JPH03237321A - 放射率測定装置 - Google Patents
放射率測定装置Info
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- JPH03237321A JPH03237321A JP3344190A JP3344190A JPH03237321A JP H03237321 A JPH03237321 A JP H03237321A JP 3344190 A JP3344190 A JP 3344190A JP 3344190 A JP3344190 A JP 3344190A JP H03237321 A JPH03237321 A JP H03237321A
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- Japan
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- emissivity
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、測定機構を簡略化した小型で簡易構造の放射
率測定装置に関する。
率測定装置に関する。
従来、高精度の温度測定に用いられる放射率測定装置と
して第３図に示す機構のものが用いられている。この装
置構成は、まず温度調節器１． ２により黒体炉２と被
測定物４の温度を同一に調整し、それらの放射を光検出
器５で検知する。
して第３図に示す機構のものが用いられている。この装
置構成は、まず温度調節器１． ２により黒体炉２と被
測定物４の温度を同一に調整し、それらの放射を光検出
器５で検知する。
ついで、黒体炉２の出力Ｅｂと被測定物の出力Ｅｓは除
算回路６で演算され、その比（ｆ！ｓ／Ｅｂ）として放
射率εが求められる。
算回路６で演算され、その比（ｆ！ｓ／Ｅｂ）として放
射率εが求められる。
しかしながら、上記の構成においては黒体炉およびその
温度ＩＪ４ｉｆｆ器が必須の装置部材となり、被測定物
と黒体炉の測定対象を切り換えるための機構が必要とな
るため、装置が複雑大型化するうえ高価となる問題点が
ある。
温度ＩＪ４ｉｆｆ器が必須の装置部材となり、被測定物
と黒体炉の測定対象を切り換えるための機構が必要とな
るため、装置が複雑大型化するうえ高価となる問題点が
ある。
本発明者は、黒体炉を測定したときに得られる光検出器
の出力は適当な温度補償を施すと黒体炉の温度のみに依
存することに着目して研究を重ねた結果、装置機構とし
て被測定物を測温する温度検出器の温度−出力特性を同
光検出器で黒体炉からの放射を測定したときの温度−出
力特性に変換するための変換回路を用いるシステム構成
に変更すると、従来の黒体炉が不用となる事実を確認し
て本発明の開発に至ったものである。
の出力は適当な温度補償を施すと黒体炉の温度のみに依
存することに着目して研究を重ねた結果、装置機構とし
て被測定物を測温する温度検出器の温度−出力特性を同
光検出器で黒体炉からの放射を測定したときの温度−出
力特性に変換するための変換回路を用いるシステム構成
に変更すると、従来の黒体炉が不用となる事実を確認し
て本発明の開発に至ったものである。
したがって、本発明の目的は、黒体炉およびこの設置に
必要な温度調整器、測定対象切換機構などを不用とした
小型で簡易構造の放射率測定装置を提供するところにあ
る。
必要な温度調整器、測定対象切換機構などを不用とした
小型で簡易構造の放射率測定装置を提供するところにあ
る。
上記の目的を達成するための本発明による放射率測定装
置は、被測定物の温度検出器と光検出器を用い、被測定
物およびそれと同温度の黒体炉を測定したときに得られ
る光検出器の出力比から放射率を求める機構において、
温度検出器の温度−出力特性を黒体測定時の光検出器の
温度−出力特性に変換するための変換回路を有し、被測
定物測定時の光検出器の出力と前記変換回路の出力とか
ら放射率を求めることを構成上の特徴とするものである
。
置は、被測定物の温度検出器と光検出器を用い、被測定
物およびそれと同温度の黒体炉を測定したときに得られ
る光検出器の出力比から放射率を求める機構において、
温度検出器の温度−出力特性を黒体測定時の光検出器の
温度−出力特性に変換するための変換回路を有し、被測
定物測定時の光検出器の出力と前記変換回路の出力とか
ら放射率を求めることを構成上の特徴とするものである
。
以下、温度検出器として熱電対を用いた第１図機構を基
にして本発明の詳細な説明する。但し、本発明の温度検
出器は熱電対に限られるものではない。
にして本発明の詳細な説明する。但し、本発明の温度検
出器は熱電対に限られるものではない。
温度調整器ｌにより適度の温度に調整された被測定物４
は熱電対７により測温される。得られた熱電対７の起電
力は変換回路８により被測定物と同温度の黒体を光検出
器により測定したときに得られる出力値Ｅｂに変換され
る。
は熱電対７により測温される。得られた熱電対７の起電
力は変換回路８により被測定物と同温度の黒体を光検出
器により測定したときに得られる出力値Ｅｂに変換され
る。
変換回路８としては、例えばエキスパンダーコンプレッ
サー、ＲＯＭ等を用いた折れ線近似回路により構成する
ことができる。
サー、ＲＯＭ等を用いた折れ線近似回路により構成する
ことができる。
被測定物４の放射は、光検出器５により測定され、出力
Ｅｓを得る。この出力Ｅｓは前記の変換回路８の出力Ｅ
ｂとともに除算回路６で演算され、放射率ε（Ｅｓ／Ｅ
ｂ）として求められる。
Ｅｓを得る。この出力Ｅｓは前記の変換回路８の出力Ｅ
ｂとともに除算回路６で演算され、放射率ε（Ｅｓ／Ｅ
ｂ）として求められる。
〔作 用］
本発明の装置構成によれば、変換回路８が温度検出器か
らの温度−出力特性を黒体を測定したときの光検出器の
温度−出力特性に変換するために作動し、この作用を介
して実際に黒体炉を設置しなくとも精度のよい放射率を
求めることが可能となる。
らの温度−出力特性を黒体を測定したときの光検出器の
温度−出力特性に変換するために作動し、この作用を介
して実際に黒体炉を設置しなくとも精度のよい放射率を
求めることが可能となる。
したがって、装置機構的に黒体炉およびそれに付随する
温度調整器、測定対象切換装置などが不用となるから、
構造の簡易化、小型化を図ることができる。
温度調整器、測定対象切換装置などが不用となるから、
構造の簡易化、小型化を図ることができる。
温度検出器に熱電対を用い、被測定物からの放射が検出
部のレンズに入光する状態にセットした第２図に示す機
構の放射率測定装置を製作した。
部のレンズに入光する状態にセットした第２図に示す機
構の放射率測定装置を製作した。
この装置による放射率の測定は、次のようにしておこな
われる。
われる。
温度調整器１により被測定物４を１００〜３００°Ｃ範
囲の適当な温度に制御する。被測定物４からの放射は検
出部９のレンズ１０で集光され、フィルター１１を通過
した８μ−（半値幅０．３μＭ）の光だけが光検出器５
に入射する。光検出器５の出力はアンプ１２で増幅され
、温度補償回路１３を通り出力Ｅｓとして除算回路６に
入力される。
囲の適当な温度に制御する。被測定物４からの放射は検
出部９のレンズ１０で集光され、フィルター１１を通過
した８μ−（半値幅０．３μＭ）の光だけが光検出器５
に入射する。光検出器５の出力はアンプ１２で増幅され
、温度補償回路１３を通り出力Ｅｓとして除算回路６に
入力される。
被測定物４の温度は熱電対７で測定され、得られた起電
力は変換回路８により光検出器で黒体炉を測定したとき
の検出部の出力値Ｅｂに変換される。
力は変換回路８により光検出器で黒体炉を測定したとき
の検出部の出力値Ｅｂに変換される。
除算回路６では検出部９からの出力Ｅｓと変換回路の出
力Ｅｂの比（Ｅｓ／Ｅｂ）を演算し、その結果は放射率
として表示回路１４により表示される。
力Ｅｂの比（Ｅｓ／Ｅｂ）を演算し、その結果は放射率
として表示回路１４により表示される。
本実施例の装置による放射率測定結果と、同一被測定物
を分光放射率計〔日本電子■製、ＪＩＲ−５５００、Ｉ
ＲＲ−２００１で測定した結果を対比して下表に示した
。
を分光放射率計〔日本電子■製、ＪＩＲ−５５００、Ｉ
ＲＲ−２００１で測定した結果を対比して下表に示した
。
定結果とほぼ等しく、優れた測定性能を示すものであっ
た。
た。
以上のとおり、本発明の放射率測定装置によれば従来装
置で必要とされていた黒体炉およびそれに付帯する温度
調整器、被測定物と黒体炉の測定対象切換装置等がなく
ても物体放射率を高精度かつ連続的に測定することがで
きる。
置で必要とされていた黒体炉およびそれに付帯する温度
調整器、被測定物と黒体炉の測定対象切換装置等がなく
ても物体放射率を高精度かつ連続的に測定することがで
きる。
したがって、高性能、小型、簡易構造の放射率測定装置
を安価に提供することが可能となる。
を安価に提供することが可能となる。
第１図は本発明による放射率測定装置の構成例を示した
ブロック図、第２図は本発明装置の実施例を示したブロ
ック図、第３図は従来の放射率測定装置を示したブロッ
ク図である。
ブロック図、第２図は本発明装置の実施例を示したブロ
ック図、第３図は従来の放射率測定装置を示したブロッ
ク図である。
Claims (1)
- １、被測定物の温度検出器と光検出器を用い、被測定物
およびそれと同温度の黒体炉を測定したときに得られる
光検出器の出力比から放射率を求める機構において、温
度検出器の温度−出力特性を黒体測定時の光検出器の温
度−出力特性に変換するための変換回路を有し、被測定
物測定時の光検出器の出力と前記変換回路の出力とから
放射率を求めることを特徴とする放射率測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3344190A JPH03237321A (ja) | 1990-02-13 | 1990-02-13 | 放射率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3344190A JPH03237321A (ja) | 1990-02-13 | 1990-02-13 | 放射率測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03237321A true JPH03237321A (ja) | 1991-10-23 |
Family
ID=12386622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3344190A Pending JPH03237321A (ja) | 1990-02-13 | 1990-02-13 | 放射率測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03237321A (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56104226A (en) * | 1980-01-23 | 1981-08-19 | Fujitsu Ltd | Temperature measuring system using infrared ray |
| JPS59160723A (ja) * | 1983-03-04 | 1984-09-11 | Nippon Steel Corp | 放射温度計の較正方法 |
| JPS62163937A (ja) * | 1986-01-14 | 1987-07-20 | Furuno Electric Co Ltd | 赤外線センサを用いた温度測定装置 |
| JPS63187128A (ja) * | 1987-01-30 | 1988-08-02 | Daikin Ind Ltd | 輻射温度測定装置 |
| JPS6488126A (en) * | 1987-09-29 | 1989-04-03 | Fujitsu Ltd | Infrared-ray image pickup device |
-
1990
- 1990-02-13 JP JP3344190A patent/JPH03237321A/ja active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56104226A (en) * | 1980-01-23 | 1981-08-19 | Fujitsu Ltd | Temperature measuring system using infrared ray |
| JPS59160723A (ja) * | 1983-03-04 | 1984-09-11 | Nippon Steel Corp | 放射温度計の較正方法 |
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| JPS63187128A (ja) * | 1987-01-30 | 1988-08-02 | Daikin Ind Ltd | 輻射温度測定装置 |
| JPS6488126A (en) * | 1987-09-29 | 1989-04-03 | Fujitsu Ltd | Infrared-ray image pickup device |
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