JPH0320782A - 画像表示装置 - Google Patents
画像表示装置Info
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- JPH0320782A JPH0320782A JP15543589A JP15543589A JPH0320782A JP H0320782 A JPH0320782 A JP H0320782A JP 15543589 A JP15543589 A JP 15543589A JP 15543589 A JP15543589 A JP 15543589A JP H0320782 A JPH0320782 A JP H0320782A
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- Japan
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 20
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 9
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 abstract description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
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- Liquid Crystal (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、絶縁基板上に薄膜トランジスタを用いて形威
した液晶画像表示装置に関するものである。
した液晶画像表示装置に関するものである。
従来の技術
以下に従来の画像表示装置について説明する。
第３図に従来の構戒図を示す。垂直走査回路１１及び水
平走査回路１２による駆動回路があり、水平走査回路１
２の各出力部には、水平走査回路１２の出力により制御
される転送用トランジスタスイッチ群１３が形成されて
いる。画素部１４は二次元マトリクス状に配列され、ア
クティブマトリクス方式で駆動される。垂直走査回路１
１の出力である水平ゲート線はポリシリコンで形成され
、垂直信号線はＡＬにより形成されており、画素部へ点
順次に書き込まれるようになっている。
平走査回路１２による駆動回路があり、水平走査回路１
２の各出力部には、水平走査回路１２の出力により制御
される転送用トランジスタスイッチ群１３が形成されて
いる。画素部１４は二次元マトリクス状に配列され、ア
クティブマトリクス方式で駆動される。垂直走査回路１
１の出力である水平ゲート線はポリシリコンで形成され
、垂直信号線はＡＬにより形成されており、画素部へ点
順次に書き込まれるようになっている。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、このような従来の構成では、垂直信号線
間に短絡がある場合、その箇所を見つけることは非常に
困難であり、通常、信号線を１本１本確認するか、液晶
工程を通し、画素を表示させなければならないという欠
点があった。
間に短絡がある場合、その箇所を見つけることは非常に
困難であり、通常、信号線を１本１本確認するか、液晶
工程を通し、画素を表示させなければならないという欠
点があった。
本発明は上記欠点に鑑み、垂直信号線間に短絡がある場
合、液晶工程以前に短絡の有無と箇所が判定できる画像
表示装置を提供するものである。
合、液晶工程以前に短絡の有無と箇所が判定できる画像
表示装置を提供するものである。
課題を解決するための手段
上記課題を解決するために、本発明の画像表示装置は垂
直信号線の奇数番目の終端，偶数番目の終端にそれぞれ
検査用スイッチ群を設け、各信号線の信号が検査用スイ
ッチ群の制御端子に接続されることにより構成されてい
る。そして検査用スイッチ群は抵抗を直列接続すること
でＮＯＲ回路になる。
直信号線の奇数番目の終端，偶数番目の終端にそれぞれ
検査用スイッチ群を設け、各信号線の信号が検査用スイ
ッチ群の制御端子に接続されることにより構成されてい
る。そして検査用スイッチ群は抵抗を直列接続すること
でＮＯＲ回路になる。
作用
上記構成により、画素部を通る垂直信号線の奇数番目の
終端には各々検査用スイッチが設けられており、抵抗と
直列接続することによりそれぞれＮＯＲ回路を構成して
いる。また偶数番目の終端にも同様のＮＯＲ回路を構成
している。水平走査回路の出力により制御される転送用
トランジスタスイッチ群の入力端子には、水平走査回路
の各出力の選択期間よりも短いパルスを入力する。もし
も垂直信号線間に短絡があれば、奇数番目及び偶数番目
の垂直信号線終端のＮＯＲ回路の出力は短絡のある所で
同じ波形となる。
終端には各々検査用スイッチが設けられており、抵抗と
直列接続することによりそれぞれＮＯＲ回路を構成して
いる。また偶数番目の終端にも同様のＮＯＲ回路を構成
している。水平走査回路の出力により制御される転送用
トランジスタスイッチ群の入力端子には、水平走査回路
の各出力の選択期間よりも短いパルスを入力する。もし
も垂直信号線間に短絡があれば、奇数番目及び偶数番目
の垂直信号線終端のＮＯＲ回路の出力は短絡のある所で
同じ波形となる。
本発明は上記の原理に基づくものであり、垂直信号線間
の短絡の有無及びその位置を簡単に調べることのできる
画像表示装置を提供するものである。
の短絡の有無及びその位置を簡単に調べることのできる
画像表示装置を提供するものである。
実施例
以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら説
明する。
明する。
第１図は本発明の実施例における画像表示装置の構成図
を示す。１は垂直走査回路、２は水平走査回路、３は転
送用トランジスタスイッチ群、４は画素部、５は奇数段
信号線用検査用スイッヂ群、６は偶数段信号線用検査用
スイッチ群、７は水平ゲート線、８は垂直信号線である
。画素はアクティブマトリクス方式で、スイッチング用
薄膜トランジスタを有している。また、水平走査回路２
の出力部には、水平走査回路２の出力により制御される
転送用トランジスタスイッチ群３が備えられており、画
素部４へＡＬ配線により点順次書き込みで信号伝達を行
う。
を示す。１は垂直走査回路、２は水平走査回路、３は転
送用トランジスタスイッチ群、４は画素部、５は奇数段
信号線用検査用スイッヂ群、６は偶数段信号線用検査用
スイッチ群、７は水平ゲート線、８は垂直信号線である
。画素はアクティブマトリクス方式で、スイッチング用
薄膜トランジスタを有している。また、水平走査回路２
の出力部には、水平走査回路２の出力により制御される
転送用トランジスタスイッチ群３が備えられており、画
素部４へＡＬ配線により点順次書き込みで信号伝達を行
う。
次に本発明の画像表示装置の画素部４を通る垂直信号線
間の短絡を調べる方法について説明する。第２図（ａ）
． （ｂ）にその構成図と各点における電圧波形図を
示す。Ａ，Ｂ，Ｃは水平走査回路２の出力波形、Ｄは転
送用トランジスタスイッチ群３に入力する検査用パルス
を示している。各垂直信号線は奇数及び偶数段信号線用
検査用スイッチ群５．６のゲートに入力されており、各
段のスイッチ群のソース，ドレインは共通になっている
。さらに、奇数及び偶数段検査用スイッチ群５，６はそ
れぞれ抵抗とによりＮＯＲ回路を構威している。抵抗Ｒ
の大きさは検査用スイッチに用いるトランジスタのオン
抵抗よりも大きく、オフ抵抗よりも小さく設定される。
間の短絡を調べる方法について説明する。第２図（ａ）
． （ｂ）にその構成図と各点における電圧波形図を
示す。Ａ，Ｂ，Ｃは水平走査回路２の出力波形、Ｄは転
送用トランジスタスイッチ群３に入力する検査用パルス
を示している。各垂直信号線は奇数及び偶数段信号線用
検査用スイッチ群５．６のゲートに入力されており、各
段のスイッチ群のソース，ドレインは共通になっている
。さらに、奇数及び偶数段検査用スイッチ群５，６はそ
れぞれ抵抗とによりＮＯＲ回路を構威している。抵抗Ｒ
の大きさは検査用スイッチに用いるトランジスタのオン
抵抗よりも大きく、オフ抵抗よりも小さく設定される。
ここで例えば図中の矢印で示された垂直信号線間が短絡
していたとする。まず垂直信号ｌｌ１！８間に短絡がな
いとすると、Ｅで観測される出力波形はＤに入力する検
査用パルスにおいて、水平走査回路２の奇数段目が選択
される期間内のみが出力される。同様にＦで観測される
波形は偶数段目の選択期間内のみが出力される。すなわ
ちＤに入力される検査用パルスがＥとＦに分配された格
好となる。しかし、図中に矢印で示されたように垂直信
号線間に短絡があった場合、必ず奇数番目と偶数番目が
短絡する事となり、短絡のある箇所ではＥとＦの出力は
同じになり、同じ出力のある所で短絡があることがわか
る。また、垂直信号線８の短絡が３本以上にわたる場合
も同様の検査で行うことができ、この場合、ＥとＦの出
力において同じ波形になる期間が長くなるだけである。
していたとする。まず垂直信号ｌｌ１！８間に短絡がな
いとすると、Ｅで観測される出力波形はＤに入力する検
査用パルスにおいて、水平走査回路２の奇数段目が選択
される期間内のみが出力される。同様にＦで観測される
波形は偶数段目の選択期間内のみが出力される。すなわ
ちＤに入力される検査用パルスがＥとＦに分配された格
好となる。しかし、図中に矢印で示されたように垂直信
号線間に短絡があった場合、必ず奇数番目と偶数番目が
短絡する事となり、短絡のある箇所ではＥとＦの出力は
同じになり、同じ出力のある所で短絡があることがわか
る。また、垂直信号線８の短絡が３本以上にわたる場合
も同様の検査で行うことができ、この場合、ＥとＦの出
力において同じ波形になる期間が長くなるだけである。
以上のように画像表示装置の奇数段及び偶数段目の垂直
信号線の終端にそれぞれ検査用スイッチ群を設け、抵抗
とによりＮＯＲ回路を構成し、その出力波形を観察する
ことにより、従来各信号線を１本１本調べるか又は液晶
工程を経て画像を表示させるまで不明であった垂直信号
線間の短絡とその位置を液晶工程以前に簡単に知ること
ができる。また、検査用スイッチ群は実施例では薄膜ト
ランジスタにより形成しているため、水平，垂直各走査
回路を形成する場合と同時に作製することができるので
、新たにプロセスを増や必要がない。
信号線の終端にそれぞれ検査用スイッチ群を設け、抵抗
とによりＮＯＲ回路を構成し、その出力波形を観察する
ことにより、従来各信号線を１本１本調べるか又は液晶
工程を経て画像を表示させるまで不明であった垂直信号
線間の短絡とその位置を液晶工程以前に簡単に知ること
ができる。また、検査用スイッチ群は実施例では薄膜ト
ランジスタにより形成しているため、水平，垂直各走査
回路を形成する場合と同時に作製することができるので
、新たにプロセスを増や必要がない。
なお、本実施例では、検査用スイッチ群としてトランジ
スタを用いたが、他の構戒にしてもよい。また抵抗は外
付けにしても内蔵としてもよく、トランジスタによる抵
抗を用いてもよい。さらに、転送用トランジスタスイッ
チ群はｎチャネルトランジスタでもＰチャネルトランジ
スタでよく、またはＣＭＯＳ−ＴＦＴ構威の転送用ゲー
トでもよい。
スタを用いたが、他の構戒にしてもよい。また抵抗は外
付けにしても内蔵としてもよく、トランジスタによる抵
抗を用いてもよい。さらに、転送用トランジスタスイッ
チ群はｎチャネルトランジスタでもＰチャネルトランジ
スタでよく、またはＣＭＯＳ−ＴＦＴ構威の転送用ゲー
トでもよい。
発明の効果
以上のように、本発明は、奇数番目の垂直信号線終端に
検査用スイッチ群を設け、直列接続する抵抗とによりＮ
ＯＲ回路を構成し、さらに偶数番目の垂直信号線終端に
も検査用回路を設けて抵抗とによりＮＯＲ回路を構成し
たところにある。このような構成によれば、奇数番目，
偶数番目にそれぞれ設けたＮＯＲ回路の出力信号を確認
するだけで、従来困難であった垂直信号線間の短絡を、
液晶工程以前に簡単に知ることができるようになり、そ
の実用的効果は大なるものがある。
検査用スイッチ群を設け、直列接続する抵抗とによりＮ
ＯＲ回路を構成し、さらに偶数番目の垂直信号線終端に
も検査用回路を設けて抵抗とによりＮＯＲ回路を構成し
たところにある。このような構成によれば、奇数番目，
偶数番目にそれぞれ設けたＮＯＲ回路の出力信号を確認
するだけで、従来困難であった垂直信号線間の短絡を、
液晶工程以前に簡単に知ることができるようになり、そ
の実用的効果は大なるものがある。
第１図は本発明の実施例における画像表示装置の構威図
、第２図（ａ） ． （ｂ）は本発明の実施例における
短絡の検査例の構成図、電圧波形図、第３図は従来の画
像表示装置の構成図である。 １・・・・・・垂直走査回路、２・・・・・・水平走査
回路、３・・・・・・転送用トランジスタスイッチ群、
４・・・・・・画素部、５・・・・・・奇数段信号線用
検査用スイッチ群、６・・・・・・偶数段信号線用検査
用スイッチ群、７・・・・・・水平ゲート線、８・・・
・・・垂直信号線。
、第２図（ａ） ． （ｂ）は本発明の実施例における
短絡の検査例の構成図、電圧波形図、第３図は従来の画
像表示装置の構成図である。 １・・・・・・垂直走査回路、２・・・・・・水平走査
回路、３・・・・・・転送用トランジスタスイッチ群、
４・・・・・・画素部、５・・・・・・奇数段信号線用
検査用スイッチ群、６・・・・・・偶数段信号線用検査
用スイッチ群、７・・・・・・水平ゲート線、８・・・
・・・垂直信号線。
Claims (1)
- 絶縁基板上に薄膜トランジスタによる水平走査回路、垂
直走査回路、二次元マトリクス状に配列された画素、各
列の画素に映像信号を供給する垂直信号線、水平ゲート
線を備え、前記水平走査回路の出力部は前記水平走査回
路の出力パルスにより制御される映像信号を垂直信号線
に転送するスイッチ群があり、垂直信号線の終端は検査
用スイッチ群の制御端子に接続されており、奇数番目の
垂直信号線終端にある検査用スイッチ群のソース、ドレ
インが共通で、偶数番目の垂直信号線終端にある検査用
スイッチ群のソース、ドレインが共通であることを特徴
とする画像表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15543589A JP2594358B2 (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 画像表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15543589A JP2594358B2 (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 画像表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0320782A true JPH0320782A (ja) | 1991-01-29 |
| JP2594358B2 JP2594358B2 (ja) | 1997-03-26 |
Family
ID=15605966
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15543589A Expired - Fee Related JP2594358B2 (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 画像表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2594358B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH055897A (ja) * | 1991-06-28 | 1993-01-14 | Sharp Corp | アクテイブマトリクス基板の検査方法 |
| US6982568B2 (en) | 2003-03-07 | 2006-01-03 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Image display device having inspection terminal |
| KR100671513B1 (ko) * | 2000-12-12 | 2007-01-19 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 액정표시소자의 단락위치검출방법 |
| CN105261317A (zh) * | 2015-09-17 | 2016-01-20 | 京东方科技集团股份有限公司 | 数据线短接不良的检测方法和检测装置 |
| JP2016085269A (ja) * | 2014-10-23 | 2016-05-19 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学基板、電気光学装置及び電子機器 |
| WO2021139658A1 (zh) * | 2020-01-06 | 2021-07-15 | 京东方科技集团股份有限公司 | 检测电路、阵列基板、显示面板 |
-
1989
- 1989-06-16 JP JP15543589A patent/JP2594358B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH055897A (ja) * | 1991-06-28 | 1993-01-14 | Sharp Corp | アクテイブマトリクス基板の検査方法 |
| KR100671513B1 (ko) * | 2000-12-12 | 2007-01-19 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 액정표시소자의 단락위치검출방법 |
| US6982568B2 (en) | 2003-03-07 | 2006-01-03 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Image display device having inspection terminal |
| JP2016085269A (ja) * | 2014-10-23 | 2016-05-19 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学基板、電気光学装置及び電子機器 |
| CN105261317A (zh) * | 2015-09-17 | 2016-01-20 | 京东方科技集团股份有限公司 | 数据线短接不良的检测方法和检测装置 |
| CN105261317B (zh) * | 2015-09-17 | 2018-05-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 数据线短接不良的检测方法和检测装置 |
| WO2021139658A1 (zh) * | 2020-01-06 | 2021-07-15 | 京东方科技集团股份有限公司 | 检测电路、阵列基板、显示面板 |
| US12062305B2 (en) | 2020-01-06 | 2024-08-13 | Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Test circuit, array substrate, and display panel |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2594358B2 (ja) | 1997-03-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |