態によって第工,第
2のキャパシダC1, C2の置換えを電気的に行うこ
とができるので、上記第1,第2,第3の実施例の如く
第3のキャパシタC3を用いることなく,電wit圧の
分圧出力変更を行い得る。
(3)コンパレータのIAの出力(又はラッチ回路2A
の出力)を,セレクト信号SELCTの代わりにナンド
ゲート12及びインバータ13に入力?ることにより、
回路にヒステリシス特性を持たせることができ、回路の
動作安定を図ることができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づいて
具体的に説明したが、本発明は上記第1乃至第4の実施
例に限定されず、その要旨を逸脱しない範囲において種
々変更可能である。
例えば上記実施例ではMOS型トランジスタとしてPチ
ャンネルのものを適用したが、NチャンネルのMOS型
トランジスタを用いることもできる。NチャンネルのM
OShランジスタは、第1−,第2のキャパシタCエ,
C2の直列接続点と接地ラインとの間に接続される。こ
の場合、第上のキャパシタC■の一端(CLと02とを
置換える場合にはC2の一端)はVddラインではなく
接地ラインに接続される。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である、電池を電源とする
電子機器用の半導体集積回路に適限定されるものではな
く、電源電圧検出機能を有する半導体集積回路又は装置
に広く適用することができる。本発明は、少なくとも消
費電流の低減及び占有面積の低減を図る条件のものに適
用することができる。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば,下記の通りである
すなわち、容量性分圧手段での消費電流は第1,第2の
キャパシタの充放電のみで決定され,この充放電がクロ
ック信号によって所定の周期で繰返されるようになって
いるため,この繰返し周期を比較的長く設定することに
より容量性分圧手段での消費電流は,分圧抵抗を用いる
場合の如く常時通電する場合に比べて大幅に低減される
。しかもこの場合の消費電流は第1,第2のキャパシタ
の静電容量値を小さくする程、減少される。従ってクロ
ック信号の周期を比較的長く設定し、更に第1,第2の
キャパシタの静電容量値を小さく設定することにより、
容量性分圧手段での消費電流を極めて少なくでき、これ
によって電源電圧検出回路自体の低消費電流化が図れる
そして、キャパシタの形或は抵抗形成と異なり微細加工
技術に好適であり、回路内の浮遊容量を含むキャパシタ
の分圧比精度の許容範囲内で第工,第2のキャパシタの
静電容量を小さくし、容量性分圧手段の占有面積を小さ
くすることにより、電源電圧検出回路自体の占有面積の
減少が図れる。
また、容量性分圧手段における電源電圧分圧比を変更し
得る第3のキャパシタを設け、外部制御信号によってこ
の分圧比の変更を可能とすることにより,電源電圧が異
なる電子機器に対して、同一構成の電源電圧検出回路を
備えた半導体集積回路を適用することができる。
更に、電源電圧分圧比の変更に関与する第3のキャパシ
タとして複数のキャパシタを設け、外部制御信号によっ
て電源電圧分圧比の微調整を可能とすることにより,検
出電圧Vd.d(dat)のばらつきを外部制御信号に
よって容易に修正することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第↓の実施例回路図、第2図は第1図
の実施例回路の動作タイミング図, 第3図は本発明の第2の実施例回路図、第4図は本発明
の第3の実施例回略図、第5図は本発明の第4の実施例
回路図、第6図は電源電圧検出回路の従来例回路図であ
る。 3・・容量性分圧手段、10,IOA,IOB,10C
・・・充放電制御回路.20・・・電圧比較回路、C1
・・・第1のキャパシタ、C2・・・第2のキャパシタ
、C3・・第3のキャパシタ、Vdet・・・参照電圧

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、第1のキャパシタとこれに直列接続された第2のキ
    ャパシタとを有して成り電源電圧の分圧を可能とする容
    量性分圧手段と、 所定の周期でこの容量性分圧手段におけるキャパシタの
    充放電を繰返す充放電制御手段と、上記容量性分圧手段
    におけるキャパシタ充電による電源電圧分圧出力と所定
    の参照電圧とを比較してその比較結果を出力する電圧比
    較手段と、 を含んでなる電源電圧検出回路。 2、上記容量性分圧手段における電源電圧分圧比を変更
    し得る第3のキャパシタを設け、外部制御信号によって
    この分圧比の変更を可能とした請求項1記載の電源電圧
    検出回路。 3、電源電圧の分圧比変更に関与する第3のキャパシタ
    として複数のキャパシタを適用した請求項2記載の電源
    電圧検出回路。
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WO2025109451A1 (ja) * 2023-11-24 2025-05-30 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置及び記憶装置

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