JPH0324417A - 光学式測定装置 - Google Patents
光学式測定装置Info
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- JPH0324417A JPH0324417A JP15829689A JP15829689A JPH0324417A JP H0324417 A JPH0324417 A JP H0324417A JP 15829689 A JP15829689 A JP 15829689A JP 15829689 A JP15829689 A JP 15829689A JP H0324417 A JPH0324417 A JP H0324417A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 10
- 230000009466 transformation Effects 0.000 abstract description 7
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Transform (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
光学式エンコーダのように光を使った測長、測角等の測
定装置に関する。
定装置に関する。
(従来の技術)
従来の光学式エンコーダは、光源に対向させて移動可能
に配置され、光透過部と非透過部の長さの比が1:1と
された振幅格子を有し、光源の光がこの振幅格子を透過
後、例えば反射鏡等によって再度振幅格子を透過するこ
とによって、振幅格子の2倍のピッチ(1波長が振幅格
子1ピッチの半分)の正弦波を生ぜしめ、この正弦波を
用いて測長又は、測角を行うようになっている。
に配置され、光透過部と非透過部の長さの比が1:1と
された振幅格子を有し、光源の光がこの振幅格子を透過
後、例えば反射鏡等によって再度振幅格子を透過するこ
とによって、振幅格子の2倍のピッチ(1波長が振幅格
子1ピッチの半分)の正弦波を生ぜしめ、この正弦波を
用いて測長又は、測角を行うようになっている。
(発明が解決しようとする課題)
従来の光学式エンコーダによれば、その構造が複雑で、
コスト高であると云う課題があった。
コスト高であると云う課題があった。
本発明は、測定精度は従来のものと同様にして、このよ
うな課題を解決することをその目的とするものである。
うな課題を解決することをその目的とするものである。
(課題を解決するための手段)
本発明は、上記の目的を達成するために、光源に対して
一定距離を保って移動するように配置され、光透過部と
非透過部の長さの比が2=1とされた振幅格子と、該振
幅格子を透過した光を光学的にフーリエ変換する第1の
レンズと、前記光学的フーリエ変換により生ずる回折光
のうち、2次回折光だけを選択する選択フィルタと、選
択された2次回折光を逆フーリエ変換する第2のレンズ
と、光学的に逆フーリエ変換された光を受光する受光器
とを備えたことを特徴とする。
一定距離を保って移動するように配置され、光透過部と
非透過部の長さの比が2=1とされた振幅格子と、該振
幅格子を透過した光を光学的にフーリエ変換する第1の
レンズと、前記光学的フーリエ変換により生ずる回折光
のうち、2次回折光だけを選択する選択フィルタと、選
択された2次回折光を逆フーリエ変換する第2のレンズ
と、光学的に逆フーリエ変換された光を受光する受光器
とを備えたことを特徴とする。
(作 用)
振幅格子のパターンの関数f (X)は、となり、(3
)式は bnmo ・・・(5) となる。
)式は bnmo ・・・(5) となる。
rrl
(4) (5) (6)式を(1)式に代入すると、で
表わされる。
表わされる。
但し、X;原点からの距離
前記振幅格子の光透過部l,と非透過部12の長さの比
は、2:lであり、第1図に示すように、光透過部11
の中心をY軸とし、光透過部l,の振幅を1とすると、
振幅格子のパターンの関数f (X)はY軸に対称であ
るから、前記《2)式は、rrl 振幅格子を通過した光を光学的にフーリエ変換する*i
のレンズに入射させたとき、その焦点距離に設けられた
フィルタ面に結像する像関係すなわち、像平面上の点像
の複素振幅は、次のフーリエ変換された式で与えられる
。
は、2:lであり、第1図に示すように、光透過部11
の中心をY軸とし、光透過部l,の振幅を1とすると、
振幅格子のパターンの関数f (X)はY軸に対称であ
るから、前記《2)式は、rrl 振幅格子を通過した光を光学的にフーリエ変換する*i
のレンズに入射させたとき、その焦点距離に設けられた
フィルタ面に結像する像関係すなわち、像平面上の点像
の複素振幅は、次のフーリエ変換された式で与えられる
。
F (Ij)− f .f (X)exp (2gj
ux ) dx −−−(7)(1′
)とく7)式から (7′)式の右辺第2項のterm Bにおいて、2次
の回折光は、(8〉式においてn−2を代入すると、 3次の回折光は、(8)式においてnm3を代入すると
、 exp (2xjux ) dx一δ( +u)十
δ(−i5−I+)l〕 であるから、 そこで、選択フィルタで2次の回折光のみを選択し、こ
れを逆フーリエ変換する第2のレンズで逆フーリエ変換
をする。
ux ) dx −−−(7)(1′
)とく7)式から (7′)式の右辺第2項のterm Bにおいて、2次
の回折光は、(8〉式においてn−2を代入すると、 3次の回折光は、(8)式においてnm3を代入すると
、 exp (2xjux ) dx一δ( +u)十
δ(−i5−I+)l〕 であるから、 そこで、選択フィルタで2次の回折光のみを選択し、こ
れを逆フーリエ変換する第2のレンズで逆フーリエ変換
をする。
n−Qすなわち0次の回折光は、
(7′)式の右辺の第2項のterIIB−0(7′)
式の右辺の第1項のterll Aはで表わされる。
式の右辺の第1項のterll Aはで表わされる。
1次の回折光は(8)式においてn−1を代入すると、
点像の強度は振輻の2乗に比例することが知られている
から、 2次回折光の強度分布I2は (9)式から である。
から、 2次回折光の強度分布I2は (9)式から である。
(9)式から明らかなようにフーリエ逆変換レンズを経
ることにより振幅格子のパターンに比べて2倍のピッチ
の明暗パターンが生ずる。
ることにより振幅格子のパターンに比べて2倍のピッチ
の明暗パターンが生ずる。
かくて逆フーリエ変換する第2のレンズから出射した光
を受光器で受光すれば、振幅格子の動きに対して変化す
る光の波数は従来のものと同じく振幅格子のビッチPの
2倍となる。
を受光器で受光すれば、振幅格子の動きに対して変化す
る光の波数は従来のものと同じく振幅格子のビッチPの
2倍となる。
(実施例)
以下本発明の実施例を図面につき説明する。
第2図は本発明の1実施例の説明図である。
同図において、1は回転軸2に固着された回転円盤で、
その周縁部には、回転円盤1の回転方向の長さの比が2
=1の関係にある光透過部3例えば透孔と非透過部4が
一定ピッチPで全周に亘って配設されていて振幅格子5
が形成されており、その回転円盤1は、例えばレーザ・
ダイオードから成る光源6に対して一定距離を保つて移
動するようになっている。
その周縁部には、回転円盤1の回転方向の長さの比が2
=1の関係にある光透過部3例えば透孔と非透過部4が
一定ピッチPで全周に亘って配設されていて振幅格子5
が形成されており、その回転円盤1は、例えばレーザ・
ダイオードから成る光源6に対して一定距離を保つて移
動するようになっている。
前記光源6から射出されたレーザ光(可干渉性の光)は
集光レンズ7で平行光線になり、その平行光線は前記振
幅格子5を介してフーリ工変換用凸レンズ8に入射する
ようになっている。
集光レンズ7で平行光線になり、その平行光線は前記振
幅格子5を介してフーリ工変換用凸レンズ8に入射する
ようになっている。
このフーリエ変換用凸レンズからその焦点距離f8だけ
離れた位置には2次回折光を選択する選択フィルタ9が
配設され、この選択フィルタ9の近傍に、選択フィルタ
9を通過した2次回折光を後述の逆フーリエ変換用凸レ
ンズ11に伝達するために用いるエレクタレンズIOが
配設される。また、逆フーリエ変換用凸レンズ1lはそ
の焦点距離r++だけ前記選択フィルタ9から離れた位
置に配設され、逆フーリエ変換用凸レンズl1からその
焦点距離I’l1だけ離れた位置に受光器l2が配設さ
れる。
離れた位置には2次回折光を選択する選択フィルタ9が
配設され、この選択フィルタ9の近傍に、選択フィルタ
9を通過した2次回折光を後述の逆フーリエ変換用凸レ
ンズ11に伝達するために用いるエレクタレンズIOが
配設される。また、逆フーリエ変換用凸レンズ1lはそ
の焦点距離r++だけ前記選択フィルタ9から離れた位
置に配設され、逆フーリエ変換用凸レンズl1からその
焦点距離I’l1だけ離れた位置に受光器l2が配設さ
れる。
光源6から射出されたレーザ光は回転円盤1の振幅格子
を通過すると、主としてO次、1次及び2次の回折光か
ら成る明暗パターンに形成され、フーリエ変換用凸レン
ズ8を通過すると各次数の回折光に分離され、選択フィ
ルタ9において結像される。そして選択フィルタ9によ
り2次回折光のみ選択される。この2次回折光はエレク
タレンズ10を経て逆フーリエ変換用凸レンズ11によ
り第3図示のように、受光器l2に前記振幅格子5のビ
ッチPの2倍のピッチの明暗パターンとなって入射する
。
を通過すると、主としてO次、1次及び2次の回折光か
ら成る明暗パターンに形成され、フーリエ変換用凸レン
ズ8を通過すると各次数の回折光に分離され、選択フィ
ルタ9において結像される。そして選択フィルタ9によ
り2次回折光のみ選択される。この2次回折光はエレク
タレンズ10を経て逆フーリエ変換用凸レンズ11によ
り第3図示のように、受光器l2に前記振幅格子5のビ
ッチPの2倍のピッチの明暗パターンとなって入射する
。
かくて回転円盤1が回転すると、その回転角に応じた波
数を有する電気信号が受光器12から出力する。回転円
盤1の回転角は、従来のものと同じように受光器l2か
ら出力する電気信号を波数をカウントすることによって
測定する。
数を有する電気信号が受光器12から出力する。回転円
盤1の回転角は、従来のものと同じように受光器l2か
ら出力する電気信号を波数をカウントすることによって
測定する。
(発明の効果)
本発明は上述の構或を有するから、従来のものと同様な
測定精度が得られると共に光学系が簡素で安価な測定装
置が得られる効果を有する。
測定精度が得られると共に光学系が簡素で安価な測定装
置が得られる効果を有する。
第1図は本発明の原理説明図、第2図は本発明の1実施
例の構造を示す概略図、第3図は振幅格子と受光器に入
射する明暗パターンとの関係を示す図である。 1・・・回転円盤 2・・・回転軸3・・・光透過
部 4・・・非透過部5・・・振幅格子 6・
・・光 源8・・・フーリエ変換用凸レンズ 9・・・選択フィルタ 11・・・逆フーリエ変換用凸レンズ t2・・・受光器 外3名
例の構造を示す概略図、第3図は振幅格子と受光器に入
射する明暗パターンとの関係を示す図である。 1・・・回転円盤 2・・・回転軸3・・・光透過
部 4・・・非透過部5・・・振幅格子 6・
・・光 源8・・・フーリエ変換用凸レンズ 9・・・選択フィルタ 11・・・逆フーリエ変換用凸レンズ t2・・・受光器 外3名
Claims (1)
- 光源に対して一定距離を保って移動するように配置され
、光透過部と非透過部の長さの比が2:1とされた振幅
格子と、該振幅格子を透過した光を光学的にフーリエ変
換する第1のレンズと、前記光学的フーリエ変換により
生ずる回折光のうち、2次回折光だけを選択する選択フ
ィルタと、選択された2次回折光を逆フーリエ変換する
第2のレンズと、光学的に逆フーリエ変換された光を受
光する受光器とを備えたことを特徴とする光学式測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15829689A JP2688988B2 (ja) | 1989-06-22 | 1989-06-22 | 光学式測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15829689A JP2688988B2 (ja) | 1989-06-22 | 1989-06-22 | 光学式測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0324417A true JPH0324417A (ja) | 1991-02-01 |
| JP2688988B2 JP2688988B2 (ja) | 1997-12-10 |
Family
ID=15668512
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15829689A Expired - Fee Related JP2688988B2 (ja) | 1989-06-22 | 1989-06-22 | 光学式測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2688988B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013221829A (ja) * | 2012-04-16 | 2013-10-28 | Fujitsu Ltd | 変位計測装置、変位計測方法及び変位計測プログラム |
| CN118032790A (zh) * | 2024-04-15 | 2024-05-14 | 季华实验室 | 一种类镜面物体缺陷检测方法及三维重建方法 |
-
1989
- 1989-06-22 JP JP15829689A patent/JP2688988B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013221829A (ja) * | 2012-04-16 | 2013-10-28 | Fujitsu Ltd | 変位計測装置、変位計測方法及び変位計測プログラム |
| CN118032790A (zh) * | 2024-04-15 | 2024-05-14 | 季华实验室 | 一种类镜面物体缺陷检测方法及三维重建方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2688988B2 (ja) | 1997-12-10 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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