JPH0321072B2 - - Google Patents
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- JPH0321072B2 JPH0321072B2 JP58060083A JP6008383A JPH0321072B2 JP H0321072 B2 JPH0321072 B2 JP H0321072B2 JP 58060083 A JP58060083 A JP 58060083A JP 6008383 A JP6008383 A JP 6008383A JP H0321072 B2 JPH0321072 B2 JP H0321072B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample volume
- radiation
- particles
- optical element
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P5/00—Measuring speed of fluids, e.g. of air stream; Measuring speed of bodies relative to fluids, e.g. of ship, of aircraft
- G01P5/26—Measuring speed of fluids, e.g. of air stream; Measuring speed of bodies relative to fluids, e.g. of ship, of aircraft by measuring the direct influence of the streaming fluid on the properties of a detecting optical wave
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Aviation & Aerospace Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
- Measuring Volume Flow (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
- Paper (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、流動する媒体中の試料体積中の速度
勾配を測定する方法に関し、この方法において
は、上記媒体に同伴された粒子により散乱され、
空間的に可干渉する電磁放射、特にレーザー光
線、により照射された放射が検出及び測定され、
試料体積内の異なる粒子からの放射中のドツプラ
ー遷移の差が、速度勾配を示すものとして用いら
れる。
勾配を測定する方法に関し、この方法において
は、上記媒体に同伴された粒子により散乱され、
空間的に可干渉する電磁放射、特にレーザー光
線、により照射された放射が検出及び測定され、
試料体積内の異なる粒子からの放射中のドツプラ
ー遷移の差が、速度勾配を示すものとして用いら
れる。
流動媒体中の速度勾配の測定は、特に過流（乱
流）の研究において重要でありこのような研究
は、例えば、船腹、飛行機、プロペラー、風車、
推進器、タービン、自動車、配管部品、ガス及び
流体排出器、内燃機関の燃焼室、ノズルバーナー
等の構成において行われる。
流）の研究において重要でありこのような研究
は、例えば、船腹、飛行機、プロペラー、風車、
推進器、タービン、自動車、配管部品、ガス及び
流体排出器、内燃機関の燃焼室、ノズルバーナー
等の構成において行われる。
渦流に関する理論及び数学的模型は比較的不完
全であり、また、速度勾配の測定に関連する問題
の故に正確な証明（解明）は困難である。従つ
て、現在に至るまで、実際の製作においては、風
洞、タンク等中において時間がかかつて高価な模
型実験を行うことが必要とされた。
全であり、また、速度勾配の測定に関連する問題
の故に正確な証明（解明）は困難である。従つ
て、現在に至るまで、実際の製作においては、風
洞、タンク等中において時間がかかつて高価な模
型実験を行うことが必要とされた。
しかし、このような実験は、実験の成否の背後
にある理由に対して何らのインフオメーシヨンを
も与えないのである。
にある理由に対して何らのインフオメーシヨンを
も与えないのである。
従つて、渦流の理論を進歩させること及び、さ
らに理論を試す為に、速度界の有様を明らかにす
る為及び、時間の関数としてその進展を知る為の
実験方法を提供することが理論的にも技術的にも
重要視されるのである。
らに理論を試す為に、速度界の有様を明らかにす
る為及び、時間の関数としてその進展を知る為の
実験方法を提供することが理論的にも技術的にも
重要視されるのである。
最近において、流動媒体中の流速の測定にレー
ザードツプラー測定法を用いることが通常になつ
てきた。この方法は、媒体中に検知体等を挿入す
ることによつて流れの変化を生じさせることがな
い点において特に有利である。
ザードツプラー測定法を用いることが通常になつ
てきた。この方法は、媒体中に検知体等を挿入す
ることによつて流れの変化を生じさせることがな
い点において特に有利である。
レーザードツプラー測定法の原理は、流動する
媒体の速度で動く粒子により散乱された放射が周
波数の変化、即ちドツプラー遷移を示し、この変
化（遷移）が粒子の速度に比例し、よつて、媒体
の流速が示されるということにある。
媒体の速度で動く粒子により散乱された放射が周
波数の変化、即ちドツプラー遷移を示し、この変
化（遷移）が粒子の速度に比例し、よつて、媒体
の流速が示されるということにある。
用いられる試料体積中においては、多数の粒子
が、平均速度の周りに分布された僅かに異なる速
度で動き、よつて、若干程度の周波数スペクトル
が発せられ、これにより、平均速度及び試料体積
中の速度変化を反影する渦流の度合が測定され得
る。
が、平均速度の周りに分布された僅かに異なる速
度で動き、よつて、若干程度の周波数スペクトル
が発せられ、これにより、平均速度及び試料体積
中の速度変化を反影する渦流の度合が測定され得
る。
上記測定法により速度勾配を測定する方法を開
発しようとする試も行われてきた。
発しようとする試も行われてきた。
ミシナ及びアサクラは、日本応用物理学会誌
15、No.10（1976年）の2001〜2002頁中に、「ともに
レーザー光線により定められ、例えば20μｍ距て
た二つの試料体積」を用いる方法を述べている。
この方法の目的は、生体組織中の血液の流れをレ
ーザードツプラー顕微鏡により研究し、よつて、
特に、約10μｍの直径を有する毛細管中の血流の
速度勾配を測定するにある。
15、No.10（1976年）の2001〜2002頁中に、「ともに
レーザー光線により定められ、例えば20μｍ距て
た二つの試料体積」を用いる方法を述べている。
この方法の目的は、生体組織中の血液の流れをレ
ーザードツプラー顕微鏡により研究し、よつて、
特に、約10μｍの直径を有する毛細管中の血流の
速度勾配を測定するにある。
M.Fermigier外はAppl.Phys.Lett.36（５）
（1980年）の361〜363頁中に、二つのレーザーを
用いて横方向の速度勾配及び、層流及び渦流拡散
を測定する方法を示し、この方法においては、脈
動レーザーが流動液中に相格子を“書き”、これ
が後に第二レーザーにより回析像を作ることによ
り“読まれる”。
（1980年）の361〜363頁中に、二つのレーザーを
用いて横方向の速度勾配及び、層流及び渦流拡散
を測定する方法を示し、この方法においては、脈
動レーザーが流動液中に相格子を“書き”、これ
が後に第二レーザーにより回析像を作ることによ
り“読まれる”。
G.G.Fuller外は、J.Fluid Mech.100（３）（1980
年）の555〜575頁中に実験方法を述べているが、
この方法は複雑であり、再現するのに困難であ
る。この方法は、流動する懸濁体に適用される古
典的なホモダイン法に基づくものであり、懸濁体
中の粒子により散乱されたレーザー光線を、光増
大管を有する検知器により測定した結果を含む関
連フアンクシヨンが用いられる。層流中で行われ
た実験的測定は、上述の散乱光スペクトルに基づ
く理論の為の支持として役立つものであり、この
中には、層流界、粒子拡散及び試料体積中の強度
分布の種々な型の影響が含まれている。
年）の555〜575頁中に実験方法を述べているが、
この方法は複雑であり、再現するのに困難であ
る。この方法は、流動する懸濁体に適用される古
典的なホモダイン法に基づくものであり、懸濁体
中の粒子により散乱されたレーザー光線を、光増
大管を有する検知器により測定した結果を含む関
連フアンクシヨンが用いられる。層流中で行われ
た実験的測定は、上述の散乱光スペクトルに基づ
く理論の為の支持として役立つものであり、この
中には、層流界、粒子拡散及び試料体積中の強度
分布の種々な型の影響が含まれている。
しかしながら、現在までに用いられたいずれの
方法も研究所外の実際の使用には適さない。本発
明の目的は、実際の使用に適する方法及び装置を
提供するにあり、これは融通性に富み、種々な問
題を解決するのに簡単に用いられ、操作も簡単容
易である。
方法も研究所外の実際の使用には適さない。本発
明の目的は、実際の使用に適する方法及び装置を
提供するにあり、これは融通性に富み、種々な問
題を解決するのに簡単に用いられ、操作も簡単容
易である。
本発明の方法においては、試料体積中の粒子か
らの放射が検知器に達する通路中に光学エレメン
トが置かれ、上記光学エレメントは、本質的に、
光学エレメントにより定められた距離を距てて試
料体積中にある粒子の組から同時に散乱された放
射のみを測定信号の部分とする特性を有し、上記
測定信号が組合されて、ドツプラー遷移の差、従
つて、測定点により規定された試料体積中の速度
勾配を示す信号が形成される。
らの放射が検知器に達する通路中に光学エレメン
トが置かれ、上記光学エレメントは、本質的に、
光学エレメントにより定められた距離を距てて試
料体積中にある粒子の組から同時に散乱された放
射のみを測定信号の部分とする特性を有し、上記
測定信号が組合されて、ドツプラー遷移の差、従
つて、測定点により規定された試料体積中の速度
勾配を示す信号が形成される。
このようにして、方法中に用いられる試料体積
中の二つの粒子間の速度差が測定され、よつて、
平均速度及び渦流の度合ばかりでなく、試料体積
中の速度界中の変化も定めることが可能にされ
る。
中の二つの粒子間の速度差が測定され、よつて、
平均速度及び渦流の度合ばかりでなく、試料体積
中の速度界中の変化も定めることが可能にされ
る。
上述の性質を有する光学エレメントは、例え
ば、吸収型、位相型、反射型または適当に設計さ
れた中間形の光学格子、または、ブラツグ
（Bragg）セルまたは、ウオラストン
（Wollaston）またはロシヨン（Rochon）プリズ
ムのようなバイレフリンジエント体であり、さら
にまた、全反射面と分光器との組合せであるか、
または、一面に全反射材料を被覆されたガラス板
であり得る。
ば、吸収型、位相型、反射型または適当に設計さ
れた中間形の光学格子、または、ブラツグ
（Bragg）セルまたは、ウオラストン
（Wollaston）またはロシヨン（Rochon）プリズ
ムのようなバイレフリンジエント体であり、さら
にまた、全反射面と分光器との組合せであるか、
または、一面に全反射材料を被覆されたガラス板
であり得る。
測定される放射を散乱する粒子間の距離を正確
に定めるような光学エレメントを用いることによ
り、装置を所望の測定に簡単に適用することが可
能にされる、というのは、所望の性質を有する光
学エレメントが、行われる測定に従つて選ばれ得
るからである。さらに、これにより、異なる方向
中の勾配を測定すること及び、全速度を測定する
ことが、後述するように容易にされる。
に定めるような光学エレメントを用いることによ
り、装置を所望の測定に簡単に適用することが可
能にされる、というのは、所望の性質を有する光
学エレメントが、行われる測定に従つて選ばれ得
るからである。さらに、これにより、異なる方向
中の勾配を測定すること及び、全速度を測定する
ことが、後述するように容易にされる。
本発明の方法を行う為の装置は、電磁放射、特
にレーザーの発生源及び、試料体積中の粒子から
発生する散乱放射を受ける為の検知器及び、検知
器からの出力信号を記録する為の手段を有し、さ
らに特徴として、試料体積から検知器への放射線
路中に光学エレメントが置かれ、上記光学エレメ
ントは、「試料体積中に同時に存在し、光学エレ
メントにより定められた距離だけ相互に距てられ
た二つの粒子から発せられる放射の部分が、光学
エレメントを通過した後に平行相面を有し、検知
器により、上記二つの粒子間のドツプラー遷移の
差を表わす電気信号に変えられる」ような性質を
有し、またそのように置かれる。
にレーザーの発生源及び、試料体積中の粒子から
発生する散乱放射を受ける為の検知器及び、検知
器からの出力信号を記録する為の手段を有し、さ
らに特徴として、試料体積から検知器への放射線
路中に光学エレメントが置かれ、上記光学エレメ
ントは、「試料体積中に同時に存在し、光学エレ
メントにより定められた距離だけ相互に距てられ
た二つの粒子から発せられる放射の部分が、光学
エレメントを通過した後に平行相面を有し、検知
器により、上記二つの粒子間のドツプラー遷移の
差を表わす電気信号に変えられる」ような性質を
有し、またそのように置かれる。
本発明に用いられる光学エレメントは、吸収
型、反射型、位相型または、それらの中間形の格
子であることが望ましく、それらは、後述するよ
うに種々な方法で作られ得るが、行われる測定を
考慮に入れて説明されることを要する。
型、反射型、位相型または、それらの中間形の格
子であることが望ましく、それらは、後述するよ
うに種々な方法で作られ得るが、行われる測定を
考慮に入れて説明されることを要する。
本発明の方法中に、レーザードツプラー測定法
から知られた検知方式とともにこのような光学エ
レメントを用いる結果として、光学エレメントに
より規定された正しい相互距離を距てて試料体積
中に同時に存在する二つの粒子から散乱された放
射は、ほとんど平行な相面をもつて光学エレメン
トから離れ、この結果、検知器の出力中に強力な
信号（いわゆる、“バースト”）が生じ、これか
ら、通常のレーザードツプラー測定法においてド
ツプラー遷移を記録するのに用いられる分析（解
析）に相当する分析により、二つの粒子からの放
射の間のドツプラー遷移の差が発見され、この差
は、二つの粒子の間の速度差に比例する。上記速
度差を、二つの粒子間の既知の距離（この距離は
光学エレメントのデータにより定められる）で割
ることにより速度勾配が求められる。
から知られた検知方式とともにこのような光学エ
レメントを用いる結果として、光学エレメントに
より規定された正しい相互距離を距てて試料体積
中に同時に存在する二つの粒子から散乱された放
射は、ほとんど平行な相面をもつて光学エレメン
トから離れ、この結果、検知器の出力中に強力な
信号（いわゆる、“バースト”）が生じ、これか
ら、通常のレーザードツプラー測定法においてド
ツプラー遷移を記録するのに用いられる分析（解
析）に相当する分析により、二つの粒子からの放
射の間のドツプラー遷移の差が発見され、この差
は、二つの粒子の間の速度差に比例する。上記速
度差を、二つの粒子間の既知の距離（この距離は
光学エレメントのデータにより定められる）で割
ることにより速度勾配が求められる。
本発明に用いられる光学エレメントは、例え
ば、“Proqress in Optics”誌のXII巻中の
“Pecent Advances in Phase Profiles
Generation”という章中にE.Wolfが述べたよう
に、写真フイルムを、相互に凝集する二つの球面
波に曝すことにより作られ得る。写真フイルム上
の密度パターンは、二つの界の間の干渉パターン
に相当する。
ば、“Proqress in Optics”誌のXII巻中の
“Pecent Advances in Phase Profiles
Generation”という章中にE.Wolfが述べたよう
に、写真フイルムを、相互に凝集する二つの球面
波に曝すことにより作られ得る。写真フイルム上
の密度パターンは、二つの界の間の干渉パターン
に相当する。
実際においてフイルターは、レーザーからの光
線を、空間中の二つの異なる場所から発すると見
られる二つの光線に分け、これらを、ホログラム
を取るのに用いられる写真板に向けて送ることに
より作られ得る。開発の後、次の方法の一つが用
いられ得る。
線を、空間中の二つの異なる場所から発すると見
られる二つの光線に分け、これらを、ホログラム
を取るのに用いられる写真板に向けて送ることに
より作られ得る。開発の後、次の方法の一つが用
いられ得る。
Γ板が吸収フイルターとして直接用いられる。
Γ写真エマルジヨンが洗い落とされ、この際、イ
ンフオメーシヨンは、相格子の場合のように、
板を光が通過することにより光学通路の長さの
変化として保たれる。
ンフオメーシヨンは、相格子の場合のように、
板を光が通過することにより光学通路の長さの
変化として保たれる。
Γ反射金属層が板上に蒸着され、この際、インフ
オメーシヨンは、反射された光線を相中にあ
る。
オメーシヨンは、反射された光線を相中にあ
る。
光学エレメントは、また、例えば、“光学の進
歩”11巻の“高度分析スペクトロスコピーの為の
光学格子の制御、試験及び使用”という章中にE.
Wolfが述べた方法により機械的にも作られ得、
この方法においては、曲線形をコンピユートした
後のデジタル制御により相または振幅のインフオ
メーシヨンが刻み込まれる。
歩”11巻の“高度分析スペクトロスコピーの為の
光学格子の制御、試験及び使用”という章中にE.
Wolfが述べた方法により機械的にも作られ得、
この方法においては、曲線形をコンピユートした
後のデジタル制御により相または振幅のインフオ
メーシヨンが刻み込まれる。
さらに、前述したような、ウオラストンまたは
ロシヨン型の、または、ブラツグセルのバイレフ
リンジエントプリズムも用いられ得る。
ロシヨン型の、または、ブラツグセルのバイレフ
リンジエントプリズムも用いられ得る。
このようにして、次のような二つの異なる型の
光学エレメントが作られ得る、 (a) 吸収型または位相型の、格子定数ｇ（１ｍ当
りの線の数）を有する線格子。これはまた、光
線の通常及び非通常ペンシル間に角度Ωを有す
るバイレフリンジエントプリズムをも含む。
光学エレメントが作られ得る、 (a) 吸収型または位相型の、格子定数ｇ（１ｍ当
りの線の数）を有する線格子。これはまた、光
線の通常及び非通常ペンシル間に角度Ωを有す
るバイレフリンジエントプリズムをも含む。
(b) 下記の伝達フアンクシヨンを有する回転対称
吸収マスク、 Ｔ（ｒ）＝T0〔１＋t1cos（γr2＋δ）〕 ここに、T0、t1、γ、δは定数であり、ｒは
ラジアルコオーデイネイトまたは、光学路長Ｓ
（ｒ）を有する回転対称相マスクであり、 Ｓ（ｒ）＝S0〔１＋s1cos（γr2＋δ）〕 ここに、S0、s1、γ、δは定数である。
吸収マスク、 Ｔ（ｒ）＝T0〔１＋t1cos（γr2＋δ）〕 ここに、T0、t1、γ、δは定数であり、ｒは
ラジアルコオーデイネイトまたは、光学路長Ｓ
（ｒ）を有する回転対称相マスクであり、 Ｓ（ｒ）＝S0〔１＋s1cos（γr2＋δ）〕 ここに、S0、s1、γ、δは定数である。
型(a)の光学エレメントは、検知系統中のレン
ズの所に置かれた時には、 試料体積中に、光学エレメントから距離Ｌの
所にあつて相互距離Δq Δqは、格子に対してはgλLであり、プリズム
に対してはΩLであり、ここに、λは用いられ
る光の波長である、 を有する二つの粒子からの周波数を遷移された
光に、検知器の区域において一定の相差を持た
せるが、レンズの焦点面内に置かれた時には、 試料体積中にあつて相互距離Δq Δqは、格子に対してはgλfであり、プリズム
に対してはΩfであり、ここに、ｆはレンズの
焦点距離である、 を有する粒子からの光に、検知器の区域におい
て一定の相差を持たせる。
ズの所に置かれた時には、 試料体積中に、光学エレメントから距離Ｌの
所にあつて相互距離Δq Δqは、格子に対してはgλLであり、プリズム
に対してはΩLであり、ここに、λは用いられ
る光の波長である、 を有する二つの粒子からの周波数を遷移された
光に、検知器の区域において一定の相差を持た
せるが、レンズの焦点面内に置かれた時には、 試料体積中にあつて相互距離Δq Δqは、格子に対してはgλfであり、プリズム
に対してはΩfであり、ここに、ｆはレンズの
焦点距離である、 を有する粒子からの光に、検知器の区域におい
て一定の相差を持たせる。
型(b)の光学エレメントは、検知系統中のレン
ズの所に置かれた時に、光学軸心の方向におい
て相互距離Δp Δpは、レンズのそばに置かれた場合に対し
てはλγL2／πであり、焦点面内に置かれた場合に 対してはλγf2／πであり、ここに、λ、γ、ｆは 上記に定めたものであり、これらはともに、試
料体積と検知器との間の散乱光線を伝幡方向中
に置かれる。
ズの所に置かれた時に、光学軸心の方向におい
て相互距離Δp Δpは、レンズのそばに置かれた場合に対し
てはλγL2／πであり、焦点面内に置かれた場合に 対してはλγf2／πであり、ここに、λ、γ、ｆは 上記に定めたものであり、これらはともに、試
料体積と検知器との間の散乱光線を伝幡方向中
に置かれる。
を有する二つの粒子からの光線に、検知器の区域
において一定の相差を持たせる。
において一定の相差を持たせる。
距離が波長によつて変えられるこれらの型の光
学エレメント、即ち、“角度エレメント”の外に、
本発明の方法においては、他の型のもの、例え
ば、前述した鏡と分光器との組合せまたは、反射
層を有するガラス板も本発明の方法中に用いら
れ、これらの型においては距離は波長に無関係で
あり、これらの型は“距離エレメント”と称され
る。
学エレメント、即ち、“角度エレメント”の外に、
本発明の方法においては、他の型のもの、例え
ば、前述した鏡と分光器との組合せまたは、反射
層を有するガラス板も本発明の方法中に用いら
れ、これらの型においては距離は波長に無関係で
あり、これらの型は“距離エレメント”と称され
る。
このような“距離エレメント”は、検知系統内
のレンズの所またはレンズの焦点面内に置かれた
時に、試料体積中においてそれぞれ距離Δp＝d0
及びΔp＝d0L／ｆを距てた（ここに、d0は、各光
学エレメントに対して与えられる）粒子からの光
に、検知器の区域において一定の相差を持たせ
る。
のレンズの所またはレンズの焦点面内に置かれた
時に、試料体積中においてそれぞれ距離Δp＝d0
及びΔp＝d0L／ｆを距てた（ここに、d0は、各光
学エレメントに対して与えられる）粒子からの光
に、検知器の区域において一定の相差を持たせ
る。
試料体積と検知器との間の光路中における光学
エレメントの位置は上述した通りである。原則と
しては、光学エレメントはこの光路中に任意に置
かれ得るのであるが、実際的な理由の為、特に検
知器信号のノイズを防ぐ為に、上述の位置が望ま
れるのである。
エレメントの位置は上述した通りである。原則と
しては、光学エレメントはこの光路中に任意に置
かれ得るのであるが、実際的な理由の為、特に検
知器信号のノイズを防ぐ為に、上述の位置が望ま
れるのである。
測定される光線を散乱する二つの粒子間の距離
ΔqまたはΔpは、前述のように作られた光学エレ
メントを用いる場合には一般に10μｍより大であ
り、代表的には10μｍ〜20μｍであるが、100μｍ
〜１cmであることが望ましい。
ΔqまたはΔpは、前述のように作られた光学エレ
メントを用いる場合には一般に10μｍより大であ
り、代表的には10μｍ〜20μｍであるが、100μｍ
〜１cmであることが望ましい。
本発明の装置中に用いられる検知器はいかなる
通常の型のものでもあり得るが、適正化され得る
ものであることを要する。
通常の型のものでもあり得るが、適正化され得る
ものであることを要する。
本発明に用いられるレーザーはいかなる型のも
のでもあり得るが、ある用途に対しては、二つ以
上の強力な放射線を発するレーザー、例えばAr
レーザーであることが望ましい。
のでもあり得るが、ある用途に対しては、二つ以
上の強力な放射線を発するレーザー、例えばAr
レーザーであることが望ましい。
以下、添付の説明図に従つて説明する。
第１図は、本発明の方法に用いられる、“距離
エレメント”型の光学エレメントの一実施例を示
し、このエレメントは鏡２０と分光器２１とから
なり、試料体積中で相互距離d0を有する粒子の組
から発せられる二つの光線ＡとＢとをこのエレメ
ントにより重ねるように設計される、即ち、光線
Ａは鏡２０により反射されて分光器２１に向けら
れ、そこで二つの光線A′とA″に分けられ、光線
Ｂは分光器２１により二つの光線B′とB″とに分
けられる。
エレメント”型の光学エレメントの一実施例を示
し、このエレメントは鏡２０と分光器２１とから
なり、試料体積中で相互距離d0を有する粒子の組
から発せられる二つの光線ＡとＢとをこのエレメ
ントにより重ねるように設計される、即ち、光線
Ａは鏡２０により反射されて分光器２１に向けら
れ、そこで二つの光線A′とA″に分けられ、光線
Ｂは分光器２１により二つの光線B′とB″とに分
けられる。
このようにして、試料体積中に相互距離d0にあ
る粒子の組に対して、二組の重ねられた光線
A′＋B′とA″＋B″とが形成され、これらは検知器
に導かれ、上記検知器の区域上において一定の位
相差を有する。
る粒子の組に対して、二組の重ねられた光線
A′＋B′とA″＋B″とが形成され、これらは検知器
に導かれ、上記検知器の区域上において一定の位
相差を有する。
上記第１図の距離エレメントにおいては、粒子
間の距離d0は、鏡２０を分光器２１の表面上にお
いて試料体積に向けて、または、それから遠ざか
るように動かすことにより変えられ得る。
間の距離d0は、鏡２０を分光器２１の表面上にお
いて試料体積に向けて、または、それから遠ざか
るように動かすことにより変えられ得る。
第２図は、本発明に用いられる距離エレメント
の他例を示し、このエレメントはガラス板２２か
らなり、２２の一面には反射層２３が設けられ
る。相互に距離d0を距てた試料体積中の粒子の組
からの二つの光線ＡとＢとはこのエレメントによ
り重ねられる、即ち、これらの光線はガラス板２
２の表面上でそれぞれ二つの光線A′とA″及び
B′とB″とに分けられ、上記表面上で光線A′及び
B′は反射され、光線A″及びB″は反射層２３に達
し、そこで反射される。よつて、与えられた距離
d0に対して、二つの光線A″とB′とは光線A″＋
B′に重ねられ、この光線が検知器に、その区域
上で一定の位相差をもつて送られ得る。
の他例を示し、このエレメントはガラス板２２か
らなり、２２の一面には反射層２３が設けられ
る。相互に距離d0を距てた試料体積中の粒子の組
からの二つの光線ＡとＢとはこのエレメントによ
り重ねられる、即ち、これらの光線はガラス板２
２の表面上でそれぞれ二つの光線A′とA″及び
B′とB″とに分けられ、上記表面上で光線A′及び
B′は反射され、光線A″及びB″は反射層２３に達
し、そこで反射される。よつて、与えられた距離
d0に対して、二つの光線A″とB′とは光線A″＋
B′に重ねられ、この光線が検知器に、その区域
上で一定の位相差をもつて送られ得る。
すべての図面において、同じ構成成分には同じ
記号が用いられている。
記号が用いられている。
第３図には、レーザー光線を発するレーザー１
が示され、上記レーザー光線は、波ベクトルＫ１→
及び周波数ω0を有する平行光線として試料体積
２に達し、そこで、流動媒体に同伴された粒子に
よりすべての方向に散乱される。散乱角θに散乱
されて波ベクトルＫ２→を有する光線の部分は、試
料体積２から検知器４への光路中において試料体
積２から距離Ｌの所に置かれた光学エレメント３
に衝突する。
が示され、上記レーザー光線は、波ベクトルＫ１→
及び周波数ω0を有する平行光線として試料体積
２に達し、そこで、流動媒体に同伴された粒子に
よりすべての方向に散乱される。散乱角θに散乱
されて波ベクトルＫ２→を有する光線の部分は、試
料体積２から検知器４への光路中において試料体
積２から距離Ｌの所に置かれた光学エレメント３
に衝突する。
この光線は、試料体積中のすべての粒子ｉ、ｊ
…から散乱された光線からなり、各々がそれら自
身の速度Ｖ→i、Ｖ→j……を有し、例えば、 Δωj＝（Ｋ２→−Ｋ１→）・Ｖ→j＝Ｋ→d・Ｖ→j の量の周波数遷移を示す、 ここに、Ｋ→dは、散乱角θで各粒子から発せら
れた光線に対するベクトルＫ２→とＫ１→との間の差
ベクトルであり、従つて、流動媒体の速度界につ
いてのインフオメーシヨンを含む多数の異なる周
波数を有する光線からなる。
…から散乱された光線からなり、各々がそれら自
身の速度Ｖ→i、Ｖ→j……を有し、例えば、 Δωj＝（Ｋ２→−Ｋ１→）・Ｖ→j＝Ｋ→d・Ｖ→j の量の周波数遷移を示す、 ここに、Ｋ→dは、散乱角θで各粒子から発せら
れた光線に対するベクトルＫ２→とＫ１→との間の差
ベクトルであり、従つて、流動媒体の速度界につ
いてのインフオメーシヨンを含む多数の異なる周
波数を有する光線からなる。
前述のように設計された光学エレメント３は、
試料体積中に光学エレメントにより定められた相
互距離ΔqまたはΔpを距てて同時に置かれた二つ
の粒子ｊ及びＫにより散乱された光線のみが検知
器４に、その区域上において一定の相差をもつて
衝突するようにする効果を有する。これにより測
定された周波数遷移Δωj，ｋは次の大きさを有す
る、即ち、 Δωj,k＝Δωj−Δωk ＝Ｋ→d・（Ｖ→j−Ｖ→k）＝Ｋ→d・ΔＶ→j,k ここに、粒子の組ｊ及びＫに対するΔVj,kは、
二つの粒子ｊ及びＫから発せられた光線に対する
速度差ベクトルである。
試料体積中に光学エレメントにより定められた相
互距離ΔqまたはΔpを距てて同時に置かれた二つ
の粒子ｊ及びＫにより散乱された光線のみが検知
器４に、その区域上において一定の相差をもつて
衝突するようにする効果を有する。これにより測
定された周波数遷移Δωj，ｋは次の大きさを有す
る、即ち、 Δωj,k＝Δωj−Δωk ＝Ｋ→d・（Ｖ→j−Ｖ→k）＝Ｋ→d・ΔＶ→j,k ここに、粒子の組ｊ及びＫに対するΔVj,kは、
二つの粒子ｊ及びＫから発せられた光線に対する
速度差ベクトルである。
二つのベクトル間のドツト積（dot product）
は、一つのベクトルの長さに、上記第一ベルトル
上への第二ベクトルの投射を掛けたものに等しい
から、測定された信号は、差ベクトルＫ→d上への
速度差ベクトルΔＶ→j,kの投射に比例する、即ち、 Δωj,k＝Ｋ→d・ΔＶ→j,k＝｜Ｋ→d｜｜ΔＶ→j,k｜c
osφ ここに、φは二つのベクトル間の角度であり、
従つて、速度勾配〓v〓／〓βは、光学エレメント
３を用いることにより定められ得る。
は、一つのベクトルの長さに、上記第一ベルトル
上への第二ベクトルの投射を掛けたものに等しい
から、測定された信号は、差ベクトルＫ→d上への
速度差ベクトルΔＶ→j,kの投射に比例する、即ち、 Δωj,k＝Ｋ→d・ΔＶ→j,k＝｜Ｋ→d｜｜ΔＶ→j,k｜c
osφ ここに、φは二つのベクトル間の角度であり、
従つて、速度勾配〓v〓／〓βは、光学エレメント
３を用いることにより定められ得る。
∂v〓／∂βという表現において、v〓は、Kdと同じ
方向を有する方向αにおける流速の成分であり、
従つて、散乱角θにより調節され得、座標βは、
二つの粒子ｊとｋとの間の連結線と同じ方向を有
し、光学エレメント３により与えられる。
方向を有する方向αにおける流速の成分であり、
従つて、散乱角θにより調節され得、座標βは、
二つの粒子ｊとｋとの間の連結線と同じ方向を有
し、光学エレメント３により与えられる。
第３図には、本発明の方法を説明するのに便利
な座標系が示され、これを参照しつつ、第３〜６
図に示す装置の説明が行われる。この座標系にお
いては、Ｚ軸は検知器４の光学軸心に従い、従つ
て、XZ面は図面の紙面に相当し、Ｙ軸はこの面
に対して直角にある。この座標系の原点は検知器
４の光学軸心上に任意に置かれ得る。
な座標系が示され、これを参照しつつ、第３〜６
図に示す装置の説明が行われる。この座標系にお
いては、Ｚ軸は検知器４の光学軸心に従い、従つ
て、XZ面は図面の紙面に相当し、Ｙ軸はこの面
に対して直角にある。この座標系の原点は検知器
４の光学軸心上に任意に置かれ得る。
第４図は、本発明の方法を行う為の装置の簡単
に装置を示し、この装置はレーザー１を有し、１
は、レーザー光線を直径を拡大するテレコープ５
を経て試料体積２向けて発射し、上記体積２にお
いて光線が散乱される。
に装置を示し、この装置はレーザー１を有し、１
は、レーザー光線を直径を拡大するテレコープ５
を経て試料体積２向けて発射し、上記体積２にお
いて光線が散乱される。
試料体積２から方向θに散乱された光線は、本
発明に従つて速度勾配の測定を可能にするように
置かれた光学エレメント３に達し、３を通過した
光線はレンズ６により、試料体積２の外側の区域
からの光線を遮ぎる為の隔膜７の開口上に集めら
れ、最後に検知器４に当る。
発明に従つて速度勾配の測定を可能にするように
置かれた光学エレメント３に達し、３を通過した
光線はレンズ６により、試料体積２の外側の区域
からの光線を遮ぎる為の隔膜７の開口上に集めら
れ、最後に検知器４に当る。
この装置により、格子型またはバイリフリンジ
エントプリズムの光学エレメントを用いて速度勾
配∂V〓／∂xを測定することが可能にされる（第３図 の座標系を参照されたい）。格子型のエレメント
の場合には、上記格子を、格子線が、Ｘ軸に垂直
になりかつXY軸面と同面になるように置くこと
により∂V〓／∂xが測定され、プリズムの場合には、 通常及び非通常の光線がともにXZ面中にあるよ
うに上記プリズムを置くことにより∂V〓／∂xが測定 される。その後、上記エレメントをＺ軸の周りに
90°回転することにより∂V〓／∂yが測定される。
エントプリズムの光学エレメントを用いて速度勾
配∂V〓／∂xを測定することが可能にされる（第３図 の座標系を参照されたい）。格子型のエレメント
の場合には、上記格子を、格子線が、Ｘ軸に垂直
になりかつXY軸面と同面になるように置くこと
により∂V〓／∂xが測定され、プリズムの場合には、 通常及び非通常の光線がともにXZ面中にあるよ
うに上記プリズムを置くことにより∂V〓／∂xが測定 される。その後、上記エレメントをＺ軸の周りに
90°回転することにより∂V〓／∂yが測定される。
ついで、回転的に対称な光学エレメント３を用
いることにより、∂V〓／∂zの測定が可能にされる。
いることにより、∂V〓／∂zの測定が可能にされる。
最後に、装置の構成成分の一つまたは多数を移
動することにより散乱角θを変えることによつ
て、多数の速度成分V〓に対する速度勾配を測定
することが可能にされる。
動することにより散乱角θを変えることによつ
て、多数の速度成分V〓に対する速度勾配を測定
することが可能にされる。
上述のものの組合せとして作られた角度エレメ
ントを用いることにより、任意な方向における測
定が行われ得る。
ントを用いることにより、任意な方向における測
定が行われ得る。
第５図は本発明による装置の一実施例を示し、
この装置においては、二つの強力な放射線、例え
ば、波長λ1＝488nｍ及びλ2＝514nｍのArレーザ
ーを発するレーザー１が用いられる。光線は、テ
レスコープ５を通過した後、波長デイペンデント
プリズム８に当り、波長デイペンデントプリズム
８は一方の波長λ1を有する光線を屈折し、他の波
長λ2を有する光線の自由通過を許す。波長λ2の光
線は鏡９により反射され、よつて、共通の試料体
積２が形成され、ここで光線は、検知器に対し
て、それぞれ散乱角θ1及びθ2を以て散乱される。
各波長λ1及びλ2に対する測定の為に、光学エレメ
ント３とレンズ６との間に可交換の干渉フイルタ
１０が置かれる。
この装置においては、二つの強力な放射線、例え
ば、波長λ1＝488nｍ及びλ2＝514nｍのArレーザ
ーを発するレーザー１が用いられる。光線は、テ
レスコープ５を通過した後、波長デイペンデント
プリズム８に当り、波長デイペンデントプリズム
８は一方の波長λ1を有する光線を屈折し、他の波
長λ2を有する光線の自由通過を許す。波長λ2の光
線は鏡９により反射され、よつて、共通の試料体
積２が形成され、ここで光線は、検知器に対し
て、それぞれ散乱角θ1及びθ2を以て散乱される。
各波長λ1及びλ2に対する測定の為に、光学エレメ
ント３とレンズ６との間に可交換の干渉フイルタ
１０が置かれる。
この装置により、装置のいかなる構成成分をも
動かすことなしに、二つの散乱角θ1及びθ2に相当
する二つの異なる速度成分に対する速度勾配を測
定することが可能にされる。
動かすことなしに、二つの散乱角θ1及びθ2に相当
する二つの異なる速度成分に対する速度勾配を測
定することが可能にされる。
第６図は本発明による装置の他例を示し、この
装置においては、レーザー１からの線形に偏光さ
れたレーザー光線が、テレスコープ５を通過した
後λ／４板１１に当つて、円形に偏光された光線
に変えられ、この光線はついで偏光分光器１２に
至り、１２は光線の垂直に偏光された部分の自由
通過を許し、光線の水平に分光された部分は屈折
される。垂直に偏光された光線は、ついで鏡９に
より反射され、よつて、共通試料体積２が形成さ
れる。
装置においては、レーザー１からの線形に偏光さ
れたレーザー光線が、テレスコープ５を通過した
後λ／４板１１に当つて、円形に偏光された光線
に変えられ、この光線はついで偏光分光器１２に
至り、１２は光線の垂直に偏光された部分の自由
通過を許し、光線の水平に分光された部分は屈折
される。垂直に偏光された光線は、ついで鏡９に
より反射され、よつて、共通試料体積２が形成さ
れる。
光学エレメント３の後に偏光フイルタ１３を置
くことにより、第３図の装置と同様に、水平に偏
光された光線または垂直に偏光された光線を測定
することによつて、二つの散乱角θ1及びθ2に相当
する速度勾配を測定することが可能にされる。
くことにより、第３図の装置と同様に、水平に偏
光された光線または垂直に偏光された光線を測定
することによつて、二つの散乱角θ1及びθ2に相当
する速度勾配を測定することが可能にされる。
偏光フイルタ１３を回転して、水平及び垂直に
偏光された光線をともに測定し得るようにするこ
とにより、さらに、通常のレーザードツプラー測
定法におけると同様に、光学エレメント３を除去
して、試料体積２に入る二つの波ベクトル間の差
ベクトル平行な速度成分を測定する事が可能にさ
れる。
偏光された光線をともに測定し得るようにするこ
とにより、さらに、通常のレーザードツプラー測
定法におけると同様に、光学エレメント３を除去
して、試料体積２に入る二つの波ベクトル間の差
ベクトル平行な速度成分を測定する事が可能にさ
れる。
以上述べたように本発明によれば、試料体積中
の粒子からの放射が検知器に達する通路中に本質
的に、光学エレメントにより定められた距離を距
てて試料体積中にある粒子の組から同時に散乱さ
れた放射のみを測定信号を部分とする性質を有す
る光学エレメントを設けることで、上記測定信号
が組合されて、ドツプラー遷移の差、従つて、測
定点により規定された試料体積中の速度勾配を示
す信号が形成される。これにより取扱い操作が簡
単で試料体積中の二つの粒子間の速度差が測定さ
れ、よつて、平均速度及び渦流の度合ばかりでな
く、試料体積中の速度界中の変化も定めることが
可能にされる。
の粒子からの放射が検知器に達する通路中に本質
的に、光学エレメントにより定められた距離を距
てて試料体積中にある粒子の組から同時に散乱さ
れた放射のみを測定信号を部分とする性質を有す
る光学エレメントを設けることで、上記測定信号
が組合されて、ドツプラー遷移の差、従つて、測
定点により規定された試料体積中の速度勾配を示
す信号が形成される。これにより取扱い操作が簡
単で試料体積中の二つの粒子間の速度差が測定さ
れ、よつて、平均速度及び渦流の度合ばかりでな
く、試料体積中の速度界中の変化も定めることが
可能にされる。
第１図は本発明の方法を行うのに用いられる光
学エレメントの一実施例で、鏡と分光器との組合
せから成るものの説明図、第２図は本発明の方法
を行うのに用いられる光学エレメントの他例で、
反射層を有するガラス板から成るものの説明図、
第３図は流動媒体中の速度勾配を測定する為の本
発明の方法を説明する為の基礎として役立つ基本
的線図、第４図は速度勾配の一成分を測定する為
の本発明による装置の実施例の線図、第５図は速
度勾配の二つの成分を測定する為の本発明による
装置の線図、第６図は一つの速度成分及び速度勾
配の二つの成分を測定する為の本発明による装置
の線図である。 １……レーザー、２……試料体積、３……光学
エレメント、４……検知器、５……テレスコー
プ、６……レンズ、７……隔膜、８……プリズ
ム、９……鏡、１０……干渉フイルタ、１１……
λ／４板、１２……偏光分光器、１３……偏光フ
イルタ。
学エレメントの一実施例で、鏡と分光器との組合
せから成るものの説明図、第２図は本発明の方法
を行うのに用いられる光学エレメントの他例で、
反射層を有するガラス板から成るものの説明図、
第３図は流動媒体中の速度勾配を測定する為の本
発明の方法を説明する為の基礎として役立つ基本
的線図、第４図は速度勾配の一成分を測定する為
の本発明による装置の実施例の線図、第５図は速
度勾配の二つの成分を測定する為の本発明による
装置の線図、第６図は一つの速度成分及び速度勾
配の二つの成分を測定する為の本発明による装置
の線図である。 １……レーザー、２……試料体積、３……光学
エレメント、４……検知器、５……テレスコー
プ、６……レンズ、７……隔膜、８……プリズ
ム、９……鏡、１０……干渉フイルタ、１１……
λ／４板、１２……偏光分光器、１３……偏光フ
イルタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 媒体に同伴された粒子により散乱し、空間的
に可干渉する電磁放射により照射される放射を検
出および測定し、試料体積内の異なる粒子からの
放射中のドツプラー遷移の差を速度勾配として用
いることにより流動する媒体中の試料体積中の速
度勾配を測定する方法において、光学エレメント
により定められた距離を距てて試料体積中に粒子
の組から同時に散乱される放射のみを測定信号の
部分とする特性を有する光学エレメントを、試料
体積中の粒子からの放射が検知器に達する通路中
に配置し、測定信号を組み合わせてドツプラー遷
移差を計測し、測定点における試料体積中の速度
勾配を測定することを特徴とする測定方法。 ２ 電磁放射発生源と、試料体積中の粒子から発
生する散乱放射を受けるための検知器と、この検
知器からの出力信号を記録するための記録装置と
を有する流動する媒体中の速度勾配を測定する装
置において、試料体積中に同時に存在し光学エレ
メントにより定められた距離だけ相互に距てられ
た二つの粒子から発せられる放射の部分が、光学
エレメントを通過した後に平行相面を有するよう
にした光学エレメントを試料体積と検知器との間
に設けるとともに、粒子からの放射を２つの粒子
間でドツプラー遷移の差を表わす電気信号に変え
る検知器を設けたことを特徴とする測定装置。 ３ レーザー光線を異なる波長を有する少なくと
も二放射線に分ける分光器と、これらの放射線を
試料体積上へ向ける為の装置と、試料体積から検
知器への放射線通路中に置かれた所望以外の周波
数を有する光線を除外する為の干渉フイルターを
有することを特徴とする特許請求の範囲第２項記
載の装置。 ４ レーザーから試料体積への放射線通路中に置
かれた、光線を各自分自身の偏光型を有する二つ
の光線に分ける板および分光器と試料体積と検知
器との間の放射線通路中に置かれた偏光フイルタ
ーを有することを特徴とする特許請求の範囲第２
項または第３項に記載の装置。 ５ レーザーと分光器との間の放射線通路中にテ
レスコープを設け、検知器の前に絞りを設けたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第２項乃至第４項
のいずれかに記載の装置。 ６ 光学エレメントが吸収、相または反射型また
は中間形の格子であることを特徴とする特許請求
の範囲第２項乃至第５項のいずれかに記載の装
置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DK1610/82 | 1982-04-07 | ||
| DK161082A DK148334C (da) | 1982-04-07 | 1982-04-07 | Fremgangsmaade ved maaling af hastighedsgradienter i et stroemmende medium samt apparat til gennemfoerelse af fremgangsmaaden |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59656A JPS59656A (ja) | 1984-01-05 |
| JPH0321072B2 true JPH0321072B2 (ja) | 1991-03-20 |
Family
ID=8106525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58060083A Granted JPS59656A (ja) | 1982-04-07 | 1983-04-07 | 流動する媒体中の速度勾配を測定する方法及び装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4572664A (ja) |
| EP (1) | EP0091318B1 (ja) |
| JP (1) | JPS59656A (ja) |
| AT (1) | ATE22732T1 (ja) |
| DE (1) | DE3366743D1 (ja) |
| DK (1) | DK148334C (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4634878A (en) * | 1985-06-03 | 1987-01-06 | The Perkin Elmer Corporation | Laser detector with distance-to-beam strip sensor |
| JPS6255530A (ja) * | 1985-09-04 | 1987-03-11 | Toyobo Co Ltd | 走査型赤外線温度計 |
| US5164784A (en) * | 1992-01-17 | 1992-11-17 | The Boeing Company | CW doppler lidar |
| US5748311A (en) * | 1996-03-11 | 1998-05-05 | Hamann; Oliver | Apparatus and method of particle geometry measurement by speckle pattern analysis |
| US6976590B2 (en) | 2002-06-24 | 2005-12-20 | Cytonome, Inc. | Method and apparatus for sorting particles |
| US6808075B2 (en) * | 2002-04-17 | 2004-10-26 | Cytonome, Inc. | Method and apparatus for sorting particles |
| US20070065808A1 (en) * | 2002-04-17 | 2007-03-22 | Cytonome, Inc. | Method and apparatus for sorting particles |
| US9943847B2 (en) | 2002-04-17 | 2018-04-17 | Cytonome/St, Llc | Microfluidic system including a bubble valve for regulating fluid flow through a microchannel |
| US7207939B2 (en) * | 2002-10-03 | 2007-04-24 | Coulter International Corp. | Apparatus and method for analyzing a liquid in a capillary tube of a hematology instrument |
| US9260693B2 (en) | 2004-12-03 | 2016-02-16 | Cytonome/St, Llc | Actuation of parallel microfluidic arrays |
| US8339584B2 (en) | 2010-05-21 | 2012-12-25 | Teledyne Technologies Incorporated | Velocity measuring system |
| CN102706320A (zh) * | 2012-03-20 | 2012-10-03 | 浙江大学 | 一种减少激光测距系统中背景光辐射的方法 |
| HK1216552A1 (zh) | 2012-10-15 | 2016-11-18 | 纳诺赛莱克特生物医药股份有限公司 | 顆粒分選的系統、設備和方法 |
| US9030667B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-05-12 | General Electric Company | System and method to measure 3D flow characteristics of a gas |
| WO2018175411A1 (en) | 2017-03-20 | 2018-09-27 | Nanocellect Biomedical, Inc. | Systems, apparatuses, and methods for cell sorting and flow cytometry |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3547540A (en) * | 1967-12-15 | 1970-12-15 | Nasa | Laser fluid velocity detector |
| US3941477A (en) * | 1974-10-17 | 1976-03-02 | Deutsche Forschungs-Und Versuchsanstalt Fur Luft-Und Raumfahrt E.V. | Measuring device for the measurement of fluid flow rates |
| JPS5354071A (en) * | 1976-10-27 | 1978-05-17 | Hitachi Ltd | Device for measuring laser doppler flow velocity |
| JPS53110581A (en) * | 1977-03-09 | 1978-09-27 | Koukuu Uchiyuu Gijiyutsu Kenki | Method of extracting signal for laser doppler current meter |
| DK142473B (da) * | 1977-10-20 | 1980-11-03 | Risoe Forsoegsanlaeg | Apparat med en optisk sender og modtager, navnlig et flyvetidslaseranemometer. |
| JPS54135596A (en) * | 1978-04-12 | 1979-10-20 | Toshiba Corp | Laser radar |
| JPS5595883A (en) * | 1979-01-13 | 1980-07-21 | Noboru Nakatani | Method and device for flow speed distribution and flow amount measurement by multicarrier system laser doppler method |
-
1982
- 1982-04-07 DK DK161082A patent/DK148334C/da not_active IP Right Cessation
-
1983
- 1983-03-28 US US06/479,777 patent/US4572664A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-04-06 DE DE8383301926T patent/DE3366743D1/de not_active Expired
- 1983-04-06 AT AT83301926T patent/ATE22732T1/de not_active IP Right Cessation
- 1983-04-06 EP EP83301926A patent/EP0091318B1/en not_active Expired
- 1983-04-07 JP JP58060083A patent/JPS59656A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3366743D1 (en) | 1986-11-13 |
| DK148334C (da) | 1985-11-04 |
| EP0091318B1 (en) | 1986-10-08 |
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