JPH03246428A - 赤外線映像装置 - Google Patents

赤外線映像装置

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JPH03246428A
JPH03246428A JP2044001A JP4400190A JPH03246428A JP H03246428 A JPH03246428 A JP H03246428A JP 2044001 A JP2044001 A JP 2044001A JP 4400190 A JP4400190 A JP 4400190A JP H03246428 A JPH03246428 A JP H03246428A
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JP
Japan
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infrared
temperature
calibration
detection
mirror
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JP2044001A
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Takashi Tsuda
津田 敬
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 校正源を用いて赤外線検知器の検出信号の温度補正を行
なう赤外線映像装置に関し、 環境温度や赤外線検知器の感度などの変化に対する影響
を極力排除して正確な温度検出を行なうことを目的とし
、 校正源からミラー及び集光光学系を介して赤外線検知器
に入射された赤外線の検知信号を基準にして、その後に
該ミラー及び該集光光学系を介して被写体から該赤外線
検知器に入射される赤外線の検知信号の校正を行なう赤
外線映像装置において、前記校正源から放射される赤外
線パワーを連続的又は段階的に変化させる赤外線パワー
可変手段と、該赤外線パワー可変手段によりパワーが順
次変化する該校正源からの赤外線を所定の温度間隔毎に
前記赤外線検知器で検知して得た検知信号とイのときの
該校正源の温度とに関するデータを配憶する記憶手段と
、前記被写体の搬像時に該赤外線検知器から取り出され
る被写体からの赤外線の検知信号に基づいて該V憶手段
からデータを読み出し、該被写体からの赤外線に対応し
た温度の検出処理を行なう検出手段とより構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は赤外線映像装置に係り、特に校正源を用いて赤
外線検知器の検出信号の温度補正を行なう赤外線映像装
置に関する。
〔従来の技術〕
第5図は従来の赤外線映像装置の一例のブロック図を示
す。同図中、1は対物面走査型の走査鏡で、撮像対象を
走査し、また校正用黒体2を走査する。走査1t1の走
査角、走査周期等は走査制御部3により制御されている
。
走査線1で反射された赤外光は、集光光学系4を透過し
て集光されて赤外線検知器5に入射される。この赤外線
検知器5は画素を構成する赤外検知素子が1個のもの、
複数個の赤外検知素子が一次元配列されたりニアアレイ
型のもの、赤外検知素子がマトリクス状に二次元配列さ
れたもの、のいずれでも差し支えない。
赤外線検知器5により入射赤外光を光電変換して得られ
た微弱な電気信号は増幅器6で所要のレベルまで増幅さ
れて検知電圧とされた後、演算部7に供給される。演算
部7はリード・オンリ・メモリ(ROM)等のメモリを
有し、またディジタル演算処理のための回路部を有し、
既知の温度の校正用黒体2を走査したときに得られた検
知電圧を基準にしてN像対象の検知電圧を補正演算して
、対応する温度値を算出し、更にその温度値を示す信号
を映像信号に変換して表示部8に供給する。
表示部8は同期制御部9からの走査鏡1の走査に同期し
た掃引信号が供給され、走査位置に対応した位置に、上
記の温度値を示す映像信号を画面に画像表示する。
なお、赤外線検知器5付近の機械的構造は第6図に示す
如く構成されているのが一般的である。
同図中、5aは赤外線検知器で、前記した赤外線検知器
5に相当し、ここでは複数個の赤外検知素子が一次元配
列されたりニアアレイ型としている。
この赤外線検知器5aはコールドへラド11上に取付け
られ、またその視野が冷却された開口であるコールドア
パーチャ12によって制限される構成とされており、こ
れらは容器13内の真空中に収納されている。
また、赤外線検知器5aの受光面側前方の容器13には
、赤外線を透過する例えばゲルマニウム製のウィンド1
4が設けられており、更にその前方には前記した集光光
学系4を構成する複数枚のレンズのうちの最後の1枚で
ある集光レンズ15が鏡筒16に取付けられて配置され
ている。
ここで、コールドアパーチャ12は赤外線検知器5aが
集光レンズ15のレンズ面を見込むように、第7図の平
面図に示すように、赤外線検知器5aの形状に応じて長
方形の開口12aを有する。
しかし、実際は赤外線検知器5aは両端の赤外検知素子
の視野を確保するため、第6図に破線17で示す如く集
光レンズ15のレンズ面以外の鏡筒16も見込まざるを
得ないようになっている。この点は、リニアアレイ型で
なくとも、多少はあるが、他の構成の赤−外線検知器で
も同じである。
ところで、従来より演算部7による補正演算には、■−
点校正や■二点校正がある。−点校正は校正用黒体2と
して既知の一定温度の単一の校正用黒体を使用し、かつ
、予め製造段階で赤外線検知器5の赤外検知素子夫々に
ついて、種々の基準温度とそのときの検出電圧との特性
(第8図に曲線工で示す)をテーブルとして演算部7内
のROMに格納しておく。そして、実際の撮像時におい
て、被写体撮像時の赤外検知素子の特性が第8図に一点
鎖線■で示す如く変化している場合でも、同図にTOで
示す温度の校正用黒体2を適宜撮像した時に得られる検
出電圧Voを基準にして補正演算することにより、同図
に1で示す特性で得られる正確な温度表示を行なうこと
ができる。
また、二点校正の場合には、校正用黒体2として温度が
異なる2つの基準黒体を用意し、実際の撮像時に温度T
+−+の第1の校正用黒体を撮像したときの赤外線検知
器5の検知電圧v1と温度Tしの第2の校正用黒体を撮
像したときの赤外線検知器5の検知電圧v2との差(V
I  V2)と、第1及び第2の校正用黒体Ill待時
規定の検知電圧VH,VL(7)差(VH−VL )と
の比である補正係数を演算部7で算出し、次いで被写体
の撮像時に得られる検知電圧から上記検知電圧v2を差
し引いた差分値Voに前記補正係数を乗じ、更にこの乗
算値に上記検知電圧V1を加算することにより補正値を
得る。
これにより、成る環境温度下で第9図(△)にaで示す
如く、第1.第2の校正用黒体撮像時の検知電圧がVa
H,VaLであり、また別の環境温度下では同図(A)
にbで示す如く、Vl))I、 VbLである場合でも
、上記した補正演算動作によって同図(B)に実線IV
で示す如く、第1の校正用黒体撮像時はVH,第2の校
正用黒体撮像時はVLの各補正値を得ることができ、環
境温度の変化を受けない安定な温度測定機能を有するこ
とができる。
なお、二点校正の別の方法としては、校正用黒体2は一
つのみとし、走査鏡1を特定の角度に走査されたときに
赤外線検知器5を見るようにしく赤外線検知器5が走査
鏡1を介して自分自身を撮像する)、この時に得られる
極低温に対応する零レベル信号と、校正用黒体2の撮像
時の検知電圧との2つの信号から装置の動作状態をモニ
タする方法も従来より知られている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかるに、装置の環境温度が変化すると、第6図に示し
た鏡筒16の温度が変化し、これにより赤外線検知器5
 (5a)に背景光として入射される赤外線パワー(直
流分)が変化することになる。
赤外線パワーと検知電圧との関係は第10図に示す如く
非線形特性となっているため、装置の環境温度が所定値
のときの入射赤外線パワーがP。のときVSOなる検知
電圧が得られても、装置の環境温度が変化して入射赤外
線パワーがPl又はPlに変化すると、撮像対象からの
赤外線パワー(交流会)が変化していないにも拘らず、
得られる検知電圧はVSl又はVS2のようにVsOと
異なる振幅となり、温度対検出電圧特性が変化してしま
う。
また、集光光学系4の軽年変化による赤外線検知器5へ
の入射赤外線パワーの減少、赤外線検知器5自体の劣化
や感度変化、増幅器6のゲイン変動などによっても、温
度対検知電圧特性が変化してしまう。
温度対検知電圧特性が変化すると、第8図に示した一点
校正の場合は所望の基準特性工とは傾斜が異なる特性が
得られてしまうため、−点校正しても同図に■で示すよ
うな特性しか得られず、正確な温度検出ができなくなる
。
また、第9図に示した二点校正の場合は温度対検知電圧
特性の非線形性のために、二点校正しても同図<8)に
−点鎖線Vで示す如く所望の特性■とは異なる特性しか
得られなくなり、完全な補正はできない。
そこで、装置の環境温度変化に伴う鏡筒16の温度変化
を補正するため、例えば本出願人が先に特願平1−81
76号にで提案した赤外線R像装置のように、M筒16
内に温度センサを設け、この温度センサの温度データと
鏡筒16の温度変動に対応した赤外検知電圧を予めメモ
リにテーブルとして記憶しておき、実際の撮像時に赤外
検知電圧と補正値〈これはそのときの温度データに対応
してメモリから読み出した検知電圧)とに基づいて算術
論理演算ユニットで演算して温度安定度を向上すること
が考えられる。
しかし、この提案装置では鏡筒16の温度変化による影
響は補正できても、第6図の集光レンズ15より入射側
にある他の集光光学系の光学エレメントの温度変化によ
る赤外放射の変化及び前記した各種変動要因による影響
は補正することができない。
本発明は以上の点に鑑みてなされたもので、環境温度や
赤外線検知器の感度などの変化に対する影響を極力排除
して正確な温度検出ができる赤外線映像装置を提供する
ことを目的とする。
(課題を解決するための手段〕 第1図は本発明の原理構成図を示″g。本発明IJ校正
源101.ミラー102.集光光学系103及び赤外線
検知器104を有する赤外線映像装置において、校正源
101から放射される赤外線パワーを連続的又は段階的
に変化させる赤外線パワー可変手段105と、記憶手段
106及び検出手段107とを設けたものである。
ここで、記憶手段106は校正源101からの赤外線を
所定の温度間隔毎に赤外線検知器104で検知して得た
検知信号と、そのときの校正源101の温度とに関する
データを記憶する。
また、検出手段107は被写体の撮像時に赤外線検知器
104から取り8される検知信号に基づいて記憶手段?
06からデータを読み出し、被写体からの赤外線に対応
した温度の検出処理を行なう。
〔作用) 本発明は被写体と同じ条件下にある校正源101の温度
を一定とするのではなく、装置の対象とする温度範囲の
上限付近から下限付近まで連続的又は段階的に可変し、
そのとき得られる検知信号のうち所定温度間隔毎の検知
信号とそのときの温度とに関するデータを記憶手段10
6に記憶した後、実際の@像動作に入るようにする。
従って、本発明では実際の撮像動作に入る前色に、その
時点での装置の環境温度、集光光学系103の光学エレ
メントの温度変化による赤外放射の変化や経年変化によ
る到達パワーの減少、赤外線検知器104の劣化などを
すべて包含した形で検知信号と正しい温度情報とを記憶
手段106に記憶しておくことができる。
なお、ミラー102は対物面走査型の走査鏡でも、無走
査型のポインティングミラーでもよい。また、赤外線検
知器104が多素子検知器の場合には、記憶手段106
には赤外検知素子の各々についての前記データが格納さ
れる。
〔実施例〕
第2図は本発明の一実施例のブロック図を示す。
同図中、第1図及び第5図と同一構成部分には同一符号
を付し、その説明を省略する。第2図において、20は
校正用黒体で、前記校正源101に相当し、熱容量の小
さい材料(アルミニウム等)を用いた、赤外エミシビテ
イが約1の薄板とされている。熱容量が小さい材料を用
いるのは、校正用黒体20の温度を容易に変化させるこ
とができるようにするためである。
上記の校正用黒体20の一部には1個又は複数の温度セ
ンサ21が取付けられており、また加熱又は冷却器22
により加熱又は冷加されるように構成されている。加熱
又は冷却器22は前記した赤外線パワー可変手段105
を構成しており、校正用黒体20の温度を装置の対象と
する温度範囲の上限、下限付近まで変化させるために、
■最初は校正用黒体20を低温にしておき、校正の開始
と共にヒータ等によって加熱するか、又は■最初は校正
用黒体20を高温にしておき、校正の開始と共に電子冷
却器等によって冷却するのいずれかの構成とされている
。
加熱又は冷却器22による校正用黒体20の温度変化は
連続的又は段階的に行なわれる。連続的温度変化の場合
は加熱温度を最大(冷却温度を最低)にするのみでよい
が、温度が片々刻々と変化するため、演算部25の処理
速度が早い必要がある。段階的な温度変化の場合はヒー
タや電子冷却器の電力を適当な段階で変化させ、温度の
安定をまって処理することができるため、演算部25の
処理速度は遅くてもよい。
低温側がO’C以下になるような場合は、校正精度を維
持するために、霜の付着を防止するための配慮(例えば
、校正用黒体20を窒素ガスの雰囲気中に置く〉をする
必要がある。
また、23は増幅器、24はスイッチ回路、25及び2
6は夫々演算部である。スイッチ回路24は走査111
11]部3からの信号により、走査鏡1が校正用黒体2
0を走査している期間は端子24a側に切換わり、走査
H1が被写体を走査している期間は端子24b側に切換
ねり、増幅器6からの検知電圧を演算部25及び26の
一方に選択入力する。
演算部25は前記記憶手段106に相当するランダム・
アクセス・メモリ(RAM)を有しており、またスイッ
チ回路24からの検知電圧や増幅器23からの温度信号
をディジタル信号に変換するA/DコンバータやRAM
へのデータの書き込み/読み出し制御回路などを有して
いる。更に、演算部26は前記検出手段107に相当す
る演算処理や映像信号への変換を行なう回路部で、スイ
ッチ回路24からの検知電圧に対応した温度を示す映像
信号を生成する。
第2図中、表示部8を除いた部分が第3図に示す同じ筐
体30内に内蔵されている。第3図は第2図の要部の外
観概略図で、走査鏡1の走査範囲θ内に校正用黒体20
と窓31が設けられている。
窓31を通して走査鏡1により走査される走査範囲が被
写体が位置する視野32である。
次に本実施例の動作について説明する。まず、走査鏡1
が校正用黒体20を走査する(校正モード)。また、こ
れと同時に加熱又は冷却器22により校正用黒体20を
例えば装置の対象とする温度範囲の下限付近から上限付
近まで加熱していく。
これにより、校正用黒体20から放射される赤外線パワ
ーは順次変化し、またその放射赤外線は走査鏡1で反射
され、集光光学系4で集光されて赤外線検知器5に入射
され、ここで光電変換されて微弱な電気信号に変換され
た後、増幅器6及びこの校正モード時は端子24a側に
接続されているスイッチ回路24を通して演算部25に
入力される。
この演算部25には、更に温度センサ21により抽出さ
れた校正用黒体20の温度信号が増幅器23を通して入
力されており、この温度信号とスイッチ回路24を通し
て入力された検知電圧を夫々対応させて、演算部25内
のRAMに格納する。
すなわち、演算部25は校正用黒体20の温度を正確に
温度センサ21で測定して得られた温度信号に基づき、
適当な温度間隔Δ丁で所定数検知電圧をサンプリングし
、そのサンプリング検知電圧及びそのときの温度とから
なる情報(切点)間を結ぶ関数式(2次乃至4次式)を
算出し、その関数式の各係数の値と各切点とをRAMに
格納する。
例えば、上記の切点として第4図にd+ 、d2゜d3
及びd4で示す如く、温度と検知電圧の組が(T+ 、
V+ >、(T2.V2 )、(T3.V3 )及U 
(T4 、 V4 )である4つの切点を得たものとす
ると、演算部25はこれら切点d1〜d4を結ぶ、第4
図に■で示す曲線の関数式を算出し、その関数式の各係
数の値と上記切点d1〜d4の情報とをRAMに格納す
る。
次に、走査鏡1が被写体を走査する(撮像モード〉。こ
れにより、被写体1がらの赤外線が第2図に示す走査鏡
1.集光光学系4を通して赤外線検知器5に入射される
。これにより、赤外線検知器5より取り出された電気信
号は増幅器6.この撮像モード中、端子24bに接続さ
れているスイッチ回路24を夫々通して検知電圧として
演算部26に入力される。
演算部26は演算部25内のRAMから前記した関数式
の各係数の値を読み出し、これにより関数式を再現し、
このときの被写体の検知電圧をその関数式に代入して対
応する温度を演算算出した後、それを表示部8で表示で
きる映像信号に変換する。
従って、本実施例によれば、赤外線検知器5が第6図に
示したように鏡筒を見込んでいることにより装置の環境
温度に左右されたとしても、その環境温度を含んだ形で
校正用黒体20からの赤外線が検知され、かつ、その時
の正確な温度が温度センサ2]により検出されているか
ら、正確な測温機能を有することができる。しかも、校
正モード時に演算部25に入力される検知電圧は、集光
光学系4の経年変化による到達パワーの減少、赤外線検
知器5の感度劣化、集光光学系4の光学エレメントの温
度変化による赤外放射の変化、増幅器6のゲイン変動な
ど種々の温度対検知電圧変動要因を現時点ですべて含ん
だ情報であるから、撮像モード時の演算部26の検出出
力にそれらの影響を受けることもない。
なお、赤外線検知器5がリニアアレイ41又はマトリク
ス状に多数の赤外検知素子が配置された二次元配列型の
多素子検知器である場合は、各赤外検知素子の夫々につ
いて別々に上記の切点及び関数式の各係数の値のRAM
への記憶が行なわれる。
各赤外検知素子間で感度にばらつきがあるためである。
なお、本発明は上記の実施例に限定されるものではなく
、例えば演算部25は■直線近似が成り立つ程度に前記
温度間隔Δ丁を小さくし、これにより得られた各切点だ
けをRAMに格納してもよく、または■各切点情報から
多数の検知電圧と温度との対応表を予め演算して求め、
その対応表をテーブルとしてRAMに記憶しておいても
よい。
演算部26は■の場合は、撮像モードでの入力検知電圧
に近い値の検知電圧を演算部25内のRAMから読み出
し直線近似式の演算によって温度情報を算出する。また
、■の場合は撮像モードでの入力検知電圧に対応する温
度を演算することなくテーブルから直ちに求めることが
できる。
また、走査鏡1は対物面走査型の走査鏡として説明した
が、本発明は走査鏡1の代りに視野の方向を変更するた
めのポインティングミラーを備えた、CCD系を用いた
無走査型の赤外線映像装置にも適用することができる。
この無走査型赤外線映像装置は人工衛星又は航空機搭載
用であって、装置全体が所定方向へ移動することによっ
て走査が行なえるため、ミラーで走査を行なわなくても
差し支えない。ただし、校正モードと@像モードではポ
インティングミラーによって視野を切換える必要がある
。
〔発明の効果〕
上述の如く、本発明によれば、装置の環境温度変化や集
光光学系の光学エレメントの温度変化による赤外放射の
変化、経年変化による各素子の劣化など種々の温度対検
知電圧特性の変動要因を含んだ状態の検知電圧と、その
ときの正確な温度とに関するデータを校正モードで記憶
しているため、撮像モード時には上記の変動要因の影響
の殆どない正確な温度情報を得ることができ、赤外線映
像装置の信頼性を大幅に向上することができる等の特長
を有するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理構成図、 第2図は本発明の一実施例のブロック図、第3図は本発
明の要部の一実施例の外観概略図、第4図は本発明の一
実施例の要部説明用特性図、第5図は従来の一例のブロ
ック図、 第6図は赤外線映像装置の要部の一例の構成図、第7図
はりニアアレイ型赤外線検知器とコールドアパーチャと
の位置関係を示す図、 第8図は一点校正による特性説明図、 第9図は二点校正による特性説明図、 第10図は環境温度変化時の赤外線パワーの検出電圧と
の関係を示す図である。 図において、 4. 103は集光光学系、 5、 104は赤外線検知器、 20は校正用黒体、 21は温度センサ、 22は加熱又は冷却器、 24はスイッチ回路、 25.26は演算部、 101は校正源、 102はミラー 105は赤外線パワー可変手段、 106は記憶手段、 107は検出手段 を示す。 検出電圧 本発明の一実施例の要部説明用特性図 第 図 赤外線映像装置の要部の 例の構成図 第 図 X方向 ノニアアレイ型赤外線検知器と コールドアパーチャとの位置関係を示す図第7図 検出電圧 点校正1こよる特性説明図 第8区 検出電圧 υヒ奉 検出電圧との関係を示す図 第10図 検出電圧V 検出電圧V 二点校正1こよる特性説明図 第 図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)校正源(101)からミラー(102)及び集光
    光学系(103)を介して赤外線検知器(104)に入
    射された赤外線の検知信号を基準にして、その後に該ミ
    ラー(102)及び該集光光学系(103)を介して被
    写体から該赤外線検知器(104)に入射される赤外線
    の検知信号の校正を行なう赤外線映像装置において、 前記校正源(101)から放射される赤外線パワーを連
    続的又は段階的に変化させる赤外線パワー可変手段(1
    05)と、 該赤外線パワー可変手段(105)によりパワーが順次
    変化する該校正源(101)からの赤外線を所定の温度
    間隔毎に前記赤外線検知器(104)で検知して得た検
    知信号とそのときの該校正源(101)の温度とに関す
    るデータを記憶する記憶手段(106)と、 前記被写体の撮像時に該赤外線検知器(104)から取
    り出される被写体からの赤外線の検知信号に基づいて該
    記憶手段(106)からデータを読み出し、該被写体か
    らの赤外線に対応した温度の検出処理を行なう検出手段
    (107)と、 を具備することを特徴とする赤外線映像装置。
  2. (2)前記赤外線検知器(104)は複数の赤外検知素
    子が配列された多素子検知器であり、前記記憶手段(1
    06)は該複数の赤外検知素子の各々について前記デー
    タを記憶することを特徴とする請求項1記載の赤外線映
    像装置。
  3. (3)前記ミラー(102)は、対物面走査型の走査鏡
    であることを特徴とする請求項1記載の赤外線映像装置
    。
  4. (4)前記ミラー(102)は視野の方向を前記校正源
    (101)と被写体の一方だけに設定し、該被写体の走
    査は行なわないポインティングミラーであることを特徴
    とする請求項1記載の赤外線映像装置。
JP2044001A 1990-02-23 1990-02-23 赤外線映像装置 Pending JPH03246428A (ja)

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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07507390A (ja) * 1992-05-26 1995-08-10 フリル システムズ アクチボラゲット 検出器の較正
JPH07507389A (ja) * 1992-05-26 1995-08-10 フリル システムズ アクチボラゲット 赤外線像記録装置
JPH10111172A (ja) * 1996-10-09 1998-04-28 Fujitsu Ltd 赤外線撮像装置の感度補正方式
JPH10115557A (ja) * 1996-10-15 1998-05-06 Nippon Avionics Co Ltd 赤外線センサー温度補正方法及び装置並びに2次元赤外線センサーを用いた赤外線サーモグラフィー
JPH11132859A (ja) * 1997-10-31 1999-05-21 Mitsubishi Electric Corp 赤外線映像装置
JP2000513518A (ja) * 1996-06-14 2000-10-10 シマゲ オユ イメージングデバイスの較正法及びシステム
JP2000295528A (ja) * 1999-04-02 2000-10-20 Nissan Motor Co Ltd 熱型赤外線撮像素子
JP2001008100A (ja) * 1999-06-23 2001-01-12 Fujitsu Ltd 赤外線撮像装置及び素子欠陥補償方法
JP2002181626A (ja) * 2000-12-15 2002-06-26 Nippon Avionics Co Ltd 赤外線熱画像装置
JP2008185465A (ja) * 2007-01-30 2008-08-14 Nec Electronics Corp 赤外線センサの温度補償方法および装置
JP2015014509A (ja) * 2013-07-04 2015-01-22 富士通株式会社 赤外線検知装置
JP2018200206A (ja) * 2017-05-26 2018-12-20 日本アビオニクス株式会社 赤外線撮影装置
JP2019529899A (ja) * 2016-09-09 2019-10-17 ザ ユニバーシティ オブ シェフィールド サーマル画像データを生成するための装置および方法
CN115876336A (zh) * 2022-12-14 2023-03-31 西安应用光学研究所 一种实时扫描反射式黑体辐射源校准装置

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07507390A (ja) * 1992-05-26 1995-08-10 フリル システムズ アクチボラゲット 検出器の較正
JPH07507389A (ja) * 1992-05-26 1995-08-10 フリル システムズ アクチボラゲット 赤外線像記録装置
JP2000513518A (ja) * 1996-06-14 2000-10-10 シマゲ オユ イメージングデバイスの較正法及びシステム
JPH10111172A (ja) * 1996-10-09 1998-04-28 Fujitsu Ltd 赤外線撮像装置の感度補正方式
JPH10115557A (ja) * 1996-10-15 1998-05-06 Nippon Avionics Co Ltd 赤外線センサー温度補正方法及び装置並びに2次元赤外線センサーを用いた赤外線サーモグラフィー
JPH11132859A (ja) * 1997-10-31 1999-05-21 Mitsubishi Electric Corp 赤外線映像装置
JP2000295528A (ja) * 1999-04-02 2000-10-20 Nissan Motor Co Ltd 熱型赤外線撮像素子
JP2001008100A (ja) * 1999-06-23 2001-01-12 Fujitsu Ltd 赤外線撮像装置及び素子欠陥補償方法
JP2002181626A (ja) * 2000-12-15 2002-06-26 Nippon Avionics Co Ltd 赤外線熱画像装置
JP2008185465A (ja) * 2007-01-30 2008-08-14 Nec Electronics Corp 赤外線センサの温度補償方法および装置
JP2015014509A (ja) * 2013-07-04 2015-01-22 富士通株式会社 赤外線検知装置
JP2019529899A (ja) * 2016-09-09 2019-10-17 ザ ユニバーシティ オブ シェフィールド サーマル画像データを生成するための装置および方法
JP2018200206A (ja) * 2017-05-26 2018-12-20 日本アビオニクス株式会社 赤外線撮影装置
CN115876336A (zh) * 2022-12-14 2023-03-31 西安应用光学研究所 一种实时扫描反射式黑体辐射源校准装置

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