JPH0323414A - 2次元スキャン光学装置 - Google Patents
2次元スキャン光学装置Info
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- JPH0323414A JPH0323414A JP15578089A JP15578089A JPH0323414A JP H0323414 A JPH0323414 A JP H0323414A JP 15578089 A JP15578089 A JP 15578089A JP 15578089 A JP15578089 A JP 15578089A JP H0323414 A JPH0323414 A JP H0323414A
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- JP
- Japan
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- deflection
- element group
- optical
- dimensional
- optical path
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はレーザ光を用いて2次元スキャンを行なわせる
2次元スキャン光学装置に関する。
2次元スキャン光学装置に関する。
近年の精密加工技術の進歩により、扱加工物上に2次元
的な形状を有するマイクロパターンが形成されるように
なり、それに伴って2次元マイクロパターンの形状ある
いは寸法等の精密計到の必要性が高まっている。従来行
なわれていろレーザ光スキャンによる2次元マイクロパ
ターン計測の方法は、微小スポット径に集光したレーザ
光を2つの偏向デバイスを用いて2次元的に走査(スキ
ャン)するものである。このとき偏向デバイスとしては
音響光学素子を用いる方法(「レーザ研究」第15巻第
8号P.636)、あるいは音響光学素子とガルバノミ
ラーを組み合わせたもの(レーザテック社の製品ILM
II型)等がよく知られているが、上記の各々の偏向デ
バイスを駆動してレーザ光の進行方向に直交する平面内
で2次元的にラスターヌキャンを行kわせでいる。最近
ではレーザ光を用いた2次元スキャンを行なわせろ光学
装?をレーザ顕微鏡と呼んでいる。
的な形状を有するマイクロパターンが形成されるように
なり、それに伴って2次元マイクロパターンの形状ある
いは寸法等の精密計到の必要性が高まっている。従来行
なわれていろレーザ光スキャンによる2次元マイクロパ
ターン計測の方法は、微小スポット径に集光したレーザ
光を2つの偏向デバイスを用いて2次元的に走査(スキ
ャン)するものである。このとき偏向デバイスとしては
音響光学素子を用いる方法(「レーザ研究」第15巻第
8号P.636)、あるいは音響光学素子とガルバノミ
ラーを組み合わせたもの(レーザテック社の製品ILM
II型)等がよく知られているが、上記の各々の偏向デ
バイスを駆動してレーザ光の進行方向に直交する平面内
で2次元的にラスターヌキャンを行kわせでいる。最近
ではレーザ光を用いた2次元スキャンを行なわせろ光学
装?をレーザ顕微鏡と呼んでいる。
音響光学素子、ガルバノ■ラー等の偏向デバイスは、デ
バイスの種類に応じて偏向角度、偏向角度分解能が決ま
っているため、各種のレンズ、光学素子と組み合わせた
光学装置としての偏向角、偏向ステップ角度も決まった
量になる。一般的には広い範囲をスキャンする場合は偏
向ステップ分解能は粗くなり、狭い範囲のスキャンの場
合は偏向ステップ分解能は細かくなる。従って被測定物
の形状、寸法に応じて偏向デバイスを選定し、必要とす
る偏向範囲、偏向ステップ量、測定精度が得られるよ5
八光学装置を構或する必要がある。
バイスの種類に応じて偏向角度、偏向角度分解能が決ま
っているため、各種のレンズ、光学素子と組み合わせた
光学装置としての偏向角、偏向ステップ角度も決まった
量になる。一般的には広い範囲をスキャンする場合は偏
向ステップ分解能は粗くなり、狭い範囲のスキャンの場
合は偏向ステップ分解能は細かくなる。従って被測定物
の形状、寸法に応じて偏向デバイスを選定し、必要とす
る偏向範囲、偏向ステップ量、測定精度が得られるよ5
八光学装置を構或する必要がある。
このとき一つの光学装置で2次元スキャンを行なうとき
、一定の偏向ステクプ分解能を保ったままで、広い範囲
と狭い範囲のスキャンを共用することは困難である。こ
のように従来の2つの偏向素子を用いた2次元スキャン
光学装置では、偏向量に応じて偏向ステ1プ分解能が規
定され、被測定物の形状、寸法によっては、偏向量に応
じて測定精度が低下するという問題点を有していた。
、一定の偏向ステクプ分解能を保ったままで、広い範囲
と狭い範囲のスキャンを共用することは困難である。こ
のように従来の2つの偏向素子を用いた2次元スキャン
光学装置では、偏向量に応じて偏向ステ1プ分解能が規
定され、被測定物の形状、寸法によっては、偏向量に応
じて測定精度が低下するという問題点を有していた。
本発明は上記の問題点を解消して、偏光量にかかわらず
、測定対象とすべき領域の偏向ステップ分解能を高めて
、高精度々2次元マイクロノζターンの計測を可能とす
る2次元スキャン光学装置を実現することを目的とする
。
、測定対象とすべき領域の偏向ステップ分解能を高めて
、高精度々2次元マイクロノζターンの計測を可能とす
る2次元スキャン光学装置を実現することを目的とする
。
レーザ光源から放射されるレーザ光を対物レンズにより
集光して被測定物面上で2次元スキャンを行なわせる2
次元スキャン光学装置において、レーザ光源から対物レ
ンズまでの光路中に、少なくとも4個の偏向素子を設け
、少なくとも2涸の偏向素子から或る第1の偏向素子群
により前記被測定物面上の第1の範囲の2次元スキャン
を行なわせ、残りの少なくとも2個の偏向素子から成る
第2の偏向素子群により、前記第1の範囲と異なる領域
の第2の範囲の2次元スキャンを行なわせ、一方の偏向
素子群の偏向動作中は、他方の偏向素子群の偏向動作は
停止せしめ、同一光路中で相補的に2次元スキャンを行
なわせる。
集光して被測定物面上で2次元スキャンを行なわせる2
次元スキャン光学装置において、レーザ光源から対物レ
ンズまでの光路中に、少なくとも4個の偏向素子を設け
、少なくとも2涸の偏向素子から或る第1の偏向素子群
により前記被測定物面上の第1の範囲の2次元スキャン
を行なわせ、残りの少なくとも2個の偏向素子から成る
第2の偏向素子群により、前記第1の範囲と異なる領域
の第2の範囲の2次元スキャンを行なわせ、一方の偏向
素子群の偏向動作中は、他方の偏向素子群の偏向動作は
停止せしめ、同一光路中で相補的に2次元スキャンを行
なわせる。
レーザ光源から対物レンズに至るまでの光路中に偏向角
度、偏向角度分解能の異なる少なくとも2種類の偏向素
子を4個配し、各々の種類の偏向デバイス毎にそれぞれ
2次元スキャンを行なわせる。このとき一方の種類の偏
向素子では比較的に広い領域を大きな偏向ステップでプ
リスキャンとして2次元スキャンさせ、被測定物の概略
の様子を測定して、詳細に測定すべき被測定領域を決定
する。次に他方の種類の偏向素子では、比較的に狭い領
域を細かい偏向ステタプで、前述の被測定領域を精密に
ファインスキャンとして2次元スキャンする。このよう
に同一光路において互いに異なる領域の2次元スキャン
を偏向素子を駆動する電気信号の切り替えで行なわせ、
一方の種類の偏向素子が偏向動作を行なっているときは
、他方の種類の偏向素子の偏向動作は停止させておき、
互いに相補的な偏向動作を行なわせる。
度、偏向角度分解能の異なる少なくとも2種類の偏向素
子を4個配し、各々の種類の偏向デバイス毎にそれぞれ
2次元スキャンを行なわせる。このとき一方の種類の偏
向素子では比較的に広い領域を大きな偏向ステップでプ
リスキャンとして2次元スキャンさせ、被測定物の概略
の様子を測定して、詳細に測定すべき被測定領域を決定
する。次に他方の種類の偏向素子では、比較的に狭い領
域を細かい偏向ステタプで、前述の被測定領域を精密に
ファインスキャンとして2次元スキャンする。このよう
に同一光路において互いに異なる領域の2次元スキャン
を偏向素子を駆動する電気信号の切り替えで行なわせ、
一方の種類の偏向素子が偏向動作を行なっているときは
、他方の種類の偏向素子の偏向動作は停止させておき、
互いに相補的な偏向動作を行なわせる。
以下に図面を用いて本発明の実施例を説明する。
第1図に本発明の2次元スキャン光学装置の動作を示し
、第1図(/Oは光学装置の原理を説明するブロック図
、第1図(口)は第1図(イ)による光学装置を用いた
ときの2次元スキャン領域の説明図である。
、第1図(/Oは光学装置の原理を説明するブロック図
、第1図(口)は第1図(イ)による光学装置を用いた
ときの2次元スキャン領域の説明図である。
第1図(イ)に示した光学装置においては10はレーザ
光源で、}{e−Neレーザ管、半導体レーザ等から成
り、レーザ光100を放射する。11は光学系で、第1
の偏向素子群12、第2の偏向素子群130対物レンズ
16、ビームスプリッタ−17及び図示していないが、
他の各種のレンズ、光学素子から構成される。第1の偏
向素子群12は更に偏向素子120、122から成り、
第2の偏向素子群13は更に偏向素子160、162か
ら構成され、レーザ光源10から対物レンズ16に至る
光路内に前述した少なくとも4WAの偏向素子120、
122、130、162を配置する。ここでレーザ光の
進行方向を2方向としたとき、個々の偏向素子はそれぞ
れX方向あるいはy方向への偏向動作を行ない、第1の
偏向素子群12及び第2の偏向素子群13でそれぞれx
−y方向へ2次元スキャンを行なう。なお図では4@の
偏向素子の配置を120、122、130、132の順
に各偏向素子群の構成順で示したが、例えば4個の偏向
素子を120、160、122、132の順で配置して
もよく、偏向素子を構成するデ・くイスの種類に応じた
光学系11の構成に従って配置すればよい。第1の偏向
素子群12は第1の2次元スキャンドライバー14で駆
動し、第2の偏向素子群13は第2の2次元スキャンド
ライバー15で駆動するが、駆動信号の大きさ、偏向素
子の種類、光学系11を構成する各種レンズの焦点距離
の大きさによって光学装置としての偏向量、偏向ステッ
プ距離が決定できる。
光源で、}{e−Neレーザ管、半導体レーザ等から成
り、レーザ光100を放射する。11は光学系で、第1
の偏向素子群12、第2の偏向素子群130対物レンズ
16、ビームスプリッタ−17及び図示していないが、
他の各種のレンズ、光学素子から構成される。第1の偏
向素子群12は更に偏向素子120、122から成り、
第2の偏向素子群13は更に偏向素子160、162か
ら構成され、レーザ光源10から対物レンズ16に至る
光路内に前述した少なくとも4WAの偏向素子120、
122、130、162を配置する。ここでレーザ光の
進行方向を2方向としたとき、個々の偏向素子はそれぞ
れX方向あるいはy方向への偏向動作を行ない、第1の
偏向素子群12及び第2の偏向素子群13でそれぞれx
−y方向へ2次元スキャンを行なう。なお図では4@の
偏向素子の配置を120、122、130、132の順
に各偏向素子群の構成順で示したが、例えば4個の偏向
素子を120、160、122、132の順で配置して
もよく、偏向素子を構成するデ・くイスの種類に応じた
光学系11の構成に従って配置すればよい。第1の偏向
素子群12は第1の2次元スキャンドライバー14で駆
動し、第2の偏向素子群13は第2の2次元スキャンド
ライバー15で駆動するが、駆動信号の大きさ、偏向素
子の種類、光学系11を構成する各種レンズの焦点距離
の大きさによって光学装置としての偏向量、偏向ステッ
プ距離が決定できる。
第1の偏向素子群12と第2の偏向素子群16は異なっ
た種類の偏向素子から構成する。ここで第1の偏向素子
群12を構成する偏光素子120、122は例えばガル
バノミラー等から構成され、比較的大きい偏向角度、偏
向角度分解能を持ち、広い範囲を粗いステップで偏向す
る。第2の偏向素子群16を構成する偏向素子130、
162は例えば音饗光学素子等から構威され、比較的小
さい偏向角度、偏向角度分解能を持ち、狭い範囲を細か
いステップで偏向する。
た種類の偏向素子から構成する。ここで第1の偏向素子
群12を構成する偏光素子120、122は例えばガル
バノミラー等から構成され、比較的大きい偏向角度、偏
向角度分解能を持ち、広い範囲を粗いステップで偏向す
る。第2の偏向素子群16を構成する偏向素子130、
162は例えば音饗光学素子等から構威され、比較的小
さい偏向角度、偏向角度分解能を持ち、狭い範囲を細か
いステップで偏向する。
第lの偏向素子群12が2次元スキャン動作を行なって
いるときは、第2の偏向素子群16の2次元スキャン動
作は停止させておき相補的な駆動を行なう。逆の場合も
同様である。2次元スキャンされたレーザ光はビームス
ブリッタ−17を通過し、対物レンズ16で微小なスポ
ット径に集光され、被叫定物18の面上に照射されて2
次元スキャンを行なう。被測定物18はミクロンメート
ルのオーダの2次元マイクロパターンが形成されていて
、その形状、寸法等の測定を行なう。被測定物18によ
って反射されたレーザ光は再び対物レンズ16を逼り、
ビームスブリッタ−17により進路を変えられて光電変
換される(図示せず)。
いるときは、第2の偏向素子群16の2次元スキャン動
作は停止させておき相補的な駆動を行なう。逆の場合も
同様である。2次元スキャンされたレーザ光はビームス
ブリッタ−17を通過し、対物レンズ16で微小なスポ
ット径に集光され、被叫定物18の面上に照射されて2
次元スキャンを行なう。被測定物18はミクロンメート
ルのオーダの2次元マイクロパターンが形成されていて
、その形状、寸法等の測定を行なう。被測定物18によ
って反射されたレーザ光は再び対物レンズ16を逼り、
ビームスブリッタ−17により進路を変えられて光電変
換される(図示せず)。
19は画像処理部で、光電変換された被測定物18から
の反射光情報から画像処理を行々う。画像処理の結果に
応じて信号190及び信号192を発して第1の2次元
スキャンドライノく−14及び第2の2次元スキャンド
ライパー15の駆動信号の設定を行々う。
の反射光情報から画像処理を行々う。画像処理の結果に
応じて信号190及び信号192を発して第1の2次元
スキャンドライノく−14及び第2の2次元スキャンド
ライパー15の駆動信号の設定を行々う。
次に実際の2次元スキャン動作を第1図(ロ)の2次元
スキャン領域の説明図を用いて説明する。まず最初に第
1の偏向素子群12を第1の2次元スキャンドライパー
14から発せられる駆動信号により駆動する。このとき
第2の偏向素子群16による偏向動作は停止しておくが
、・第2の2次元スキャンドライバー15から発せられ
る駆動信号のほぼ中間レベルの信号を与えておき、その
状態に対応した静的状態に保持しておく。第1図(口)
においてABCDで囲まれた領域180が第1の偏向素
子群12によって2次元スキャンされる領域で、第1の
範囲と呼ぶ。この第lの範囲180のスキャンはブリス
キャン動作で、被測定物18の概略の様子を、広い範囲
について測定する。従ってある程度はスキャンによる偏
向ステップ量は粗くても、短時間に広い領域をスキャン
することが必要である。ここでAB上に示したJXの距
離、AC上のAyの距離を偏向ステップ距離とよぶ。第
1の範囲180をスキャンして得られた反酊光強度デー
タを画像処理部19で画は処理を行ない、詳細に測定し
たい領域を決定する。第1図(口)に示したPQRSで
囲まれた領域182が前述の詳細に測定したい領域で、
第2の範囲と呼ぶもこのとき画像処理部19から信号1
92を発して、第2の範囲182の領域に応じた駆動信
号を設定して、第2の偏向素子群16により2次元スキ
ャン動作を行なわせる。ここで第1の偏向素子群12の
2次元偏向動作は停止しておくが、画像処理部19から
信号190を発して、第2の範囲182のほぼ中央部の
位置185に対応する位置に第1の偏向素子群12の偏
向位置を保持する。第2の範囲182はファインスキャ
ン動作を行なうもので、細かい偏向ステクプ量で狭い範
囲を精密に2次元スキャンする。第2の範囲182をス
キャンして得られた反射光強度データを画像処理部19
で画像処理して、被測定物18の詳細に測定したい領域
の形状、寸法等の精密計測を行なう。なお第1図(ロ)
では第2の範囲182は一つのみを示したが、複数個の
第2の範囲182が存在していても同様である。
スキャン領域の説明図を用いて説明する。まず最初に第
1の偏向素子群12を第1の2次元スキャンドライパー
14から発せられる駆動信号により駆動する。このとき
第2の偏向素子群16による偏向動作は停止しておくが
、・第2の2次元スキャンドライバー15から発せられ
る駆動信号のほぼ中間レベルの信号を与えておき、その
状態に対応した静的状態に保持しておく。第1図(口)
においてABCDで囲まれた領域180が第1の偏向素
子群12によって2次元スキャンされる領域で、第1の
範囲と呼ぶ。この第lの範囲180のスキャンはブリス
キャン動作で、被測定物18の概略の様子を、広い範囲
について測定する。従ってある程度はスキャンによる偏
向ステップ量は粗くても、短時間に広い領域をスキャン
することが必要である。ここでAB上に示したJXの距
離、AC上のAyの距離を偏向ステップ距離とよぶ。第
1の範囲180をスキャンして得られた反酊光強度デー
タを画像処理部19で画は処理を行ない、詳細に測定し
たい領域を決定する。第1図(口)に示したPQRSで
囲まれた領域182が前述の詳細に測定したい領域で、
第2の範囲と呼ぶもこのとき画像処理部19から信号1
92を発して、第2の範囲182の領域に応じた駆動信
号を設定して、第2の偏向素子群16により2次元スキ
ャン動作を行なわせる。ここで第1の偏向素子群12の
2次元偏向動作は停止しておくが、画像処理部19から
信号190を発して、第2の範囲182のほぼ中央部の
位置185に対応する位置に第1の偏向素子群12の偏
向位置を保持する。第2の範囲182はファインスキャ
ン動作を行なうもので、細かい偏向ステクプ量で狭い範
囲を精密に2次元スキャンする。第2の範囲182をス
キャンして得られた反射光強度データを画像処理部19
で画像処理して、被測定物18の詳細に測定したい領域
の形状、寸法等の精密計測を行なう。なお第1図(ロ)
では第2の範囲182は一つのみを示したが、複数個の
第2の範囲182が存在していても同様である。
次に第1図(イ)で示した光学系11の実際の構成につ
いて説明する。
いて説明する。
第1の実施例として第2図に第1の偏向素子群12にガ
ルバノミラ−(以下にGMと略記する)、第2の偏向素
子群に音響光学素子(以下にAOと略記する)を用いた
場合の光学系の光路図を示す。
ルバノミラ−(以下にGMと略記する)、第2の偏向素
子群に音響光学素子(以下にAOと略記する)を用いた
場合の光学系の光路図を示す。
第2図において、20及び21はA0,22及び23は
G Mである。AO20はX方向、A021はy方向の
スキャンを行ない、GM22はX方向、G〜126はy
方向のスキャンを行kうものとする。
G Mである。AO20はX方向、A021はy方向の
スキャンを行ない、GM22はX方向、G〜126はy
方向のスキャンを行kうものとする。
レーザ光源10から放射されたレーザ光100はレンズ
群・210でビーム形状を変換する。レンズ212はシ
リンドリ力ルレンズ(焦点距離f1)、レンズ214は
凸レンズ(焦点距離f2 )で、シリンドリカルレンズ
212は紙面に平行な面内に屈折作用を持ち、凸レンズ
214との組み合わせにより紙面に平行な面で扇状のビ
ームを形成してAO20に入射させる。AO20は偏向
器とじての構成で、紙面に平行な方向に開口の広がりを
持ち、この開口径に合致した形状のレーザビームを入射
させると、AO20による回折効率が向上する。なおレ
ンズ群210による紙面に垂直方向のビーム形状はAO
20の中心部で焦点を結ぶ。
群・210でビーム形状を変換する。レンズ212はシ
リンドリ力ルレンズ(焦点距離f1)、レンズ214は
凸レンズ(焦点距離f2 )で、シリンドリカルレンズ
212は紙面に平行な面内に屈折作用を持ち、凸レンズ
214との組み合わせにより紙面に平行な面で扇状のビ
ームを形成してAO20に入射させる。AO20は偏向
器とじての構成で、紙面に平行な方向に開口の広がりを
持ち、この開口径に合致した形状のレーザビームを入射
させると、AO20による回折効率が向上する。なおレ
ンズ群210による紙面に垂直方向のビーム形状はAO
20の中心部で焦点を結ぶ。
AO20は第1図(イ)に示した第2の2次元スキャン
ドライバー15からのX軸駆動信号により、回折角の大
きさを制御して紙面に平行な面内で偏向動作を行なう。
ドライバー15からのX軸駆動信号により、回折角の大
きさを制御して紙面に平行な面内で偏向動作を行なう。
この方向をX方向とする。レンズ群220は扇状のビー
ム形状を元の円形状のビーム形に変換するもので、凸レ
ンズ222(焦点距離rt )とシリンドリカルレン
ズ224(焦点距離’+ )から成り、前述のレンズ
群210と同じレンズで構成する。レンズ群220以降
の光路1,7おけるビーム形状は円形である。光学素子
群230は凸レンズ262(焦点距離fs )、G M
22、凸レンズ234(焦点距離’4 )から成る。
ム形状を元の円形状のビーム形に変換するもので、凸レ
ンズ222(焦点距離rt )とシリンドリカルレン
ズ224(焦点距離’+ )から成り、前述のレンズ
群210と同じレンズで構成する。レンズ群220以降
の光路1,7おけるビーム形状は円形である。光学素子
群230は凸レンズ262(焦点距離fs )、G M
22、凸レンズ234(焦点距離’4 )から成る。
GM22は第1図(イ)に示した第1の2次元スキャン
ドライバー14からのX軸駆動信号により回転角が制御
されで、紙面に平行k面内のX軸方向への偏向動作を行
なう。/..CおGM22は凸レンズ262と凸レンズ
234の共焦点位置に設置して:1,; <。凸レンズ
264を出射したレーザ光は凸レンズ236(焦点距離
f,)で屈折されてAO21に入射する。AO21は円
形の開口を有するもので、紙面に張直なy軸方向への偏
向動作を行!5「うもので、第2の2次元スキャンドラ
イバー15のy軸駆動信号により偏向制御を行なう。X
軸方向にスキャンされているレーザ光はy軸駆動信号が
偏向動作を行なっていなL・ときはAO21によるy
4a方向への偏向の影響は受けないで直進する。A02
1を出射したレーザ光は凸レンズ268(焦点距離f6
)で屈折されて光学素子群24口に入射する。光学素
子詳240は凸レンズ242(焦点距離rt )、G
M23、凸レンズ244(焦点距離rs )から成る
。GM23は第1の2次元スキャンドライバー14から
のy軸駆動信号により回転角が制御されて、紙面に垂直
なy 41+方向への偏向動作を行なう。なおGM23
は凸レンズ242と凸レンズ244の共焦点位置に設置
する。この場合、GM23を駆動するy軸駆動信号が偏
向動作な行なっていf.いときは、X軸方向にスキャン
されているレーザ光はy軸方向への偏向は行なわれず、
単にミラー面で反射されろだけである。凸レンズ244
を出射したレーザ光は凸レンズ252(焦点距離f9
)で屈折されて対物レンズ24(焦点距離re )に入
射する。対物レンズ24では入射するレーザ光を微小な
スポット径に集光して被測定物18の面上に照射する。
ドライバー14からのX軸駆動信号により回転角が制御
されで、紙面に平行k面内のX軸方向への偏向動作を行
なう。/..CおGM22は凸レンズ262と凸レンズ
234の共焦点位置に設置して:1,; <。凸レンズ
264を出射したレーザ光は凸レンズ236(焦点距離
f,)で屈折されてAO21に入射する。AO21は円
形の開口を有するもので、紙面に張直なy軸方向への偏
向動作を行!5「うもので、第2の2次元スキャンドラ
イバー15のy軸駆動信号により偏向制御を行なう。X
軸方向にスキャンされているレーザ光はy軸駆動信号が
偏向動作を行なっていなL・ときはAO21によるy
4a方向への偏向の影響は受けないで直進する。A02
1を出射したレーザ光は凸レンズ268(焦点距離f6
)で屈折されて光学素子群24口に入射する。光学素
子詳240は凸レンズ242(焦点距離rt )、G
M23、凸レンズ244(焦点距離rs )から成る
。GM23は第1の2次元スキャンドライバー14から
のy軸駆動信号により回転角が制御されて、紙面に垂直
なy 41+方向への偏向動作を行なう。なおGM23
は凸レンズ242と凸レンズ244の共焦点位置に設置
する。この場合、GM23を駆動するy軸駆動信号が偏
向動作な行なっていf.いときは、X軸方向にスキャン
されているレーザ光はy軸方向への偏向は行なわれず、
単にミラー面で反射されろだけである。凸レンズ244
を出射したレーザ光は凸レンズ252(焦点距離f9
)で屈折されて対物レンズ24(焦点距離re )に入
射する。対物レンズ24では入射するレーザ光を微小な
スポット径に集光して被測定物18の面上に照射する。
このようにして第1図で説明した如く、第1の洞向素子
群12と第2の偏向素子群16により相補的な2次元ス
キャン動作を行なうことかでNろ。
群12と第2の偏向素子群16により相補的な2次元ス
キャン動作を行なうことかでNろ。
第3図と第2図に示した光学系の構成による2次元スキ
ャンの偏向光路図を示す。第3図(イ)l81AO20
によるX@偏向、第3図f口)i!G M2’lによる
X軸偏向、第3図←QはA 0 2 1によるy軸1゛
i向、第3図(ニ)はG M 2 3によるy軸方向の
偏向を表わす。なお第3図(イ)一(→の偏向光略図に
おいて偏向に直接に関与する党t X子のみを図示し、
関与しない部分はブ口ククラ示している。光学素子群2
60の凸レンズ262と凸レンズ264の焦点距離は等
しく、光学素子群240の凸レンズ242と凸レンズ2
44の焦点距離も等しいと仮定する。
ャンの偏向光路図を示す。第3図(イ)l81AO20
によるX@偏向、第3図f口)i!G M2’lによる
X軸偏向、第3図←QはA 0 2 1によるy軸1゛
i向、第3図(ニ)はG M 2 3によるy軸方向の
偏向を表わす。なお第3図(イ)一(→の偏向光略図に
おいて偏向に直接に関与する党t X子のみを図示し、
関与しない部分はブ口ククラ示している。光学素子群2
60の凸レンズ262と凸レンズ264の焦点距離は等
しく、光学素子群240の凸レンズ242と凸レンズ2
44の焦点距離も等しいと仮定する。
第3図(イ)において、レーザ光100はAO20によ
りθx2だげ回折(偏向)される。回折光は凸レンズ2
22により光軸に平行に進行する千行光となるが、シリ
ンドリ力ルレンズ224は紙面に垂直方向に屈折作用を
持たせているため、紙面に平行なX軸方向には屈折され
紅いで直進する。光学素子群260ではGM22が停止
しているためX軸方向の偏向作用を受けず直進し、凸レ
ンズ266によって屈折されAO21に入射する。
りθx2だげ回折(偏向)される。回折光は凸レンズ2
22により光軸に平行に進行する千行光となるが、シリ
ンドリ力ルレンズ224は紙面に垂直方向に屈折作用を
持たせているため、紙面に平行なX軸方向には屈折され
紅いで直進する。光学素子群260ではGM22が停止
しているためX軸方向の偏向作用を受けず直進し、凸レ
ンズ266によって屈折されAO21に入射する。
AO21ではX軸方向の偏向は行なわれず直進し、凸レ
ンズ268によって光軸に平行に進行し、光学素子群2
40によってもX軸方向への偏向は行なわれず直進する
。凸レンズ252によって屈折されて対物レンズ24に
より光軸に平行に進行するように変換される。このとき
の偏向量Dx2は(f2 ”fa ’fo ’
θxt )/ ( ’s ・fa )となる。
ンズ268によって光軸に平行に進行し、光学素子群2
40によってもX軸方向への偏向は行なわれず直進する
。凸レンズ252によって屈折されて対物レンズ24に
より光軸に平行に進行するように変換される。このとき
の偏向量Dx2は(f2 ”fa ’fo ’
θxt )/ ( ’s ・fa )となる。
回折角θx2 を駆動信号により変えることにより上
記の関係式で定まる偏向ができる。
記の関係式で定まる偏向ができる。
第3図(口)の場合はレーザ光10口はA. 0 2
0によっては偏向されず直進し、光学素子群260のG
M22によって偏向される。G M 2 2による偏向
角度なθX,とする。偏向されたレーザ光は凸レンズ2
34によって光軸に平行に進行させられて凸レンズ26
6に入射する。凸レンズ266以後の光路は前述の第3
図(イ)の場合と同様である。
0によっては偏向されず直進し、光学素子群260のG
M22によって偏向される。G M 2 2による偏向
角度なθX,とする。偏向されたレーザ光は凸レンズ2
34によって光軸に平行に進行させられて凸レンズ26
6に入射する。凸レンズ266以後の光路は前述の第3
図(イ)の場合と同様である。
第3図(口)に示した場合の偏向量Dxlは(f,・r
6・f0・θX, )/( fs − f9) テsh
される。
6・f0・θX, )/( fs − f9) テsh
される。
従ってX軸方向のスキャンの場合、
Dxl/Dx2=f4 ’θXI/(f2”θX2 )
である。
である。
次にy軸方向の偏向光路について説明する。
第3図(ハ)において、レーザ光100はAO20によ
ってはy軸方向の偏向は行なわれずに直進し、AO21
によってy軸方向に偏向される。このときの偏向角度な
θy2とする。A. 0 2 1によって偏向されたレ
ーザ光は凸レンズ268により光軸に平行に進行させら
れる。光学素子群240ではG M 23が停止してい
て偏向動作を行なっていたいため偏向されずに直進し、
凸レンズ252により屈折させられて対物レンズ24に
入射する。対物レンズ24ではレーザ光を微少なスポッ
ト径に集光すると共に、光軸に平行に進行させる。この
ときに得られる偏向量Dy2は (ra・f0・θy2)/f,となる。
ってはy軸方向の偏向は行なわれずに直進し、AO21
によってy軸方向に偏向される。このときの偏向角度な
θy2とする。A. 0 2 1によって偏向されたレ
ーザ光は凸レンズ268により光軸に平行に進行させら
れる。光学素子群240ではG M 23が停止してい
て偏向動作を行なっていたいため偏向されずに直進し、
凸レンズ252により屈折させられて対物レンズ24に
入射する。対物レンズ24ではレーザ光を微少なスポッ
ト径に集光すると共に、光軸に平行に進行させる。この
ときに得られる偏向量Dy2は (ra・f0・θy2)/f,となる。
第3図(ニ)の場合は、レーザ光100はAO20及び
AO21では偏向されずに直進し、光学素子群240の
GM23によって偏向される。GM26による偏向角度
をθy,とする。GM23によって偏向されたレーザ光
は凸レンズ244によって光軸に平行に進行させられて
凸レンズ252に入射される。以後の光路は第3図(ハ
)の場合と同様である。第3図(ニ)に示した場合の偏
向量DY+は(fa ・f0・θy,)/f9 であ
る。
AO21では偏向されずに直進し、光学素子群240の
GM23によって偏向される。GM26による偏向角度
をθy,とする。GM23によって偏向されたレーザ光
は凸レンズ244によって光軸に平行に進行させられて
凸レンズ252に入射される。以後の光路は第3図(ハ
)の場合と同様である。第3図(ニ)に示した場合の偏
向量DY+は(fa ・f0・θy,)/f9 であ
る。
従ってy軸スキャンの場合、
DY+ /Dyz = fa ・θy+/(’a ・θ
Yz )である。
Yz )である。
第4図に本発明の第2の実施例を示す。第1の偏向素子
群12には2個のガルパノミラー(GM)を用いるのは
第2図に示した第1実施例と同様であるが・第2の偏向
素子群1 3K21’[ffiの特殊形状プリズムを用
いる場合である。
群12には2個のガルパノミラー(GM)を用いるのは
第2図に示した第1実施例と同様であるが・第2の偏向
素子群1 3K21’[ffiの特殊形状プリズムを用
いる場合である。
41はGMで、GM41は紙面に垂直な方向であるy軸
方向への偏向を行なう。レンズ群41口はレーザ光源1
口から放射されるレーザ光100のビーム径を拡大する
ためのレンズ群で、凸レンズ412(焦点距離f+o)
、凸レンズ414(焦点距離f1,)から構成される。
方向への偏向を行なう。レンズ群41口はレーザ光源1
口から放射されるレーザ光100のビーム径を拡大する
ためのレンズ群で、凸レンズ412(焦点距離f+o)
、凸レンズ414(焦点距離f1,)から構成される。
42はG Mで、GM42は紙面に平行な方向である。
X軸方向への偏向を行なう。420は凸レンズ(焦点距
離fi!)、450も同じく凸レンズ(焦点距離f,,
)、45は対物レンズ(焦点距離f。)である。
離fi!)、450も同じく凸レンズ(焦点距離f,,
)、45は対物レンズ(焦点距離f。)である。
46及び44は特殊プリズム(以下にPSMと略記する
)で、pSM43及びPSM44で第2の偏向素子群1
6を構成し、PSM43はy軸方向の偏向、PSM44
はX軸方向の偏向を行kうが、PSM43はアクチュエ
ータ460、PSM44はアクチュエータ440によっ
て駆動される。
)で、pSM43及びPSM44で第2の偏向素子群1
6を構成し、PSM43はy軸方向の偏向、PSM44
はX軸方向の偏向を行kうが、PSM43はアクチュエ
ータ460、PSM44はアクチュエータ440によっ
て駆動される。
アクチーエータ460及び4 4 0 4J例えばピエ
ゾトランスレータ(PZT)、リニアモータ等から構成
する。
ゾトランスレータ(PZT)、リニアモータ等から構成
する。
第5図に第4図に示した特殊プリズムの形状及び偏向の
動作を示す。第5図(イ)において、51は頂角が各々
60”の正三角形の断面形状となる正三角形プリズム、
52は頂角が30’ 60゜である直角プリズムで、
正三角形プリズム51と直角プリズム52を図の様に組
み合わせて特殊プリズム50を構成する。この構成にお
いて、正三角形プリズム51の垂直面500にレーザ光
56が垂直に入射するとき、直進した透過光は点502
で反射され、次に直角プリズム52の底面の点504で
再び反射する。反射光は同じく直角プリズム52の斜崩
部の点506で反射し、直角三角形プリズム52の垂直
面508から出射光54として、入射光56と平行に出
射するが、プリズムの媒質内部ではv字型の光路となる
。この場合、正三角形プリズム51の垂直面500に入
射光53が入射されるとき、垂直面500への光軸高さ
位置に応じて、出射光54の光軸高さ方向の出射位置が
変化する。
動作を示す。第5図(イ)において、51は頂角が各々
60”の正三角形の断面形状となる正三角形プリズム、
52は頂角が30’ 60゜である直角プリズムで、
正三角形プリズム51と直角プリズム52を図の様に組
み合わせて特殊プリズム50を構成する。この構成にお
いて、正三角形プリズム51の垂直面500にレーザ光
56が垂直に入射するとき、直進した透過光は点502
で反射され、次に直角プリズム52の底面の点504で
再び反射する。反射光は同じく直角プリズム52の斜崩
部の点506で反射し、直角三角形プリズム52の垂直
面508から出射光54として、入射光56と平行に出
射するが、プリズムの媒質内部ではv字型の光路となる
。この場合、正三角形プリズム51の垂直面500に入
射光53が入射されるとき、垂直面500への光軸高さ
位置に応じて、出射光54の光軸高さ方向の出射位置が
変化する。
第5図(ロ)で特殊プリズム50による偏向動作を説明
する。実線で示した特殊プリズム50は底面510が基
準位置にある場合を示しこれを状態Iとする。破線で示
した特殊プリズム5oはその底i52[]が基準位置か
らhだげ上方に移動させられた状態を示しこれを状態■
とする。この底面510の移動を第4図に示したアクチ
ュエータ460で行なう。入射光56の光軸高さ位置は
固定されているものとする。
する。実線で示した特殊プリズム50は底面510が基
準位置にある場合を示しこれを状態Iとする。破線で示
した特殊プリズム5oはその底i52[]が基準位置か
らhだげ上方に移動させられた状態を示しこれを状態■
とする。この底面510の移動を第4図に示したアクチ
ュエータ460で行なう。入射光56の光軸高さ位置は
固定されているものとする。
入射光56が正三角形プリズム51の垂直面500に入
射したとき、状態Iでは点560で反射し、状態■では
点532で反射する。このときの状態■での反射光53
4と状態■での反射光536では〆Thだけ離れている
。状態Iでは直角プリズム52の底画510の点540
で反射し、状態■では同じく底面520の点542の位
置で再び反射する。このとき点540と点542の距れ
た光路で進行し、状態■では直角プリズム52の斜面部
の点544で反射、状態■では同じく点546で反躬し
て、それぞれ垂直面508に垂直に出射する。状態■で
の出射光を55で表わし、状f3 IIでの出射光を5
6で表わすと、出射光55と出射光56とでは光軸高さ
方向の高さが2hだけシフトする。従って特殊プリズム
50の底面をアクチュエー夕で移動すると、移動量の2
倍だけ出射光の光軸]窩さ位置がシフトされて偏向が可
能になる。
射したとき、状態Iでは点560で反射し、状態■では
点532で反射する。このときの状態■での反射光53
4と状態■での反射光536では〆Thだけ離れている
。状態Iでは直角プリズム52の底画510の点540
で反射し、状態■では同じく底面520の点542の位
置で再び反射する。このとき点540と点542の距れ
た光路で進行し、状態■では直角プリズム52の斜面部
の点544で反射、状態■では同じく点546で反躬し
て、それぞれ垂直面508に垂直に出射する。状態■で
の出射光を55で表わし、状f3 IIでの出射光を5
6で表わすと、出射光55と出射光56とでは光軸高さ
方向の高さが2hだけシフトする。従って特殊プリズム
50の底面をアクチュエー夕で移動すると、移動量の2
倍だけ出射光の光軸]窩さ位置がシフトされて偏向が可
能になる。
第6図に第4図で后した光学系を用いた場合の2次元ス
キャンによる偏向光路図を示す。第6図(イ)はPSM
44によるX軸方向の偏向、第6図(ロ)はGM42に
よるX軸方向の偏向、第6図(ハ)はPSM43による
y軸方向の偏向、第6図(ニ)はGM41によるy軸方
向の偏向を表わす。
キャンによる偏向光路図を示す。第6図(イ)はPSM
44によるX軸方向の偏向、第6図(ロ)はGM42に
よるX軸方向の偏向、第6図(ハ)はPSM43による
y軸方向の偏向、第6図(ニ)はGM41によるy軸方
向の偏向を表わす。
第6図(イ)において、レーザ光源10かも放射された
レーザ光100はGM41によってはX軸方向の偏向が
行なわれず直進する。GM42はX軸方向の偏向動作が
停止されているため偏向動作は行なわれずに直進する。
レーザ光100はGM41によってはX軸方向の偏向が
行なわれず直進する。GM42はX軸方向の偏向動作が
停止されているため偏向動作は行なわれずに直進する。
更にPSM43においては第5図で示した如くにプリズ
ム内部ではV字型の反射光経路を有するが、X軸方向へ
の偏向は行なわれず、偏向光路の面からみればP S
M 4 3は直進することになる。PSM44において
は、前述の説明の如く、特殊プリズム44の底面をhx
だけ移動させることにより偏向を行なう。光軸に平行に
出射したレーザ光は凸レンズ45,0で屈折されて対物
レンズ45に入射する。対物レンズ45はレーザ光を微
小なスポット径に集光すると共に、光軸に平行に進行さ
せる。このときの偏向量D0は2h x−fo / f
1sで表わされる。なお本例では特殊プリズム44の底
面は紙面に平行な方向への移動である。第6図(口)の
場合は、レーザ光100はGM42の回転角を変化させ
ることによりX 411方向へ偏向させる。このときの
回転角をθx1とする。GM42によって偏向されたレ
ーザ光は凸レンズ420により光軸に平行に進行させら
れる。
ム内部ではV字型の反射光経路を有するが、X軸方向へ
の偏向は行なわれず、偏向光路の面からみればP S
M 4 3は直進することになる。PSM44において
は、前述の説明の如く、特殊プリズム44の底面をhx
だけ移動させることにより偏向を行なう。光軸に平行に
出射したレーザ光は凸レンズ45,0で屈折されて対物
レンズ45に入射する。対物レンズ45はレーザ光を微
小なスポット径に集光すると共に、光軸に平行に進行さ
せる。このときの偏向量D0は2h x−fo / f
1sで表わされる。なお本例では特殊プリズム44の底
面は紙面に平行な方向への移動である。第6図(口)の
場合は、レーザ光100はGM42の回転角を変化させ
ることによりX 411方向へ偏向させる。このときの
回転角をθx1とする。GM42によって偏向されたレ
ーザ光は凸レンズ420により光軸に平行に進行させら
れる。
PSM43では第6図(イ)での説明と同じくX@方向
へは偏向されずにX軸方向へは直進し、PSM44によ
りプリズム内部ではV字型の反射光経路を有する。この
ときPSM44は底面の移動動作を停止している。PS
M4 4以後の光路は(イ)の場合と同様である。第6
図(口)の場合のGMによって行なわれる偏向量Dxl
は 2f,,− fo・θX I / f 1 3 となる
。
へは偏向されずにX軸方向へは直進し、PSM44によ
りプリズム内部ではV字型の反射光経路を有する。この
ときPSM44は底面の移動動作を停止している。PS
M4 4以後の光路は(イ)の場合と同様である。第6
図(口)の場合のGMによって行なわれる偏向量Dxl
は 2f,,− fo・θX I / f 1 3 となる
。
第6図(ハ)の場合のy軸方向の偏向の場合は、GM4
1のy軸方向の偏向動作は停止しているため、GM41
によっては偏向は行なわれずに直進する。PSM43は
PSM44に対して90°回転した状態で設置し、アク
チュエータ430は紙面に垂直な方向へ移動する。PS
M4 3は紙面に垂直k方向へhアだげ移動を行なわせ
る。PSM43により偏向されたレーザ光はP, S
M 4 4ではy軸方向への偏向は行なわれず、y軸方
向へは直進したことになる。凸レンズ450で屈折され
て、対物レンズ45により光軸に平行に偏向されること
になる。この場合の偏向量D,,は 2h , − fo/f,, で表わされる。第6図
(イ)の場合と比較すると特殊プリズムの底面の移動量
だけ偏向量が異なる。第6図(ニ)の場合は、レーザ光
100はGM41によって偏向される。GM41による
回転角をθyI とする。GM41によって偏向された
レーザ光はレンズ群410の凸レンズ412で屈折され
て光軸に平行に進行し、凸レンズ414により再び屈折
されてGM42に対してy軸方向へは直進する。次に凸
レンズ420により屈折されて光軸に平行に進行する。
1のy軸方向の偏向動作は停止しているため、GM41
によっては偏向は行なわれずに直進する。PSM43は
PSM44に対して90°回転した状態で設置し、アク
チュエータ430は紙面に垂直な方向へ移動する。PS
M4 3は紙面に垂直k方向へhアだげ移動を行なわせ
る。PSM43により偏向されたレーザ光はP, S
M 4 4ではy軸方向への偏向は行なわれず、y軸方
向へは直進したことになる。凸レンズ450で屈折され
て、対物レンズ45により光軸に平行に偏向されること
になる。この場合の偏向量D,,は 2h , − fo/f,, で表わされる。第6図
(イ)の場合と比較すると特殊プリズムの底面の移動量
だけ偏向量が異なる。第6図(ニ)の場合は、レーザ光
100はGM41によって偏向される。GM41による
回転角をθyI とする。GM41によって偏向された
レーザ光はレンズ群410の凸レンズ412で屈折され
て光軸に平行に進行し、凸レンズ414により再び屈折
されてGM42に対してy軸方向へは直進する。次に凸
レンズ420により屈折されて光軸に平行に進行する。
P S M 4 3以後の光路は第6図(ハ)で述べた
場合と同様である。
場合と同様である。
t1おこの場合PSM43の底面の移動は停止されてい
る。第6図(ニ)に示した場合の偏向量D,,は2θy
+ ” ’+a ” ftt ” fo/(f++・f
+s) で衣わされる。このようにして特殊プリズム
2個とガルパノミラ−2涸の組み合わせにより、簡単な
光学系の構成で相補的な2次元スキャンが可能と々る。
る。第6図(ニ)に示した場合の偏向量D,,は2θy
+ ” ’+a ” ftt ” fo/(f++・f
+s) で衣わされる。このようにして特殊プリズム
2個とガルパノミラ−2涸の組み合わせにより、簡単な
光学系の構成で相補的な2次元スキャンが可能と々る。
第7図に本発明による第3の実施例を説明する。
第1の偏向素子群12には前述の場合と同じく2個のガ
ルバノミラーを用い、第2の偏向素子群13には1個の
AOと1涸の特殊プリズムを用い?場合である。第7図
においてAO20及びレンズ群210は第2図にて説明
したのと同一で、特殊プリズム46及びアクチーエータ
460も第4図にて説明したものと同一である。レーザ
光源10から出射されたレーザ光100はレンズ詳21
0でビーム形状を変換してAO20に入射される。AO
20は紙面に平行な面内でX軸方向への偏向を行なう。
ルバノミラーを用い、第2の偏向素子群13には1個の
AOと1涸の特殊プリズムを用い?場合である。第7図
においてAO20及びレンズ群210は第2図にて説明
したのと同一で、特殊プリズム46及びアクチーエータ
460も第4図にて説明したものと同一である。レーザ
光源10から出射されたレーザ光100はレンズ詳21
0でビーム形状を変換してAO20に入射される。AO
20は紙面に平行な面内でX軸方向への偏向を行なう。
光学素子群710はGM72及び第2図にて示したレン
ズ群220と同一の凸レンズ222とシリンドリカルレ
ンズ224から或り、GM72は紙面に垂直な方向であ
るy軸方向への偏向を行なう。更に光学素子群710は
ビム形状の変換も行ない、扇形状のビームを円形状のビ
ームに変換する。光学素子群720はGM76及び凸レ
ンズ722(焦点距離r !O )、凸レンズ724(
焦点距離f2■)から成り、GM7 5はX軸方向への
偏向を行なう。特殊プリズム46はアクテユエータ46
0で駆動されて、特殊プリズム43の底面は紙面の垂直
方向へ移動させられてy軸方向の偏向を行kう。760
は凸レンズ?焦点距離f2■)、75は対物レンズ(焦
点距離fo )である。以上の構成の光学系において、
AO20と特殊プリズム46とで狭い領域のファインス
キャンを行ない,GM72とGM73とで広い領域のプ
リスキャンを行なう。
ズ群220と同一の凸レンズ222とシリンドリカルレ
ンズ224から或り、GM72は紙面に垂直な方向であ
るy軸方向への偏向を行なう。更に光学素子群710は
ビム形状の変換も行ない、扇形状のビームを円形状のビ
ームに変換する。光学素子群720はGM76及び凸レ
ンズ722(焦点距離r !O )、凸レンズ724(
焦点距離f2■)から成り、GM7 5はX軸方向への
偏向を行なう。特殊プリズム46はアクテユエータ46
0で駆動されて、特殊プリズム43の底面は紙面の垂直
方向へ移動させられてy軸方向の偏向を行kう。760
は凸レンズ?焦点距離f2■)、75は対物レンズ(焦
点距離fo )である。以上の構成の光学系において、
AO20と特殊プリズム46とで狭い領域のファインス
キャンを行ない,GM72とGM73とで広い領域のプ
リスキャンを行なう。
第8図に第7図で述べた光学系による偏向光路図を示す
。第8図(イ)はAO20によるX軸方向の偏向光路、
第8図(口)はGM73によるX軸方向、第8図(ハ)
は特殊プリズム43によるy軸方向、第8図(ニ)はG
M72によるy軸方向の偏向光路な示す。この場合光学
素子群720の凸レンズ722と凸レンズ724の焦点
距離は等しいと仮定する。
。第8図(イ)はAO20によるX軸方向の偏向光路、
第8図(口)はGM73によるX軸方向、第8図(ハ)
は特殊プリズム43によるy軸方向、第8図(ニ)はG
M72によるy軸方向の偏向光路な示す。この場合光学
素子群720の凸レンズ722と凸レンズ724の焦点
距離は等しいと仮定する。
第8図(イ)において、レーザ光源10から放射された
レーザ光100はAO20によってX軸方向に偏向され
る。AO20による偏向角度をθx2とする。AO20
により偏向されたレーザ光は光学素子群710の凸レン
ズ222により屈折される。
レーザ光100はAO20によってX軸方向に偏向され
る。AO20による偏向角度をθx2とする。AO20
により偏向されたレーザ光は光学素子群710の凸レン
ズ222により屈折される。
GM72はy軸方向の偏向を行なうため、X軸方向には
直進する。シリンドリ力ルレンズ224はy軸方向の屈
折作用を有するためにX軸方向には直進する。光学素子
群720のGM73の偏向動作は停止されているため、
偏向されずに直進し、特殊プリズム46によっても偏向
されずにX軸方向には直進する。凸レンズ760で屈折
されて対物レンズ75に入射する。対物レンズ75はレ
ーザ光を微小なスポット径に集光すると共に、光軸に平
行に進行させて偏向を行なわせる。この場合の偏向膣1
) x2はf2− fo・θx2 / f22 とな
る。
直進する。シリンドリ力ルレンズ224はy軸方向の屈
折作用を有するためにX軸方向には直進する。光学素子
群720のGM73の偏向動作は停止されているため、
偏向されずに直進し、特殊プリズム46によっても偏向
されずにX軸方向には直進する。凸レンズ760で屈折
されて対物レンズ75に入射する。対物レンズ75はレ
ーザ光を微小なスポット径に集光すると共に、光軸に平
行に進行させて偏向を行なわせる。この場合の偏向膣1
) x2はf2− fo・θx2 / f22 とな
る。
第8図(ロ)の場合はレーザ光100はA020で偏向
されずに直進し、光学素子群7200GM76により偏
向される。このときの偏向角をθ8,とする。偏向され
たレーザ光は凸レンズ724により屈折されて、光軸に
平行に進行させられる。凸レンズ724以後の光路は第
8図(イ)の場合と同じである。この場合の偏向t D
x +は『21・fo−θXl/『112 となる
。
されずに直進し、光学素子群7200GM76により偏
向される。このときの偏向角をθ8,とする。偏向され
たレーザ光は凸レンズ724により屈折されて、光軸に
平行に進行させられる。凸レンズ724以後の光路は第
8図(イ)の場合と同じである。この場合の偏向t D
x +は『21・fo−θXl/『112 となる
。
第8図(ハ)の場合は、レーザ光100は光学素子群7
100GM72のy軸方向の偏向動作が停止しているた
め偏向されずに直進し、特殊プリズム43によって偏向
される。このとき特殊プリズム43のプリズム底面をh
,だげ移動させる。特殊プリズム46を出射したレーザ
光は光軸高さ位置が変化させられ、光軸と平行に進行し
、凸レンズ760により屈折される。凸レンズ730以
後の光路は第8図(イ)の場合と同じである。本実施例
の偏向量Dy,は2hy・『。/f22 となる。第
8図(ニ)の場合は光学素子群7100GM72でy軸
方向の偏向がなされる。GM72による偏向角度をθ,
1とする。偏向されたレーザ光は凸レンズ224により
屈折されて光軸に平行に進行させられ、特殊プリズム4
6によりプリズム内部でV字型の屈折光路を経て、光軸
に平行に出躬する。以後の光路は(ハ)の場合と同じで
ある。本実施例の場合の偏向tD y II!2f,
” o ’θy1/ f22トなる。
100GM72のy軸方向の偏向動作が停止しているた
め偏向されずに直進し、特殊プリズム43によって偏向
される。このとき特殊プリズム43のプリズム底面をh
,だげ移動させる。特殊プリズム46を出射したレーザ
光は光軸高さ位置が変化させられ、光軸と平行に進行し
、凸レンズ760により屈折される。凸レンズ730以
後の光路は第8図(イ)の場合と同じである。本実施例
の偏向量Dy,は2hy・『。/f22 となる。第
8図(ニ)の場合は光学素子群7100GM72でy軸
方向の偏向がなされる。GM72による偏向角度をθ,
1とする。偏向されたレーザ光は凸レンズ224により
屈折されて光軸に平行に進行させられ、特殊プリズム4
6によりプリズム内部でV字型の屈折光路を経て、光軸
に平行に出躬する。以後の光路は(ハ)の場合と同じで
ある。本実施例の場合の偏向tD y II!2f,
” o ’θy1/ f22トなる。
以上第1、第2、第3の実施例を述べたが、第1の偏向
素子群12、第2の偏向素子群1ろは他の各種の偏向素
子を用いることができ、同様に光学系の構成も使用する
偏向素子に応じて決められる。
素子群12、第2の偏向素子群1ろは他の各種の偏向素
子を用いることができ、同様に光学系の構成も使用する
偏向素子に応じて決められる。
また偏向素子を駆動する駆動信号も、測定領域、測定分
解能に応じて設定すればよい。更に対物レンズの光軸方
向の移動機構を付加すれば、3次元の形状の計測も可能
である。
解能に応じて設定すればよい。更に対物レンズの光軸方
向の移動機構を付加すれば、3次元の形状の計測も可能
である。
本発明によれば、偏向量、偏向ステップ分解能の異なっ
た種類の偏向素子を組み合わせてノ・イフリノド型の構
成とし、かつ同一の光路内に偏向素子を配置する光学系
の構成としている。従って広い範囲も狭い範囲と同一の
光学装置を用いて2次元スキャンを行なうことができる
1、広い範囲のスキャンでブリスキャンを行ない、被測
定物の測定すべき場所を容易に認識でき、次にその狭い
範囲を精密にファインスキャンすることにより高精度な
計測が町能となる。以上の如く測定の目的に応じて異な
った領域の2次元スキャンがフレキシフルに行なえ、効
率の良い2次元スキャンが可能とkる。
た種類の偏向素子を組み合わせてノ・イフリノド型の構
成とし、かつ同一の光路内に偏向素子を配置する光学系
の構成としている。従って広い範囲も狭い範囲と同一の
光学装置を用いて2次元スキャンを行なうことができる
1、広い範囲のスキャンでブリスキャンを行ない、被測
定物の測定すべき場所を容易に認識でき、次にその狭い
範囲を精密にファインスキャンすることにより高精度な
計測が町能となる。以上の如く測定の目的に応じて異な
った領域の2次元スキャンがフレキシフルに行なえ、効
率の良い2次元スキャンが可能とkる。
第1図は本発明の光学装置のブロノク構或を示し、第1
図(イ)は動作を説明するブロック図、第1図(ロ)は
領域を示す説明図、第2図は本発明の第1の実施例の光
学系の構成を示す光路図、第3図(イ)、(口)、(ハ
)、(ニ)はそれぞれ第2図に示した光学系の偏向光路
な説明する光略図、第4図は本発明の第2の実施例の光
学系の構成を示す光路図、第5図(イ)、(ロ)はそれ
ぞれ特殊プリズムの構成及び偏向動作の説明図、第6図
(イ)、(ロ)、(ハ)、(ニ)はそれぞれ第4図に示
した光学系の構成による偏向光路な説明する光路図、第
7図は本発明の第3の実施例の光学系の構或を示す光略
図、第8図(イ)、(口)、(ハ)、(ニ)はそれぞれ
第7図に示した光学系の構故による偏向光路な説明する
光略図である。 10・・・・・・レーザ光源、12・・・・・・第1の
偏向素子群、13・・・・・・第2の偏向素子群、16
・・・・・・対物レンズ、18・・・・・・被測定物、
20・・・・・・音響光学素子、22・・・・・・ガル
バノミラ− 43、44、50・・・・・・特殊プリズ
ム。 第4図 410 第5等 (−{) 50才シ々k?リス゜A 第7国
図(イ)は動作を説明するブロック図、第1図(ロ)は
領域を示す説明図、第2図は本発明の第1の実施例の光
学系の構成を示す光路図、第3図(イ)、(口)、(ハ
)、(ニ)はそれぞれ第2図に示した光学系の偏向光路
な説明する光略図、第4図は本発明の第2の実施例の光
学系の構成を示す光路図、第5図(イ)、(ロ)はそれ
ぞれ特殊プリズムの構成及び偏向動作の説明図、第6図
(イ)、(ロ)、(ハ)、(ニ)はそれぞれ第4図に示
した光学系の構成による偏向光路な説明する光路図、第
7図は本発明の第3の実施例の光学系の構或を示す光略
図、第8図(イ)、(口)、(ハ)、(ニ)はそれぞれ
第7図に示した光学系の構故による偏向光路な説明する
光略図である。 10・・・・・・レーザ光源、12・・・・・・第1の
偏向素子群、13・・・・・・第2の偏向素子群、16
・・・・・・対物レンズ、18・・・・・・被測定物、
20・・・・・・音響光学素子、22・・・・・・ガル
バノミラ− 43、44、50・・・・・・特殊プリズ
ム。 第4図 410 第5等 (−{) 50才シ々k?リス゜A 第7国
Claims (1)
- レーザ光源から放射されるレーザ光を対物レンズにより
集光して被測定物面上で2次元スキャンを行なわせる2
次元スキャン光学装置において、レーザ光源から対物レ
ンズまでの光路中に、少なくとも4個の偏向素子を設け
、少なくとも2個の偏光素子から成る第1の偏向素子群
により前記被測定物面上の第1の範囲の2次元スキャン
を行なわせ、残りの少なくとも2個の偏向素子から成る
第2の偏向素子群により、前記第1の範囲と異なる領域
の第2の範囲の2次元スキャンを行なわせ、一方の偏向
素子群の偏向動作中は、他方の偏向素子群の偏向動作は
停止せしめ、同一光路中で相補的に2次元スキャンを行
なうことを特徴とする2次元スキャン光学装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15578089A JPH0323414A (ja) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | 2次元スキャン光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15578089A JPH0323414A (ja) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | 2次元スキャン光学装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0323414A true JPH0323414A (ja) | 1991-01-31 |
Family
ID=15613248
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15578089A Pending JPH0323414A (ja) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | 2次元スキャン光学装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0323414A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018180181A (ja) * | 2017-04-10 | 2018-11-15 | 凸版印刷株式会社 | レーザ走査装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5149046A (en) * | 1974-10-15 | 1976-04-27 | Nippon Telegraph & Telephone | Kogakutekisosahoho oyobi sonosochi |
| JPH02124513A (ja) * | 1988-11-02 | 1990-05-11 | Citizen Watch Co Ltd | レーザ光を用いた2次元スキャン光学装置 |
-
1989
- 1989-06-20 JP JP15578089A patent/JPH0323414A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5149046A (en) * | 1974-10-15 | 1976-04-27 | Nippon Telegraph & Telephone | Kogakutekisosahoho oyobi sonosochi |
| JPH02124513A (ja) * | 1988-11-02 | 1990-05-11 | Citizen Watch Co Ltd | レーザ光を用いた2次元スキャン光学装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018180181A (ja) * | 2017-04-10 | 2018-11-15 | 凸版印刷株式会社 | レーザ走査装置 |
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