JPH0320945A - 走査電子顕微鏡用試料ステージ - Google Patents
走査電子顕微鏡用試料ステージInfo
- Publication number
- JPH0320945A JPH0320945A JP1154134A JP15413489A JPH0320945A JP H0320945 A JPH0320945 A JP H0320945A JP 1154134 A JP1154134 A JP 1154134A JP 15413489 A JP15413489 A JP 15413489A JP H0320945 A JPH0320945 A JP H0320945A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- gear
- stage
- operating knob
- sub
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は走査電子顕微鏡用試料ステージの改良に関する
。
。
[従来の技術]
走査電子顕微鏡用試料ステージにおいては、試料ステー
ジを手動でX−Y移動又は傾斜させる場合、操作ツマミ
などを回転させて駆動するようにしている。
ジを手動でX−Y移動又は傾斜させる場合、操作ツマミ
などを回転させて駆動するようにしている。
このような機構の駆動装置では、駆動速度は操作ツマミ
の1回転当たりの移動量で決まり、例えば、操作ツマミ
1回転当たりの移動量がX−Y移動で0. 5wI1
であったり、又,傾斜角度が101のように決められて
いる。
の1回転当たりの移動量で決まり、例えば、操作ツマミ
1回転当たりの移動量がX−Y移動で0. 5wI1
であったり、又,傾斜角度が101のように決められて
いる。
[発明が解決しようとする課題コ
しかしながら、このような試料ステージで手動で試料移
動を行うは場合、試料移動範囲が大きかったり、又、傾
斜角度が大きい場合には、目的の位置まで移動するのに
、操作ツマミを何回も回転させなければならず試料移動
に時間を要する欠点があった。
動を行うは場合、試料移動範囲が大きかったり、又、傾
斜角度が大きい場合には、目的の位置まで移動するのに
、操作ツマミを何回も回転させなければならず試料移動
に時間を要する欠点があった。
本発明はこのような従来の問題を解決し、1つの操作ツ
マミで試料移動を敏速に、且つ、正確にに行え得る査電
子顕微鏡用試料ステージを提供することを目的としてい
る。
マミで試料移動を敏速に、且つ、正確にに行え得る査電
子顕微鏡用試料ステージを提供することを目的としてい
る。
[課題を解決するための手段]
そのため本発明は、試料室内に配置され試料を載置した
サブステージと、該サブステージを移動可能に載置した
試料台と、該試料台を試料室外より移動させるための駆
動手段と、該駆動手段よりの駆動力を前記サブステージ
に選択して伝達するための補助駆動手段とを備えたこと
を特徴としている。
サブステージと、該サブステージを移動可能に載置した
試料台と、該試料台を試料室外より移動させるための駆
動手段と、該駆動手段よりの駆動力を前記サブステージ
に選択して伝達するための補助駆動手段とを備えたこと
を特徴としている。
[実施例コ
以下本発明の実施例を図面に基づき詳述する。
図は本発明を傾斜動に適用した場合の一実施例を示す概
略ブロック図である。図において、1は試料、2は試料
1を保持するサブステージ、3は試料台、4は試料台3
を傾斜するための傾斜装置で、該傾斜装置4は、ウオー
ム4aとウオームホイル4bで構成されいる。5はウオ
ーム4al:操作ツマミ6の回転を伝えるためのシャフ
トである。
略ブロック図である。図において、1は試料、2は試料
1を保持するサブステージ、3は試料台、4は試料台3
を傾斜するための傾斜装置で、該傾斜装置4は、ウオー
ム4aとウオームホイル4bで構成されいる。5はウオ
ーム4al:操作ツマミ6の回転を伝えるためのシャフ
トである。
7はウームホイル4bを回転可能に支持するための支持
部材で、8は試料ステージ取り付けフランジである。9
は前記シャフト5に固定された第1歯車、10はクラッ
チ11を介して前記第1歯車9の回転が伝達される第2
歯車、12は第3歯車、13は第4歯車である。前記第
1歯車の回転はそれぞれの歯車を介して第4歯車13に
伝達される。
部材で、8は試料ステージ取り付けフランジである。9
は前記シャフト5に固定された第1歯車、10はクラッ
チ11を介して前記第1歯車9の回転が伝達される第2
歯車、12は第3歯車、13は第4歯車である。前記第
1歯車の回転はそれぞれの歯車を介して第4歯車13に
伝達される。
該第4歯車13が回転することにより、試料台3に移動
可能に配置されたサブステージ2が傾斜するようになっ
ている。14はクラッチ11を制御するための制御スイ
ッチである。15は対物レンズで、16は試料室である
。
可能に配置されたサブステージ2が傾斜するようになっ
ている。14はクラッチ11を制御するための制御スイ
ッチである。15は対物レンズで、16は試料室である
。
この様に構成された走査電子顕微鏡用試料ステージにお
いて、通常の操作では、先ず、第1歯車9の回転が第2
m車10に伝わらないように制御スイッチ14を操作し
てクラッチ11を「断」状態にしておく。この状態で、
操作ツマミ6を回転させると、シャフト5が回転し、こ
の回転がウオーム4aに伝わり、従って、ウオームホイ
ル4bも回転し、ウオームホイル4bに支持された試料
台3が回転するため試料1が傾斜する。この場合の傾斜
は、操作ツマミ6を1回転させた場合に、試料台3が傾
斜する角度、例えば10゜であるとすると試料1も10
゜傾斜する。
いて、通常の操作では、先ず、第1歯車9の回転が第2
m車10に伝わらないように制御スイッチ14を操作し
てクラッチ11を「断」状態にしておく。この状態で、
操作ツマミ6を回転させると、シャフト5が回転し、こ
の回転がウオーム4aに伝わり、従って、ウオームホイ
ル4bも回転し、ウオームホイル4bに支持された試料
台3が回転するため試料1が傾斜する。この場合の傾斜
は、操作ツマミ6を1回転させた場合に、試料台3が傾
斜する角度、例えば10゜であるとすると試料1も10
゜傾斜する。
次に、試料1の傾斜を増速させる場合は、第1歯車9の
回転が第2歯車10に伝達されるように制御スイッチ1
4を操作してクラッチ11を「接続」状態にする。この
状態で、操作ツマミ6を回転させると、この回転力はウ
オーム4a,ウオームホイル4bを介して伝達され試料
台3が回転するため試料1が傾斜する。一方、操作ツマ
ミ6の回転はシャフト5に固定された第1歯車9に伝達
されクラッチ11を介して第2歯車10に伝達される。
回転が第2歯車10に伝達されるように制御スイッチ1
4を操作してクラッチ11を「接続」状態にする。この
状態で、操作ツマミ6を回転させると、この回転力はウ
オーム4a,ウオームホイル4bを介して伝達され試料
台3が回転するため試料1が傾斜する。一方、操作ツマ
ミ6の回転はシャフト5に固定された第1歯車9に伝達
されクラッチ11を介して第2歯車10に伝達される。
この回転力はそれぞれの歯車を介して第4歯車13に伝
達され、サブステージ2が傾斜する。
達され、サブステージ2が傾斜する。
この場合のサブステージ2の傾斜角は、操作ツマミ6を
1回転させた場合に、例えば10”のようにそれぞれの
歯車比が設定されていたとする。従って、操作ツマミ6
を1回転させると、試料台3の傾斜角が10°で、その
上に載置されたサブステージ2がさらに10°傾斜する
ため、試料1は全体で20°傾斜することとなる。従っ
て、このような試料ステージにおいては、試料傾斜を行
うは場合、試料傾斜範囲が大きくても、目的の傾斜角ま
で容易に傾斜させることができ、従来装置のように操作
ツマミを何回も回転させる必要はなく、試料傾斜に時間
を要することはない。
1回転させた場合に、例えば10”のようにそれぞれの
歯車比が設定されていたとする。従って、操作ツマミ6
を1回転させると、試料台3の傾斜角が10°で、その
上に載置されたサブステージ2がさらに10°傾斜する
ため、試料1は全体で20°傾斜することとなる。従っ
て、このような試料ステージにおいては、試料傾斜を行
うは場合、試料傾斜範囲が大きくても、目的の傾斜角ま
で容易に傾斜させることができ、従来装置のように操作
ツマミを何回も回転させる必要はなく、試料傾斜に時間
を要することはない。
上記実施例は例示であり、変形して実施することができ
る。上記実施例では、操作ツマミ6を1回転させた場合
に、サブステージ2の傾斜角度はそれぞれの歯車比によ
って決定されたが、歯車比を設定しておき、クラッチ1
1に供給する励磁電流を変化させその励磁の強度を変化
させることによりクラッチの滑りを利用しサブステージ
2の傾斜角を調整するようにしてもよい。
る。上記実施例では、操作ツマミ6を1回転させた場合
に、サブステージ2の傾斜角度はそれぞれの歯車比によ
って決定されたが、歯車比を設定しておき、クラッチ1
1に供給する励磁電流を変化させその励磁の強度を変化
させることによりクラッチの滑りを利用しサブステージ
2の傾斜角を調整するようにしてもよい。
又、上記実施例では試料傾斜の場合について説明したが
、本発明は試料傾斜のみに限定されるものではなく、X
−Y移動についても適用するこができる。
、本発明は試料傾斜のみに限定されるものではなく、X
−Y移動についても適用するこができる。
[発明の効果]
以上の説明から明らかなように本発明によれば、試料台
を試料室外より移動させ、この駆動手段よりの駆動力を
サブステージに伝達するための補助駆動機構を備えて試
料移動を行うようにしたので、試料移動範囲が大きくて
も操作ツマミを何回も回転させることなく敏速に試料移
動を行なうことができる。
を試料室外より移動させ、この駆動手段よりの駆動力を
サブステージに伝達するための補助駆動機構を備えて試
料移動を行うようにしたので、試料移動範囲が大きくて
も操作ツマミを何回も回転させることなく敏速に試料移
動を行なうことができる。
図は本発明の一実施例を示す概略ブロック図である。
1:試料、2:サブステージ、3:試料台、4:傾斜装
置、5:シャフト、6:操作ツマミ、7:支持部材、8
:フランジ、9:第1歯車、10:第2歯車、11:ク
ラッチ、12:第3歯車、13:第4歯車、14:制御
スイッチ、15:対物レンズ、16:試料室。
置、5:シャフト、6:操作ツマミ、7:支持部材、8
:フランジ、9:第1歯車、10:第2歯車、11:ク
ラッチ、12:第3歯車、13:第4歯車、14:制御
スイッチ、15:対物レンズ、16:試料室。
Claims (1)
- 試料室内に配置され試料を載置したサブステージと、該
サブステージを移動可能に載置した試料台と、該試料台
を試料室外より移動させるための駆動手段と、該駆動手
段よりの駆動力を前記サブステージに選択して伝達する
ための補助駆動手段とを備えた走査電子顕微鏡用試料ス
テージ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1154134A JPH0320945A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 走査電子顕微鏡用試料ステージ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1154134A JPH0320945A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 走査電子顕微鏡用試料ステージ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0320945A true JPH0320945A (ja) | 1991-01-29 |
Family
ID=15577639
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1154134A Pending JPH0320945A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 走査電子顕微鏡用試料ステージ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0320945A (ja) |
-
1989
- 1989-06-16 JP JP1154134A patent/JPH0320945A/ja active Pending
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