JPH03210675A - サイン検証方法及びその装置 - Google Patents

サイン検証方法及びその装置

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JPH03210675A
JPH03210675A JP2306955A JP30695590A JPH03210675A JP H03210675 A JPH03210675 A JP H03210675A JP 2306955 A JP2306955 A JP 2306955A JP 30695590 A JP30695590 A JP 30695590A JP H03210675 A JPH03210675 A JP H03210675A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、自動サイン検証時に於ける本物のサインの拒
否に対処するための方法及びその装置に関する。
〔従来の技術〕
自動サイン検証は、例えば、小切手やカードを使用した
金融取引やコンピューター等の設備利用や施設への入場
を許可するのに利用されている。
過去、未来を問わず自動サイン検証が役立つ例はこの他
にも数多(ある。
仝矧のサイン検証装置では、署名者が電子入力装置上で
サインをする。この種の大刀装置には数々のタイプがあ
り、その作動原理も様々である。
ある装置は英国特許第1.310,683号や米国特許
第3.885.097号に記載された原理で作動してサ
インのX、Y軸上の点が提供される。他の装置では、英
国特許出願番号第8626411号(公告番号第218
3071A号)に記載されるように記載面上の不透明な
線を横切る度にセンサーへの光が遮断されてサインの諸
々の部分の書く速度でサインが検証される。また、サイ
ンがなされる間に発生する音によりサインの検証を実施
する場合もある。
大抵のサイン検証方法では、第1段階でサイン検証装置
の教育を行う。サイン検証する各人、または、「署名者
」が2.3のサイン例を提供し、これらのサイン例が自
動測定されて数組のスタティック値及び、もしくf、?
ダイナミック値が提供され、容置により異なるサイン特
性が示される方法が多い。(ダイナミック匝は、例えば
、サインをするのに用いるペンがその接触する記載面か
ら持ち上げられた回数等のサインをする時にのみ明らか
となるサイン特性により決定される。)これらのスタテ
ィック及び、もしくはダイナミック値は、例えば、平均
により「正規j値を決定するのに用いられる。
以後、検証のために提示されるサインは、前記の教育段
階でなされたと同様に測定して値を得、得た値と「正規
」値とを比較して判断される。簡単な方法では、新にな
されたサインの測定値が「正規値」の特定範囲に収まれ
ば、サインは認識されたとものと考えられる。しかしな
がら、サインの測定値に基づいて「正規」値と比較して
全体的性能を決定する方法を用いるのが好適である。
かかるサイン検証方法は、パターンもしくはテンプレー
ト相関検証方法として公知である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
公知のサイン検証方法の問題点は、低い割合ではあるが
本人のサインが贋物として拒否されることである。この
結果、特に、そのサインが拒否された場合には、使用者
が侮辱感を味わうこととなるためかかるシステムの大概
が満足のい(ものとはみなされていない。サイン検証に
利用される限界を変更して大抵の誤拒否を排除すること
が可能である一万、贋物のサインを本物として受は付け
る件数が許容範囲を超えてしまう。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の第一の態様に依れば、検証する試験サインを示
す測定値を測定値に対応する複数の本人のサインから誘
導された値と比較して本人のサインの誤拒否を生じると
考えられているタイプの変化が試験サイン中に生じたか
否かを本人のサインと比較して決定すること、及び、試
験サインを検証する過程に於いてかかる変化を考慮する
こととから成る自動サイン検証方法が提供される。
本発明の第二の態様に依れば、検証する試験サインを示
す測定値を測定値に対応する複数の本人のサインから誘
導された値と比較して本人のサインの誤拒否を生じると
考えられているタイプの変化が本人のサインと比較して
試験サイン中に生じたか否かを決定する手段と、及び、
試験サインを検証する過程に於いてかかる変化を考慮す
る手段とから成るサインを自動検証するための装置が提
供される。
上記測定及び誘導値は、上記の電子入力装置もしくはそ
の他側れの適当な装置から得ることが出来、また、誘導
後は1例えば、試験サインが検証のために書き込まれる
遠隔の端宋機からアクセス出来るメインフレームコンピ
ューター、必要に応じコンピューターネットワークに接
続されたパーンナルコンピューター もしくは、サイン
検証を行う時に提示するクレジットまたはチャージカー
ド等のパッシブまたはスマートカードに記憶することが
出来る。
誘導値は、多くの公知方法中適当な方法を用いて誘導出
来る。
サイン検証方法は、多(の公知方法中の適当な方法に基
づ(ことが出来るが、例えば、拒否されたサインを取り
出し、上記タイプの変化を考慮して検証工程の全てもし
くは一部を繰り返すように修正する。また、別の方法と
して上記タイプの変化を第一の拒否決定がなされる前に
考慮しても良い。
本発明の第一の態様の方法は、それぞれの署名者に就き
、複数の署名者本人のサインに関しスタティック及び、
もしくはダイナミック測定を行い署名者に関する誘導値
を求める段階と、上記表示からの正規以上の変化が生じ
そうなスタティックもしく(ヨダイナミック点が署名者
本人のサインに存在するか否かを決定する段階と、かか
る点が存在する場合には、かかる点が一つ存在するとい
うことを少なくとも記録する情報を記憶する段階と、及
び、上記タイプの変化が生じそうな点を示す誘導値及び
記憶情報を利用して署名者本人がしたとされるサインを
検証する段階とを含む。
本発明の第二の態様の装置は、そのサインが装置により
認識される各人に就いて、−群の本人のサインに就いて
一組のスタティック及びもしくはダイナミック測定を実
施する手段と、前記数組の測定値から誘導値を求める手
段と、各人に就き、署名者のサイン表示からの正規以上
の変化が生じそうなスタティックもしくはダイナミック
点が署名者のサイン中に存在するか否かを決定する手段
と、及び、署名者のサイン中にかかる点が存在する場合
には、各人に就き、かかる点が一つ存在することを少な
くとも記録するように配列された前記数組の測定値と情
報を記憶する手段とを含み、変化を考慮する手段が前記
記憶手段に保持された前記数組の測定値と前記情報とか
ら前記タイプの変化が生じそうな点を示す前記情報を利
用してサインを検証する手段の一部を形成することを特
徴とする。
誘導値は、相関パターンもしくはテンプレートサイン検
証もしくは英国特許出願番号第8925478.3号に
記載されたサイン検証方法に使用される隠しマルコフ(
Markoτ)モデルに使用される値でも良い。
記憶された情報で記憶された表示に於けるかかる点が生
じる(空間的かつ時間的)部位やかかる点で生じる変化
の度合いを明示することが出来る。
公知のサイン認識装置の構成に於いては、サイン間に於
ける変化は1例えば、署名速度、大きさ。
方向等に於ける僅かな変化にまで限定した任意のもので
あるから統計的アプローチでサイン検証の修正が可能で
あるといった仮定がなされたように思われる。しかし、
任意の原因に依らない著しい変化も生じるものであり、
かかる変化は考慮されていないと考えられる。かかる変
化は、構造的なものであり、即ち、「正規の」サインの
全体部分が欠落したり、余分な部分が追加されたりする
自分自身のサインを観察してみると、個々のサインに変
化が生じており、これらの変化とは、rtJや「を初点
や横棒の欠落であったり、下線の追加や省略であったり
することが分かる。実際、本発明の発明者は、上記変化
は実際に生じるものであるが、フィールドトライアル中
に収集された拒否サインの拒否原因を調べてみると、上
記変化が最も頻繁に発生する構造欠陥ではないことが判
明した。このフィールドトライアルにより判明した拒否
原因のい(つかをおおまかに頻度順に下記に示す。
α)間隔「誤り」(サインのインクで書かれた部分間の
ペンが紙面より離れる間隔)  59%1、間隔の延長
(躊躇)       285A11、余分なペンアッ
プ(しばしは筆工が落とされる上昇/下降ループの頂/
底部に於ける)19免 比 ペンアップ落としく続けて書(ことによる部分間で
のペンアップの欠如)     12Xυ 床尾の余分
な部分(例えば、下線及び、もしくは点)      
          12%C)サイン中の点の欠落 
       6%g)頭部の余分な部分(例えば、偶
然のペンダウン)               4比
−)その他のサイン中の「単純な」部分の欠落(例えば
、rtJの横棒)          4Xf)部分内
での停止(移動の欠如)   3%g)頭部部分もしく
は末尾部分の欠落([今直ぐにサインを」といった指示
をたぶん予測して)3之 h)部分短縮(概ねサインの末尾にか で)3% i)調査例中−度しか発生しなかったその他の「誤り」
−サイン中の余分な点、下線の欠落、サイン中の余分な
部分。
下線追加の例ζま発見されなかったが、かかる誤りが存
在することは公知である。
上記データハ総数681[の個々の拒否サインの検査、
観察から取られたものである。上記に引用したパーセン
トは正確ではないが、「誤り」のランク付けは現実的な
ものであり、かかる誤りに対処する技術の開発に於ける
優先順を設定するのに利用された。
記憶サイン変化からの正常以上の変化、即ち、上記タイ
プの変化は全ての人のサインに生じるわけではな(、あ
る人のサインでは、はぼ完全なサインが達成されている
以上のように、本発明は、例えば、隠しマルコフ(MA
RKoV)モデルの技術、もしりcマテンプレート技術
に於ける如き変化に敏感な方法で、不確かなサインが生
じた場合には構造感知方法を誘起することで、または、
時折入力される厄介なサインの表示を変更して記憶され
た表示に合致するようにしてサイン検証をする上で正規
以上の変化を考慮することが可能となる点で効果がある
。習慣的に正常以上の変化がそのサインに生じるとされ
る人に就いては許容限界を調整することも可能である。
本発明の第一の態様による方法は、サインを書いたとさ
れる人の正常のサインの記憶表示と、仮に存在する場合
にtr、その本人のサインに於ける記憶表示からの正規
以上の変化が生じそうな少なくとも−転に関する情報と
を使用して、前記点に関する記憶情報に相当するサイン
の正規以上の変化を考慮してサインを検証する段階を含
むことが可能である。
本発明の第二の態様は、そのサインが認識される人の正
規のサイン表示と、仮に存在する場合には、そのサイン
に於ける当該サインの記憶表示からの正規以上の変化が
生じそうな少なくとも−転に関する各サインに関する情
報とを記憶する手段と、及び、前記記憶手段が表示と、
仮にある場合には、サイン中の前記点に関する情報とを
保持する各サインを前記点に関する記憶情報に相当する
サインの正規以上の如何なる変化をも考慮する表示を使
用して検証する手段とを含むことが可能である。
本発明は、また、正常なサインの表示を求めて記憶し、
且つ、記憶された表示に対してはサインに於ける正規以
上の変化がしばしば生じるサイン中の点を求めて記憶す
る方法及びその装置に関する。
本発明の第三の態様に依れば、検証する試験サインを表
す測定値を測定値に対応する本人のサインを表す値と比
較して本人のサインの誤拒否を生じるとされるタイプの
変化が試験サイン中に生じたか否かを本人のサインと比
較して決定する段階と、及び、試験サインの検証工程に
於いて何れのかかる変化をも考慮する段階とから成る自
動サイン検証方法が提供される。
本発明は、また、前記第三の態様の方法に対応する装置
を含む。
本発明の第四の態様に依れば、検証サインを表す値と期
待サインを表す垣間の少なくとも一つの検証サインの誤
拒否を発生するタイプの相違点に就いての考慮がなされ
るサイン検証方法及びその装置が提供される。
〔実施例〕
本発明に係わるサイン検証システムの一例では、サイン
を検証される本人がサイン検証を満足に実施するのに充
分な本人のサインに関する情報がコンピューター11(
第1図参照)に接続した特殊ペン10から抽出されたと
コンピューターに表示されるまで特殊ペン10を使って
基準サインをサインする。この後コンピューター11に
よるサイン検証が可能となるが、サインが拒否される場
合には、任意の原因に依らない及び、もしくは誤拒否を
生じるとして公知の前記したタイプの変化が原因となる
ことがある。検証のために収容した試験サインが最初受
付られない場合には、コンピュータープログラムかい(
つかの前記変化を考慮する。本実施例では、かかる変化
が生じそうなサインのスタティックもしくはダイナミッ
ク点の決定が基準サインが供給される学習段階ではなさ
れない。代わりに、−もしくは、時には一以上のあるタ
イプの非任意変化が生じる拒否サインが修正される。し
かし、スタティック及びダイナミック点の決定は本発明
の幾つかの実施例に於いて使用可能な有益な段階である
サイン12の一部が密に印刷された水平線を備える領域
13上に書かれているのを第1図に示す。
領域13(ま1例えば、小切手等の紙片14上にある。
サイン検証は上記の英国特許出願番号第8626411
号及び米国出願第137,676号に記載の方法で実施
され、領域13の平行線の一本が横断される毎に特殊ペ
ン10による感知がなされる。上記双方の出願に記載さ
れた方法は、また、上記の英国特許番号第1.310.
683号及びそれに対応する米国特許番号第3.885
,097号に従属するものであり、その目的上、特殊ペ
ン10は紙片14と接触、離脱する毎に感知を実施する
ようにされている。上記目的上、特殊ペンは圧力感知式
でも良(、また、該ペンの受光する元の量で接触を感知
することが可能であり、f、た、特に色を感知するよう
に領域13の線が特有の色で印刷されている場合には色
で接触を感知することが可能である。基準サインが1き
込まれるとコンピュタ−プログラムが収容した情報をセ
グメントに分割し、分割されたセグメントの端部でペン
が紙片から持ち上げられる。例えば、第1図に示すサイ
ンでは、第一のセグメントが最初の「G」で終わり、第
二のセグメントがピリオドの後で終わり、第三のセグメ
ントがそれに続(が、同図では、完了されていない。
各セグメントに就いて多数の測定値が記憶されるが、そ
のい(つかを以下にきす。
セグメントのイベント数、 セグメント中の横断された線の本数、 イベントの発生総数、及び イベントの発生する距離の合計等である。
横断される線の本数の変更率が最小または最大値を超え
るとイベントが発生すると言われており、−イベントの
時間はセグメントの始めからイベントが発生するまでで
あり、イベントの距離はセグメントの始めからイベント
が発生するまでに横断された線の本数である。
サインが書き込まれると、上記の測定値及び上記以外の
測定値が各セグメント毎に累積されてサインに関する測
定値全体が演算記憶される。サイン全体に関する測定値
のいくつかの例を下記に示すが、実際には、下記以上の
多(の測定値が演算記憶される。
合計書込み時間。
合計ペンアップ時間、 合計ペンダウン時間、 セグメント数、 合計横断線本数、及び 合計イベント数である。
ペンアップ時間とペンダウン時間はそれぞれペンが紙片
と非接触状態及び接触状態にある間隔の合計である。
サイン検証の一態様では、サイン全体に対するリストア
ツブされた測定値及びその他の測定値の各々に就いての
平均値を全ての基準サインからの測定値の標準偏差と一
緒に演算して、演算された値が本明細書では平均基準サ
インとして参照される。
検証に当たっては、試験サインから誘導されるサイン全
体に対するリストアツブされた測定値の各々とそれに対
応する相違の平均値との差を演算し、対応する標準偏差
により所定の正規値になるまで分割される。最終正規値
を合計して平均及び実効値(RMS値)を求めた。合計
値、平均値及びRMS値は合計され、合計が極限値以下
の場合にはサインは有効なものと認識される。本例は説
明のみの目的で記載されたものであり、実際には、上記
以上の多(の測定値が常に誘導されて、比較検証のため
のその他の方法の利用も可能である点を認識する必要が
ある。
サインが拒否されると、第2.3、及び4図のアルゴリ
ズムが使用されてサインを修正する。
テスト20では、認識する試験サインのセグメント数が
平均基準サインのセグメント数と比較され、双方のセグ
メント数が同一ならばテスト21でサインの合計時間を
実質上延長するか否かを決定し、セグメント数が同一で
ない場合には動作22でサインを拒否する。合計時間の
実質延長がなされると、それまでのテストで、ペンが紙
片と接触していない間に躊躇(ペンアップ)が発生した
か。
もしくは、ペンが紙片に接触した甲までの停止(ペンダ
ウン)が発生したか何れかが示される。
テスト23で、例えば、ペンアップ時間を平均基準サイ
ンの合計ぺ7721時間の二倍以上に、もしくは、平均
基準サインの合計ペンアップ時間に対する所定の増分時
間以上に実質的に延長するか否かが決定される。本テス
トに対する肯定的結果が躊躇が発生したことを示し、テ
スト24がペンアップ時間の(例えば、予想ペンアップ
時間の10倍以上の)超過を示すと、試験サインが再度
拒否される。テスト24の結果が肯定的である場合には
、躊躇に対する処置が動作25.26及び27に於いて
なされる。セグメント間の長ペンアップ時間を動作25
で先ず設置して、この長ペンアップ時間を差引、且つ、
予想ペンアップ時間を平均基準サインからの間隔に代え
て使用して(動作26)サインの合計時間を修正する。
動作27でも同様な方法で合計ペンアップ時間を修正す
る。
次に、再相関動作28で修正サイン測定値と平均基準測
定値とを比較して本動作に於いて上記した如くサインの
受付または拒否が行われて、アルゴリズムが終結する。
テス)21が試験サインの合計時間が実質的に延長され
ることを示し、テスト23がペンアップ時間が実質的に
延長されないことを示す場合には。
停止が発生しており、動作29で処理されて、動作28
での再相関以前にサインが修正される。サインを修正す
る処理手段の幾つかの例があげられるので、処理停止の
詳細は説明しないが、かかる処理は明白である。
テスト20の結果が否定的である場合には、第3図のア
ルゴリズムが使用され、最初テスト30でペンダウン時
間を、例えば、0.5秒(500ms)実質的に増加す
るか否かの決定がなされる。
増加がなされない場合には、テスト31でペンダウン時
間の実質的に減少するか否かの決定がなされ、増加され
る場合には、−セグメントの欠落が生じたのであり、動
作32に於いて平均基準サインからの欠落セグメントを
追加することで試験サインの処理がなされる。この後、
動作28での再相関が行われるが、この動作28を便宜
上、第2゜3及び4図に示す。
ペンダウン時間が実質的に減少されなかった場合(テス
ト31参照)には、テスト33で、例えば0.1秒(Z
oomS)の極短時間の間隔が現れたか否かの決定がな
される。かかる間隔は、はぼ通常ペンと紙片間での無意
識の接触喪失の結果化じるものであり、ペンでサインを
するときに見られる如き圧力減少が生じてサインに於け
る小さな間隔が紙片上の圧力不充分より生じた。テスト
33が極短時間の間隔が現れたことを示す場合には、動
作34に移りセグメントを介して短ペンアップ時間を探
索する。短ペンアップ時間に対する処理が動作35.3
6及び37で続いてなされる。動作35で検証するサイ
ンのセグメント数が一つ減少し、動作36でペンアップ
の継続期間を差し引いてペンアップ時間を修正し、動作
37で間隔の継続期間を追加してペンダウン時間を修正
する。
次いで、テスト38でサインの末尾セグメントの端部ま
での到達が成されたか否かの決定がなされ、かかる到達
が成されない場合には、動作34へ戻る。極短時間の間
隔はほぼ常に無意識に生じるものであるから、かかる間
隔の処理の後には他の非任意のエラーに対する処理が続
き、故に、探索が完了してアルゴリズムが第2図の第一
の動作(動作20)に戻る時に動作39が生じる。本例
に於いては試験サインを修正する他の処理の後では上記
のようなアルゴリズムの戻りC;生しない。これは、こ
の種の処理が多(なり過ぎると検証方法の品質が低下す
るためである。しかし、い(つかの処理の組合せは可能
である。必要に応じてテスト38に示す如く探索が完了
した後で再相関動作28を実施することが可能であり、
サインが受は付けられれば、動作20への戻りは必要な
い。
平均基準サインと試験サインに関して記録された測定頭
の一つは各セグメントの始めと終わりの発生時間であり
、ピリオドの点の如き短いセグメント立置が公矧である
。テスト33の結果が否定的なものである場合には、点
またはピリオドが発生したことを示しており、動作41
で点またはピリオドに相当する平均基準サイン中の各極
短セグメントの位置と試験サインの同様の極短セグメン
トとの比較がなされる。試験サイン中に点またはピリオ
ドが発見され、平均基準サイン中に点またはピリオドが
存在しない場合には1.この追加の点またはピリオドが
除去されて、動作42乃至45の修正が以下に記す如〈
実施される。
−贋物の点に続(間隔の継続期間を差し引いて合計ペン
アップ時間を修正する、 点の継続期間を差し引いて合計ぺ/ダウン時間を修正す
る。
セグメントを一つ差し引いてセグメント数を修正し、及
び セグメント中で贋物の点を表す線の本数を差し引いて横
断線の本数を修正する。
テスト30がペンダウン時間が実質的に増加されたこと
を示す場合には、例えば、サインの頭部に余分なものを
挿入したり、もしくはサインに下線を引いたりして延長
された余分なセグメントが発生した可能性があり、第4
図のアルゴリズムに移行し、動作46で平均基準サイン
と試験サインの各セグメントの始めと終わり時間を比較
する。
次いでテスト47が実施されて前記比較から平均基準サ
インのセグメントに一つのセグメントが明らかに追加さ
れているか否かが示される。セグメントの追加がなされ
ている場合には、動作48で当該セグメントが除去され
て再相関動作28が実施される。テスト47が二つのサ
イン間の時間整合を明らかに外れるセグメントがないこ
とをしめす場合には、検証サイン中に生じる第一のセグ
メントが贋物であるといった点に基づいてサインが修正
される(動作50)。次いで、テス)51へ移行してサ
インが受は付けられたか否かの決定をすることを除いて
動作28に類似した動作28′で試験再相関が実施され
る。サイン受付がなされな(、さらにセグメントがある
場合には(テスト52ン、処理セグメントが動作50以
前の状態に復元されて(動作54)、動作50へ戻り検
証サイン中の次のセグメントの処理がなされる。テスト
52がそれ以上のセグメントの存在を示さなければ、サ
インは動作53で拒否される。
試験サインに対するその他のテスト及び処理は、通常、
試験サインが最終拒否段階に達する前になされる。
以上1本発明の実施例を具体的にかつ一般的用語で記載
したものであり、本発明をその他の多(の方法で実施す
ることが可能であることは明白なことである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明のサイン検証装置の概略図であり、第
2図乃至第4図は1本発明の方法のフローチャートであ
る。 10:筆記器具、   12:サイン、13:書込み面
、   14:紙片 (外4名) 第 4 凹 手 続 補 正 書(方式) %式%1 2、発明の名称 サイン検証方法及びその装置 3、補正をする者 事件との関係   特許出願人 住所 名 称  ナショナルφリサーチ・ディベロブメント・
コーポレーション 4、代理人 住 所  東京都千代田区大手町二丁目2番1号新大手
町ビル 206区 5、補正命令の日付 平成 3年 2月12日 溌送日)

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)検証される試験サインを表す測定値と複数の本人
    のサインから誘導された対応する値とを比較し、本人の
    サインの誤拒否を生じるものとして公知のタイプの変化
    が前記本人のサインと比較して前記試験サイン中に生じ
    たか否かを決定すること、及び、試験サインの検証工程
    に於いて何れの前記変化を考慮することとから成ること
    を特徴とする自動サイン検証方法。
  2. (2)前記試験サインが筆記器具を用いて書込み面上に
    書き込まれ、前記筆記器具と前記書込み面とが互いに接
    触及び離間する間隔が決定され、及び前記変化のタイプ
    が、筆記器具が書込み面と離間する延長間隔と、筆記器
    具が書込み面と接触する延長間隔と、筆記器具と書込み
    面の接触が期待される時に該筆記器具が該書込み面と離
    間する短時間間隔と、筆記器具と書込み面との離間が期
    待される時に該筆記器具が該書込み面と接触する短時間
    間隔と、筆記器具と書込み面との離間が期待される時に
    該筆記器具が該書込み面と接触する比較的長い時間間隔
    と、及び筆記器具と書込み面の接触が期待される欠落時
    間間隔とから選択されることを特徴とする請求項第1項
    記載の方法。
  3. (3)前記比較段階が前記の複数のタイプ中何れか一つ
    のタイプの変化が生じたか否かを決定する請求項第1項
    もしくは第2項記載の方法。
  4. (4)筆記器具が書込み面と離間する短い間隔が0.1
    秒(100mS)未満の継続期間を有する請求項第2項
    、もしくは請求項第2項に従属する限りに於いて請求項
    第3項に記載の方法。
  5. (5)筆記器具が書込み面と接触する短い間隔が0.5
    秒(500mS)未満の継続期間を有する請求項第2項
    または第4項、もしくは請求項第2項に従属する限りに
    於いて請求項第3項に記載の方法。
  6. (6)前記変化を考慮する段階が試験サインを表す測定
    値を変更して前記タイプの何れの変化も除去もしくは減
    少することから成る請求項第1項ないし第5項いずれに
    記載の方法。
  7. (7)変化が前記延長間隔と、前記短い間隔と及び前記
    欠落間隔中の一つである場合、前記測定値が変更される
    と前記変化が消失する請求項第2項に従属する限りに於
    いて請求項第6項記載の方法。
  8. (8)変化が前記欠落間隔の場合には、筆記器具が書込
    み面と接触する追加間隔を表示するように前記測定値に
    おいて変更され、この変更は本人のサイン群から誘導し
    た値に基づいている請求項第2項に従属する限りに於い
    ては請求項第6項もしくは第7項記載の方法。
  9. (9)検証されるサインを表す測定値と複数の本人のサ
    インから誘導された対応する値とを比較し、本人のサイ
    ンの誤拒否を生じるものとして公知のタイプの変化が前
    記本人のサインと比較して前記試験サイン中に生じたか
    否かを決定する手段と、及び、試験サインの検証工程に
    於いて何れの前記変化をも考慮する手段とから成ること
    を特徴とするサインの自動検証装置。
  10. (10)前記変化が生じたか否かを決定する上で、仮に
    ある場合には、前記変化が生じそうな試験サイン中の少
    なくとも一つのスタティックまたはダイナミック点に関
    する記憶情報を使用することを含む請求項第1項乃至第
    8項のいずれかに記載の方法。
  11. (11)仮にある場合には、前記変化が生じそうな試験
    サイン中の少なくとも一つのスタティックまたはダイナ
    ミック点に関する情報を記憶する記憶手段を含み、変化
    を考慮する前記手段が前記変化が生じたか否かを決定す
    る上で前記記憶情報を使用する請求項第9項記載の装置
  12. (12)各署名者に対して、署名者本人の複数のサイン
    に就いてスタティック及び、もしくはダイナミック測定
    を行つて署名者に関する前記誘導値を求める段階と、前
    記表示からの正規以上の変化が生じそうなスタティック
    またはダイナミック点が署名者のサイン中に存在するか
    否かを決定する段階と、かかる点が存在する場合には、
    かかる点が一つ存在することを少なくとも記録する情報
    を記憶する段階と、及び、前記タイプの変化が生じそう
    な場所を表示する前記誘導値と前記記憶情報とを使用し
    て署名者により署名されたとされるサインを検証する段
    階とを含む請求項第1項乃至第8項のいずれか、もしく
    は第10項記載の方法。
  13. (13)その署名が装置に認識される各人用の一群の本
    人のサインに就いて一組のスタティック及び、もしくは
    ダイナミック測定を実施する手段と、前記数組の測定か
    ら前記誘導値を求める手段と、上記各人に対して署名者
    のサイン表示からの正規以上の変化が生じそうなスタテ
    ィックまたはダイナミック点が署名者のサインに存在す
    るか否かを決定する手段と、及び、かかる点が署名者の
    サイン中に生じる場合には、前記各人に対して一つのか
    かる点が存在することを少なくとも記録するようにされ
    た前記数組の測定値と情報とを記憶する手段とを含み、
    前記変化を考慮する装置が前記タイプの変化が生じそう
    な場所を示す前記情報を使用する前記記憶手段が保持す
    る前記数組の測定値と前記情報とからサインを検証する
    ための装置の一部を形成する請求項第9項または第11
    項記載の装置。
  14. (14)検証される試験サインを表す測定値と本人のサ
    インを表す対応する値とを比較し、本人のサインの誤拒
    否を生じるものとして公知のタイプの変化が前記本人の
    サインと比較して前記試験サイン中に生じたか否かを決
    定すること、及び、試験サインの検証工程に於いて何れ
    の前記変化を考慮することから成ることを特徴とする自
    動サイン検証方法。
  15. (15)以上、基本的に記載した自動サイン検証方法も
    しくはその装置。
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