JPH0322416A - Heat treatment furnace - Google Patents
Heat treatment furnaceInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、半導体製造に用いられる熱処理炉の構造に関
する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to the structure of a heat treatment furnace used in semiconductor manufacturing.
(従来の技術)
従来、このような分野の技術としては、例えば以下に示
すようなものがあった。(Prior Art) Conventionally, as technologies in this field, there have been the following, for example.
第3図は従来の縦型熱処理炉の断面図、第4図はその縦
型熱処理炉のアウタチューブとインナチューブの斜視図
である。FIG. 3 is a sectional view of a conventional vertical heat treatment furnace, and FIG. 4 is a perspective view of an outer tube and an inner tube of the vertical heat treatment furnace.
ここに示す縦型熱処理炉では、例えばポリイミドキュア
炉のような比較的低温(室温〜500℃)で有機排ガス
を生或するようなキュアを行う。ここで、キュアとは液
状塗布膜を焼き固め、安定な膜を形戒することをいう。In the vertical heat treatment furnace shown here, curing is performed at a relatively low temperature (room temperature to 500° C.), such as a polyimide curing furnace, in which organic exhaust gas is generated. Here, curing refers to baking and solidifying a liquid coating film to form a stable film.
この縦型熱処理炉は、アウタチューブ1及びインナチュ
ーブ2を具備し、アウタチューブlは下部のみが開口さ
れた円筒形をなし、インナチューブ2はアウタチューブ
1より一回り小さく、その円筒の下部は開口となり、上
部にはボリイξド発生ガス10の排出孔2aが形威され
ている。そして、石英テーブル5上にウエハボード3を
載せ、その石英テーブル5をインナチューブ2とともに
、ボートエレベータ6によってアウタチューブ1内に挿
入し、ポリイミドコートウエハ4を高温処理する。その
時の処理条件は、N,ガス導入口8より51/winの
N2ガス9を注入しながら、100℃.200゜C,3
50℃で各1時間とする。その際、キュア処理によって
ボリイ逅ドコートウエハ4から発生するガスとN2ガス
9とが混合され、その混合ガス10が排気口7より排出
される。しかし、その場合、主に炉内のボトム部には有
機物(カーボン膜)11が付着する。This vertical heat treatment furnace is equipped with an outer tube 1 and an inner tube 2. The outer tube 1 has a cylindrical shape with only the lower part open, the inner tube 2 is slightly smaller than the outer tube 1, and the lower part of the cylinder is It is an opening, and the upper part is formed with a discharge hole 2a for the voloid generated gas 10. Then, the wafer board 3 is placed on the quartz table 5, and the quartz table 5 and the inner tube 2 are inserted into the outer tube 1 by the boat elevator 6, and the polyimide coated wafer 4 is subjected to high temperature treatment. The processing conditions at that time were 100° C. while injecting N2 gas 9 at a rate of 51/win from the N gas inlet 8. 200°C, 3
The temperature is 50°C for 1 hour each. At this time, the gas generated from the boiling-coated wafer 4 during the curing process is mixed with the N2 gas 9, and the mixed gas 10 is discharged from the exhaust port 7. However, in that case, the organic matter (carbon film) 11 mainly adheres to the bottom part of the furnace.
また、第5図に示すような熱処理炉は、処理チューブ2
1,キャップ22及びヒータ23とで構成され、ボート
24にウエハ25を載せ、ガス導入口26から、例えば
N.ガスを導入加熱し、炉ロキャップの排気口27から
排気する。この場合、ウエハ25から発生した有機ガス
がヒータ23で加熱されている領域(300〜400゜
C)を通過し、炉口付近で冷やされると、そこに有機物
(カーボン層)28が生じて、付着する。In addition, the heat treatment furnace as shown in FIG.
1, a cap 22, and a heater 23. A wafer 25 is placed on a boat 24, and a gas inlet 26 is connected to the N. Gas is introduced, heated, and exhausted from the exhaust port 27 of the furnace cap. In this case, when the organic gas generated from the wafer 25 passes through a region heated by the heater 23 (300 to 400 degrees Celsius) and is cooled near the furnace mouth, an organic substance (carbon layer) 28 is generated there. adhere to.
上記のような有機物の付着量が多くなると、パーティク
ルが増加し、デバイスの歩留まりを低下させる原因とな
ったり、チューブの洗浄サイクルが短くなり、そのため
にキュア炉の処理能力低下が問題となっていた。When the amount of attached organic matter increases as mentioned above, the number of particles increases, causing a decrease in device yield and shortening the tube cleaning cycle, which causes a reduction in the processing capacity of the curing furnace. .
(発明が解決しようとする課題)
上記のように、従来の熱処理炉の構成及び処理方法では
、炉内ボトム部に付着した有機物(力一ボン膜) 11
. 28により、パーティクルが増加する。(Problems to be Solved by the Invention) As described above, in the conventional heat treatment furnace configuration and treatment method, organic matter (force-bonding film) attached to the bottom part of the furnace 11
.. 28, the number of particles increases.
これが原因で、デバイスの歩留まりが低下したり、チュ
ーブの洗浄サイクルが短くなってメンテナンス周期が短
縮されることにより、キュア炉の処理能力も低下すると
いう問題点があった。As a result, there have been problems in that the yield of devices is reduced, the cleaning cycle of the tube is shortened, the maintenance period is shortened, and the throughput of the curing furnace is also reduced.
本発明は、以上述べたパーティクルの増加、メンテナン
ス周期が短くなるという問題点を除去し、アウタチュー
ブにO,ガス導入口を、インナチューブ側面にNtガス
とキュア処理による発生ガスの排気口を設けることによ
り、ポリイミドコートウエハから発生する有機物を確実
に燃焼して排気することができる熱処理炉を提供するこ
とを目的とする。The present invention eliminates the above-mentioned problems of an increase in particles and a shortened maintenance cycle, and provides an O gas inlet on the outer tube and an exhaust port for Nt gas and gas generated by curing treatment on the side of the inner tube. Accordingly, it is an object of the present invention to provide a heat treatment furnace that can reliably burn and exhaust organic substances generated from polyimide coated wafers.
(課題を解決するための手段)
本発明は、上記目的を達戒するために、半導体製造に用
いられる熱処理炉において、液状塗布膜を焼き固めるキ
ュア処理室と、該キエア処理室からの排出ガスを燃焼さ
せるガス混合反応室とを設けるようにしたものである。(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the present invention provides a heat treatment furnace used for semiconductor manufacturing, which includes a curing chamber for baking and solidifying a liquid coating film, and an exhaust gas from the curing chamber. The system is equipped with a gas mixing reaction chamber in which the gas is combusted.
(作用)
本発明によれば、上記のように、液状塗布膜を焼き固め
るキュア処理室と、該キュア処理室からの排出ガスを燃
焼させるガス混合反応室とを設けるようにしたので、例
えば第1図に示すように、インナチューブ(35)にN
2ガスとキュア処理による発生ガスとの混合ガス(41
)の排気口(37〉を、アウタチューブ(31〉に02
ガス導入口(33)を設け、炉内温度により上記混合ガ
ス(41)と02ガス(42)とを混合して燃焼させ、
排気部における有機物の付着をなくすことができる。(Function) According to the present invention, as described above, the curing chamber for baking and solidifying the liquid coating film and the gas mixing reaction chamber for burning the exhaust gas from the curing chamber are provided. As shown in Figure 1, apply N to the inner tube (35).
2 gas and the gas generated by the curing process (41
)'s exhaust port (37>) to the outer tube (31>).
A gas inlet (33) is provided, and the mixed gas (41) and 02 gas (42) are mixed and combusted depending on the temperature inside the furnace.
Adhesion of organic matter in the exhaust section can be eliminated.
(実施例)
以下、本発明の実施例について図面を参照しながら詳細
に説明する。(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第1図は本発明の実施例を示す縦型熱処理炉の断面図、
第2図はその縦型熱処理炉のアウタチューブとインナチ
ューブの斜視図である。FIG. 1 is a sectional view of a vertical heat treatment furnace showing an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a perspective view of the outer tube and inner tube of the vertical heat treatment furnace.
この縦型熱処理炉は、アウタチューブ31及びインナチ
ューブ35を具備し、該アウタチューブ31は下部に開
口部32を有した円筒形をなし、上部には02ガス導入
口33が形威されている。また、インナチェーブ35は
アウタチュープ31より一回り小さく、その円筒の下部
には開口部36を有している.インナチューブ35の終
端部の側面には、N2ガス9とキュア処理により発生す
るガスとの混合ガス41の排気口37が、例えば8〜1
0個形威されている。This vertical heat treatment furnace is equipped with an outer tube 31 and an inner tube 35, and the outer tube 31 has a cylindrical shape with an opening 32 at the bottom, and an 02 gas inlet 33 is formed at the top. . Further, the inner tube 35 is slightly smaller than the outer tube 31, and has an opening 36 at the bottom of its cylinder. On the side surface of the terminal end of the inner tube 35, an exhaust port 37 for a mixed gas 41 of N2 gas 9 and gas generated by the curing process is provided, for example, from 8 to 1.
0 pieces have been confirmed.
そこで、石英テーブル5上にウエハボード3を載せ、そ
の石英テーブル5をインナチューブ35と共に、ボート
エレベータ6によってアウタチューブ31内に挿入し、
ボリイもドコートウエハ4を高温処理する。その時の処
理条件は、N2ガス導入口8より、例えば51/sin
のN!ガス9を注入しながら、100゜C, 200
゜C, 350℃で各1時間とする。その際、キュア
処理によってボリイξドコートウエハ4から発生するガ
スが、N,ガス導入口8より導入される、例えば10l
/IllinのN2ガス9とともに加熱〔炉外に加熱用
コイル(図示なし)が設けられる〕されるとともに混合
され、混合ガス41となってインナチューブ35の終端
部の側面に設けられた排気口37より排気される。これ
と同時に、アウタチューブ31上部のOxガス導入管3
4より、例えばl5Il/IIlinで導入されるOx
ガス42が、キュア処理室の排気口37より排気される
混合ガス41と反応して、燃焼ガス43となる。この燃
焼ガス43を排気口3Bより炉外へ排気する。Therefore, the wafer board 3 is placed on the quartz table 5, and the quartz table 5 is inserted into the outer tube 31 together with the inner tube 35 by the boat elevator 6.
Boli also processes the coated wafer 4 at high temperature. The processing conditions at that time are, for example, 51/sin from the N2 gas inlet 8.
N! 100°C, 200°C while injecting gas 9
℃ and 350℃ for 1 hour each. At that time, the gas generated from the boiled ξ-d coated wafer 4 due to the curing process is introduced from the N gas inlet 8, for example 10 l.
/Illin's N2 gas 9 (a heating coil (not shown) is provided outside the furnace) is heated and mixed to form a mixed gas 41, which is then released into the exhaust port 37 provided on the side surface of the terminal end of the inner tube 35. More exhaust. At the same time, the Ox gas introduction pipe 3 at the upper part of the outer tube 31
4, for example, Ox introduced by l5Il/IIlin
The gas 42 reacts with the mixed gas 41 exhausted from the exhaust port 37 of the curing chamber to become a combustion gas 43. This combustion gas 43 is exhausted to the outside of the furnace through the exhaust port 3B.
このように、インナチューブ35でキュア処理室を構成
し、それを覆うアウタチューブ31でガス混合反応室を
構成し、排気口37から排出されるキュア処理による混
合ガスを燃焼させるようにしている。つまり、インナチ
ューブ35にキュア処理が行われた混合ガス41の排気
口37を、アウタチューブ31にOtガス導入口33を
設け、炉内温度により混合ガス41と02ガス42とを
混合して燃焼させることができる。In this way, the inner tube 35 constitutes a curing chamber, the outer tube 31 covering it constitutes a gas mixing reaction chamber, and the mixed gas from the curing treatment discharged from the exhaust port 37 is combusted. In other words, the inner tube 35 is provided with an exhaust port 37 for the mixed gas 41 that has been cured, and the outer tube 31 is provided with an Ot gas inlet 33, and the mixed gas 41 and 02 gas 42 are mixed and combusted depending on the furnace temperature. can be done.
第6図は本発明の他の実施例を示す横型熱処理炉の断面
図である。FIG. 6 is a sectional view of a horizontal heat treatment furnace showing another embodiment of the present invention.
この図に示すように、炉体はアウタチューブ51、キエ
ア処理室を構成するインナチューブ52、及びヒータ5
3で構成される。そこで、インナチューブ52内にウエ
ハボード54上に載置されたポリイξドコートウエハ5
5を置き、処理ガスとして、例えばN2ガスをN2ガス
導入口56から導入する。そして、キュア処理により発
生した混合ガスが排気口57から出たところで、アウタ
チューブ51の02ガス導入口58から導入された02
ガスと混合させ、アウタチューブ5lとインナチューブ
52との隙間59を通過する時に燃焼させ、この燃焼ガ
スを排気口60から排気する。このようにすれば、処理
するための第1のガスと燃焼させるための第2のガスが
混合されることによって、反応が十分に行え、例えば、
CO,に変化させることにより、アウタチューブ5l内
にカーボン膜が付着することはなくなる。As shown in this figure, the furnace body includes an outer tube 51, an inner tube 52 constituting the air processing chamber, and a heater 5.
Consists of 3. Therefore, the polyimide coated wafer 5 placed on the wafer board 54 inside the inner tube 52
5, and N2 gas, for example, is introduced from the N2 gas inlet 56 as a processing gas. Then, when the mixed gas generated by the curing process exits from the exhaust port 57, the 02 gas introduced from the 02 gas inlet 58 of the outer tube 51
It is mixed with gas and combusted when passing through the gap 59 between the outer tube 5l and the inner tube 52, and this combustion gas is exhausted from the exhaust port 60. In this way, by mixing the first gas for processing and the second gas for combustion, the reaction can be carried out sufficiently, for example,
By changing to CO, a carbon film will no longer adhere to the inside of the outer tube 5l.
また、炉体の構造を簡単にするため、第7図に示すよう
に、処理チューブ75内をキュア処理による混合ガスの
排気口73を設けた仕切り板74で分離することにより
、キュア処理室71とガス混合反応室72を設けるよう
にしてもよい。このように構或すると、ヒータ76によ
る加熱領域が従来より長くなるが、処理チューブ75内
の構造は比較的簡単に構成することができる。なお、第
7図において、77はOtガス導入管、78はN,ガス
導入口、79は燃焼ガスの排気口である。In addition, in order to simplify the structure of the furnace body, as shown in FIG. A gas mixing reaction chamber 72 may also be provided. With this structure, the heating area by the heater 76 becomes longer than in the conventional case, but the structure inside the processing tube 75 can be configured relatively easily. In FIG. 7, 77 is an Ot gas inlet pipe, 78 is an N gas inlet, and 79 is a combustion gas exhaust port.
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能であり、これ
らを本発明の範囲から排除するものではない。Note that the present invention is not limited to the above embodiments,
Various modifications are possible based on the spirit of the present invention, and these are not excluded from the scope of the present invention.
(発明の効果)
以上、詳細に説明したように、本発明によれば、液状塗
布膜を焼き固めるキュア処理室と、該キュア処理室から
の排出ガスを燃焼させるガス混合反応室とを設けるよう
にしたので、キュア処理室からの排出ガスは完全燃焼す
ることになり、パーティクル発生の低減とメンテナンス
周期の長期化を図ることができる。(Effects of the Invention) As described above in detail, according to the present invention, a curing chamber for baking and solidifying a liquid coating film and a gas mixing reaction chamber for burning exhaust gas from the curing chamber are provided. As a result, the exhaust gas from the curing chamber is completely combusted, reducing particle generation and lengthening the maintenance cycle.
第1図は本発明の実施例を示す縦型熱処理炉の断面図、
第2図はその縦型熱処理炉のアウタチューブとインナチ
ューブの斜視図、第3図は従来の縦型熱処理炉の断面図
、第4図はその縦型熱処理炉のアウタチュープとインナ
チューブの斜視図、第5図は従来の他の熱処理炉の断面
図、第6図は本発明の他の実施例を示す横型熱処理炉の
断面図、第7図は本発明の他の更なる実施例を示す横型
熱処理炉の断面図である。
3,54・・・ウエハボード、4.55・・・ボリイも
ドコートウエハ、5・・・石英テーブル、6・・・ボー
トエレベータ、8. 56. 78・・・N8ガス導入
口、9・・・N!ガス、31. 51・・・アウタチュ
ーブ、32. 36・・・開口部、33. 58・・・
Otガス導入口、34. 77・・・Otガス導入管、
35. 52・・・インナチューブ、37, 57.
73・・・排気口(混合ガス) 、3B, 60. 7
9・・・排気口(燃焼ガス)、41・・・混合ガス、4
2・・・02ガス、43・・・燃焼ガス、53. 16
・・・ヒータ、59・・・隙間、71・・・キュア処理
室、72・・・ガス混合反応室、74・・・仕切り板、
75・・・処理チューブ。FIG. 1 is a sectional view of a vertical heat treatment furnace showing an embodiment of the present invention;
Figure 2 is a perspective view of the outer tube and inner tube of the vertical heat treatment furnace, Figure 3 is a sectional view of the conventional vertical heat treatment furnace, and Figure 4 is a perspective view of the outer tube and inner tube of the vertical heat treatment furnace. , FIG. 5 is a sectional view of another conventional heat treatment furnace, FIG. 6 is a sectional view of a horizontal heat treatment furnace showing another embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a sectional view of another further embodiment of the present invention. FIG. 2 is a sectional view of a horizontal heat treatment furnace. 3,54...Wafer board, 4.55...Bolly coated wafer, 5...Quartz table, 6...Boat elevator, 8. 56. 78...N8 gas inlet, 9...N! Gas, 31. 51... Outer tube, 32. 36... opening, 33. 58...
Ot gas inlet, 34. 77...Ot gas introduction pipe,
35. 52... Inner tube, 37, 57.
73...Exhaust port (mixed gas), 3B, 60. 7
9...Exhaust port (combustion gas), 41...Mixed gas, 4
2...02 gas, 43...combustion gas, 53. 16
... Heater, 59 ... Gap, 71 ... Cure processing chamber, 72 ... Gas mixing reaction chamber, 74 ... Partition plate,
75...processing tube.
Claims (3)
)液状塗布膜を焼き固めるキュア処理室と、(b)該キ
ュア処理室からの排出ガスを燃焼させるガス混合反応室
とを具備する熱処理炉。(1) In a heat treatment furnace used for semiconductor manufacturing, (a
A heat treatment furnace comprising:) a curing chamber for baking and solidifying a liquid coating film; and (b) a gas mixing reaction chamber for burning exhaust gas from the curing chamber.
理室はインナチューブからなり、ガス混合反応室は前記
インナチューブとそれを覆うアウタチューブからなる熱
処理炉。(2) The heat treatment furnace according to claim 1, wherein the curing chamber includes an inner tube, and the gas mixing reaction chamber includes the inner tube and an outer tube covering the inner tube.
理室とガス混合反応室は単一の処理チューブに排出口を
有する仕切板を設けて構成してなる熱処理炉。(3) The heat treatment furnace according to claim 1, wherein the curing chamber and the gas mixing reaction chamber are constructed by providing a partition plate having an outlet in a single treatment tube.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15583689A JPH0322416A (en) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | Heat treatment furnace |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15583689A JPH0322416A (en) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | Heat treatment furnace |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0322416A true JPH0322416A (en) | 1991-01-30 |
Family
ID=15614564
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15583689A Pending JPH0322416A (en) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | Heat treatment furnace |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0322416A (en) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0221616A (en) * | 1988-07-11 | 1990-01-24 | Fuji Photo Film Co Ltd | Heat treatment equipment for semiconductor device |
-
1989
- 1989-06-20 JP JP15583689A patent/JPH0322416A/en active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0221616A (en) * | 1988-07-11 | 1990-01-24 | Fuji Photo Film Co Ltd | Heat treatment equipment for semiconductor device |
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