JPH03222528A - イミュニティ試験回路 - Google Patents
イミュニティ試験回路Info
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- JPH03222528A JPH03222528A JP2018585A JP1858590A JPH03222528A JP H03222528 A JPH03222528 A JP H03222528A JP 2018585 A JP2018585 A JP 2018585A JP 1858590 A JP1858590 A JP 1858590A JP H03222528 A JPH03222528 A JP H03222528A
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- communication
- communication device
- test
- cable
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、対向する通信装置の一方を被試験通信装置と
してそめイミユニティ試験を行うために、通信装置間の
通信線と接地との間に通信線の雑音電圧に相当する試験
電圧(縦電圧)を印加するイミユニティ試験回路に関す
る。
してそめイミユニティ試験を行うために、通信装置間の
通信線と接地との間に通信線の雑音電圧に相当する試験
電圧(縦電圧)を印加するイミユニティ試験回路に関す
る。
なお、イミユニティ試験とは、通信装置の開発段階など
の運用前において、対向する通信装置間を接続する通信
線に試験電圧(縦電圧)を印加し、その試験電圧に応じ
て被試験通信装置で発生する符号誤りその他の伝送品質
劣化や誤動作について、例えば対向する通信装置側で検
出して被試験通信装置の雑音耐性を調べる試験である。
の運用前において、対向する通信装置間を接続する通信
線に試験電圧(縦電圧)を印加し、その試験電圧に応じ
て被試験通信装置で発生する符号誤りその他の伝送品質
劣化や誤動作について、例えば対向する通信装置側で検
出して被試験通信装置の雑音耐性を調べる試験である。
第5図は、従来のイミユニティ試験回路の構成例を示す
図である。
図である。
図において、イミユニティ試験回路は、対向して配置さ
れる被試験通信装置51および通信装置52は通信線5
3を介して接続され、この2導体の通信線53間にコイ
ル(中点タップ付コイル)54を接続し、その中点に試
験電圧発生装置55を接続して試験電圧(縦電圧)を印
加する構成である。
れる被試験通信装置51および通信装置52は通信線5
3を介して接続され、この2導体の通信線53間にコイ
ル(中点タップ付コイル)54を接続し、その中点に試
験電圧発生装置55を接続して試験電圧(縦電圧)を印
加する構成である。
なお、通信線53には、通信装置に電力を供給するため
の直流が印加されるので、コイル54と通信線53との
間には、通信線の直流電流がコイルに流入するのを防ぐ
コンデンサ56..562と、このコンデンサ56+
、56gの直列共振を防ぎ、かつ印加縦電圧の被試験通
信装置51への出力インピーダンスを決定する抵抗器5
7..57□が挿入される。
の直流が印加されるので、コイル54と通信線53との
間には、通信線の直流電流がコイルに流入するのを防ぐ
コンデンサ56..562と、このコンデンサ56+
、56gの直列共振を防ぎ、かつ印加縦電圧の被試験通
信装置51への出力インピーダンスを決定する抵抗器5
7..57□が挿入される。
また、試験電圧としては、正弦波の交流電圧、振幅変調
した交流電圧、サージ電圧その他が用いら−れるが、以
上の構成だけでは、縦電圧が通信線53を介して被試験
通信装置51とともに対向する通信装置52にも印加さ
れるので、通信装置52側の通信線にコモンモードチロ
−クコイル58を挿入し、通信装置52に印加される電
圧の低減を図る構成がとられている。なお、コモンモー
ドチョークコイル58は、コモンモード電流に対しては
高インピーダンスとなり、ノーマルモード電流に対して
は低インピーダンスとなる。
した交流電圧、サージ電圧その他が用いら−れるが、以
上の構成だけでは、縦電圧が通信線53を介して被試験
通信装置51とともに対向する通信装置52にも印加さ
れるので、通信装置52側の通信線にコモンモードチロ
−クコイル58を挿入し、通信装置52に印加される電
圧の低減を図る構成がとられている。なお、コモンモー
ドチョークコイル58は、コモンモード電流に対しては
高インピーダンスとなり、ノーマルモード電流に対して
は低インピーダンスとなる。
ところで、以上示した構成は、被試験通信装置51と通
信装置52との間の通信線53が2導体の場合であるが
、多対の回線に同時に誘導電圧が発生する場合を模擬し
たイミユニティ試験を行うためには、多対の通信線に同
相の電圧を印加するイミユニティ試験回路が必要になる
。
信装置52との間の通信線53が2導体の場合であるが
、多対の回線に同時に誘導電圧が発生する場合を模擬し
たイミユニティ試験を行うためには、多対の通信線に同
相の電圧を印加するイミユニティ試験回路が必要になる
。
このような回路として、第5図に示すイミユニティ試験
回路を複数個使って電圧を印加する構成は、その数に応
じて回路規模が大型になるとともに、各通信線に同相で
同一値の電圧を均一に印加することが困難であった。
回路を複数個使って電圧を印加する構成は、その数に応
じて回路規模が大型になるとともに、各通信線に同相で
同一値の電圧を均一に印加することが困難であった。
一方、多対ケーブルに一括して電圧を印加する方法とし
て、従来から電磁クランプを用いる構成が知られている
。なお、電磁クランプには、電磁結合により電圧を注入
する構成、静電結合により電圧を注入する構成、および
電磁結合と静電結合の両方を併用する構成がある。
て、従来から電磁クランプを用いる構成が知られている
。なお、電磁クランプには、電磁結合により電圧を注入
する構成、静電結合により電圧を注入する構成、および
電磁結合と静電結合の両方を併用する構成がある。
ところが、この電磁クランプを用いる方法は、被試験通
信装置からイミユニティ試験回路をみた縦インピーダン
ス(イミユニティ試験回路と大地間のインピーダンス)
が、対向する通信装置の縦インピーダンスで変化するの
で、一定条件で被試験通信装置に電圧を印加することが
できず、試験−の再現性が困難になっていた。
信装置からイミユニティ試験回路をみた縦インピーダン
ス(イミユニティ試験回路と大地間のインピーダンス)
が、対向する通信装置の縦インピーダンスで変化するの
で、一定条件で被試験通信装置に電圧を印加することが
できず、試験−の再現性が困難になっていた。
本発明は、多対の通信線に同相かつ一定の電圧を均一に
印加し、被試験通信装置と対向する通信装置との間で、
広帯域の通信を行いながらイミユニティ試験を正確に行
うことができるイミユニティ試験回路を提供することを
目的とする。
印加し、被試験通信装置と対向する通信装置との間で、
広帯域の通信を行いながらイミユニティ試験を正確に行
うことができるイミユニティ試験回路を提供することを
目的とする。
請求項1に記載の発明は、対向する通信装置の一方を被
試験通信装置としてイミユニティ試験を行うために、対
向する通信装置間の通信線に所定の試験電圧を印加する
イミユニティ試験回路において、通信線の一部を分布定
数回路として動作するケーブルで構成し、ケーブルと被
試験通信装置との間に配置され、試験電圧を発生する手
段から通信線に一括して所定の試験電圧を印加する電磁
クランプと、ケーブルの少な(とも一端に配置され、各
通信線と接地との間をそれぞれ直列接続するコンデンサ
およびインピーダンス素子とを備えて構成する。
試験通信装置としてイミユニティ試験を行うために、対
向する通信装置間の通信線に所定の試験電圧を印加する
イミユニティ試験回路において、通信線の一部を分布定
数回路として動作するケーブルで構成し、ケーブルと被
試験通信装置との間に配置され、試験電圧を発生する手
段から通信線に一括して所定の試験電圧を印加する電磁
クランプと、ケーブルの少な(とも一端に配置され、各
通信線と接地との間をそれぞれ直列接続するコンデンサ
およびインピーダンス素子とを備えて構成する。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載のイミユニテ
ィ試験回路において、通信線の束に筒状磁性体をかぶせ
、この筒状磁性体に負荷抵抗器を接続した二次巻線を巻
いて構成する。
ィ試験回路において、通信線の束に筒状磁性体をかぶせ
、この筒状磁性体に負荷抵抗器を接続した二次巻線を巻
いて構成する。
請求項3に記載の発明は、請求項1または請求項2に記
載のイミユニティ試験回路において、被試験通信装置に
対向する通信装置とケーブルとの間の通信線の束を一括
してコイル状に巻いてコモンモードチョークコイルを形
成して構成する。
載のイミユニティ試験回路において、被試験通信装置に
対向する通信装置とケーブルとの間の通信線の束を一括
してコイル状に巻いてコモンモードチョークコイルを形
成して構成する。
請求項4に記載の発明は、対向する通信装置の一方を被
試験通信装置としてイミユニティ試験を行うために、対
向する通信装置間の通信線に所定の試験電圧を印加する
イミユニティ試験回路において、試験電圧を発生する手
段から通信線に一括して所定の試験電圧を印加する電磁
クランプと、被試験通信装置に対向する通信装置と電磁
クランプとの間に配置され、各通信線と接地との間をそ
れぞれ直列接続するコンデンサおよびインピーダンス素
子と、被試験通信装置に対向する通信装置側の通信線の
束を一括してコイル状に巻いて形成されるコモンモード
チョークコイルとを備えて構成する。
試験通信装置としてイミユニティ試験を行うために、対
向する通信装置間の通信線に所定の試験電圧を印加する
イミユニティ試験回路において、試験電圧を発生する手
段から通信線に一括して所定の試験電圧を印加する電磁
クランプと、被試験通信装置に対向する通信装置と電磁
クランプとの間に配置され、各通信線と接地との間をそ
れぞれ直列接続するコンデンサおよびインピーダンス素
子と、被試験通信装置に対向する通信装置側の通信線の
束を一括してコイル状に巻いて形成されるコモンモード
チョークコイルとを備えて構成する。
請求項1に記載の発明では、被試験通信装置に対向する
通信装置と電磁クランプとの間に、分布定数回路として
動作するケーブル、および各通信線と接地との間をそれ
ぞれ直列接続するコンデンサおよびインピーダンス素子
により構成される縦インピーダンス安定化手段を取り付
けることにより、被試験通信装置からイミユニティ試験
回路をみた継インピーダンスの安定化を図ることができ
る。
通信装置と電磁クランプとの間に、分布定数回路として
動作するケーブル、および各通信線と接地との間をそれ
ぞれ直列接続するコンデンサおよびインピーダンス素子
により構成される縦インピーダンス安定化手段を取り付
けることにより、被試験通信装置からイミユニティ試験
回路をみた継インピーダンスの安定化を図ることができ
る。
請求項2に記載の発明では、請求項1に記載の発明の構
成に加えて、通信線の束に筒状磁性体(磁性体リング)
を取り付け、これに二次巻線と負荷抵抗器を接続するこ
とにより、負荷抵抗器に応じて任意の縦インピーダンス
を実現することができる。
成に加えて、通信線の束に筒状磁性体(磁性体リング)
を取り付け、これに二次巻線と負荷抵抗器を接続するこ
とにより、負荷抵抗器に応じて任意の縦インピーダンス
を実現することができる。
請求項3に記載の発明では、請求項1または請求項2に
記載の発明の構成に加えて、被試験通信装置に対向する
通信装置側の通信線の束を一括してコイル状に巻いてコ
モンモードチョークコイルを形成することにより、多対
の通信線においても対向する通信装置に印加される電圧
を効果的に低減することができる。
記載の発明の構成に加えて、被試験通信装置に対向する
通信装置側の通信線の束を一括してコイル状に巻いてコ
モンモードチョークコイルを形成することにより、多対
の通信線においても対向する通信装置に印加される電圧
を効果的に低減することができる。
請求項4に記載の発明では、請求項3に記載の発明の構
成において、安定化させる縦インピーダンスの値に応じ
て、分布定数回路として動作するケーブルを省略するこ
とができることを示す。
成において、安定化させる縦インピーダンスの値に応じ
て、分布定数回路として動作するケーブルを省略するこ
とができることを示す。
〔実施例]
以下、図面に基づいて本発明の実施例について詳細に説
明する。
明する。
第1図は、請求項1に対応するイミユニティ試験回路の
一実施例構成を示す図である。
一実施例構成を示す図である。
図において、被試験通信装置11と対向する通信装置1
2とは、多対の通信線13を介して接続される。
2とは、多対の通信線13を介して接続される。
イミユニティ試験回路は、電磁クランプ14、電磁クラ
ンプ14を介して通信線13に電圧を印加する試験電圧
発生装置15、電磁クランプ14と通信装置12との間
に設置されて分布定数回路として用いられるケーブル1
6、ケーブル16の両端で各心線と接地との間にそれぞ
れ直列接続して挿入されるコンデンサ(CI)17□〜
17.および抵抗器(R+)1B+〜184、コンデン
サ(C2)19t〜194および抵抗器(Rz)2o、
〜204により構成される。
ンプ14を介して通信線13に電圧を印加する試験電圧
発生装置15、電磁クランプ14と通信装置12との間
に設置されて分布定数回路として用いられるケーブル1
6、ケーブル16の両端で各心線と接地との間にそれぞ
れ直列接続して挿入されるコンデンサ(CI)17□〜
17.および抵抗器(R+)1B+〜184、コンデン
サ(C2)19t〜194および抵抗器(Rz)2o、
〜204により構成される。
ケーブル16は、通信線13の縦インピーダンスを分布
定数回路によって安定化させるためのものであり、本実
施例では金属シースのあるケーブルの両端を接地して使
用する。抵抗器18.20はケーブル16の共振を抑え
、縦インピーダンスが安定する値に設定される。また、
コンデンサ17.19は、通信線13に直流給電を行う
装置を試験するときに、その直流遮断のために接続され
る。
定数回路によって安定化させるためのものであり、本実
施例では金属シースのあるケーブルの両端を接地して使
用する。抵抗器18.20はケーブル16の共振を抑え
、縦インピーダンスが安定する値に設定される。また、
コンデンサ17.19は、通信線13に直流給電を行う
装置を試験するときに、その直流遮断のために接続され
る。
なお、コンデンサ17.19および抵抗器18.20は
、ケーブル16の片端に配置する構成をとることも可能
である。
、ケーブル16の片端に配置する構成をとることも可能
である。
以下、このような構成による縦インピーダンスの安定化
について説明する。
について説明する。
電磁クランプ14には縦インピーダンスを安定化させる
効果はなく、上述した通り、被試験通信装置tllと対
向する通信装置12との間に単に電磁クランプ14を挿
入したときには、被試験通信装置11からイミユニティ
試験回路をみた縦インピーダンスは、対向する通信装置
12の縦インピーダンスによって大きく変化する。
効果はなく、上述した通り、被試験通信装置tllと対
向する通信装置12との間に単に電磁クランプ14を挿
入したときには、被試験通信装置11からイミユニティ
試験回路をみた縦インピーダンスは、対向する通信装置
12の縦インピーダンスによって大きく変化する。
一方、実際の使用状態では、被試験通信装置11から通
信線13をみた縦インピーダンスは、通信線13と接地
間で構成される縦回路の特性インピーダンスに近い値と
なり、単に電磁クランプ14を通信線13に取り付けた
だけでは、試験条件が実際の使用状態と掛は離れたもの
となり、試験の再現性が悪い。
信線13をみた縦インピーダンスは、通信線13と接地
間で構成される縦回路の特性インピーダンスに近い値と
なり、単に電磁クランプ14を通信線13に取り付けた
だけでは、試験条件が実際の使用状態と掛は離れたもの
となり、試験の再現性が悪い。
したがって、本実施例では分布定数回路としてみなせる
ケーブル16の両端に、共振を抑える抵抗器18.20
を接続することにより、インピーダンスを安定化させる
ことができる。また、ケーブル16を用いることにより
、その損失で対向する通信装置12にかかる高周波の縦
電圧を低下させることができる。
ケーブル16の両端に、共振を抑える抵抗器18.20
を接続することにより、インピーダンスを安定化させる
ことができる。また、ケーブル16を用いることにより
、その損失で対向する通信装置12にかかる高周波の縦
電圧を低下させることができる。
第2図は、請求項2に対応するイミユニティ試験回路の
一実施例構成を示す図である。
一実施例構成を示す図である。
図において、被試験通信装置11と対向する通信装置1
2とは、多対の通信線13を介して接続される。
2とは、多対の通信線13を介して接続される。
本実施例のイミユニティ試験回路は、第1図に示す電磁
クランプ14、試験電圧発生装置15、ケーブル16、
コンデンサ(CI)17.〜174および抵抗器(R,
)18.〜184、コンデンサ(C2)191〜194
および抵抗器(Rz)20t〜20゜に加えて、電磁ク
ランプ14とケーブル16との間に磁性体リング21を
取り付け、さらに負荷抵抗器22をつけた二次巻線23
を磁性体リング21に巻きつけて構成される。
クランプ14、試験電圧発生装置15、ケーブル16、
コンデンサ(CI)17.〜174および抵抗器(R,
)18.〜184、コンデンサ(C2)191〜194
および抵抗器(Rz)20t〜20゜に加えて、電磁ク
ランプ14とケーブル16との間に磁性体リング21を
取り付け、さらに負荷抵抗器22をつけた二次巻線23
を磁性体リング21に巻きつけて構成される。
なお、二次巻線23の巻数をn、負荷抵抗値をRLとす
ると、この部分で付加される縦インピーダンスはRL/
n”となる。
ると、この部分で付加される縦インピーダンスはRL/
n”となる。
第1図に示すイミユニティ試験回路の構成では、安定化
した縦インピーダンスの値はケーブル16の特性により
所定の範囲に限られるが、ここに示す構成では、負荷抵
抗値RLによって縦インピーダンスを任意に設定するこ
とができる。したがって、被試験通信装置11からイミ
ユニティ試験回路をみたインピーダンスを任意の値に設
定し、かつ安定化させることができる。
した縦インピーダンスの値はケーブル16の特性により
所定の範囲に限られるが、ここに示す構成では、負荷抵
抗値RLによって縦インピーダンスを任意に設定するこ
とができる。したがって、被試験通信装置11からイミ
ユニティ試験回路をみたインピーダンスを任意の値に設
定し、かつ安定化させることができる。
第3図は、第2図に示す構成において、通信線13が3
0対、ケーブル16の長さが30m、、R1−500Ω
、Rx =2200Ωの各抵抗器18.20を用いた場
合の縦インピーダンス特性を示す。
0対、ケーブル16の長さが30m、、R1−500Ω
、Rx =2200Ωの各抵抗器18.20を用いた場
合の縦インピーダンス特性を示す。
図において、横軸は周波数(MHz) 、縦軸はインピ
ーダンスの絶対値を示す。なお、本実施例では、縦イン
ピーダンスは150Ω±35Ωに安定化されていること
がわかる。
ーダンスの絶対値を示す。なお、本実施例では、縦イン
ピーダンスは150Ω±35Ωに安定化されていること
がわかる。
第4図は、請求項3にに対応するイミユニティ試験回路
の一実施例構成を示す図である。
の一実施例構成を示す図である。
図において、被試験通信装置11と対向する通信装置1
2とは、多対の通信線13を介して接続される。
2とは、多対の通信線13を介して接続される。
本実施例のイミユニティ試験回路は、第2図に示す電磁
クランプ14、試験電圧発生装置15、ケーブル16、
コンデンサ(ClO2,〜17.および抵抗器(R+)
ts、〜181、コンデンサ(C2)19、〜194お
よび抵抗器(RZ)20.〜20.、磁性体リング2I
、負荷抵抗器22をつけた二次巻線23を有する構成に
加えて、通信装置12側に、磁性体コアに多対の通信線
13の束を一括して巻いたコモンモードチョークコイル
25を挿入した構成である。
クランプ14、試験電圧発生装置15、ケーブル16、
コンデンサ(ClO2,〜17.および抵抗器(R+)
ts、〜181、コンデンサ(C2)19、〜194お
よび抵抗器(RZ)20.〜20.、磁性体リング2I
、負荷抵抗器22をつけた二次巻線23を有する構成に
加えて、通信装置12側に、磁性体コアに多対の通信線
13の束を一括して巻いたコモンモードチョークコイル
25を挿入した構成である。
従来は、通信線1対ごとにコモンモードチョークコイル
を挿入した構成をとっているが、複数n対の通信線全体
に印加される電圧に対しては、コモンモードインピーダ
ンスが17 nとなり、電磁クランプ14から被試験通
信装置11に印加される縦電圧の低減効果が低下する。
を挿入した構成をとっているが、複数n対の通信線全体
に印加される電圧に対しては、コモンモードインピーダ
ンスが17 nとなり、電磁クランプ14から被試験通
信装置11に印加される縦電圧の低減効果が低下する。
一方、本実施例構成によるn対の通信線を一括して巻い
た場合には、n対の通信線全体に印加される縦電圧に対
してもコモンモードインピーダンスは低下せず、対向す
る通信装置12に印加される電圧を効果的に低減するこ
とが可能となる。
た場合には、n対の通信線全体に印加される縦電圧に対
してもコモンモードインピーダンスは低下せず、対向す
る通信装置12に印加される電圧を効果的に低減するこ
とが可能となる。
また、一対の通信線ごとにコモンモードチョークコイル
を挿入した場合には、重信回線に伝送する信号を阻止し
て正常に試験ができなくなるのに対して、本実施例構成
では重信回線の信号についても試験を行うことができる
。
を挿入した場合には、重信回線に伝送する信号を阻止し
て正常に試験ができなくなるのに対して、本実施例構成
では重信回線の信号についても試験を行うことができる
。
なお、以上示した実施例構成において、分布定数回路と
して金属シースのあるケーブルを使用したが、金属シー
スのないケーブルを金属箱に入れて使用することもでき
る。
して金属シースのあるケーブルを使用したが、金属シー
スのないケーブルを金属箱に入れて使用することもでき
る。
また、第4図で示した請求項3対応の実施例構成では、
安定化させる縦インピーダンスの値によっては、分布定
数回路としてのケーブル16を省略することもできる。
安定化させる縦インピーダンスの値によっては、分布定
数回路としてのケーブル16を省略することもできる。
なお、その場合には、コンデンサ17.19および抵抗
器18.20は、それぞれ一方にまとめられる。
器18.20は、それぞれ一方にまとめられる。
また、以上示したイミユニティ試験回路の構成において
、試験電圧発生装置15の代わりにスペクトルアナライ
ザや妨害波測定器を取り付けることにより、被試験通信
装置11からの妨害波電圧の測定を行うことも可能であ
る。
、試験電圧発生装置15の代わりにスペクトルアナライ
ザや妨害波測定器を取り付けることにより、被試験通信
装置11からの妨害波電圧の測定を行うことも可能であ
る。
〔発明の効果]
上述したように、本発明は、多対の通信線が接続される
通信装置のイミユニティ試験においても、被試験通信装
置からイミユニティ試験回路をみた樅インピーダンスを
ほぼ一定の値に安定化して試験電圧を印加することがで
きる。したがって、広い周波数帯域にわたって再現性の
よいイミユニティ試験を行うことが可能となる。
通信装置のイミユニティ試験においても、被試験通信装
置からイミユニティ試験回路をみた樅インピーダンスを
ほぼ一定の値に安定化して試験電圧を印加することがで
きる。したがって、広い周波数帯域にわたって再現性の
よいイミユニティ試験を行うことが可能となる。
また、多対の通信線の束を一括してコイル状に巻いたコ
モンモードチョークコイルを形成することにより、被試
験通信装置に対向する通信装置に印加される不要な電圧
を効果的に低減することができ、対向する通信装置側で
イミユニティ試験データを収集する場合において、その
試験精度を高めることが可能となる。
モンモードチョークコイルを形成することにより、被試
験通信装置に対向する通信装置に印加される不要な電圧
を効果的に低減することができ、対向する通信装置側で
イミユニティ試験データを収集する場合において、その
試験精度を高めることが可能となる。
第1図は請求項1に対応するイミユニティ試験回路の一
実施例構成を示す図。 第2図は請求項2に対応するイミユニティ試験回路の一
実施例構成を示す図。 第3図は請求項2に対応する実施例構成において、被試
験通信装置からイミユニティ試験回路をみた継インピー
ダンス特性を示す図。 第4図は請求項3に対応するイミユニティ試験回路の一
実施例構成を示す図。 第5図は従来のイミユニティ試験回路の構成例を示す図
。 11・・・被試験通信装置、12・・・通信装置、13
・・・通信線、14・・・電磁クランプ、15・・・試
験電圧発生装置、16・・・ケーブル、17.19・・
・コンデンサ、18.20・・・抵抗器、21・・・磁
性体リング、22・・・負荷抵抗器、23・・・二次巻
線、25・・・コモンモードチョークコイル、51・・
・被試験通信装置、52・・・通信装置、53・・・通
信線、54・・・コイル、55・・・試験電圧発生装置
、56・・・コンデンサ、57・・・抵抗L5B・・・
コモンモードチョークコイル。
実施例構成を示す図。 第2図は請求項2に対応するイミユニティ試験回路の一
実施例構成を示す図。 第3図は請求項2に対応する実施例構成において、被試
験通信装置からイミユニティ試験回路をみた継インピー
ダンス特性を示す図。 第4図は請求項3に対応するイミユニティ試験回路の一
実施例構成を示す図。 第5図は従来のイミユニティ試験回路の構成例を示す図
。 11・・・被試験通信装置、12・・・通信装置、13
・・・通信線、14・・・電磁クランプ、15・・・試
験電圧発生装置、16・・・ケーブル、17.19・・
・コンデンサ、18.20・・・抵抗器、21・・・磁
性体リング、22・・・負荷抵抗器、23・・・二次巻
線、25・・・コモンモードチョークコイル、51・・
・被試験通信装置、52・・・通信装置、53・・・通
信線、54・・・コイル、55・・・試験電圧発生装置
、56・・・コンデンサ、57・・・抵抗L5B・・・
コモンモードチョークコイル。
Claims (4)
- (1)対向する通信装置の一方を被試験通信装置として
イミュニティ試験を行うために、対向する通信装置間の
通信線に所定の試験電圧を印加するイミュニティ試験回
路において、 前記通信線の一部を分布定数回路として動作するケーブ
ルで構成し、 前記ケーブルと前記被試験通信装置との間に配置され、
前記試験電圧を発生する手段から前記通信線に一括して
前記所定の試験電圧を印加する電磁クランプと、 前記ケーブルの少なくとも一端に配置され、各通信線と
接地との間をそれぞれ直列接続するコンデンサおよびイ
ンピーダンス素子と を備えたことを特徴とするイミュニティ試験回路。 - (2)請求項1に記載のイミュニティ試験回路において
、 通信線の束に筒状磁性体をかぶせ、この筒状磁性体に負
荷抵抗器を接続した二次巻線を巻いた構成である ことを特徴とするイミュニティ試験回路。 - (3)請求項1または請求項2に記載のイミュニティ試
験回路において、 被試験通信装置に対向する通信装置とケーブルとの間の
通信線の束を一括してコイル状に巻いてコモンモードチ
ョークコイルを形成した ことを特徴とするイミュニティ試験回路。 - (4)対向する通信装置の一方を被試験通信装置として
イミュニティ試験を行うために、対向する通信装置間の
通信線に所定の試験電圧を印加するイミュニティ試験回
路において、 前記試験電圧を発生する手段から前記通信線に一括して
前記所定の試験電圧を印加する電磁クランプと、 前記被試験通信装置に対向する通信装置と前記電磁クラ
ンプとの間に配置され、各通信線と接地との間をそれぞ
れ直列接続するコンデンサおよびインピーダンス素子と
、 前記被試験通信装置に対向する通信装置側の通信線の束
を一括してコイル状に巻いて形成されるコモンモードチ
ョークコイルと を備えたことを特徴とするイミュニティ試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2018585A JPH03222528A (ja) | 1990-01-29 | 1990-01-29 | イミュニティ試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2018585A JPH03222528A (ja) | 1990-01-29 | 1990-01-29 | イミュニティ試験回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03222528A true JPH03222528A (ja) | 1991-10-01 |
Family
ID=11975706
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2018585A Pending JPH03222528A (ja) | 1990-01-29 | 1990-01-29 | イミュニティ試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03222528A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007163239A (ja) * | 2005-12-13 | 2007-06-28 | Hitachi Ltd | 原子炉出力測定装置及び出力測定装置 |
| JP2013002840A (ja) * | 2011-06-13 | 2013-01-07 | Mitsubishi Electric Corp | 通信用ケーブルのコモンモードインピーダンス安定化治具 |
-
1990
- 1990-01-29 JP JP2018585A patent/JPH03222528A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007163239A (ja) * | 2005-12-13 | 2007-06-28 | Hitachi Ltd | 原子炉出力測定装置及び出力測定装置 |
| JP2013002840A (ja) * | 2011-06-13 | 2013-01-07 | Mitsubishi Electric Corp | 通信用ケーブルのコモンモードインピーダンス安定化治具 |
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