JPH03218447A - 画像データ変換方法 - Google Patents

画像データ変換方法

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JPH03218447A
JPH03218447A JP1419490A JP1419490A JPH03218447A JP H03218447 A JPH03218447 A JP H03218447A JP 1419490 A JP1419490 A JP 1419490A JP 1419490 A JP1419490 A JP 1419490A JP H03218447 A JPH03218447 A JP H03218447A
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JP
Japan
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data
linear
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Pending
Application number
JP1419490A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Fujimori
藤森 一雄
Takahiro Fukui
福井 貴弘
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Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
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Publication date
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Publication of JPH03218447A publication Critical patent/JPH03218447A/ja
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 艮服の旦豹 [産業上の利用分野] 本発明は画像データ変換方法に関し、詳しくはワークの
表面に形成された線状の欠陥部を強調した画像データを
作成する画像データ変換方法に関する。
[従来の技術] 従来、ワーク表面に形成された欠陥部の検査を、テレビ
カメラにより撮像して得られたワーク表面の画像データ
に基づいて行なう方法がある。このような画像データに
基づいて検査を行なう方法は、例えば、特開昭60−1
14750号公報に開示されている。画像データは、ワ
ーク表面からの反射光の強度差、即ち、輝度によるもの
であることから、欠陥部が的確に捉えられない場合があ
り、画像の鮮鋭化が求められる。この鮮鋭化1友通常、
微分,′ラプラシアン等による処理にて行なわれている
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、このような微分処理等を行なうと、以下
のような問題が生じていた。
例えば、第12図に示すように、ある太さを有する線状
の欠陥部aを撮像し微分処理を行なうと輝度の変化率の
高い部位となる欠陥部aのエッジ法 2本の線分bとし
て画像が形成される。そのため、この線分bから1つの
欠陥部として形状を正しく認識するために、線分bで囲
まれた内部の塗りつぶし、線分bの膨張処理による分離
した線分bの一体化などの種々の処理が必要とされてい
j4 更に、これらの処理を実施すると、第13図に示
すように、線状の欠陥部以外の画像も残ってしまう。同
図(ア)は内部の塗りつぶし後の画像であり、同図(イ
)は複数の点状の像が膨張処理により結合されている画
像である。従って、ワークに生じたクラック等の線状の
欠陥部だけを検出しようとすると、線状以外の欠陥部と
区別するために、更に、細線化処理 縮退処理等の複雑
な処理が必要とさね処理時間が長くなると共に、設備も
大がかりなものになってしまう。また、検査精度も余り
よいものではなく、実際の製造ラインでの製品検査に(
,1,適したものではなかった本発明の画像データ変換
方法は上記課題を解決し、ワーク表面に生じた線状の欠
陥部を的確に検出できる画像データを作成することを目
的とする。
及唄Ω構戒 かかる目的を達成する本発明の構成について以下説明す
る。
[課題を解決するための手段1 本発明の画像データ変換方法は、第1図に例示するよう
1二 ワークの原画像データを、線状の欠陥部を強調した画像
データに変換する方法であって、線状に設定された第1
領域と、該第1領域に略直交し線状に設定された第2領
域とで上記原画像データを走査しつつ、該両領域に対応
する原画像データを抽出し(P1)、 基準の線状欠陥部を横断する方向の輝度分布パターンデ
ータと、上記抽出された第1領域および第2領域におけ
る原画像データとを比較して各々の一致度を算出し(P
2)、 上記算比された第1領域および第2領域の一致度に基づ
いて走査位置毎に輝度データを作成し(P3)、新たな
る画像データとすること乞要旨とする。
[作用] 上記構成を有する本発明の画像データ変換方法は、線状
に設定された第1領域とこれに略直行し線状に設定され
た第2領域とでワークの原画像データを走査しつつ、そ
の両領域に対応する原画像データを抽出し(P])、抽
出された両領域における原画像データとパターンデータ
とを比較し各々の一致度を算出する(P2)。このパタ
ーンデータ{表基準の線状欠陥部を横断する方向の輝度
分布であり、このパターンデータと第1および第2領域
から抽出された原画像データとの一致度が高ければ、基
準の線状欠陥部と類似した欠陥部の存在が分かる。従っ
て、第1,第2領域における一致度に基づいて走査位置
毎に輝度データを作成し、この輝度データを新たな画像
データとする(P3)と,ワーク表面の線状の欠陥部が
強調された画像データが得られる。
[実施例] 以上説明した本発明の構成・作用を一層明らかにするた
めに、以下本発明の画像データ変換方法の好適な実施例
について説明する。
第2図は、その実施例方法がなされる画像データ変換装
置の概略構成図である。本画像データ変換装置は、コン
ベアCに載置され検査対象となるワークWを撮像するテ
レビカメラ1と、テレビカメラ1の出力する映像信号を
デジタル信号に変換するA/Dコンバータ3と、画像デ
ータを記憶するビデオRAM5と、算術論理演算回路と
して構成される周知のCPU7,ROM9,RAMII
と、表示手段としてのCRT13と、画像データをCR
T1 3に出力するCRTC15と、外部機器と情報の
授受包行なう外部機器インタフェース17とから構成さ
れる。尚、A/Dコンバータ3,ビデオRAM5,CP
IJ7,ROM9,RAMI1,CRTC15, 外部
インタフェース17はバス19により相互に接続されて
いる。
次に、画像データ変換装置が実行する画像データ変換処
理について説明する。第3図(戯画像デ一夕変換ルーチ
ンを示すフローチャートであり、このルーチンは、ワー
クWがコンベアCにより所定位置に搬送されてから起動
する。
まず、テレビカメラ1が出力する画像データをA/Dコ
ンバータ3を介してビデオRAM5に取り込む(ステッ
プ]00)。従って、このビデオRAM5の所定領域に
は、ワークWの原画像(例えば、画素数640X400
)に対応した画像データ(以下、この画像データが変換
前であることから原画像データと呼ぶ)が格納される。
次1こ、ワークWの原画像から、第4図に示すように十
字型に領域が設定された十字フィルタ21内に対応する
位置の原画像データを抽出する(ステップ110)。
この十字フィルタ21は、縦・横各々9つの画素(交差
する中心の画素は共通)におけるデータを抽出できるよ
うに領域が設定されたものである。
ステップ110の処理は、この十字フィルタ21内にお
ける原画像データ(輝度データ)を、第5図に示すよう
に画面A左上の位置から抽出する処理である。第6図は
、この処理により抽出された原画像データD1を示す。
十字フィルタ21の交差部23におけるデータは、Xm
,nであり、交差部23の上方におけるデータは順に、
X m, n−1,  Xm, n−2,  X m,
 n−3,  X m, n−4であり、交差部の下方
におけるデータは順に、X m, n+1,  X m
, n+2,  X m, n+3, Xm,n+4で
ある。同様に、横方向におけるデータは左から順に、X
m−4,n,  Xm−3,n,  Xm−2,n, 
 Xm−1,n,  Xm,n (交差部23のデータ
) F  Xm+1,n,Xm+2,n,  Xm+3
,n,  Xm+4,nである。
ステップ110の処理が終了すると、抽出された原画像
データD1とパターンデータDo(後述する第8図に示
す)との一致度を算出する(ステップ120)。ここで
、まずパターンデータDoについての説明をする。
パターンデータDOは、予め基準としての所定の線状の
欠陥部(以下、基準欠陥部と呼ぶ)を撮像し、その基準
欠陥部を垂直に横断する方向に捉えた輝度分布から作成
される。基準欠陥部乞垂直に横断する方向に走査して得
られた各サンプリング点での信号レベル(輝度を表す)
を第7図に示す。尚、サンプリング点は、撮像画面の一
画素に対応する。パターンデータDOは、このサンプリ
ングした9つの輝度データを、十字フィルタ21の縦お
よび横に各々位置付けて、第8図に示すように作成され
る。輝度データが最大値をとるサンプリング点の輝度デ
ータを十字フィルタ21の交差部23におけるデータと
し、隣合うサンプリング点の輝度データを上下左右に順
次位置づけて作成する。こうしで作成されたパターンデ
ータE左から横方向にY−4.0,  Y−3.0, 
 Y−2.0,  Y−1.0,Y0,0,  YO,
l,  Y0,2,  Y0,3,  Y0,4の輝度
データを有し、同様に縦方向には上からY0,4,  
Y0,3,Y0,2,  Y0,1,  YO,O, 
 YO,−1,  YO,−2,  YO,−3,YO
,−4の輝度データを有する。尚、本実施例では、パタ
ーンデータDOを構成する各輝度データは横方向と縦方
向とを同一の値としたが、基準欠陥部の撮像位置を90
度ずらした位置においても同様のサンプリングを行ない
、縦方向と横方向との輝度データを別々に求めて作成し
たものでもよく、二の場合には、一層正確なパターンデ
ータDOとなる。
次に、抽出された原画像データD1とパターンデータD
Oとの一致度の算出について説明する。
原画像データD1とパターンデータDOとの横方向の一
致度をgl  (m,  n)とすると、となり、原画
像データとパターンデータとの縦方向の一致度をg2 
(m,  n)とすると、となる。即ち、抽出した十字
フィルタ2]内の原画像データD1とパターンデータD
Oとを座標位置に対応させて乗算した合計値を、パター
ンデタDOの各座標位置におけるデータの2乗の合計値
で除した値を一致度としており、この一致度gl  (
m,  n)あるいはg2(m,n)の値が1に近い場
合(上一致度が高く、値]から遠ざかるほど一致度は低
いものとなる。
ステップ120の処理が終了すると、算出された一致度
gl  (m,  n),  g2 (m,  n)か
ら、輝度データを算出する処理を行なう(ステップ]3
0)。この処理は、一致度が値1に近いものほど輝度の
大きな(明るしり輝度データに変換する処理であり、以
下のようになされる。尚、以下の説明では、算出された
一致度gl  (m,  n),  g2 (m,  
n)を単に一致度×として説明する。
この変換は、例えば、ビデオRAM5の1画素当りの輝
度分解能が8ビット、即ち、256階調であるとして、
第9図に示すような、一次関数の変換テーブルT1を用
いて行なう。輝度Gの値沫一致度Xが値1以下の場合に
は、 G=255x として算出し、一致度×が値1を超える場合には、 G=−2 5 5 x+5 1 0 として算出する。また、一致度Xが値2を超える場合に
はG=Oとする。尚、輝度Gは、ステップ120におい
て、算出された縦・横2つの一致度×に対して各々算出
される。そして、大きな値をとる側の輝度Gを、十字フ
ィルタ21の交差部23の座標位置の1画素分の画像デ
ータG(m,n)とする。
また、本実施例で(友一次関数の変換テーブルT1を採
用したが、第10図に示すような、常用対数関数を用い
た変換テーブルT2を採用してもよい。この場合、輝度
Gの値は、一致度×が値1以下の場合には、 G=255 l og (10x) として算出し、一致度Xが値1を超える場合には、 G=−255log (10x)+512として算出す
る(×〉2の場合はG=0)。
ステップ130の処理が終了すると、求められた画像デ
ータG (m,  n)を、ビデオRAM5に書き込む
処理を行なう(ステップ140)。尚、この画像データ
G(m,n)は、ステップ100にて原画像データが書
き込まれたビデオRAM5の記憶領域とは別に設けられ
た記憶領域に書き込まれる。続いて、ワークW表面が撮
像された1画面分の画像データG (m,  n)の書
き込みが終了したか否かを判断する(ステップ150)
。 「NO」と判断した場合には、十字フィルタ21を
1画素分走査させてステップ120の処理に戻る(ステ
ップ160)。即ち、ワークW表面が撮像された1画面
分の画像データG (m,  n)の書き込みが終了す
るまで、十字フィルタ21を走査することにより原画像
データD1の抽出位置を変更して、ステップ]]0〜1
40の処理を繰り返すのである。
ステップ150の判断がrYESJとなると、ビデオR
AM5に記憶された一画面分の画像データG (m, 
 n)をCRTC15を介してCRT 13に出力しく
ステップ170)、本画像データ変換ルーチンを終了す
る。
以上説明した画像データ変換装置(上 ワークW表面を
撮像して得られた原画像データを、十字フィルタ21に
より抽出してパターンデータDoとの一致度を算出し、
この一致度に基づいて画像デ一タG (m,  n)を
求めている。そして、このパターンデータDOは、線状
の基準欠陥部を撮像して得られた輝度データから作成し
たものであることから、ワークW表面にクラック等の線
状の欠陥が生じている場合は、その部位をCRT1 3
に明るく映し出し、線状の欠陥部を強調して表示する。
また、十字フィルタ21の形状から、縦槙  斜めの何
れの方向に形成された線状欠陥部であっても、その欠陥
部は強調して表示される。従って、この画像データ変換
装置により、ワークW表面の線状欠陥部の検査を容易に
行なうことができる。
また、ワークW表面に形成された線状でない凹凸部や付
着した汚れ等1表 欠陥部として認識されないことから
、目的とする線状欠陥部のみが強調さ托従来のような複
雑な画像処理を行なう必要がなL〜従って、製造ライン
における製品の検査に法大がかりな装置を必要とせず、
短時間にしかも精度良く行なうことができる。
以上本発明の実施例について説明したが、本発明はこう
した実施例に何等限定されるものではなく、例えば、計
算速度を速くするために、一致度gl  (m,  n
),  g2 (m,  n)を以下のように算出して
もよい。
4 この場合は、第11図に示すような変換テーブルT3を
用いればよい。また、十字フィルタ21の画素数を増減
することも可能であり(縦,横方向に各々9〜15が最
適である)、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、
種々なる態様で実施し得ることは勿論である。
発明の効果 以上詳述したように、本発明の画像データ変換方法によ
れば、ワークの原画像データを、第1,第2領域とから
抽出してパターンデータとの一致度を算出し、この一致
度に基づいて画像データを求めている。そして、このパ
ターンデータ{上基準の線状欠陥部から作成したもので
あることから、ワーク表面にクラック等の線状の欠陥が
生じている場合は、その部位は輝度の差異により強調し
て表示されるという優れた効果を奏する。また、第1領
域と第2領域とは、略直交して設定されることから、紘
槙  斜めの何れの方向に形成された線状欠陥部であっ
ても、その欠陥部は強調して捉えられる。しかも、ワー
ク表面に形成された線状でない凹凸部や付着した汚れ等
1上 欠陥部として認識されないことから、目的とする
線状欠陥部のみが強調さ札従来のような複雑な画像処理
を行なう必要がない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の基本的構成を例示するフローチャート
、第2図は画像データ変換装置の概略構成図J第3図は
画像データ変換ルーチンを示すフローチャニト、第4図
は十字フィルタの構成図、第5図は十字フィルタの走査
を示す説明図、第6図は抽出された原画像データの構成
図、第7図は基準欠陥部を撮像して得られた輝度を表す
グラフ、第8図はパターンデータの構成図、第9.10
,11図は一致度を輝度に変換するテーブルを表すグラ
フ、第12.13図は従来からの処理による画像を示す
説明図である。 1・・・テレビカメラ  5・・・ビデオRAM7・・
・CPU      9・・・ROM11・・・RAM
     13・・・CRT2]・・・十字フィルタ D1・・・原画像データ D2・・・パターンデータT
l,  T2,  T3・・・変換テーブルW・・・ワ
ーク

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ワークの原画像データを、線状の欠陥部を強調した
    画像データに変換する方法であつて、線状に設定された
    第1領域と、該第1領域に略直交し線状に設定された第
    2領域とで上記原画像データを走査しつつ、該両領域に
    対応する原画像データを抽出し、 基準の線状欠陥部を横断する方向の輝度分布パターンデ
    ータと、上記抽出された第1領域および第2領域におけ
    る原画像データとを比較して各々の一致度を算出し、 上記算出された第1領域および第2領域の一致度に基づ
    いて走査位置毎に輝度データを作成し、新たなる画像デ
    ータとする画像データ変換方法。
JP1419490A 1990-01-23 1990-01-23 画像データ変換方法 Pending JPH03218447A (ja)

Priority Applications (1)

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JP1419490A JPH03218447A (ja) 1990-01-23 1990-01-23 画像データ変換方法

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JP1419490A JPH03218447A (ja) 1990-01-23 1990-01-23 画像データ変換方法

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JP1419490A Pending JPH03218447A (ja) 1990-01-23 1990-01-23 画像データ変換方法

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JP (1) JPH03218447A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5415523B2 (ja) * 2009-03-19 2014-02-12 株式会社日立ハイテクノロジーズ パターン検査装置及びその検査方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5415523B2 (ja) * 2009-03-19 2014-02-12 株式会社日立ハイテクノロジーズ パターン検査装置及びその検査方法

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