JPH03210231A - 眼屈折力測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［ａ業上の利用分野］ 本発明はいわゆるフォトリフラクション法を用いた眼屈
折力測定装置の改良に関する。

［従来の技術］ 被検眼瞳孔像の陰影から眼屈折力測定を行なうフォトリ
フラクション法が知られる。即ち瞳孔を写真撮影し瞳孔
領の陰影を目視で判断する、更には陰影の勾配を使って
計算することが知られている。

［発明が解決しようとしている課題］ しかしながら従来のフォトリフラクション法を用いた眼
屈折力測定装置は被検眼の眼底反射率に影響されるもの
で精度が良くなく、正確な眼屈折力を求めることができ
なかった。

本発明の目的はフォトリフラクション法を用いた精度の
高い眼屈折力測定装置を提供することにある。

［課題を解決するための手段］ 本発明は上記目的を達成するため、被検眼眼底からの光
路中に順に光分割部材、及び光学系開口の一部を遮るよ
うに直線状エツジを持つ遮光板を備えた受光光学系と、
該直線状エツジに交差する方向に光源部を備えて前記光
分割部材を介して被検眼眼底を照射する照射光学系と、
被検眼瞳孔と略共役位置の前記受光光学系の受光面に設
けられる撮像素子と、前記直線状エツジに交差する方向
に所定距離間れた被検眼瞳孔の２つの領域における前記
撮像素子で検出される光量比又はコントラストを基に被
検眼屈折力を演算する演算手段を有することを特徴とす
る。

［実施例］ 第１図は本発明の実施例を示す。被検眼眼底Ｅｒからの
光路中には被検眼側から順にハーフミラ−４、遮光板５
、レンズ６、該レンズ６に関し被検眼瞳孔Ｅｐと共役な
撮像素子７が設けられる。なお２０は演算器である。

そして遮光板５は第３図に示されように光学系開口の一
部を遮光するように直線状エツジ５０を備え、第１図で
遮光板５の上端は直線状エツジ５０を示す。第１図で遮
光板５の上端と被検眼瞳孔Ｅｐの中心を結ぶ方向を主光
線方向とするとき、ハーフミラ−４で反射される該主光
線方向の光路上には被検眼側から順に遮光板３、レンズ
２、点状光源１が設けられる。

そして遮光板３はハーフミラ−４に関し遮光板５と共役
に設けられ、第２図に示されるように直線状エツジ５０
の方向に垂直に細長いスリット開口３０を備える。被検
眼Ｅ側から見た遮光板３，５の配置関係は第５図に示さ
れる。

第１図で点状光源１はレンズ２により被検眼瞳孔Ｅｐの
中心に結像され、被検眼眼底Ｅｒはスリット開口３０に
よってスリット状に照射される。

第４図に被検眼眼底Ｅｒからの反射光束を示す。

第４図（ａ）は被検眼眼底Ｅｒと遮光板５が共役の場合
で、被検眼で正視に近い状態を示す。遮光板５の上端に
対応する被検眼眼底上基準位置から位置より下方位置か
らの光束も同様に被検眼瞳孔を通過して遮光板５で何ら
遮光されずに撮像素子７へ達する。又上記眼底上基準位
置より上方位置からの光束は全て遮光板５で遮光される
。これらを総合すると被検眼瞳孔と共役な撮像素子フ上
で検出される被検眼瞳孔内の２つの領域（例えば上側位
置と下側位置）における光量即ち照度は同じ値となる。

次に第４図（ｂ）は被検眼眼底Ｅｒと遮光板５の被検眼
に近い側の位置が共役の場合で、遮光板５の上端に対応
する被検眼眼底上基準位置からの光束は被検眼瞳孔を通
過して遮光板５で下側半分が遮光されるため被検眼瞳孔
の上側半分が暗くなり、レンズ６で左右上下方向が反転
され撮像素子７で瞳孔の下側半分が暗くなるように検出
される。

そして眼底上の上記基準位置より下方位置すなわち光軸
側位置からの光束は一度結像された後に遮みが暗くなる
、即ちレンズ６で左右上下方向が反転され撮像素子７で
瞳孔゛の下端側の微かな部分のみが暗くなるように検出
される。又眼底上の上記基準位置より上方位置からの光
束は遮光板５により光束の遮光度合が大きくなるように
遮光されるため被検眼瞳孔の下端側の微かな部分のみが
明るくなる、即ちレンズ６で左右上下方向が反転され撮
像素子７で瞳孔の上端側の微かな部分のみが明るくなる
ように検出される。これらを総合すると、撮像素子７上
で上側位置の光量が最も高く下側に向けて直線的に低く
なり下側位置で最も低くなる照度分布が得られる。

一方第４図（Ｃ）は被検眼眼底Ｅｒと遮光板５の被検眼
から遠い側の位置が共役の場合で、遮光板５の上端に対
応する被検眼眼底の基準位置からの光束は被検眼瞳孔を
通過して遮光板５で下側半分が遮光されるため被検眼瞳
孔の下側半分が暗くなり、レンズ６で左右上下方向が反
転され撮像素子７で瞳孔の上側半分が暗くなるように検
出される。

そして眼底上の上記基準位置より下方位置からの光束は
撮像素子７で瞳孔の上端側の微かな部分のみが暗くなる
ように検出される。

又眼底上の上記基準位置より上方位置からの光束は撮像
素子７で瞳孔の下端側の微かな部分のみが明るくなるよ
うに検出される。

これらを総合すると撮像素子フ上で下側位置の光量が最
も高く上側に向けて直線的に砥くなり上側位置で最も低
くなる光量分布が得られる。

第６図には眼底に投影されたスリット３０の各点からの
反射光束の遮光板５の面でのボケ円を示す０円９は眼底
に投影されたスリット３ｏの端部からの光束、円１０は
上記基準位置からの光束を示す。

又円１１、円１２は各々直線状エツジ５ｏに接するが円
１１は遮光板５によって全く遮光されない光束、円１２
は遮光板５によフて全て遮光される光束を示す。

以上のようにして得られる撮像素子７上の瞳像を第８図
に示す。

又該瞳像の中心線１３に沿った照度分布を第９図に示す
。実線が眼底と遮光板５が共役の場合を示し矩形状分布
となり、破線が眼底と遮光板５が非共役の場合を示し傾
斜をもった分布となる。点Ｐ１と点Ｐ２の照度”！＋”
２の比をＡとし、遮光板５の位置に対応したデイオプタ
をＤｏ、直線状エツジ５０から測った開口部におけるス
リット光像の長さを１、点Ｐ、と点Ｐ２の間隔をｄとす
ると、被検眼のデイオプタｐは、 と表わされる。

第７図は瞳孔が大きくなったときと、眼底の反射率が高
いとき第９図の照度分布がどうなるかを示している。

鎖線が瞳孔が大きくなったときで、−点鎖線が眼底の反
射率が高いときである。

第７図で眼底の反射率が変わると、ある一定の眼屈折度
であっても傾斜の度合いが変わってくるので傾斜の度合
いを測定しても正確に眼屈折度測定に対応しない。

即ち点ＰＩ、Ｐ２の照度ＨＩ　＋　Ｈ２が共にに倍（Ｋ
は定数）となり、各々Ｈ’　ｒ　＊　Ｈ’　＊となれば
明らかに傾斜の度合いが変わってしまう。

しかし本実施例のように像面で一定歪１ｌＩｌ離れた点
Ｐ、、Ｐ２を定め、その照度比又はコントラストを測定
すればＨ”ｌとＨ′２の比は、ＨｌとＨ２の比と同じ値
であるため、眼底の反射率の変化に拘らず正確に眼屈折
度測定に対応できる。

［変形例］ なお点Ｐ　Ｉ　＋　Ｐ２は瞳孔の端である必要はなく又
瞳孔中心に関し対称位置に無くても良い（例えば瞳孔中
心と瞳孔中心以外の位置でも良い）。又対称位置にある
点Ｐ、、Ｐ、は中心線上でなくても良い。これは直線状
エツジ５０に垂直方向の任意の線上で上述した照度分布
と同じ照度分布だからである。

更に照度比又はコントラストの算出は点ＰＬ、Ｐことい
う点領域に限定されず、Ｐ、、Ｐ２を各々重心位置とす
る面積領域（互いに分離されていても良く、又互いに一
部オーバーラップしていても良い）であっても良く、こ
の場合該面積領域の総光量或いは平均光量を基に２つの
領域の照度比又はコントラストを算出する。

特に瞳孔中心に関し対称な形となる瞳孔の上半分と下半
分の２つの面積領域を考え、該面積領域における重心位
置の間隔をｄとし、該面積領域の総光量の比をＡ若しく
は該面積領域の平均光量の比をＡとして前述の式より被
検眼のデイオプタＤを求めることは有効である。

なお被検眼のデイオプタが大きくなると第１０図に示さ
れるように端部において分布の直線性がなくなるので直
線性の成り立つ範囲にある点ｐ、”、ｐ２　’の照度比
又はコントラストを算出する。ところで上述した説明で
は遮光板３の開口はスリット状としたが、第１１図に示
す如く境界線３０′（直線に限られない）で表わされる
ようにスリットの巾をレンズ開口いっばいに広げても良
い。

又光源１は点状光源としたが瞳孔Ｅｐを包含するような
光源でも良く、レンズ２により集光させずに遮光板３の
位置に拡散光源を設けても良い。

［発明の効果］ 以上、本発明によればフォトレフラクション法で精度良
く眼屈折力を測定することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例を示す図、 ′ｓ２図は投影系遮光板の図、 第３図は受光系遮光板の図、 第４図（ａ）（ｂ）（ｃ）は眼底反射光束の遮光板にお
ける蹴られを示す図、 第５図は投影系受光板と受光系遮光板の配置関係を示す
図、 ３４６図は受光系遮光板面での眼底各点からのボケ光束
の説明図、 第７図は瞳孔が大きくなった場合、眼底の反射率が高い
場合の瞳像の照度分布を示す図、第８図は瞳像を示す図
、 第９図は瞳像の照度分布を示す図、 第１０図は被検眼のデイオプタが大きい場合の瞳像の照
度分布を示す図、。 第１１図は投影系遮光板と受光系遮光板の変形例を示す
図、 図中 １は光源 ３．５は遮光板 ４はハーフミラ− ７は撮像素子 ２０は演算器 ３０はスリット開口 ５０は直線状エツジ Ｅは被検眼 ＥＰは瞳孔 Ｅｒは眼底

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. （１）被検眼眼底からの光路中に順に光分割部材、及び
   光学系開口の一部を遮るように直線状エッジを持つ遮光
   板を備えた受光光学系と、該直線状エッジに交差する方
   向に光源部を備えて前記光分割部材を介して被検眼眼底
   を照射する照射光学系と、 被検眼瞳孔と略共役位置の前記受光光学系の受光面に設
   けられる撮像素子と、 前記直線状エッジに交差する方向に所定距離離れた被検
   眼瞳孔の２つの領域における前記撮像素子で検出される
   光量比又はコントラストを基に被検眼屈折力を演算する
   演算手段を有することを特徴とする眼屈折力測定装置。
2. （２）前記光源部はスリット形状である請求項１記載の
   眼屈折力測定装置。
3. （３）前記２つの領域は点状領域である請求項１記載の
   眼屈折力測定装置。
4. （４）前記２つの領域は重心位置が所定距離離れ、領域
   が分離された若しくは領域が一部オーバーラップした面
   積領域である請求項１記載の眼屈折力測定装置。
5. （５）前記演算手段は前記面積領域における総光量の比
   又はコントラストを基に被検眼屈折力を演算する請求項
   ４記載の眼屈折力測定装置。
6. （６）前記演算手段は前記面積領域における平均光量の
   比又はコントラストを基に被検眼屈折力を演算する請求
   項４記載の眼屈折力測定装置。