JPH0323374U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第５図は本考案に係るハードデイ
スク検査装置のヘツド取付材構の実施例を示す図
であり、第１図はこのヘツド取付機構の全体斜視
図、第２図は要部拡大斜視図、第３図および第４
図は、それぞれこのヘツド取付機構の断面図、第
５図はこのヘツド取付機構の作用を示す図である
。第６図ないし第９図は従来のハードデイスク検
査装置のヘツド取付機構を示す図であり、第６図
はこのヘツド取付機構の全体斜視図、第７図は要
部拡大斜視図、第８図はこのヘツド取付機構の断
面図、第９図はこのヘツド取付機構の作用を示す
図である。 ３……ハードデイスク、４……磁気ヘツド、７
……基台、８……当接部、１０……押え部材。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. ハードデイスクの欠陥を検出するための磁気ヘ
   ツドと、この磁気ヘツドを支持するヘツドプレー
   トと、このヘツドプレートをハードデイスクにお
   ける面と垂直な方向に位置決めするための基台と
   、この基台に設けられ前記ヘツドプレートをハー
   ドデイスクにおける面と平行な方向に位置決めす
   るための当接部と、前記ハードデイスク中心方向
   と平行な軸を中心として開閉自在となるように前
   記基台に蝶着され、前記ヘツドプレートを前記基
   台および当接部に付勢力を付与する付勢手段とを
   備えた前記押え部材により構成され、前記押え部
   材を前記ハードデイスク中心方向と平行な軸を中
   心として開閉させることにより、ハードデイスク
   中心方向以外から前記ヘツドプレートを前記基台
   に取り付け、取り外し可能としたことを特徴とす
   るハードデイスク検査装置のヘツド取付機構。