JPH03232127A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JPH03232127A JPH03232127A JP2026193A JP2619390A JPH03232127A JP H03232127 A JPH03232127 A JP H03232127A JP 2026193 A JP2026193 A JP 2026193A JP 2619390 A JP2619390 A JP 2619390A JP H03232127 A JPH03232127 A JP H03232127A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、追記型光ディスクおよび光磁気ディスクのい
ずれをもアクセス可能な光ピックアップ装置に関する。
ずれをもアクセス可能な光ピックアップ装置に関する。
[従来の技術]
近年、コンピュータシステムの外部記憶装置として、光
デイスク装置が実用されている。この光デイスク装置に
は、大きく分けて、記憶媒体として光記憶媒体を用い、
−度記憶したデータを書き換えることができない追記型
光デイスク装置と、記憶媒体として光磁気記憶媒体を用
い、記憶したデータを任意に書き換えることのできる光
磁気ディスク装置の二種類がある。
デイスク装置が実用されている。この光デイスク装置に
は、大きく分けて、記憶媒体として光記憶媒体を用い、
−度記憶したデータを書き換えることができない追記型
光デイスク装置と、記憶媒体として光磁気記憶媒体を用
い、記憶したデータを任意に書き換えることのできる光
磁気ディスク装置の二種類がある。
第5図(a)、(b)は、追記型光デイスク装置におい
て、記憶媒体(以下、追記型光ディスクという)にデー
タを記録/再生するための追記型ディスク用光ピックア
ップ装置の光学系の一例を示している。
て、記憶媒体(以下、追記型光ディスクという)にデー
タを記録/再生するための追記型ディスク用光ピックア
ップ装置の光学系の一例を示している。
なお、この追記型ディスク用光ピックアップ装置は、ト
ラッキングエラー検出方法としてプッシュプル法を用い
、フォーカシングエラー検出方法としてナイフェツジ法
を用いるものである。
ラッキングエラー検出方法としてプッシュプル法を用い
、フォーカシングエラー検出方法としてナイフェツジ法
を用いるものである。
図において、半導体レーザ素子1から出力された信号光
は、カップリングレンズ2によ℃て平行光に変換され、
偏光ビームスプリッタ3にP偏光として入射し、このP
偏光の信号光は、偏光ビームスプリンタ3を透過して、
1/4波長板4に導かれる。
は、カップリングレンズ2によ℃て平行光に変換され、
偏光ビームスプリッタ3にP偏光として入射し、このP
偏光の信号光は、偏光ビームスプリンタ3を透過して、
1/4波長板4に導かれる。
1/4波長板4を透過したP偏光の信号光は、174波
長板4によって円偏光に変換された後に、対物レンズ5
により集光されて、追記型光ディスク6の記録面に結像
される。
長板4によって円偏光に変換された後に、対物レンズ5
により集光されて、追記型光ディスク6の記録面に結像
される。
追記型光ディスク6からの反射光は、対物レンズ5を透
過して略平行光に変換された後に再度174波長板4に
入射さ九る。それにより、1/4波長抜4を透過した反
射光は、入射光と方位が直交する直線偏光に変換され、
これにより、偏光ビームスプリッタ3により反射される
。
過して略平行光に変換された後に再度174波長板4に
入射さ九る。それにより、1/4波長抜4を透過した反
射光は、入射光と方位が直交する直線偏光に変換され、
これにより、偏光ビームスプリッタ3により反射される
。
このようにして、偏光ビームスプリッタ3により反射さ
れた追記型光ディスク6からの反射光は、レンズ7によ
って集束され、その光束のほぼ半分は、ナイフェツジを
構成する分割鏡8により反射されて、トラッキング方向
T(すなわち、追記型光ディスク6の半径方向;同図(
b)参照)に受光面が二分割されている、トラッキング
エラー検出用の受光素子9に入射される。
れた追記型光ディスク6からの反射光は、レンズ7によ
って集束され、その光束のほぼ半分は、ナイフェツジを
構成する分割鏡8により反射されて、トラッキング方向
T(すなわち、追記型光ディスク6の半径方向;同図(
b)参照)に受光面が二分割されている、トラッキング
エラー検出用の受光素子9に入射される。
また、レンズ7により集束される光束の残りの部分は、
分割鏡8の稜118aと平行な分割線で受光面が二分割
されている、フォーカシングエラー検出用の受光素子l
Oに入射される。
分割鏡8の稜118aと平行な分割線で受光面が二分割
されている、フォーカシングエラー検出用の受光素子l
Oに入射される。
そして、受光素子9の分割された2つの受光面から出力
される受光信号の差に基づいてトラッキングエラー信号
が得られ、受光素子10の分割された2つの受光面から
出力される受光信号の差に基づいてフォーカシングエラ
ー信号が得られる。また、受光素子9の受光信号の和、
または、受光素子9と受光素子10の受光信号の総和に
基づいて、追記型光ディスク6からの再生信号を得る。
される受光信号の差に基づいてトラッキングエラー信号
が得られ、受光素子10の分割された2つの受光面から
出力される受光信号の差に基づいてフォーカシングエラ
ー信号が得られる。また、受光素子9の受光信号の和、
または、受光素子9と受光素子10の受光信号の総和に
基づいて、追記型光ディスク6からの再生信号を得る。
第6図は、光磁気ディスク装置において、記憶媒体(以
下、光磁気ディスクという)にデータを記録/再生する
ための光磁気ディスク用光ピックアップ装置の光学系の
一例を示している。
下、光磁気ディスクという)にデータを記録/再生する
ための光磁気ディスク用光ピックアップ装置の光学系の
一例を示している。
この光磁気ディスク用光ピックアップ装置は、第5図(
a)、(b)に示した追記型光デイスク用光ピックアッ
プ装置と同様のトラッキングエラー検出機構およびフォ
ーカシングエラー検出機構を備えているが、図示を省略
している。また、同図において、第5図(a)、(b)
と同一部分および相当する部分には、同一符号を付して
いる。
a)、(b)に示した追記型光デイスク用光ピックアッ
プ装置と同様のトラッキングエラー検出機構およびフォ
ーカシングエラー検出機構を備えているが、図示を省略
している。また、同図において、第5図(a)、(b)
と同一部分および相当する部分には、同一符号を付して
いる。
なお、以下の記述においては、光磁気ディスクへのデー
タ記録/再生原理に関する説明は省略する。
タ記録/再生原理に関する説明は省略する。
同図において、半導体レーザ素子1から出力された信号
光は、カップリングレンズ2によって平行光に変換され
、ビーム整形用プリズム11によって平行光束の断面形
状が円形に整形された状態で、偏光ビームスプリッタ3
にP偏光として入射し、このP偏光の信号光は、偏光ビ
ームスプリッタ3を透過し、偏光プリズム12により反
射されて対物レンズ5に導かれ、対物レンズ5によって
光磁気ディスクの記録面(図示略)に結像される。
光は、カップリングレンズ2によって平行光に変換され
、ビーム整形用プリズム11によって平行光束の断面形
状が円形に整形された状態で、偏光ビームスプリッタ3
にP偏光として入射し、このP偏光の信号光は、偏光ビ
ームスプリッタ3を透過し、偏光プリズム12により反
射されて対物レンズ5に導かれ、対物レンズ5によって
光磁気ディスクの記録面(図示略)に結像される。
光磁気ディスクからの反射光は、結像された光磁気ディ
スクの記録面の記録情報、すなわち、磁化方向に応じて
、カー回転が与えられ、その方位が約±0.7度回転し
た直線偏光に変換され、対物レンズ5により略平行光に
変換された後に、偏光プリズム12により反射されて、
偏光ビームスプリッタ3に入射される。
スクの記録面の記録情報、すなわち、磁化方向に応じて
、カー回転が与えられ、その方位が約±0.7度回転し
た直線偏光に変換され、対物レンズ5により略平行光に
変換された後に、偏光プリズム12により反射されて、
偏光ビームスプリッタ3に入射される。
ここで、偏光ビームスプリッタ3の偏光特性を、例えば
、P偏光の透過率が70%、反射率が30%、かつ、S
偏光の透過率が0%、反射率が100%とした場合、第
7図に示すように、偏光ビームスプリッタ3に入射され
るカー回転角θにの光磁気ディスクからの反射光LLは
、P偏光が30%反射されるとともに、S偏光が100
%反射される。
、P偏光の透過率が70%、反射率が30%、かつ、S
偏光の透過率が0%、反射率が100%とした場合、第
7図に示すように、偏光ビームスプリッタ3に入射され
るカー回転角θにの光磁気ディスクからの反射光LLは
、P偏光が30%反射されるとともに、S偏光が100
%反射される。
それにより、偏光ビームスプリンタ3からの反射光LL
’においては、カー回転角がθkからθに′に増大する
。この現象は、「みかけ上のカー回転角の増加」と呼ば
れる。
’においては、カー回転角がθkからθに′に増大する
。この現象は、「みかけ上のカー回転角の増加」と呼ば
れる。
この偏光ビームスプリッタ3からの反射光LL’は、例
えば、反射率70%、透過率30″1の偏光依存性のな
いハーフミラ−13に導かれる。
えば、反射率70%、透過率30″1の偏光依存性のな
いハーフミラ−13に導かれる。
ハーフミラ−13により反射された成分は、旋光子14
によりその方位が45度回転された後に、ウオーラスト
ンプリズム15に入射され、このウオーラストンプリズ
ム15によりP偏光とS偏光に分解され、これらのP偏
光およびS偏光は、二分割受光素子16のそれぞれの受
光面16a、16bに入射される。
によりその方位が45度回転された後に、ウオーラスト
ンプリズム15に入射され、このウオーラストンプリズ
ム15によりP偏光とS偏光に分解され、これらのP偏
光およびS偏光は、二分割受光素子16のそれぞれの受
光面16a、16bに入射される。
そして、この受光面16a、16bの受光信号の差に基
づいて、光磁気ディスクからの再生信号が得られる。
づいて、光磁気ディスクからの再生信号が得られる。
また、ハーフミラ−13を透過した成分は、トラッキン
グエラー検出機構およびフォーカシング検出機構に導か
れ、第5図(a)、(b)に示した追記型光デイスク用
光ピックアップ装置と同様にして、゛トラッキングエラ
ー検出信号およびフォーカシングエラー検出信号が得ら
れる。
グエラー検出機構およびフォーカシング検出機構に導か
れ、第5図(a)、(b)に示した追記型光デイスク用
光ピックアップ装置と同様にして、゛トラッキングエラ
ー検出信号およびフォーカシングエラー検出信号が得ら
れる。
このようにして、追記型光デイスク用光ピックアップ装
置と、光磁気ディスク用光ピックアップ装置は、その主
要部の構成が共通している。
置と、光磁気ディスク用光ピックアップ装置は、その主
要部の構成が共通している。
そこで、追記型光ディスクおよび光磁気ディスクの両方
に対して、データを記録/再生できる共用光ピックアッ
プ装置も提案されており、その−例を第8図および第9
図に示す。なお、図においては、追記型光ディスク6ま
たは光磁気ディスク6′にレーザビームを結像する対物
レンズ5を省略しており、第5図(a)、(b)および
第6図と同一部分および相当する部分には、同一符号を
付している。
に対して、データを記録/再生できる共用光ピックアッ
プ装置も提案されており、その−例を第8図および第9
図に示す。なお、図においては、追記型光ディスク6ま
たは光磁気ディスク6′にレーザビームを結像する対物
レンズ5を省略しており、第5図(a)、(b)および
第6図と同一部分および相当する部分には、同一符号を
付している。
第8図は、追記型光ディスク6にデータを記録/再生す
る場合を示しており、偏光ビームスプリッタ3と偏光プ
リズム12との間に174波長板4が配置される。
る場合を示しており、偏光ビームスプリッタ3と偏光プ
リズム12との間に174波長板4が配置される。
これにより、第5図(a)、(b)に示したものと同一
の光学系を構成することができ、第5図(a) l (
b)の追記型光デイスク用光ピックアップ装置と同様に
して、追記型光ディスク6に対してデータを記録/再生
することが可能となる。
の光学系を構成することができ、第5図(a) l (
b)の追記型光デイスク用光ピックアップ装置と同様に
して、追記型光ディスク6に対してデータを記録/再生
することが可能となる。
また、第9図に示すように、偏光ビームスプリッタ3と
偏光プリズム12との間に配置した174波長板4を取
り除くと、第6図に示したものと同一の光学系を構成す
ることができ、第6図の光磁気ディスク用光ピックアッ
プ装置と同様にして、光磁気ディスク6′に対してデー
タを記録/再生することが可能となる。
偏光プリズム12との間に配置した174波長板4を取
り除くと、第6図に示したものと同一の光学系を構成す
ることができ、第6図の光磁気ディスク用光ピックアッ
プ装置と同様にして、光磁気ディスク6′に対してデー
タを記録/再生することが可能となる。
このようにして、追記型光ディスク6と光磁気ディスク
6′に共用できる光ピックアップ装置を実現することが
できる。
6′に共用できる光ピックアップ装置を実現することが
できる。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、このような共用光ピックアップ装置には
、従来、次のような不都合を生じていた。
、従来、次のような不都合を生じていた。
すなわち、174波長板4からのフレア光が、受光素子
9.10.16の受光面に入射されないようにするため
に、第10図に示すように、174波長板4は、光軸に
対して所定の傾きθをもって配置される。
9.10.16の受光面に入射されないようにするため
に、第10図に示すように、174波長板4は、光軸に
対して所定の傾きθをもって配置される。
したがって、追記型光ディスク6からの反射光の光軸は
、174波長板4に入射される信号光の光軸と、次式(
1)で示される距Wdlだけ変位する。
、174波長板4に入射される信号光の光軸と、次式(
1)で示される距Wdlだけ変位する。
di ’=、 2t(1−(1/n)) (θ+△θ)
=0.631(θ+△θ) ここで、tは174波長板4の厚さ寸法(=0.9ミリ
メートル)、nは174波長板4の屈折率(=1.54
(水晶))、八〇は傾きθの公差である。
=0.631(θ+△θ) ここで、tは174波長板4の厚さ寸法(=0.9ミリ
メートル)、nは174波長板4の屈折率(=1.54
(水晶))、八〇は傾きθの公差である。
傾きθの大きさは、光学系のレイアウトにより規定され
るが、例えば、5度に設定すると、光軸ずれの距離di
は、約55(マイクロメートル)になる。
るが、例えば、5度に設定すると、光軸ずれの距離di
は、約55(マイクロメートル)になる。
したがって、偏光ビームスプリッタ3と偏光プリズム1
2との間に1/4波長板4を挿入した状態で。
2との間に1/4波長板4を挿入した状態で。
トラッキングエラー検出機構およびフォーカシングエラ
ー検出機構の光軸合せを行った場合、光磁気ディスク6
′にデータを記録/再生するために174波長板4を取
り除くと、光磁気ディスク6′からの反射光の光軸が、
設定された光軸から距離dIだけずれる。
ー検出機構の光軸合せを行った場合、光磁気ディスク6
′にデータを記録/再生するために174波長板4を取
り除くと、光磁気ディスク6′からの反射光の光軸が、
設定された光軸から距離dIだけずれる。
その結果、トラッキングエラー検出機構およびフォーカ
シングエラー検出機構から得られるエラー信号に、オフ
セット成分が含まれるという不都合を生じていた。
シングエラー検出機構から得られるエラー信号に、オフ
セット成分が含まれるという不都合を生じていた。
本発明は、このような従来装置の不都合を解決し、追記
型光ディスクと光磁気ディスクを適切にアクセスするこ
とのできる光ピックアップ装置を提供することを目的と
している。
型光ディスクと光磁気ディスクを適切にアクセスするこ
とのできる光ピックアップ装置を提供することを目的と
している。
[課題を解決するための手段]
本発明は、半導体レーザ素子からの入射光とディスク記
録面からの反射光を分離するビームスプリッタと、入射
光の偏光軸を変換する174波長板と、この174波長
板と屈折特性がほぼ同一な光学部品と、追記型光ディス
クをアクセスするときにはビームスプリッタからディス
ク記録面までの光路上に174波長板を配置するととも
に光磁気ディスクをアクセスするときにはビームスプリ
ッタからディスク記録面までの光路上に光学部品を配置
する切換機構を備えたものである。
録面からの反射光を分離するビームスプリッタと、入射
光の偏光軸を変換する174波長板と、この174波長
板と屈折特性がほぼ同一な光学部品と、追記型光ディス
クをアクセスするときにはビームスプリッタからディス
ク記録面までの光路上に174波長板を配置するととも
に光磁気ディスクをアクセスするときにはビームスプリ
ッタからディスク記録面までの光路上に光学部品を配置
する切換機構を備えたものである。
[作用コ
したがって、光磁気ディスクをアクセスするときには、
174波長板に代えて、この1/4波長扱と屈折特性が
ほぼ同一の光学部品が配置されるので、1/4波長板の
前後で発生する光軸ずれか、この光学部品の前後でも同
様に発生するため、光磁気ディスクをアクセスする場合
でも追記型光ディスクをアクセスする場合と同一の光学
系を用いることができる。
174波長板に代えて、この1/4波長扱と屈折特性が
ほぼ同一の光学部品が配置されるので、1/4波長板の
前後で発生する光軸ずれか、この光学部品の前後でも同
様に発生するため、光磁気ディスクをアクセスする場合
でも追記型光ディスクをアクセスする場合と同一の光学
系を用いることができる。
[実施例]
以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施例を詳細
に説明する。
に説明する。
第1図および第2図は、本発明の一実施例にかかる光ピ
ックアップ装置を示している。なお、図において、第8
図と同一部分および相当する部分には、同一符号を付し
ている。また、図においては、第8図と同様に、追記型
光ディスク6または光磁気ディスク6′にレーザビーム
を結像するための対物レンズを省略している。
ックアップ装置を示している。なお、図において、第8
図と同一部分および相当する部分には、同一符号を付し
ている。また、図においては、第8図と同様に、追記型
光ディスク6または光磁気ディスク6′にレーザビーム
を結像するための対物レンズを省略している。
図において、光学ガラス20は、174波長板4と厚さ
寸法が同一で、かつ、半導体レーザ素子1が出力する波
長の光に対して1/4波長板4と同一の屈折率を示す材
質からなる平行平板であり、偏光ビームスプリッタ3と
偏光プリズム12との間に配置されたホルダ21によっ
て、174波長板4と90度の角度をなすように取り付
けられている。
寸法が同一で、かつ、半導体レーザ素子1が出力する波
長の光に対して1/4波長板4と同一の屈折率を示す材
質からなる平行平板であり、偏光ビームスプリッタ3と
偏光プリズム12との間に配置されたホルダ21によっ
て、174波長板4と90度の角度をなすように取り付
けられている。
したがって、第1図のように、1/4波長板4が光軸上
に配置するようにホルダ21を変位させた状態では、追
記型光ディスク6にデータを記録/再生する追記型光デ
イスク用光ピックアップ装置と同一の光学系を構成する
ことができ、これにより、追記型光ディスク6にデータ
を記録/再生することが可能となる。
に配置するようにホルダ21を変位させた状態では、追
記型光ディスク6にデータを記録/再生する追記型光デ
イスク用光ピックアップ装置と同一の光学系を構成する
ことができ、これにより、追記型光ディスク6にデータ
を記録/再生することが可能となる。
一方、第2図に示すように、174波長板4に代えて、
光学ガラス20が光軸上に配置するようにホルダ21を
変位させると、光磁気ディスク6′にデータを記録/再
生する光磁気ディスク用光ピックアップ装置と同一の光
学系を構成することができ、これにより、光磁気ディス
ク6″にデータを記録/再生することが可能となる。
光学ガラス20が光軸上に配置するようにホルダ21を
変位させると、光磁気ディスク6′にデータを記録/再
生する光磁気ディスク用光ピックアップ装置と同一の光
学系を構成することができ、これにより、光磁気ディス
ク6″にデータを記録/再生することが可能となる。
また、光学ガラス20が1/4波長板4と厚さ寸法およ
び屈折率が同一なので、光学ガラス20の屈折特性は、
174波長板4と同一になる。
び屈折率が同一なので、光学ガラス20の屈折特性は、
174波長板4と同一になる。
したがって、光軸に対する174波長板4の傾きの角度
と、光学ガラス20の傾きの角度を同一に設定すると、
光学ガラス20に入射する半導体レーザ素子1からの出
力光の光軸と、光磁気ディスク6′からの反射光の光軸
との間のずれの距離は、l/4波長板4に入射する半導
体レーザ素子1からの出力光の光軸と、追記型光ディス
ク6からの反射光の光軸との間のずれの距離と同じ大き
さになる。
と、光学ガラス20の傾きの角度を同一に設定すると、
光学ガラス20に入射する半導体レーザ素子1からの出
力光の光軸と、光磁気ディスク6′からの反射光の光軸
との間のずれの距離は、l/4波長板4に入射する半導
体レーザ素子1からの出力光の光軸と、追記型光ディス
ク6からの反射光の光軸との間のずれの距離と同じ大き
さになる。
その結果、174波長板4を光軸上に配置したときと、
光学ガラス20を光軸上に配置したときとで、受光素子
9,10に入射される光軸のずれがなくなり、光磁気デ
ィスク6′をアクセスするときのトラッキングエラー信
号およびフォーカシングエラー信号に含まれるオフセッ
ト成分を抑制することができる。
光学ガラス20を光軸上に配置したときとで、受光素子
9,10に入射される光軸のずれがなくなり、光磁気デ
ィスク6′をアクセスするときのトラッキングエラー信
号およびフォーカシングエラー信号に含まれるオフセッ
ト成分を抑制することができる。
第3図および第4図は、174波長板4と光学ガラス2
0を保持するホルダ21の変位機構の一例を示している
。
0を保持するホルダ21の変位機構の一例を示している
。
この変位機構は、ソレノイド25と、このソレノイド2
5のアクチュエータ26に植設されたピン27と、この
ピン27に係合する孔28が穿設されているプレート2
9と、このプレート29に形成されている歯部30に歯
合するギア31と、ギア31を貫通する軸32と、軸3
2の軸受33,34と、ソレノイド25を光ピツクアン
プ装置の筐体CAに取り付けるためのアングル35、お
よび、ソレノイド25のアクチュエータ26を突出方向
に付勢するスプリング36からなり、軸32の略中央部
に、ホルダ21が取り付けられている。
5のアクチュエータ26に植設されたピン27と、この
ピン27に係合する孔28が穿設されているプレート2
9と、このプレート29に形成されている歯部30に歯
合するギア31と、ギア31を貫通する軸32と、軸3
2の軸受33,34と、ソレノイド25を光ピツクアン
プ装置の筐体CAに取り付けるためのアングル35、お
よび、ソレノイド25のアクチュエータ26を突出方向
に付勢するスプリング36からなり、軸32の略中央部
に、ホルダ21が取り付けられている。
また、プレート29には、アクチュエータ26の運動方
向に延びる長孔37 、38が穿設されており、この長
孔37,38には、アングル35に植設されるピン39
.40が挿入されており、これによって、プレート29
の運動方向がアクチュエータ26の運動方向に規制され
ている。
向に延びる長孔37 、38が穿設されており、この長
孔37,38には、アングル35に植設されるピン39
.40が挿入されており、これによって、プレート29
の運動方向がアクチュエータ26の運動方向に規制され
ている。
したがって、ソレノイド25がオフしている状態では、
スプリング36の付勢力によりアクチュエータ26が突
出し、それによって、プレート29はアクチュエータ2
6の突出方向に移動し、軸32が第4図の矢印R1方向
に回動する。
スプリング36の付勢力によりアクチュエータ26が突
出し、それによって、プレート29はアクチュエータ2
6の突出方向に移動し、軸32が第4図の矢印R1方向
に回動する。
それにより、ホルダ21が回動して、光軸上には、17
4波長板4が位置する状態となる。
4波長板4が位置する状態となる。
また、ソレノイド25がオンしている状態では。
スプリング36の付勢力に抗してアクチュエータ26が
引き込まれ、これにより、プレート29はアクチュエー
タ26の引き込み方向に移動し、軸32が第4図の矢印
R2方向に回動する。
引き込まれ、これにより、プレート29はアクチュエー
タ26の引き込み方向に移動し、軸32が第4図の矢印
R2方向に回動する。
それにより、ホルダ21が回動して、光軸上には、光学
ガラス20が位置する状態となる。
ガラス20が位置する状態となる。
また、プレート29には、ソレノイド25がオフしてい
る状態で174波長板4が光軸と所定の角度をなすよう
にプレート29の位置を規制するストッパ(図示路)と
、ソレノイド25がオンしている状態で光学ガラス20
が光軸と所定の角度をなすよ゛うにプレート29の位置
を規制するストッパ(図示路)が、それぞれ付設されて
いる。
る状態で174波長板4が光軸と所定の角度をなすよう
にプレート29の位置を規制するストッパ(図示路)と
、ソレノイド25がオンしている状態で光学ガラス20
が光軸と所定の角度をなすよ゛うにプレート29の位置
を規制するストッパ(図示路)が、それぞれ付設されて
いる。
したがって、この光ピックアップ装置が組込まれた光デ
イスク装置に追記型光ディスク6が装着されたことを検
出した場合にはソレノイド25をオンし、また、光デイ
スク装置に光磁気ディスク6′が装着されたことを検出
した場合にはソレノイド25をオフすることで、この光
ピックアップ装置を、それぞれ追記型光ディスク6およ
び光磁気ディスク6′に対してデータを記録/再生する
状態に切り換えることができる。
イスク装置に追記型光ディスク6が装着されたことを検
出した場合にはソレノイド25をオンし、また、光デイ
スク装置に光磁気ディスク6′が装着されたことを検出
した場合にはソレノイド25をオフすることで、この光
ピックアップ装置を、それぞれ追記型光ディスク6およ
び光磁気ディスク6′に対してデータを記録/再生する
状態に切り換えることができる。
なお、上述した実施例では、174波長板と光学ガラス
を互いに90度の角度をなすように同一のホルダに取り
付け、このホルダを回動することで、174波長板また
は光学ガラスの一方を光軸上に配置するようにしている
が、174波長板と光学ガラスの切換機構は、これに限
ることはない。
を互いに90度の角度をなすように同一のホルダに取り
付け、このホルダを回動することで、174波長板また
は光学ガラスの一方を光軸上に配置するようにしている
が、174波長板と光学ガラスの切換機構は、これに限
ることはない。
また、上述した実施例では、厚さ寸法および屈折率が1
74波長板と同一の光学ガラスを使用しているが、半導
体レーザ素子が出力する波長の光に関して、174波長
板と同一の屈折特性を備え、偏光依存性がなく、かつ、
透過率がほぼ100%のものであれば、それ以外の光学
部品を用いることができる。
74波長板と同一の光学ガラスを使用しているが、半導
体レーザ素子が出力する波長の光に関して、174波長
板と同一の屈折特性を備え、偏光依存性がなく、かつ、
透過率がほぼ100%のものであれば、それ以外の光学
部品を用いることができる。
また、本発明は、上述したものとトラッキングエラー検
出方法およびフォーカシングエラー検出方法が異なる光
学系を備えた光ピックアップ装置にも、同様にして適用
することができる。
出方法およびフォーカシングエラー検出方法が異なる光
学系を備えた光ピックアップ装置にも、同様にして適用
することができる。
C発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、半導体レーザ素
子からの入射光とディスク記録面からの反射光を分離す
るビームスプリッタと、入射光の偏光軸を変換する17
4波長板と、この174波長板と屈折特性がほぼ同一な
光学部品と、追記型光ディスクをアクセスするときには
ビームスプリッタからディスク記録面までの光路上に1
74波長板を配置するとともに光磁気ディスクをアクセ
スするときにはビームスプリッタからディスク記録面ま
での光路上に光学部品を配置する切換機構を備えたので
、光磁気ディスクをアクセスするときには、174波長
板に代えて、この174波長板と屈折特性がほぼ同一の
光学部品が配置され、それによって。
子からの入射光とディスク記録面からの反射光を分離す
るビームスプリッタと、入射光の偏光軸を変換する17
4波長板と、この174波長板と屈折特性がほぼ同一な
光学部品と、追記型光ディスクをアクセスするときには
ビームスプリッタからディスク記録面までの光路上に1
74波長板を配置するとともに光磁気ディスクをアクセ
スするときにはビームスプリッタからディスク記録面ま
での光路上に光学部品を配置する切換機構を備えたので
、光磁気ディスクをアクセスするときには、174波長
板に代えて、この174波長板と屈折特性がほぼ同一の
光学部品が配置され、それによって。
1/4波長板の前後で発生する光軸ずれか、この光学部
品の前後でも同様に発生するため、光磁気ディスクをア
クセスする場合でも追記型光ディスクをアクセスする場
合と同一の光学系を用いることができるという効果を得
る。
品の前後でも同様に発生するため、光磁気ディスクをア
クセスする場合でも追記型光ディスクをアクセスする場
合と同一の光学系を用いることができるという効果を得
る。
第1図は本発明の一実施例にかかる光ビックアツブ装置
が追記型光ディスクをアクセスする場合の一例を示す概
略図、第2図は本発明の一実施例にかかる光ピックアッ
プ装置が光磁気ディスクをアクセスする場合の一例を示
す概略図、第3図は174波長板と光学ガラスの切換機
構を例示する概略斜視図、第4図は174波長板と光学
ガラスの切換機構を例示する分解斜視図、第5図(a)
、(b)は追記型光デイスク用光ピックアップ装置の光
学系の一例を示す概略図、第6図は光磁気ディスク用光
ピックアップ装置の光学系の一例を示す概略図、第7図
はみかけ上のカー回転角の増加を説明するためのグラフ
図、第8図は共用光ピックアップ装置で追記型光ディス
クをアクセスする場合を示す斜視図、第9図は共用光ピ
ックアップ装置で光磁気ディスクをアクセスする場合を
示す斜視図、第10図は174波長板の前後で発生する
光軸ずれを説明するための概略図である。 20・・・光学ガラス、 21・・・ホルダ、25・・
・ソレノイド、26・・・アクチュエータ、27,39
,40・・・ピン、28・・・孔、29・・・プレート
、30・・・歯部、31・・・ギア、32・・・軸、 33.34・・・軸受、 36・・・スプリング。
が追記型光ディスクをアクセスする場合の一例を示す概
略図、第2図は本発明の一実施例にかかる光ピックアッ
プ装置が光磁気ディスクをアクセスする場合の一例を示
す概略図、第3図は174波長板と光学ガラスの切換機
構を例示する概略斜視図、第4図は174波長板と光学
ガラスの切換機構を例示する分解斜視図、第5図(a)
、(b)は追記型光デイスク用光ピックアップ装置の光
学系の一例を示す概略図、第6図は光磁気ディスク用光
ピックアップ装置の光学系の一例を示す概略図、第7図
はみかけ上のカー回転角の増加を説明するためのグラフ
図、第8図は共用光ピックアップ装置で追記型光ディス
クをアクセスする場合を示す斜視図、第9図は共用光ピ
ックアップ装置で光磁気ディスクをアクセスする場合を
示す斜視図、第10図は174波長板の前後で発生する
光軸ずれを説明するための概略図である。 20・・・光学ガラス、 21・・・ホルダ、25・・
・ソレノイド、26・・・アクチュエータ、27,39
,40・・・ピン、28・・・孔、29・・・プレート
、30・・・歯部、31・・・ギア、32・・・軸、 33.34・・・軸受、 36・・・スプリング。
Claims (3)
- (1)追記型光ディスクおよび光磁気ディスクのいずれ
をもアクセス可能な光ピックアップ装置において、半導
体レーザ素子からの入射光とディスク記録面からの反射
光を分離するビームスプリッタと、上記入射光の偏光軸
を変換する1/4波長板と、この1/4波長板と屈折特
性がほぼ同一な光学部品と、追記型光ディスクをアクセ
スするときには上記ビームスプリッタからディスク記録
面までの光路上に上記1/4波長板を配置するとともに
光磁気ディスクをアクセスするときには上記ビームスプ
リッタからディスク記録面までの光路上に上記光学部品
を配置する切換機構を備えたことを特徴とする光ピック
アップ装置。 - (2)前記切換機構は、前記1/4波長板および光学部
品を、光軸に対して一定の傾きをもって配置することを
特徴とする請求項1記載の光ピックアップ装置。 - (3)前記光学部品は、前記1/4波長板と厚さ寸法お
よび屈折率がほぼ同一にされていることを特徴とする請
求項1記載の光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2026193A JPH03232127A (ja) | 1990-02-07 | 1990-02-07 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2026193A JPH03232127A (ja) | 1990-02-07 | 1990-02-07 | 光ピックアップ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03232127A true JPH03232127A (ja) | 1991-10-16 |
Family
ID=12186657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2026193A Pending JPH03232127A (ja) | 1990-02-07 | 1990-02-07 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03232127A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03252943A (ja) * | 1990-03-01 | 1991-11-12 | Sharp Corp | 光磁気ディスクとその再生方法 |
-
1990
- 1990-02-07 JP JP2026193A patent/JPH03232127A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03252943A (ja) * | 1990-03-01 | 1991-11-12 | Sharp Corp | 光磁気ディスクとその再生方法 |
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