JPH03215697A - 金属材料の封孔処理方法 - Google Patents
金属材料の封孔処理方法Info
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- JPH03215697A JPH03215697A JP1009690A JP1009690A JPH03215697A JP H03215697 A JPH03215697 A JP H03215697A JP 1009690 A JP1009690 A JP 1009690A JP 1009690 A JP1009690 A JP 1009690A JP H03215697 A JPH03215697 A JP H03215697A
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Landscapes
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A,産業上の利用分野
本発明は金属材料の封孔処理方法に関し、更に詳細には
金属メッキを施こした金属材料の封孔処理方法に関する
。
金属メッキを施こした金属材料の封孔処理方法に関する
。
B・.発明の概要
本発明は金属材料の封孔処理方法であって、特に金属メ
ッキを施こした金属材料にSH基を有する有機化合物を
用いて電解処理することにより、 高い耐食性を有する封孔処理品を得ることを可能とする
。
ッキを施こした金属材料にSH基を有する有機化合物を
用いて電解処理することにより、 高い耐食性を有する封孔処理品を得ることを可能とする
。
C、従来の技術
従来、電子部品の電気接続用として使用されるコネクタ
の表面処理はコネクタ素地である銅合金に下地メッキと
してNiメッキ数μm.仕上メッキとして金メッキ0,
1〜0.5μmをそれぞれ施している。ここで、仕上メ
ッキとして金メッキを施すのは、電子回路用コネクタは
微弱電流を流すために接触抵抗の低い金を使用すること
が多いからである。
の表面処理はコネクタ素地である銅合金に下地メッキと
してNiメッキ数μm.仕上メッキとして金メッキ0,
1〜0.5μmをそれぞれ施している。ここで、仕上メ
ッキとして金メッキを施すのは、電子回路用コネクタは
微弱電流を流すために接触抵抗の低い金を使用すること
が多いからである。
ところが、金はコストが高いため、メッキの厚さを薄く
する必要があり、そのため金メッキ層に多くのピンホー
ルが生じ、このピンホールを通じて水などが進入しコネ
クター素地である銅合金を腐食する。
する必要があり、そのため金メッキ層に多くのピンホー
ルが生じ、このピンホールを通じて水などが進入しコネ
クター素地である銅合金を腐食する。
この対策のため、金メッキ層に皮膜を形成させてピンホ
ールを封止する方法が考案されている。
ールを封止する方法が考案されている。
この方法は封止処理と呼ばれて、一般に′n−オクタデ
シルアミン(ODA)などの有機アミンに代表される有
機皮膜と、クロム酸皮膜とを形成する方法に大別される
。
シルアミン(ODA)などの有機アミンに代表される有
機皮膜と、クロム酸皮膜とを形成する方法に大別される
。
D.発明か解決しようとする課題
しかしながらこれらの処理方法により得られるいずれの
皮膜も腐食防止効果が小さいという欠点があった。
皮膜も腐食防止効果が小さいという欠点があった。
例えば水処理場ではH,Sが大量に存在するためこのH
t Sが金メッキのピンポールを通過してコネクタ素
子である銅合金と反応し硫化銅を生成させている。
t Sが金メッキのピンポールを通過してコネクタ素
子である銅合金と反応し硫化銅を生成させている。
この結果、コネクタ素子である銅合金は約1年程で黒変
し腐食するため電子回路用コネクタとして長時間使用す
ることが困難であった。
し腐食するため電子回路用コネクタとして長時間使用す
ることが困難であった。
本発明はこのような問題点に着目して創案されたもので
あって、 金属メッキを施こした金属材料にSH基を有すろ有機化
合物を用いて電解処理することにより、高い耐食性を有
する金属材料の封孔処理方法を提供することを目的とす
る。
あって、 金属メッキを施こした金属材料にSH基を有すろ有機化
合物を用いて電解処理することにより、高い耐食性を有
する金属材料の封孔処理方法を提供することを目的とす
る。
E.課題を解決するための手段
本発明者は上記課題を解決するために鋭意研究した結果
、SH基を有する有機化合物を用いて電解処理すること
により優れた特性を有する金属材料が得られることを見
い出し、本発明を完成した。
、SH基を有する有機化合物を用いて電解処理すること
により優れた特性を有する金属材料が得られることを見
い出し、本発明を完成した。
即ち本発明に係る金属材料の封孔処理方法は金属メッキ
を施こした金属材料にSH基を有する有機化合物を用い
て電解処理することを、その解決手段としている。
を施こした金属材料にSH基を有する有機化合物を用い
て電解処理することを、その解決手段としている。
以下、本発明について更に詳細に説明する。
まず、本発明で使用する金属メッキを施こした金属材料
とは電気メッキ,溶融メッキなどの方法により金属の表
面を金属の薄膜で密着被覆して仕上げたものである。具
体的には銅合金素子に下地メッキとしてNiメッキ,仕
上メッキとして金メッキで表面処理して電子回路用コネ
クタなどが挙げられる。
とは電気メッキ,溶融メッキなどの方法により金属の表
面を金属の薄膜で密着被覆して仕上げたものである。具
体的には銅合金素子に下地メッキとしてNiメッキ,仕
上メッキとして金メッキで表面処理して電子回路用コネ
クタなどが挙げられる。
しかし、仕上メッキとして金メッキ層が薄いときはその
層にピンホールが多く、そのため素子である銅合金を腐
食する。このため本発明に係る方法ではこのピンホール
を封止するため、次のように封孔処理する。
層にピンホールが多く、そのため素子である銅合金を腐
食する。このため本発明に係る方法ではこのピンホール
を封止するため、次のように封孔処理する。
即ち本発明に係る方法では封孔処理剤としてSH基を有
する有機化合物を用いる。この化合物としては脂肪族炭
化水素の水素原子をSH基で置換した化合物であるいわ
ゆるメルカブタン、又は芳香族炭化水素の水素原子をS
H基で置換した化合物であるいわゆるチオフェノールな
どが挙げられる。具体的にはメルカブタンとしてメルカ
プト酢酸、メルカプトシク口メキサンなどを、チオフェ
ノールとして!−フェニルー5−メルカプトテトラゾー
ル,メルカブトナフトール.メルカブトジフェニルメタ
ンなどをそれぞれ挙げることができ、好ましくは1−フ
ェニルー5−メルカプトテトラゾール(以下、PMTA
という)を用いうる。このP M T Aは一般に銀の
変色防止剤といて知られているが、本発明に係る方法で
は次の方法によりP M T Aを溶解し、これを電解
処理することにより封孔処理に用いる。
する有機化合物を用いる。この化合物としては脂肪族炭
化水素の水素原子をSH基で置換した化合物であるいわ
ゆるメルカブタン、又は芳香族炭化水素の水素原子をS
H基で置換した化合物であるいわゆるチオフェノールな
どが挙げられる。具体的にはメルカブタンとしてメルカ
プト酢酸、メルカプトシク口メキサンなどを、チオフェ
ノールとして!−フェニルー5−メルカプトテトラゾー
ル,メルカブトナフトール.メルカブトジフェニルメタ
ンなどをそれぞれ挙げることができ、好ましくは1−フ
ェニルー5−メルカプトテトラゾール(以下、PMTA
という)を用いうる。このP M T Aは一般に銀の
変色防止剤といて知られているが、本発明に係る方法で
は次の方法によりP M T Aを溶解し、これを電解
処理することにより封孔処理に用いる。
( +)PMT,Aの溶解方法
まずPMTAを有機溶剤、例えばメタノールに溶解し、
次にアルカリ水溶液、例えばNaOH,KOHを加えて
電解液とする。
次にアルカリ水溶液、例えばNaOH,KOHを加えて
電解液とする。
このことはPMTAは有機溶剤にしか溶けず、また、水
溶性にしなければ電解処理が行なえないためである。こ
のためPMTAをまず有機溶剤に溶かし、次にアルカリ
水溶液を加えて電解液とする。このようにして得られる
PMTAの電解液組成はP M T Aが1〜4g/I
2、好ましくは1.5g/LメタノールがlO〜20%
、好ましくは20%、NaOH水溶液が80〜90%、
好ましくは80%である。ここでPMTAを1〜4g/
2としたのはlg/I2未満では接触抵抗が大きくなり
、例えば微弱電流を流すために電子部品に使用できなく
なるからであり、また4g/ffを超えるとPMTAが
メタノールなどの有機溶剤に溶けにくくなるためである
。
溶性にしなければ電解処理が行なえないためである。こ
のためPMTAをまず有機溶剤に溶かし、次にアルカリ
水溶液を加えて電解液とする。このようにして得られる
PMTAの電解液組成はP M T Aが1〜4g/I
2、好ましくは1.5g/LメタノールがlO〜20%
、好ましくは20%、NaOH水溶液が80〜90%、
好ましくは80%である。ここでPMTAを1〜4g/
2としたのはlg/I2未満では接触抵抗が大きくなり
、例えば微弱電流を流すために電子部品に使用できなく
なるからであり、また4g/ffを超えるとPMTAが
メタノールなどの有機溶剤に溶けにくくなるためである
。
また、メタノールを10〜20%としたのは10%未満
ではPMTAが溶けにくくなるからであり、20%を超
えると電解液の電流密度が著しく低下するためである。
ではPMTAが溶けにくくなるからであり、20%を超
えると電解液の電流密度が著しく低下するためである。
なお、N a O H水溶液のpHは9以上、好ましく
は9〜IOの範囲である。
は9〜IOの範囲である。
このことはpHが9未満では電解液の電流密度が著しく
低下するためと、酸性領域ではPMTAが溶けにくくな
るためである。
低下するためと、酸性領域ではPMTAが溶けにくくな
るためである。
ところで本発明に係る方法による電解処理方法は特にそ
の理論にこだわるつもりはないが次のような反応と考え
られる。
の理論にこだわるつもりはないが次のような反応と考え
られる。
即ち、SH基を有する有機化合物は電解液中でSH”イ
オンとして存在することからコンタクトを正極(÷極)
とし、ステンレスを陰極(一極)とし、電解することで
金属材料の表面にあるピンホールに有機化合物が被膜を
形成することによる。
オンとして存在することからコンタクトを正極(÷極)
とし、ステンレスを陰極(一極)とし、電解することで
金属材料の表面にあるピンホールに有機化合物が被膜を
形成することによる。
この被膜形成は金属材料と有機化合物とのキレート形成
と考えられる。
と考えられる。
以下にPMTAとCuの反応によるキレート形(2)電
解処理条件 上記(1)に記載のPMTAの溶解方法により得られる
電解液中に金属メッキを施こした金属材料を浸漬して次
の条件により電解処理して封孔処理被膜を形成する。
解処理条件 上記(1)に記載のPMTAの溶解方法により得られる
電解液中に金属メッキを施こした金属材料を浸漬して次
の条件により電解処理して封孔処理被膜を形成する。
即ち、電解条件は電流密度が2〜3 m A / d
m ”好ましくは3 m A / d m″で、電解時
間が2〜3分間、溶度が常温、好ましくは20〜30℃
である。
m ”好ましくは3 m A / d m″で、電解時
間が2〜3分間、溶度が常温、好ましくは20〜30℃
である。
ここで電流密度を2〜3 m A / d m ”とし
たのは上記メタノール濃度との関係からであり、これ以
上の電流密度を得られないためである。但し、電流密度
は高い方が好ましくないことから、3mA/dm’を使
用するのが好ましい。また溶温を常温とするのはあまり
温度が高いとメタノールが蒸発してPMTAが溶解しに
くくなるためである。
たのは上記メタノール濃度との関係からであり、これ以
上の電流密度を得られないためである。但し、電流密度
は高い方が好ましくないことから、3mA/dm’を使
用するのが好ましい。また溶温を常温とするのはあまり
温度が高いとメタノールが蒸発してPMTAが溶解しに
くくなるためである。
こうして本発明に係る電解処理により得られる封孔処理
した金属材料は耐食性が高いことから電気部品などに好
適に使用できる。
した金属材料は耐食性が高いことから電気部品などに好
適に使用できる。
F、実施例
以下、本発明に係る金属材料の封孔処理方法の詳細な説
明を実施例に基づいて説明する。
明を実施例に基づいて説明する。
実施例l メタノール密度とP M T A溶解の関係
メタノールにNAOH水溶液(pH9.0)を加えてメ
タノールδ度がそれぞれ0.1θ%.20%.30%.
40%になるように調整し、メタノール濃度とPMTA
溶解度の関係を調べた。その結果を第1図に示す。第1
図に示すようにメタノール濃度が高いほどPMTA溶解
度も高いことがわかる。
メタノールにNAOH水溶液(pH9.0)を加えてメ
タノールδ度がそれぞれ0.1θ%.20%.30%.
40%になるように調整し、メタノール濃度とPMTA
溶解度の関係を調べた。その結果を第1図に示す。第1
図に示すようにメタノール濃度が高いほどPMTA溶解
度も高いことがわかる。
実施例2 メタノール濃度と電流濃度の関係実施例!で
得られた結果から、PMTAの最終濃度が2g/12と
なるように、メタノールにNAOH水溶液(pH9.0
)を加えてメタノール濃度がそれぞれO.10%,20
%,30%,40%.50%となるように調整し、メタ
ノール濃度と電解電流密度を調べた。
得られた結果から、PMTAの最終濃度が2g/12と
なるように、メタノールにNAOH水溶液(pH9.0
)を加えてメタノール濃度がそれぞれO.10%,20
%,30%,40%.50%となるように調整し、メタ
ノール濃度と電解電流密度を調べた。
その結果を第2図に示す。第2図に示すようにメタノー
ル濃度が20%を超えると著しく電流密度が低下するこ
とがわかる。これに対し実施例!で示した第1図からメ
タノール濃度が20%未満ではP M T A溶解度が
著しく減少する。従ってより高い電流密度を得ること及
びより高いPMTA溶解度を得ること双方の条件を満た
す調和点としてメタノール濃度20%が最適であること
がわかる。
ル濃度が20%を超えると著しく電流密度が低下するこ
とがわかる。これに対し実施例!で示した第1図からメ
タノール濃度が20%未満ではP M T A溶解度が
著しく減少する。従ってより高い電流密度を得ること及
びより高いPMTA溶解度を得ること双方の条件を満た
す調和点としてメタノール濃度20%が最適であること
がわかる。
なお、第1図からメタノール濃度20%におけろPMT
A溶解度は約2g/Qとなることがわかる。但し、本発
明に係る方法では十分にPMTAを溶解する必要性があ
ることがらPMTA濃度!.5g/i2が最適であると
判断した。
A溶解度は約2g/Qとなることがわかる。但し、本発
明に係る方法では十分にPMTAを溶解する必要性があ
ることがらPMTA濃度!.5g/i2が最適であると
判断した。
実施例3 電解液のpHと電流密度の関係実施例2で得
られた結果からP M T Aの最終濃度が1.5g/
12及びメタノールの最終濃度が20%になるようにN
aOH水溶液を加えてそのpHがそれぞれ6.7,8,
9,10.11及び12となるように電解液を調整し、
電解液のpHと電流密度の関係について調べた。
られた結果からP M T Aの最終濃度が1.5g/
12及びメタノールの最終濃度が20%になるようにN
aOH水溶液を加えてそのpHがそれぞれ6.7,8,
9,10.11及び12となるように電解液を調整し、
電解液のpHと電流密度の関係について調べた。
その結果を第3図に示す。第3図に示すようにpHが9
以上で最も高い電流密度が得られることがわかる。本発
明に係る方法ではpH領域を調製しやすい点を考慮して
最適pHを9〜IOの範囲と判断した。
以上で最も高い電流密度が得られることがわかる。本発
明に係る方法ではpH領域を調製しやすい点を考慮して
最適pHを9〜IOの範囲と判断した。
実施例4PMTA濃度と接触抵抗の関係下地メッキとし
てNiを厚さ2μmに、仕上メッキとして金を厚さ0.
2μmにそれぞれメッキしたリン青銅をメタノールにP
MTAを溶解し、それぞれ最終濃度0.5g/l2、I
g/12.2g/ρ.3 g/(1. 4 g/(!ト
L、実施例1〜3で得られたメタノール濃度20%、N
AOH水溶液(pH9.0)に調製しf二電解液に浸漬
した。
てNiを厚さ2μmに、仕上メッキとして金を厚さ0.
2μmにそれぞれメッキしたリン青銅をメタノールにP
MTAを溶解し、それぞれ最終濃度0.5g/l2、I
g/12.2g/ρ.3 g/(1. 4 g/(!ト
L、実施例1〜3で得られたメタノール濃度20%、N
AOH水溶液(pH9.0)に調製しf二電解液に浸漬
した。
次に電流密K 3 m A / d m ’で25℃に
て2分間電解処理し、得られfコ封孔処理したリン青銅
をSOzia度10ppm,40°C.相対湿度80%
にて耐食性試験を行い接触抵抗を測定した。
て2分間電解処理し、得られfコ封孔処理したリン青銅
をSOzia度10ppm,40°C.相対湿度80%
にて耐食性試験を行い接触抵抗を測定した。
その結果を第4図に示す。第I図に示すようにPMTA
濃度は1〜4g,Q!で接触抵抗が低いことかわかる。
濃度は1〜4g,Q!で接触抵抗が低いことかわかる。
なお、実施例2に示しf二P M T A溶解度、メタ
ノール濃度及び電流密度の関係からPMTAm度1.5
/&が最適であった。
ノール濃度及び電流密度の関係からPMTAm度1.5
/&が最適であった。
実施例5 SO,暴露試験と接触抵抗
実施例4で得られた本発明に係る封孔処理したリン青銅
について従来品である封孔処理品(力一ドエッジュコネ
クタ.メーカ:ケル(昧))及び無処理品を比較側とし
て実施例4と同様な方法によりSO2暴露試験と接触抵
抗との関係を調べた。
について従来品である封孔処理品(力一ドエッジュコネ
クタ.メーカ:ケル(昧))及び無処理品を比較側とし
て実施例4と同様な方法によりSO2暴露試験と接触抵
抗との関係を調べた。
その結果を第5図に示す。第5図に示すように本発明に
係る方法による封孔処理したリン青銅は従来品である封
孔処理品及び無処理品に比しそれぞれ1.5〜2倍,1
0〜20倍の耐食性を有することがわかる。
係る方法による封孔処理したリン青銅は従来品である封
孔処理品及び無処理品に比しそれぞれ1.5〜2倍,1
0〜20倍の耐食性を有することがわかる。
G.発明の効果
本発明は金属メッキを施こした金属材料にSH基を有す
る有機化合物、特にPMTAを用いて電解処理すること
により高い耐食性を有する封孔処理品を得ることができ
る。
る有機化合物、特にPMTAを用いて電解処理すること
により高い耐食性を有する封孔処理品を得ることができ
る。
従って本発明に係る方法による封孔処理品によれば、腐
食防止効果が大きいことから、例えばH,Sが大量に存
在する水処理場などでも硫化物を生成することはない。
食防止効果が大きいことから、例えばH,Sが大量に存
在する水処理場などでも硫化物を生成することはない。
このことから、本発明に係る方法による封孔処理品を例
えば電子回路用コネクタなどに用いた場合でも黒変によ
る腐食が生ぜず、そのため長時間にわたって使用できる
。
えば電子回路用コネクタなどに用いた場合でも黒変によ
る腐食が生ぜず、そのため長時間にわたって使用できる
。
第1図はメタノール濃度とPMTA溶解変の関係を示オ
グラフ、第2図はメタノール濃度と電流密変の関係を示
すグラフ、第3図は電解液のpHと電流密変の関係を示
すグラフ、第4図はP M TAa度と接触抵抗の関係
を示すグラフ、第5図はS O 2暴露試験と接触抵抗
の関係を示すグラフである。 第1図 メタノール濃度とPMTA溶解度の関係メタノール(%
)/アルカリ水溶液 第2図 メタノール濃度と電流密度の関係 メタノール(%)/アルカリ水溶液 第3図 電解液のpHと電流密度の関係 0 1 2 3 4 5 6 フ 8 9 10 11 12 (ρH) 電解液のpH 第4図 PMTA濃度と接触抵抗の関係 O 1 2 3 4 (9/息) P〜ITAjl度 第5図 S O t暴露試験と接触抵抗の関係 SOI暴露試験
グラフ、第2図はメタノール濃度と電流密変の関係を示
すグラフ、第3図は電解液のpHと電流密変の関係を示
すグラフ、第4図はP M TAa度と接触抵抗の関係
を示すグラフ、第5図はS O 2暴露試験と接触抵抗
の関係を示すグラフである。 第1図 メタノール濃度とPMTA溶解度の関係メタノール(%
)/アルカリ水溶液 第2図 メタノール濃度と電流密度の関係 メタノール(%)/アルカリ水溶液 第3図 電解液のpHと電流密度の関係 0 1 2 3 4 5 6 フ 8 9 10 11 12 (ρH) 電解液のpH 第4図 PMTA濃度と接触抵抗の関係 O 1 2 3 4 (9/息) P〜ITAjl度 第5図 S O t暴露試験と接触抵抗の関係 SOI暴露試験
Claims (2)
- (1)金属メッキを施こした金属材料にSH基を有する
有機化合物を用いて電解処理することを特徴とする金属
材料の封孔処理方法。 - (2)SH基を有する有機化合物が1−フェニル−5−
メルカプトテトラゾールである請求項第(1)項記載の
金属材料の封孔処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1009690A JPH03215697A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 金属材料の封孔処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1009690A JPH03215697A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 金属材料の封孔処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03215697A true JPH03215697A (ja) | 1991-09-20 |
Family
ID=11740796
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1009690A Pending JPH03215697A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 金属材料の封孔処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03215697A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005073435A1 (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Nippon Mining & Metals Co., Ltd. | 封孔処理剤、封孔処理方法、及びその処理剤で処理されたプリント基板 |
| JP2007066998A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Kyocera Corp | 配線基板 |
| KR100796891B1 (ko) * | 2004-01-30 | 2008-01-22 | 닛코킨조쿠 가부시키가이샤 | 시일링 처리제, 시일링 처리방법, 및 그 처리제로 처리된프린트 기판 |
| JP2011122236A (ja) * | 2009-09-25 | 2011-06-23 | Rohm & Haas Electronic Materials Llc | 抗置換硬質金組成物 |
-
1990
- 1990-01-19 JP JP1009690A patent/JPH03215697A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005073435A1 (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Nippon Mining & Metals Co., Ltd. | 封孔処理剤、封孔処理方法、及びその処理剤で処理されたプリント基板 |
| KR100796891B1 (ko) * | 2004-01-30 | 2008-01-22 | 닛코킨조쿠 가부시키가이샤 | 시일링 처리제, 시일링 처리방법, 및 그 처리제로 처리된프린트 기판 |
| JP2007066998A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Kyocera Corp | 配線基板 |
| JP2011122236A (ja) * | 2009-09-25 | 2011-06-23 | Rohm & Haas Electronic Materials Llc | 抗置換硬質金組成物 |
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