JPH03211457A - 割れ検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、焼結部品である被検査品を非破壊検査によっ
て検査する方法に関し、特に、被検査品を打撃すること
により発生する音又は振動を分析することよって前記被
検査品の良否を判定する打撃振動解析法による割れ検出
方法に係わる。

〔従来の技術〕

従来、金属部材の良否を判定する非破壊検査方法の一つ
に、金属部材に打撃を加え、その振動音を検出すること
により被検査部材の割れを検出するいわゆる打撃振動解
析法がある。

この打撃振動“解析法の従来例としては、例えば特開昭
４８−３０９８３号公報に開示されているように、打撃
による固有振動の固有振動数により割れの判別を行う手
法がある。

また、例えば「打撃振動解析法による金属材料の機械的
性質と亀裂の評価ｊ；日本非破壊検査協会第３分科会資
料Ｎｏ３８４４に開示されているように、打撃振動の固
有振動数と減衰係数から亀裂発生を予測する手法もある
。

この打撃振動解析法は、打撃によって発生する振動を検
出するセンサからの検出信号を波形処理してオート・パ
ワースペクトルと波形の包路線を求め、固有振動数およ
び振幅の減衰係数を計算し、この固有振動数および振幅
の減衰係数の大小により割れの発生を判別するものであ
る。

これは、前記日本非破壊検査協会第３分科会資料Ｎｏ３
８４４にも開示されているように、一般に、減衰係数は
割れが発生すると大きくなり、又固有振動数は割れが発
生すると小さくなるといったことを利用したものである
。

ところが、割れの発生した不良品のなかには、割れがな
い良品の減衰係数よりも小さい減衰係数を有するものも
存在するし、また、割れがない良品と等しい固有振動数
を持つものも存在するので、固有振動数あるいは減衰係
数の大小のみでは判別精度が十分でないという問題があ
った。

このため、出願人は先に、 検査実行前に、良品を５０個投入し、その固有振動数（
第３図に示すｆ　ｉ；　ｓ　＝１，２．・・・、５０）
およびその固有振動数での振動レヘルのピーク値である
固有振動ピーク値（第３図に示すＰｉ；ｉ＝１．２．・
・・、５０）の分布を振動数および振動の出力レベルを
バラン・−夕とする２次元平面上の楕円（第４図参照）
で規定し、楕円の中に固有振動ピークが入るか否かで良
・否の判定を行う方法、詳しくは、 同一種類毎に５０個の被検査品の良品の固有振動数ｆｉ
およびその固有振動数での出力レベルである固有振動ピ
ーク値Ｐｉを記憶しておき、振動数および振動の出力レ
ベルをパラメータとする２次元平面上にプロットし、 この固有振動の２次元平面上の分布から重心点（第４図
に示すＧ点）を求め、その重心点を通る分布の一次回帰
式から楕円の長軸（第４図に示すＸ方向）および短軸方
向（第４図に示すＹ方向）を決定し、それぞれの方向の
標準偏差（シグマ）を求め、 それぞれの方向のシグマを３倍した値を長径・短径とし
て２次元平面上における楕円を、該当種類の被検査品毎
に良品判定領域として設定し、各被検査品毎の固有振動
数ｆｔおよび固有振動ピーク値Ｐｉを測定し、この固有
振動数ｆｉおよび固有振動ピーク値Ｐｉが予め設定され
ている振動数および振動の出力レベルをパラメータとす
る良品判定領域内か否かを判別し、 良品と判別された場合、前記良品の固有振動数ｆｉおよ
び固有振動ピーク値Ｐｉを記憶すると共に、 この固有振動数ｆｉおよび固有振動ピーク値Ｐｉを含む
最新の所定個数の良品の固有振動数ｆｉおよび固有振動
ピーク値Ｐｉから、新たに領域の重心点Ｇおよび長径・
短径を求めて、この重心点Ｇおよび長径・短径での該当
種類の被検査品の良品判定領域を新たに設定するように
したものを提案した（特願平１−１９２３８９）。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし、前記出願においては、先に設定されている良品
判別領域に基づく判別で被検査品が良品と判別されると
、その良品を含む最新の５０個の良品の固有振動点（ｆ
ｉ、Ｐｉ）の分布から、新たに良品判別領域の輪郭を示
す楕円の中心点Ｇおよびこの楕円の長径および短径をそ
の都度新たに計算していたため、特に楕円の長軸方向を
決定するための回帰直線の計算およびこの回帰直線すな
わち前記楕円の長軸をＸ軸とする座標変換の演算に時間
がかかり、被検査品が流れて来る間隔が短い（例えば数
秒単位）と、検査が間に合わず、検査工程にて大量のス
トックを抱えることになり、生産性を向上する上でのネ
ックとなる不具合があった。

そこで、本出願人は、被検査品の密度と固有振動数との
間には密接な相関があることに着目してその両者の関係
を良品および不良品毎に調査した結果、第５図に示すよ
うに、良品および不良品共に被検査品の密度が増大する
と固有振動数ｆｉも極めて強い相関関係をもって増大す
ることを突き止めた。また、図示してはいないが、固有
振動数ｆｔでの固有振動ピーク値Ｐｉも、前記固有振動
数ｆｉ　と同じように密度とともに増大することが分か
った。これらのことから、密度、形状等の長期間にわた
る変動は、短期間の変動への影響が小さいと言える。す
なわち、最初に求めた良否判別領域を、被検査品が良品
と判別される毎にその重心点、長軸方向、長径・短径を
すべて計算しなおす必要はなく、その重心点を新しく良
品と判別された被検査品のデータを含めて更新すれば良
いということを突き止めた。

したがって、本発明は、新しく取り入れた良品のデータ
を今までのデータに追加することにより新たに良品判別
領域の重心点を求め、この重心点を新たな重心点とする
新たな良品判別領域を設定することより、正確に且つ演
算短時間に良品・不良品の判定が行なえるようにするこ
とを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

そこで、本発明は、 被検査品を打撃することにより発生する音または振動の
固有振動数およびその固有振動数での出力レベルである
固有振動ピーク値が、あらかじめ設定した良品判定領域
内か否かによって、割れ検出を行う割れ検出方法におい
て、 同一種類毎に複数個、の被検査品の良品の固有振動数お
よび固有振動ピーク値を記憶しておき、この振動数およ
び出力レベルをパラメータとする２次元平面上にプロッ
トし、 これらの固有振動数および固有振動ピーク値で表される
固有振動点の２次元平面上の分布から重心点を求め、そ
の重心点を通る分布の１次回帰弐から楕円の長軸および
短軸方向を決定し、それぞれの方向の標準偏差（シグマ
）を求め、それぞれ方向毎にシグマを所定係数倍した値
を長径・短径とした２次元平面上における楕円を、該当
種類の被検査品毎に良品判定領域として設定し、 各被検査品毎に固有振動数および固有振動ピーク値を測
定し、これらの固有振動数および固有振動ピーク値で表
される固有振動点が予め設定されている振動数および出
力レベルをパラメータとする良品判定領域内か否かを判
別し、 良品と判別された場合、前記良品の固有振動数および固
有振動ピーク値を記憶すると共に、この良品の固有振動
数および固有振動ピーク値および先に記憶している良品
判別領域の重心点のデータから新たに重心点を求めてそ
の値を更新し、この更新された重心点を新たな重心点と
する良品判別領域を設定することを特徴とする。

〔作用〕

本発明の構成によれば、被検査品を打撃することにより
割れ検出を行う割れ検出装置における良品判定領域を、
同一の種類・形状を有する複数個の良品の固有振動数と
固有振動ピーク値を検出し、検出された固有振動数と固
有振動ピーク値を、振動数および出力レベルをパラメー
タとする２次元平面上にプロットし、固有振動数および
固有振動ピーク値で表される前記２次元平面上の固有振
動点の分布から重心点を求め、その重心点を通る分布の
１次回帰式から楕円の長軸および短軸方向を決定し、そ
れぞれの方向の標準偏差（＝シグマ）を求める。そして
、それぞれの方向毎にそれぞれのシグマを所定係数倍し
た値を、それぞれ楕円の長径・短径とし、この楕円は２
次元平面上における被検査品の良品判定領域として設定
される。

そして、被検査品の固有振動数および固有振動ピーク値
が、前記良品判定領域内に有るか否かが判別され、良品
と判別された場合この良品の固有振動数および固有振動
ピーク値を、この良品と同一種類の被検査品の良品の固
有振動数および固有振動ピーク値として新たに記憶して
、この良品の固有振動数および固有振動ピーク値と先に
に新の所定個数のデータを演算して、新たに良品判定領
域が設定される。

このようにして、所定個数の良品の固有振動数および固
有振動ピーク値に基づき、固有振動数および固有振動ピ
ーク値をパラメータとする２次元子面上に良品判定領域
が設定され、被検査品の固有振動数および固有振動ピー
ク値が前記良品判定領域内に有るか否かで良・不良が判
別され、良品と判別された場合、この良品の固有振動数
および固有振動ピーク値を含む所定個数の良品の固有振
動数および固有振動ピーク値より新たに良品判定領域が
求められ、この良品判定領域が順次更新されていくので
、同一種類の被検査品において製造ロフト毎のバラツキ
あるいは季節毎の変動に応じて、良品判定領域が更新さ
れていく。

このため、検査時においては、この製造ロフト毎のバラ
ツキあるいは季節毎の変動に応じて更新された良品判定
領域に基づいて被検査品の良否の判別がおこなわれる。

〔実施例〕

本発明の一実施例に係わる割れ検出方法を第１図ないし
第８図に基づき詳細に説明する。

第１図は本割れ検出方法を適用した検査装置のブロック
図、第２図は固有振動ピーク値の分布状態を示す分布図
、第３図は被検査品の打撃振動の振動波形を示す波形図
、第４図は振動波形の周波数スペクトル図、第５図は被
検査品の密度と固有振動数の関係を示す相関図、第６図
は本割れ検査方法における良品判定領域の設定および良
品／不良品判別の処理を示すフローチャート、第７図は
自動検査ラインを上方より見た平面図、第８図は第７図
の自動検査ラインを側方より見た側面図である。

第７．８図において、符号１は被検査品、符号２はシリ
ンダで、被検査品１は検査時にこのシリンダ２によって
支持される。符号３は被検査品１を打撃するための鋼球
であり、所定の高さから所定の長さのピアノ線で吊るさ
れている。符号４は振動を被検査品１との距離の変動で
検出する電磁ピンクで、鋼球３による打撃時の打撃振動
を検出する。符号１０は検出した信号を処理し良品／不
良品の判別を行う検査装置で、第１図に示すように、増
幅器５、デイレイ装置６、周波数分析器７、判別装置８
から構成されている。符号９はこの検査装置５に接続さ
れた操作盤で、通常の検査を行う検査モードまたは良品
判定領域を設定する登録モードの切換、および被検査品
１の種類等の設定を行う。

符号１１は、被検査品ｌを自動検査ラインへ搬送する搬
送コンベア、符号１２はこの搬送コンベア１１で搬送さ
れてきた被検査品１を検査ステーション１３へ送り込む
ブツシャ−１符号１４は検査ステーション１３から搬出
された被検査品１を一時的に保持しておく受は治具１４
、符号１５は検査後の被検査品１を搬出する搬出治具、
符号１６は不良品を排出するＮＧ用シュートであり、開
くことにより不良品を落下させる。符号１７は良品を搬
出するための搬出コンベアである。

以上のように構成された結果、鋼球３による打撃時の打
撃振動を電磁ピンクアップ４が検出すると、その出力信
号は、増幅器５によって増幅されるとともに、検査装置
１０に入力される。そして、入力された信号、即ち打撃
時点からの振動波形をデイレイ装置６から出力されるタ
イミング信号に応じて周波数分析器７に取り込まれる。

ここで、タイミング信号について第２図を参照して説明
する。この第２図は増幅器５からの振動波形を示すもの
で、波形Ａは打撃時の打撃ノイズを表し、この打撃ノイ
ズＡはホワイトノイズ的な広範囲の周波数成分を含み、
振幅も大幅に変動している。波形Ｂは打撃ノイズＡが減
衰した後の被検査品１の振動波形であって、固有振動数
による共振現象を示し、破線で示す波形Ｃのようなカー
ブとなる。

前記打撃ノイズＡは被検査品ｌの固有振動とは無関係な
振動であるため、この波形を取り込んで周波数分析を行
うと誤判別を生じることになる。

そこで、この打撃ノイズＡの影響を除くため、打撃の瞬
間からｔ、たけ遅延させてｔ１時間の間サンプリングを
指示するタイミング信号を発生し、打撃の瞬間からｔ２
経過後、再度、ｔ１時間の間２回目のサンプリングを指
示するタイミング信号を発生する。

なお、共振の影響を除くために、前記サンプリング時間
ｔ３は、波形Ｃのうねりの周期よりも大、且つ（ｔｔ　
　　ｔｌ）／２よりも小さくする。

このようにサンプリングタイミング１２．１゜およびサ
ンプリング時間ｔ、を設定することにより、安定的かつ
高精度に判別できる。

第１図の周波数分析器７は、前記電磁ピック４により検
出した振動波形の周波数成分およびその出力レベルを分
析し出力する。

この周波数分析器７は、第３図の振動波形の周波数成分
およびその出力レベルを示す周波数スペクトル図に示す
ように、各周波数の出力レベルを検出できるようになっ
ている。本実施例においては、同３図に示す１〜３次固
有振動の固有振動数およびその出力レベルを表すピーク
値Ｐ１．Ｐ２．Ｐ３を検出できるようにしている。４次
以上の高次の固有振動はピーク値が小さくまた検出感度
が低下するため、本実施例では用いない。

第１図の判別装置８は操作盤９によって被検査品工の良
否の判別を行う良品判定領域を設定する登録モードが選
択されると、前記周波数分析器７から出力される前記振
動波形の１〜３次固有振動の固有振動数およびその出力
レベルＰＬ　Ｐ２．　Ｐ３から、ピーク値検出サブルー
チン（図示せず）により固有振動点を求めるといった処
理が予め設定された回数、即ち所定個数の同一の種類・
形状を有する良品について繰り返される。この固有振動
点とは、１次固有振動の場合、固有振動数をｒ。

、その出力レベルである固有振動ピーク値をＰｌとした
ときに（ｒ＋　、Ｐ、）と表される。

予め設定した良品の１〜３次の固有振動数とその出力レ
ベルを検出して固有振動点（ｆ、、Ｐ。

）を求める。そして、第４図に示すように、この固有振
動数と固有振動ピーク値を、振動数と出力レベルをパラ
メータとする２次元平面、すなわち、振動数をＸ軸、出
力レベルをｙ軸とする２次元平面上に固有振動ピーク値
をプロットし、その分布から、重心位置を求め、その重
心位置を通る分布の１次回帰式から楕円の長軸（Ｘ軸）
および短軸（ｙ軸）方向を決め、それぞれの方向の標準
偏差（＝シグマ）を求め、それぞれの所定係数倍の値（
例えば、３シグマ）を楕円の長径（α）および短径（β
）とし、この楕円で囲まれた閉領域を良品と判別する良
品判定領域として設定し、これを１〜３次の固有振動そ
れぞれにおいて設定・登録する。

以上の処置を検査に先立って、種類や形状の異なる複数
種類の被検査品ｌについて個別に行えば、複数種類の被
検査品ｌの良品判定領域を予め設定・登録することがで
きる。

また、操作盤９において検査モードが選択されると、判
別装置８は、周波数分析器７から出力される振動波形の
１〜３次固有振動の固有振動数およびその出力レベルＰ
ｉ、Ｐ２．Ｐ３が、振動数および出力レベルをパラメー
タとする二次元平面上の良品判定領域内に存在するか否
かを１〜３次の各固有振動毎に判別し、１〜３次の固有
振動数およびその固有振動ピーク値が全て前記良品判定
領域内にある時のみ良品と判別する。

以上、説明した検査装置１０における判別装置８の処理
を、第６図のフローチャートに基づいて説明する。

ステップ１００において被検査品１が所定の位置にセッ
トされているかどうかを判断し、セットされていない場
合は次のステップには進まず、セットされている場合の
みステップ１０１以降に進む。

ステップ１０１では、検査を行う被検査品１の種類が、
ステップ１０２では検査モードまたは初期設定モードの
いずれのモードかが操作盤９から入力される。

ステップ１０３では、検査モードあるいは初期設定モー
ドのいずれのモードに設定されているのかを判別し、ス
テップ１０２において初期設定モードが入力されたとき
には、ステップ１０４に進みＳＲＱ待ち（周波数分析器
７の出力待ち）となり、待ちが解除されると、ステップ
１０５で周波数分析器７からの出力が判別装置８に入力
される。

そして、ステップ１０６でピーク値検出サブルーチンに
よって１〜３次の固有振動点のデータ（ｆｉ、Ｐｉ）　
　（ｉ＝１〜３）が求められる。

ステップ１０７でステップ１００〜１０６までの処理が
５０回行われたかどうか判断され、５０回未満のときは
ステップ１０８に進んでカウンタが“１”だけインクリ
メントされてステップ１００に戻る。そして、５０個の
良品について計測を行ったと判断された場合には、ステ
ップ１０９ないしステップ１１２においてステップ１０
６で求めた固有振動点（ｆｉ、Ｐｉ）の分布から良品判
定領域が設定される。

すなわち、ステップ１０９において、５０個の比検査品
の固有振動数ｆｉの平均値ｆ□（−（Σｆｉ）１５０）
および同じく固有振動ピーク値Ｐｉの平均値ｐｓｖ（−
（ΣＰｉ）１５０）を座標とする分布の重心点Ｇ　（ｒ
ａｙ　、Ｐａｖ）が求められる。

そして、ステップ１１０において、前記重心点Ｇをとお
る分布の一次回帰式から判別領域の協会線となる楕円の
長軸方向および短軸方向を決定し、ステップＩｌｌにお
いてそれぞれの方向の分布の標準偏差σ８．σ７を求め
る。ステップ１１２においては、前記長軸方向および短
軸方向の標準偏差σ８．σ７からその値を所定係数倍し
て長径（Ｈ□＝ｎＸσＸ）および短径（Ｈ□＝ｎｘσ。

）を求める。

以上、ステップ１０９ないしステップ１１２において求
められた重心点Ｇおよび長径ＨＩＸ’ＨＩＩＹで定まる
楕円を境界線とする良品判別領域が設定される。

次に、ステップ１０２において検査モードが入力された
ときには、ステップ１０３からステップ１２０に進む。

なお、ステップ１２０〜１２２は前記ステップ１０４〜
１０６と同一の処理を行うため、その説明は省略する。

ステップ１２３ではステップ１２２で求められた１次の
固有振動点（ｆ＋　、Ｐ、）が良品判定領域内か否かを
判断し、領域内の場合は次のステップ１２４に進む。

ステップ１２４．１２５においても同様に、２次および
３次の固有振動点（ｆｉ、Ｐｆ）が良品判定領域内か否
かが判断され、何れも領域内の場合はステップ１２６に
進みＯＫ（合格）の信号が出力された後、ステップ１２
８へ進む。

ステップ１２８では、前記１〜３次の固有振動毎の固有
振動数ｆｉおよび固有振動ピーク値Ｐｉを新たに記憶す
ると共に、この追加された固有振動数ｆｉおよび固有振
動ピーク値Ｐｉと先に演算して記憶している複数個の良
品の固有振動数ｆｉの積算値Σｆｉおよび固有振動ピー
ク値Ｐｉの積算値ΣＰｉ　とから新たに重心点Ｇの座標
を求める。

すなわち、図面のステップ１２８に示すように、新たに
追加された固有振動数ｆｉおよび固有振動ピーク値Ｐｉ
を、先に求めている複数個の良品の固有振動数ｆｉの積
算値Σｆｉおよび固有振動ピーク値Ｐｉの積算値ΣＰｉ
に加算して、良品データの数Ｎを１だけインクリメント
した個数（Ｎ−Ｎ＋１）で除算し、その除算値（Σｆｔ
＋ｆ、１．。

）／（Ｎ＋１）および（ΣＰｆ　＋ＰＨ＋１　）　／　
（Ｎ＋１）を新たな重心点Ｇの座標とする。そして、こ
の新しく求めた重心点Ｇを中心とする楕円を境界線とす
る新たな良品判別領域を設定して本ステップを終了する
。

このステップ１２Ｂを終了したら、ステップ１２９へ進
み、良品データの記憶個数Ｎを１だけインクリメントし
てステップ１００へ戻る。

また、ステップ１２３〜１２５の何れか一つでも領域外
と判断された場合は、ステップ１２７でＮＧ（不合格）
の信号が出力された後、ステップ１００に戻りこの処理
が一旦終了する。

次に、割れ検出装置の検査方法を、第７．８図を参照し
て、実際のラインの流れに沿って説明する。

第７および８図において、被検査品１は搬送コンベア１
１によって搬送され、所定位置までに搬送されてくると
、ブツシャ−１２によって搬送コンヘア１１から検査ス
テーション１３に移動されるとともに所定位置にセット
される。

このセットされた被検査品１は、シリンダ２によって検
査位置まで上昇されるとともに、鋼球３により打撃され
る。このときの振動を電磁ピック４が検出し、その検出
された検出信号は検査装置１０へ入力される。

打撃および振動検出の検査の終了した被検査品１は、被
検査品１の受は治具１４に搬出されるとともに、検査装
置ＦＩＯにおいて判別結果がでるまでは受は治具１４で
待機する。

そして、判別結果が出ると、被検査品１は搬出治具１５
によって搬出コンベア１７の位置まで移動されるが、判
別結果がＮＧ（不合格）と出た被検査品１は、その途中
において不良品シュート１６が開かれて不良品パレット
（図示せず）へ投入される。

しかし、良品、即ち合格と出た被検査品１の場合には不
良品シュー）１６は開かれず、被検査品１はそのまま搬
出コンベア１７まで移動され、搬出コンベアエフによっ
て搬出される。

また、操作盤９において設定モードが選択された場合に
は、搬送コンベア１１に予め設定した個数の同一の種類
・形状を有する良品の被検査品１を流すことによって、
検査ステーション１３で良品の検査データが検出されて
検査装置１０に入力される。そして、検出した検査デー
タに基づいて検査時の合否の判別を行う良品判定領域を
設定・登録し、次に検査モードが選択された場合は、こ
の良品判定領域に基づいて検査を行う。そして、この検
査によって、被検査品１が良品と判別された場合、この
被検査品１の固有振動数および固有振動ピーク値を、先
に記憶しているそれぞれの積算値とから新たに重心点Ｇ
を求めて更新していくので、被検査品１のロフト間ある
いは季節毎の固有振動数の変動に対しても、良品判定領
域を正しく設定することができ、また、良品の全データ
を基に長軸・短軸の演算、標準偏差、重心点Ｇの座標を
最初から演算し直さないので、良品判別領域の更新処理
が短くて済み、生産性の向上に寄与するところが極めて
大である。

なお、本実施例においては、検査−回毎に良品判定領域
の見直し・更新を行っているが、１０回あるいは１００
回など任意の回数毎に、良品判定領域の見直し・更新を
行っても良い。

さらに、新たな良品の固有振動点のデータを基に新しい
重心点Ｇの座標を求めるのに、先の積算値に追加のデー
タを逐次加算していく方式をとっているが、多少演算時
間はかかるものの、データの先入れ・先出しにより古い
データを順次消去して常に最新の５０個のデータを基に
新しい重心点を求めても良い。

以上、本発明の特定の実施例について説明したが、本発
明はこの実施例に限定されるものではなく、特許請求の
範囲に記載の範囲で種々の実施態様が包含されるもので
あり、例えば、検出手段を！磁ビックではなく、マイク
で打撃時の音を検出しても良いし、また、被検査品に直
接または被検査品を支持する支持部材に直接ビックを配
置して打撃時の振動を直接検出するようにしても同様の
効果を得ることができる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば、良品判定領域が
、検査にて良品が判別された段階でオンラインでこの良
品の固有振動数および固有振動ピーク値を新たに取り入
れ、先に記憶しているデータと共に新たに重心点Ｇを求
めて更新していくので、製造ロフト毎の変化あるいは季
節の変化による被検査品の固有振動数の変動に対しても
、自動的に良品判定領域の更新が行われる。

また、良品判別領域の境界線を示す楕円を決定する重心
点、長軸方向・短軸方向、標準偏差およびこの標準偏差
から求める長径・短径のうち、被検査品の性状の変化の
影響を最も受けやすい重心点の座標のみを更新していく
ので、良品判別領域の精度を確保しつつ、この良品判別
領域の更新処理の演算が短時間で行え、生産性の大幅な
向上が図れるという優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第８図は、本発明の一実施例に係わる割れ
検出方法を説明するための図であり、第１図は本割れ検
出方法を適用した検査装置のブロック図、第２図は固有
振動点の分布状態を示す分布図、第３図は被検査品の打
撃振動の振動波形を示す波形図、第４図は振動波形の周
波数スペクトル図、第５図は被検査品の密度と固有振動
数との関係を示す相関図、第６図は本割れ検査方法にお
ける良品判定領域の設定および良品／不良品判別の処理
を示すフローチャート、第７図は自動検査ラインを上方
より見た平面図、第８図は第７図の自動検査ラインを側
方より見た側面図である。 １　・・・・被検査品

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）被検査品を打撃することにより発生する音または
   振動の固有振動数およびその固有振動数での出力レベル
   である固有振動ピーク値が、あらかじめ設定した良品判
   定領域内か否かによって、割れ検出を行う割れ検出方法
   において、 同一種類毎に複数個の被検査品の良品の固有振動数およ
   び固有振動ピーク値を記憶しておき、この振動数および
   出力レベルをパラメータとする２次元平面上にプロット
   し、 これらの固有振動数および固有振動ピーク値で表される
   固有振動点の２次元平面上の分布から重心点を求め、そ
   の重心点を通る分布の１次回帰式から楕円の長軸および
   短軸方向を決定し、それぞれの方向の標準偏差（シグマ
   ）を求め、 それぞれ方向毎にシグマを所定係数倍した値を長径・短
   径とした２次元平面上における楕円を、該当種類の被検
   査品毎に良品判定領域として設定し、 各被検査品毎に固有振動数および固有振動ピーク値を測
   定し、これらの固有振動数および固有振動ピーク値で表
   される固有振動点が予め設定されている振動数および出
   力レベルをパラメータとする良品判定領域内か否かを判
   別し、 良品と判別された場合、前記良品の固有振動数および固
   有振動ピーク値を記憶すると共に、この良品の固有振動
   数および固有振動ピーク値および先に記憶している良品
   判別領域の重心点のデータから新たに重心点を求めてそ
   の値を更新し、この更新された重心点を新たな重心点と
   する良品判別領域を設定することを特徴とする割れ検出
   方法。