JPH03235223A - 半導体レーザ不良検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体レーザを用いて記録担体に情報を記録
する記録装置の半導体レーザ不良検出装置に関するもの
である。

従来の技術 光学的に情報を記録する円盤状記録担体（以降ディスク
と称す）などの記録光源に使われている半導体レーザは
、経年変化や静電気などのショックで劣化し、劣化の進
行速度も素子によりバラツキがあり、再生に必要な出射
光量（再生パワー）は出力できるが、再生パワーの５倍
から１０倍の出力を必要とする記録時に、記録に必要な
出射光量（記録パワー）が出力できないという不良が発
生することがある。

このなめ、従来の半導体レーザ不良検出装置は、記録時
に半導体レーザの後方出射口からの出射光量を測定し、
半導体レーザの駆動電流に対する出射光量の不足を検出
することにより半導体レーザの不良を検出し、記録不良
の防止を行っている。

発明が解決しようとする課題 しかし、上記従来の半導体レーザ不良検出装置では、記
録時に半導体レーザの不良を検出しており、出射光量不
足などの不良が記録担体に情報を書き込んだ後で判明す
るので、記録タイミングを逃すことによる情報のロスだ
けではなく、追記形ディスクのように一度しか記録でき
ない記録担体を用いた装置では、再生できない（Ｃ／Ｎ
などの信号品質の悪い）信号を記録してしまい、記録担
体にに不良情報トラックを出し、ユーザに損害を与える
という開題があった。

本発明は、上記従来の１７？ｆｆ題を解決するもので記
録担体−Ｌの情報トラックや情報の損失を防止する−と
のできる半導体レーザ不良検出装置を提供することを目
的とするものである。

課題を解決するための手段 上記課題を解決するために本発明の半導体レーザ不良検
出装置は、半導体レーザの出力を制御するレーザパワー
制御回路と、レーザ出射光量が規定値以下であるかどう
かを検出する光量検出器と、前記レーザパワー制御回路
を記録パワー制御に切り換え、前記光量検出器の検出信
号によりフォーカス制御回路を駆動させるか否かを選択
するレーザ不良判別手段とを備えたものである。

さらに、本発明の半導体レーザ不良検出装置は、上記構
成に加えて、記録担体が円盤状の場合に、円盤状記録担
体の回転速度が規定値以上であるかどうかを検出する回
転検出器を備え、レーザ不良判別手段は、前記回転検出
器からの検出信号により前記円盤状記録担体の回転速度
の立ち上がりを確認後、レーザパワー制御回路を記録パ
ワー制御に切り換え、光量検出器の検出信号によりフォ
ーカス制御回路を駆動させるか否かを選択する構成とし
たものである。

作用 上記構成により、フォーカス制御を行う前に、レーザパ
ワーを記録パワーに切り換え、半導体レーザが記録に必
要な光量を出力できないことを光量検出器により検出す
ると、このとき、半導体レーザから記録パワーの出力が
出されてもフォーカスがかかっていないので、記録担体
上のパワー密度は小さく、これにより情報トラックを記
録することはない。したがって、情報トラックや情報を
損失することなく半導体レーザの不良か検出される。

さらに、回転検出器により円盤状記録担体の回転速度が
規定値以上であることを検出したのちに、レーザ不良判
別手段を動作させるので、円盤状記録担体に照射される
レーザ光のパワー密度が可能なかぎり小さくなり、情報
トラックや情報を損失することはいっそうなくなる。

実施例 以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら説
明する。

第１図は本発明の一実施例を示す半導体レーザ不良検出
装置のプロ・ｙり図である。

第１図において、レーザパワー制御回路１は、光字ヘッ
ド２における半導体レーザの後方出射口を利用したフィ
ードバック制御を用い、記ｆｉ／再生におけるレーザ光
量を一定にするようにレーザ駆動電流を制御する。光１
検出器３は光字ヘッド２における半導体レーザの後方出
射口からの出射光量を電圧に変換し基１！電圧と比較す
ることで半導体レーザの出射光量の低下を検出する。回
転検出器４はディスク５を駆動するディスクモータ６の
ＦＧ信号を周波数−電圧変換し基準電圧と比較すること
でディスクの回転速度が規定値以上になったかどうかを
検出する。レーザ不良判別手段７は中央演算装置、プロ
グラムを格納している読みだし専用メモリ、書き込み／
読みだしができるメモリ、入出力ボートなどを備えたマ
イクロコンピュータで構成され、回転検出器４からの検
出信号によりディスク５の回転速度の立ち上がりを確認
した後、レーザパワー制御回路１を記録パワー制御に切
り換え、光量検出器３の検出信号により、光学ヘッド２
のフォーカス制御をするフォーカス制御回路８を駆動さ
せるか否かを選択する。

レーザ不良判別手段７は第２図に示すプログラムで実行
される。

すなわち、光ディスク５が起動を開始し、ディスクモー
タ６が回転を開始すると、レーザ不良判別手段７のプロ
グラムが実行される。第２図において、まず、ステップ
１０でマイクロコンビュータカ入力ポートから回転検出
器４の出力をモニターし、ディスクモータ６の回転速度
が一定値以上になるのを待つ。回転速度が上がると、ス
テップ２０に進みレーザパワー制御回路１に出力ポート
から指示を送り、記録パワー出力制御に切り換え半導体
レーザから適正な記録光量を出射させるように制促させ
る。このとき、半導体レーザが劣化していると出射光量
は少なく、そのためレーザパワー制御回路１は出射光量
を増やすために駆動出力を上げ、半導体レーザの駆動電
流を増大させる。ステップ３０で光量検出器３の出力を
入力ポートを介してモニターし、出射光量が規定値以下
の場合は半導体レーザの不良と判断してステップ４０を
、また、出射光ｌが規定値より大きい場合は半導体レー
ザは正常と判断してステップ６０を実行する。

ステップ４０でレーザパワー制御回路１に出力ポートよ
り指令を送り半導体レーザの駆動を停止させる。その後
ステップ５０で半導体レーザの不良があったことを示す
フラッグをセットしレーザ不良判別手段７の動作を終了
する。半導体レーザ不良フラッグが七ｙ！−されている
ときは、後の異常処理プログラムで異常表示などの異常
対応処理が実行される。

一方、半導体レーザが正常であると判断するとステップ
６０で、レーザパワー制御回路１に出力ポートより指令
を送り半導体レーザの駆動出力を再生出力制譚に切り換
え、さらに、ステ・ｙスフ０で半導体レーザの不良があ
ったことを示すフラッグをリセットし続いて、ステップ
８０でフォーカス制御回路８を駆動させ、レーザ不良判
別手段７の動作を終了し、トラッキング制御などを行い
光ディスク記９ｋｇ置を立ち上げ、記録／再生を行う。

なお、本実施例では−ディスクに照射されるレーザ光の
パワー密度を可能なかぎり小さくするためディスク５の
回転立ち上がり後、半導体レーザの検査を行っているが
、ディスクのローディング時やディスクがローディング
されていない記録装置のパワーオン時に検査を行うこと
も可能である。

また、記録担体として、カード状記録担体やテープ状記
録担体を用いた記録装置にも利用できるものである。

発明の効果 以上のように本発明によれば、半導体レーザの不良をフ
ォーカスをかける前、すなわち光ディスクなどの記録担
体のローディング時や、記録装置の起動時に、実際の情
報を記録する前に検査するので、正しく再生できない信
号の記録による情報トラックの損失や記録タイミングを
逃すことによる情報の損失を未然に防ぐことができ、安
全性の高い半導体レーザを用いた記録装置を提供するこ
とができる。

さらに、円盤状記録担体の回転速度が規定値以上になっ
た後にレーザ不良判別手段を動作させるなめ、円盤状記
録担体に照射されるレーザ光のパワー密度をさらに小さ
くすることができ、より安全性が向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す半導体レーザ不良検出
装置のブロック図、第２図は第１図のレーザ不良判別手
段のプログラムを示すフローチャート図である。 １・・・レーザパワー制御回路、２・・・光学ヘッド、
３・・・光量検出器、４・・・回転検出器、５・・・デ
ィスク、７・・−レーザ不良判別手段、８・・・フォー
カス制御回路。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、半導体レーザの出力を制御するレーザパワー制御回
   路と、レーザ出射光量が規定値以下であるかどうかを検
   出する光量検出器と、前記レーザパワー制御回路を記録
   パワー制御に切り換え、前記光量検出器の検出信号によ
   りフォーカス制御回路を駆動させるか否かを選択するレ
   ーザ不良判別手段とを備えた半導体レーザ不良検出装置
   。 ２、円盤状記録担体の回転速度が規定値以上であるかど
   うかを検出する回転検出器を備え、レーザ不良判別手段
   は、前記回転検出器からの検出信号により前記円盤状記
   録担体の回転速度の立ち上がりを確認後、レーザパワー
   制御回路を記録パワー制御に切り換え、光量検出器の検
   出信号によりフォーカス制御回路を駆動させるか否かを
   選択する構成とした請求項１記載の半導体レーザ不良検
   出装置。