JPH03229711A - 高配向性共役ポリマーの製造方法 - Google Patents
高配向性共役ポリマーの製造方法Info
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- JPH03229711A JPH03229711A JP2025416A JP2541690A JPH03229711A JP H03229711 A JPH03229711 A JP H03229711A JP 2025416 A JP2025416 A JP 2025416A JP 2541690 A JP2541690 A JP 2541690A JP H03229711 A JPH03229711 A JP H03229711A
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
(ヨ 導電性や非線形光学効果を示すポリアセチレン
結合たはポリジアセチレン結合を有する有機物質に関す
るものである。
つ一次元の主鎖を分子内に保有していることで、導電性
や非線形光学効果を持つことから光電子機能材料として
広く研究されている。
ナッタ触媒を用いた白州らの重合方法がよく知られてい
も 発明が解決しようとする課題 ところ力丈 現在知られているポリアセチレン誘導体i
、t、 酸素を含む雰囲気中で(よ 熱や圧力あるい
は紫外線などにたいして不安定であるた八 安定化させ
る研究か進められていも しかしながぺ 未だにアセチレン誘導体ポリマを安定化
する方法は見いだされていなしもまL 配向性を制御す
る技術も開発されていな課題を解決するための手段 一端に一3i−Si−Cl基を持つ直鎮状の炭化水素誘
導体を用いれは 有機溶媒中で化学吸着により親水性基
板表面に単分子膜を形成でき、さらに前記吸着された単
分子膜表面を酸素を含むガス中で高エネルギー線照射し
て表面を親水性化することにより単分子膜を累積膜を形
成することが出来ることが知られている。
チレン基及び酸素(−0−)を含むような物質を用い化
学吸着法を行えば 数十オングストロームオーダのアセ
チレン誘導体の単分子膜を形成でき、さらに多層の累積
膜も容易に得ることかできる。
定の方向に選択的に失活させておき、全面に高エネルギ
ーの放射線や紫外線(エネルギービーム)を照射し 前
記単分子膜の残存したアセチレン基やジアセチレン基の
部分を重合させたり、あるいはラビングにより吸着単分
子膜中の分子を再配向させておいたのち重合させると、
配向性が極めて高く、比較的高分子量(分子量数百以上
)で共役系が非常に長くしかも酸素を含む雰囲気中でも
安定で非線形光学効果や導電性の大きなポリアセチレン
系およびポリジアセチレン系ポリマーか形成されること
を発見した つまり、一定の方向性を保った状態でエネルギービーム
を用いてアセチレン誘導体の分子を重合することにより
、共役系が連続した直鎖状のポリマー(共役ポリマー)
を作れることを見いだし九作用 埋板 アセチレン(−C≡C−)基あるいはジアセチレ
ン基(−C≡C−C≡C−)、およびクロルシラン基(
−SiCl)、さらに炭化水素鎖の間に酸素(−0−)
を含む直鎖状分子を溶解させた非水系有機溶媒中に表面
が親水性の基板を浸漬し 前記基板表面に前記アセチレ
ン基あるいはジアセチレン基 酸素およびクロルシラン
基(SiCl)を含む物質、すなわち直鎖状分子を化学
吸着させてか収 重合前にあらかじめ前記単分子膜を選
択的に線状に失活させ、さらに全面エネルギービーム(
Xi& ガンマ暇 イオンビー入電子線 や紫外線等
)照射することにより重合させると、アセチレン基ある
いはジアセチレン基および酸素とクロルシラン基(−3
iCl)を含む直鎖状分子の単分子膜が吸着形成され
基板上に分子の重合方向がきれいに並んだ状態で線状に
保持されて、しかもあらかじめ失活されていいなかった
部分のアセチレンきはは放射線や紫外線照射により線状
方向に重合されるので、重合方向を制御した状態で共役
系が連続した直鎖状のポリアセチレン系またはポリジア
セチレン系ポリマーを作ることができる。また 基板表
面に前記アセチレン基あるいはジアセチレン基 酸素お
よびクロルシラン基(−3iCl)を含む物質を化学吸
着させてか収 ラビングを行なうと、ラビングにより単
分子膜内の分子がきれいに並んだ状態に吸着膜を再配向
させることができるので、その状態でエネルギービーム
照射して重合すると、重合方向を制御した状態で共役系
が連続した直鎖状のポリアセチレン系またはポリジアセ
チレン系ポリマーを作ることができる。
含ませて置くこと(よ 吸着単分子膜内の分子の自由度
を増加せし八 重合時のひずみを減少させ収率を大幅に
改善できる効果かある。またアセチレン基の重合反応に
(よ エネルギービームとしてX線や電子線 ガンマ線
が使用でき、ジアセチレン基の重合に(よ X線や電子
線 ガンマ線以外にも紫外線が使用できた力丈 ジアセ
チレン基の場合、紫外線照射を行なうとポリジアセチレ
ンが生成さhX線や電子線 ガンマ線を使用した時はポ
リアセチレンが生成され九 実施例 以下、実施例を用いて本発明の詳細な説明する。
アセチレン誘導体の一種であり末端にアセチレン基を1
個含むCH−=C−(CH2)、−0−(CH2)−−
Si Cl3(AO5K ここでm、nは整数である
力\ 合計5から25の範囲で良好な結果が得られた)
の場°合を用いて説明する。
系界面活性剤(CH=C−(CH2)、−0(CHe)
2−5 iSi−Cls: 6−AO5)を用いて基
板表面に化学吸着して単分子膜を形成する。この時、−
SiCl基は 基板表面の5102とともに形成されて
いる一〇H基と反応して脱塩酸し 基板表面に CH=C−(CH2)4−0−(CH2)2−5 i
−0の単分子膜2が形成できも 例えi、i 1.0X10−” 〜4. 0XIO−
’mol/1の濃度で前記シラン系界面活性剤を溶かし
た85%n−ヘキサン、 8X四塩化炭魚 7%クロロ
ホルム溶液中に 室温で30分間SiO2の形成された
Sl基板浸漬すると、 SiOa表面で−81−〇−の
結合を形成できる。(第1図(a)) ここで、基板表面に CH=C−(CH2)4−0−(CHa)2−5 i
−0の単分子膜2が形成できていること41FT、IR
にて確認され九 な耘 このとき化学吸着膜の形成(よ 湿気を含まない
N2雰囲気中で行つ九 化学吸着膜の形成に使用した基
板(よ 直径3インチの酸化膜(Si02)を形成した
Si基板である。
め前記単分子膜の不飽和基をSTM (走査トンネル顕
微鏡)による描画(ライティング)または電子ビーム露
光またはX−ray露光(何れL 露光量は5 mJ’
/ c m’程度でよい)により線状に失活し 特定の
方向に線状に不飽和基を残存させた徽 ヘリウムガス等
の不活性ガス雰囲気中で全面に放射線(例えli X
線や電子線 ガンマ線)を5〜1(1mJ/cm”程度
照射すると第1図(C)に示すような反広 即ち失活さ
れないで残存していた不飽和のアセチレン基が線状に重
合してTranS−ポリアセチレン結合3が製造された
ことがFTIRにより明かとなつ丸 な抵X線や電子線
ガンマ線はエネルギーレベルは異なるが同様の重合膜
が得られた 一X 前記81基板上にシラン系活性剤として(CH
3)2HS i −CE C−(CH2)4−0(CH
2)2−5 i −Cl (DMS−6−AO8、ここでm、nはそれぞれ4と2
である力\ 合計で5から25の範囲で良好な結果か得
られ九 また以後CH3はMeで表わす)を用いた場合
にL 吸着膜を1層累積した基板を(第2図(a))選
択的に失活後、不活性ガス雰囲気中で全面に放射線を照
射すれば第2図(b)に示すような反息 即ち一3iM
e2H基を含んだ線状で配向性の高いTrans−ポリ
アセチレン結合3が製造されたことが明かとなっ九従っ
て、吸着単分子膜の層数を増やす必要がある場合に(よ
この膜のように アセチレン基を含む分子の末端に一
3iMe2)(基を導入して置けばアルカリ水処理のみ
で−S i (CHs ) 2− OHJ:変換でき
るので、前述と同様の反応液を用いて化学吸着工程およ
びOH付加工程を繰り返すことにより、単分子膜を必要
な膜厚で累積形成できる。
応して単分子膜上に アセチレン基を有する2層目の単
分子吸着膜を積層形成できる。
基を導入して置く場合に(よ 単分子膜を1層形成した
後、単分子膜の形成された基板を室温でジボラン1mo
l/lのTHF溶液に浸漬しさらにNa0HO,1mo
1/lの30%H2O2水溶液に一時間程度浸漬するこ
とにより、 ビニル基を酸化して表面に水酸基(OH)
を付加した単分子膜を形成することができも 従って、
前述と同様の方法で化学吸着工程およびOH付加工程を
繰り返すことにより必要な膜厚の単分子膜を累積形成で
きる。すなわ板 化学反応により単分子膜の上に形成さ
れたOH基を介して、アセチレン基を有する単分子吸着
膜を積層できも また 積層数も任意である。
の方法として、02を含む雰囲気中でX線電子線 ガン
マ線照射しても同様の効果がえられ九 まf=N2を含
む雰囲気中でX線 電子線 ガンマ線照射した場合には
分子末端に−NH2基を導入でき、 この官能基の場合
にも同様の効果がえられ 吸着単分子の累積がより行い
やすくなる。
s型高配向共役ポリアセチレンを容易に製造できること
が確認されf。
来のチグラーナッタ系触媒法で製造されたポリアセチレ
ン誘導体に比べ 酸素を含む雰囲気中でk 熱や圧力あ
るいは紫外線などにたいして著しく安定であっ九 以上の実施例で(よ 6−AO3やDMS −6−AO
3についてのみ示しため(分子内にアセチレン(CqC
)基を含み吸着膜形成が可能なものであれ(L 吸着条
件は異なっても同様の方法が利用出来ることは明らかで
あろう。
3 il I ニア−DASを用いた場合にk 化学吸着膜作成後(第
3図(a))選択的に線状に失活させた後、不活性ガス
中で紫外線(5〜10mJ/cm’)を用いて重合する
と、単分子膜状でかつ線状のポリジアセチレン結合4を
有するポリジアセチレン型共役ポリマー(第3図(b)
)が得られa な抵この場合、重合時紫外線の代わりに
X線や電子線ガンマ線照射(5mJ/cm’)を用いれ
ば第3図(C)のごとき線状の高配向ポリアセチレン結
合3を有するポリアセチレン型共役ポリマーが得られる
。
ある場合に(よ この膜のようく ジアセチレン基を含
む分子の末端に一SiMea)(基を導入して置け(′
L アルカリ水処理のみで−Si(CH=)2−OHに
変換できるので、前述と同様の反応液を用いて化学吸着
工程およびOH付加工程を繰り返すことにより単分子膜
を必要な膜厚で累積形成できも すなわ板 OH基が反
応形成された単分子膜上4Q ジアセチレン基を有す
る単分子吸着膜を積層できる。積層数は任意である。
基を導入して置けば 単分子膜を1層形成した後、単分
子膜の形成された基板を室温てジボラ:、z1mol/
lのTHF溶液に浸ff1L、 さらにNa0HO,
1mo1/lの30%H2O2水溶液に浸漬することに
より、単分子膜の表面に水酸基(OH)を付加した単分
子膜を形成することができも 従って、前述と同様の反
応液を用いて化学吸着工程およびOH付加工程を繰り返
すことにより単分子膜を必要な膜厚で累積形成できる。
アセチレン基を有する単分子吸着膜を積層できる。また
積層数も任意である。
の方法として、02を含む雰囲気中でxi電子線 ガン
マ線照射しても同様の効果がえられる。まt=N2を含
む雰囲気中でxi 電子線 ガンマ線照射した場合に
は分子末端に−NH2基を導入でき、この官能基の場合
にも同様の効果がえられ 吸着単分子の累積がより行い
やすくなる。
を形成した後選択的に線状に失活させ、重合を行う方法
について述べた力\ 吸着後ラビングを行なって吸着膜
を再配向させた後、エネルギービームを照射して重合を
行なっても高配向ポリアセチレンまたは高配向ポリジア
セチレンが得られ九 さらに吸着膜を多層積層した後で
、不飽和基を選択的に線状に失活し重合反応を行っても
良いし あるいよ 吸着膜の形成−線状失活−重合反応
を交互に行っても高配向ポリアセチレンの多層分子膜の
作製が可能であった な抵 上記実施例以外に 本願発明にしよう出来る界面
活性剤としてC瓜 CH3−(CH2)+−C≡C−(CH2)−−0(C
H2) nS i Cl3 にこでl、 @ nは0、または整数、ただし合計
で5〜25が良い。)で表わされるシラン系界面活性剋
たとえは CH3−(CH2)−−C≡C−(CH2)3−0(C
H2) i S i Si−Clsあるい1
よ (CH3)2HSi −(CH2) I−C≡C(CH
a) −−0−(CH2) −−3i Cl3に
こで1.@nは0、または整数、ただし合計で5〜25
が良しも )で表わされるシラン系界面活性剋 たとえ
ば (CHs)2HSi −(CH2)*−C≡C(CHt
) z−0(CH2) s−3i Si−Cls、ある
い(よ CH2=CH−(CH2) 1−C−=C−(CH2)
−0−(CH2)。−SiCls にこで1. @ nは0、または整数、ただし合計
で5〜25が良い。)で表わされるシラン系界面活性剋
たとえば CH2=CH−(CH2)e−C≡C−(CH2)sO
(CH2)3−SiCl*、 あるい(i CHs −(CH2) 1−C≡C−C≡C−(CH2
) −−O(CH2) −−3i Cl s にこでl、 m、 nはOlまたは整数、ただし合
計で5〜25が良い。)で表わされるンラン系界面活性
剤L たとえば CH3−(CH2)2−CEC−C≡C−(CH2)6
0−(CH2) s−Si Cl s、や、 CH3−CH2−C≡C−C≡C−(CH2)e−0(
CH2) 3−5 i Si−Cls、あるいは (CH3) 2HSi −(CH2) 1−C≡C−C
≡C(CH2) −−0−(CH2) n−Si Cl
zにこでl、 @ nはOlまたは整数、たたし
合計で5〜25が良い。)で表わされるシラン系界面活
性剋 たとえば (CH3)2H3i −(CHp) 3−C≡C−C≡
C(CH2) a−0−(CH2) 2−3 i Cl
3、あるい+1 CH2=CH−(CH2) 1−CiC−C≡C−(C
H2) −−0−(CH2)。−3iCl3にこでl、
m、 nは0、または整数、たたし合計で5〜2
5が良い。)で表わされるシラン系界面活性剤L た
とえは CHa=CH−CH2−C≡C−C≡C−(CH2)v
O−(CH2) 3−5 iCl3、 などがある。
モノマーの種類や製造条件を適正化することにより、こ
の方法を用いてより電導性の優れた物質の製造が可能と
なるであろう。
効果の非常に優れ安定な高配向性共役ポリアセチレンや
ポリジアセチレンのポリマーを高能率に製造できるので
、非線形光学効果を利用したデバイスの製作には極めて
有効である。な紅ここで、直鎖状の炭化水素鎖の途中に
一〇−基を含ませて置くこと(よ 吸着単分子膜内の分
子の自由度を増加せし数 重合時のひずみを減少させ収
率を大幅に改善できる効果がある。
板の分子オーダーの拡大断面概念は 第1図(b)は
電子線露光(EB照射)を用いて不飽和基を選択的に線
状に失活させる工程の概念上 第1図(c)1.t、
線状に重合された後の高配向超長共役Trans型ポ
リアセチレンの形成された基板の分子オーダーの拡大断
面概念上 第2図(a)はDMS−6−AO3吸着膜を
1層形成した基板の分子オーダーの拡大断面概念文 第
2図(b)は重合後の高配向Trans型ポリアセチレ
ンの形成された延板の分子オーダーの拡大断面概念上
第3図i;L7−DASを用いたジアセチレン単分子膜
を紫外線照射により重合し ポリポリジアセチレン型共
役ポリマー作成後の工程を示し 第3図(c)l;t、
、 7−DASを用いた吸着単分子膜を用いて電子線
照射によりポリアセチレン型共役ポリマーを作成したと
きの分子オーダーの拡大断面図を示す。 1・・・Si02/Si基板、 2・・・単分子吸着風
3・・・高配向Trans−ポリアセチレン結合、・・
・ポリジアセチレン結合。
Claims (17)
- (1)不飽和基と酸素(−O−)と−Si−Cl基を含
む直鎖状分子を溶解させた非水系の第1の有機溶媒中に
表面が親水性の基板を浸漬し化学吸着法により前記基板
上に前記物質の単分子膜を化学吸着で形成する工程と、
前記基板に不活性ガス雰囲気中で全面にエネルギービー
ムを照射して不飽和基の部分を重合させる工程を含むこ
とを特徴とするポリアセチレン型高配向性共役ポリマー
の製造方法。 - (2)直鎖状分子がCH_3−(CH_2)_l−C≡
C−(CH¥2)_m−O−(CH_2)_n−SiC
l_3(ここでl、m、nは0、または整数、ただし合
計で5〜25が良い。)で表わされるシラン系界面活性
剤であることを特徴とする請求項1記載のポリアセチレ
ン型高配向性共役ポリマーの製造方法。 - (3)不飽和基と−O−と−Si−Cl基を含む直鎖状
分子を溶解させた非水系の第1の有機溶媒中に表面が親
水性の基板を浸漬し化学吸着法により前記基板上に前記
物質の単分子膜を吸着形成する工程と、電子ビーム露光
、STMライティングまたはX線露光により前記分子膜
を選択的に線状に失活させる工程と、前記基板に不活性
ガス雰囲気中で全面にエネルギービームを照射し前記単
分子膜の失活されないで残った不飽和基の部分を重合さ
せる工程を含むことを特徴とするポリアセチレン型高配
向性共役ポリマーの製造方法。 - (4)不飽和基と−O−と−Si−Cl基を含む直鎖状
分子を溶解させた非水系の第1の有機溶媒中に表面が親
水性の基板を浸漬し化学吸着法により前記基板上に前記
物質の単分子分子膜を吸着形成する工程と、ラビングに
より前記吸着膜を再配向させる工程と、前記基板に不活
性ガス雰囲気中で全面にエネルギービームを照射し前記
不飽和基の部分を重合させる工程を含むことを特徴とす
るポリアセチレン型高配向性共役ポリマーの製造方法。 - (5)直鎖状分子の分子末端に−Si(CH_3)_2
H基または−CH=CH_2基が結合していることを特
徴とする請求項1、3または4記載のポリアセチレン型
高配向性共役ポリマーの製造方法。 - (6)ジアセチレン(−C≡C−C≡C−)基と−O−
と−Si−Cl基を含む直鎖状分子を溶解させた非水系
の第1の有機溶媒中に表面が親水性の基板を浸漬し化学
吸着法により前記基板上に前記分子の単分子膜を吸着形
成する工程と、エネルギービームを照射して、前記単分
子膜のジアセチレン基の部分を重合させる工程とを含む
ことを特徴とするポリアセチレン型またはポリジアセチ
レン型高配向性共役ポリマーの製造方法。 - (7)ジアセチレン基を含む物質がCH_3−(CH_
2)_3−C≡C−C≡C−(CH_2)_6−O−(
CH_2)_3−SiCl_3であることを特徴とする
請求項1記載の光記録媒体の製造方法。 - (8)ジアセチレン(−C≡C−C≡C−)基と−O−
と−Si−Cl基を含む物質を溶解させた非水系の第1
の有機溶媒中に表面が親水性の基板を浸漬し化学吸着法
により前記基板上に前記物質の分子膜を化学吸着で形成
する工程と、電子線照射またはSTMライティングまた
はX線露光または紫外線により前記分子膜を選択的に線
状に失活させる工程と、不活性ガス雰囲気中で全面に電
子線またはガンマ線またはX線照射を行い、前記単分子
膜の残存したアセチレン基の部分を重合させる工程とを
含むことを特徴とするポリアセチレン型高配向性超長共
役ポリマーの製造方法。 - (9)ジアセチレン(−C=C−C≡C−)基と−O−
と−Si−Cl基を含む直鎖状分子を溶解させた非水系
の第1の有機溶媒中に表面が親水性の基板を浸漬し、化
学吸着法により前記基板上に前記物質の単分子膜を吸着
形成する工程と、ラビングにより前記吸着膜を再配向さ
せる工程と、前記基板に不活性ガス雰囲気中で全面に電
子線またはガンマ線またはX線照射を行い、前記不飽和
基の部分を重合させる工程を含むことを特徴とするポリ
アセチレン型高配向性共役ポリマーの製造方法。 - (10)直鎖状分子の分子末端に、−Si(CH_3)
_2H基が結合していることを特徴とする請求項9記載
のポリアセチレン型高配向 性共役ポリマーの製造方法。 - (11)直鎖状分子の分子末端に、−CH=CH_2基
が結合していることを特徴とする請求項10記載のポリ
アセチレン型高配向性 共役ポリマーの製造方法。 - (12)ジアセチレン(−C≡C−C≡C−)基と−O
−と−Si−Cl基を含む直鎖状分子を溶解させた非水
系の第1の有機溶媒中に表面が親水性の基板を浸漬し、
化学吸着法により前記基板上に前記分子の単分子膜を吸
着形成する工程と、電子線照射またはSTMライティン
グまたはX線露光または紫外線により前記分子膜を選択
的に線状に失活させる工程と、不活性ガス雰囲気中で全
面に紫外線照射を行い、前記単分子膜の残存したアセチ
レン基の部分を重合させる工程とを含むことを特徴とす
るポリジアセチレン型高配向性共役ポリマーの製造方法
。 - (13)ジアセチレン(−C≡C−C≡C−)基と−O
−と−Si−Cl基を含む直鎖状分子を溶解させた非水
系の第1の有機溶媒中に表面が親水性の基板を浸漬し、
化学吸着法により前記基板上に前記物質の分子膜を吸着
形成する工程と、ラビングにより前記吸着膜を再配向さ
せる工程と、前記基板に不活性ガス雰囲気中で全面に紫
外線照射を行い、前記不飽和基の部分を重合させる工程
を含むことを特徴とするポリジアセチレン型高配向性共
役ポリマーの製造方法。 - (14)直鎖状分子の分子末端に、−Si(CH_3)
_2H基が結合していることを特徴とする請求項14ま
たは15記載のポリジアセチレン型高配向性共役ポリマ
ーの製造方法。 - (15)直鎖状分子の分子末端に、−CH=CH_2基
が結合していることを特徴とする請求項14または15
記載のポリジアセチレン型高配向性共役ポリマーの製造
方法。 - (16)ジアセチレン基と−O−と−Si−Cl基を含
む直鎖状分子がCH=CH_2−(CH_2)_l−C
≡C−C≡C−(CH_2)_m−O−(CH_2)_
n−SiCl_3(l、m、nは、0または整数で合計
5から25)であることを特徴とする請求項12または
16記載のポリジアセチレン型高配向性共役ポリマーの
製造方法。 - (17)ジアセチレン基と−O−と−Si−Cl基を含
む直鎖状分子が ▲数式、化学式、表等があります▼ (l、m、nは、0または整数で合計5から25)であ
ることを特徴とする請求項13または17記載のポリジ
アセチレン型高配向性共役ポリマーの製造方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2025416A JPH0667983B2 (ja) | 1990-02-05 | 1990-02-05 | 高配向性共役ポリマーの製造方法 |
| EP91101532A EP0445534B1 (en) | 1990-02-05 | 1991-02-05 | A process for preparing an organic monomolecular film |
| US07/651,069 US5114737A (en) | 1990-02-05 | 1991-02-05 | Process for preparing an organic monomolecular film |
| DE69128160T DE69128160T2 (de) | 1990-02-05 | 1991-02-05 | Verfahren zur Herstellung eines organischen monomolekularen Überzuges |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2025416A JPH0667983B2 (ja) | 1990-02-05 | 1990-02-05 | 高配向性共役ポリマーの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03229711A true JPH03229711A (ja) | 1991-10-11 |
| JPH0667983B2 JPH0667983B2 (ja) | 1994-08-31 |
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP (1) | JPH0667983B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1237155A1 (en) * | 2001-02-28 | 2002-09-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording film, method for manufacturing the same, optical recording medium, method for manufacturing the same, optical recording method, information recording/reproducing apparatus, information reproducing/recording method, computer system and video signal recording/reproducing system |
-
1990
- 1990-02-05 JP JP2025416A patent/JPH0667983B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1237155A1 (en) * | 2001-02-28 | 2002-09-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording film, method for manufacturing the same, optical recording medium, method for manufacturing the same, optical recording method, information recording/reproducing apparatus, information reproducing/recording method, computer system and video signal recording/reproducing system |
| US6686017B2 (en) | 2001-02-28 | 2004-02-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording film, method for manufacturing the same, optical recording medium, method for manufacturing the same, optical recording method, information recording/reproducing apparatus, information reproducing/recording method, computer system and video signal recording/reproducing system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0667983B2 (ja) | 1994-08-31 |
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