JPH0324792A - 電波暗室 - Google Patents
電波暗室Info
- Publication number
- JPH0324792A JPH0324792A JP15843389A JP15843389A JPH0324792A JP H0324792 A JPH0324792 A JP H0324792A JP 15843389 A JP15843389 A JP 15843389A JP 15843389 A JP15843389 A JP 15843389A JP H0324792 A JPH0324792 A JP H0324792A
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- JP
- Japan
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- tiles
- sides
- machined
- ceiling
- ferrite
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- Granted
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- 230000004907 flux Effects 0.000 claims abstract description 4
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Landscapes
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は電波暗室に関し、特に10m法以上の試験が可
能な大型構造に適した電波暗室に関する。
能な大型構造に適した電波暗室に関する。
(従来の技術)
電子機器の放射雑音を正確に測定するために電波暗室内
の試験場が実用化されている。従来は3m法の試験を実
施する施設が主流であったが測定精度向上、機器の大型
化などに伴い10m法の試験場も設置されるようになっ
てきた。このような大型電波暗室では室内空間が常に試
験周波数の波長以上であるため、全壁面からの反射波が
伝搬性能に影響する。従って、小型電波暗室に比較して
反射による伝搬異常が発生しやすい。
の試験場が実用化されている。従来は3m法の試験を実
施する施設が主流であったが測定精度向上、機器の大型
化などに伴い10m法の試験場も設置されるようになっ
てきた。このような大型電波暗室では室内空間が常に試
験周波数の波長以上であるため、全壁面からの反射波が
伝搬性能に影響する。従って、小型電波暗室に比較して
反射による伝搬異常が発生しやすい。
放射雑音評価用試験場の適合性は理論サイト・アッテネ
ーションからの偏差で判定され、許容偏差値は30MH
z〜I G}Izの範囲で理論値±4dB以内である。
ーションからの偏差で判定され、許容偏差値は30MH
z〜I G}Izの範囲で理論値±4dB以内である。
このような電波暗室に使用する電波吸収体は全周波数範
囲で一定値以上の電波吸収量を示せばよい。電波吸収性
能は入射角にも依存するので一意的に決定することは出
来ないが、30MHzにおいて15dB以上の反射減衰
量は必要である。放射雑音評価用電波暗室に使用してい
る複合型電波吸収体(フェライトタイルと導電性発泡ス
チロールの組み合わせ)は周波数分担型の動作機構であ
るから、現状の性能では低周波側の吸収を分担するフェ
ライトを改善しなければならない。
囲で一定値以上の電波吸収量を示せばよい。電波吸収性
能は入射角にも依存するので一意的に決定することは出
来ないが、30MHzにおいて15dB以上の反射減衰
量は必要である。放射雑音評価用電波暗室に使用してい
る複合型電波吸収体(フェライトタイルと導電性発泡ス
チロールの組み合わせ)は周波数分担型の動作機構であ
るから、現状の性能では低周波側の吸収を分担するフェ
ライトを改善しなければならない。
フェライトの吸収性能を改善するには、初透磁率の高い
材質を開発すると共にタイルとして施工した時に初透磁
率を維持できる手段を講ずる必要がある。
材質を開発すると共にタイルとして施工した時に初透磁
率を維持できる手段を講ずる必要がある。
第2図はフェライトの透磁率μと周波数゛fの関係を示
し、透磁率μの実数部はおおむねある周波数まで一定で
、それ以上の周波数ではしだいに低下し、又虚数部は図
示のごとき山形特性を示し、実数部と虚数部が周波数f
に対し共に低下傾向を示す図のA又はBの周波数帯で優
れた電波吸収特性が得られる。そして、透磁率(実数部
)の小さなフェライトは図のAで示す高い周波数帯で優
れた電波吸収特性を示し、透磁率(実数部)の大きなフ
ェライトは図のBで示すごとく低い周波数帯で優れた電
波吸収特性を示す。
し、透磁率μの実数部はおおむねある周波数まで一定で
、それ以上の周波数ではしだいに低下し、又虚数部は図
示のごとき山形特性を示し、実数部と虚数部が周波数f
に対し共に低下傾向を示す図のA又はBの周波数帯で優
れた電波吸収特性が得られる。そして、透磁率(実数部
)の小さなフェライトは図のAで示す高い周波数帯で優
れた電波吸収特性を示し、透磁率(実数部)の大きなフ
ェライトは図のBで示すごとく低い周波数帯で優れた電
波吸収特性を示す。
従って、低周波数帯での吸収特性を改善するには、透磁
率の大きなフェライトを用いる必要があることがわかる
。
率の大きなフェライトを用いる必要があることがわかる
。
しかしながら、フェライトは、所定の大きさのタイル状
に整形されたものを貼り合せて用いるので、貼り合せる
際に隣のタイルとの間に隙間があると、隙間のために、
実効的な透磁率は大きく低下してしまう。従来の電波吸
収体ではタイルを焼結後加工せずに貼り付けているが、
この工法ではタイル間の接触面積が少なく不安定なため
フェライト面の磁気抵抗が増加して低周波側の吸収性能
を損ねる。タイル間の接触を改善する方法として大きさ
の揃った正(長)方形に機械加工する方法があるが、こ
の方法では加工に多大の時間がかかり、品質管理が困難
である。特にタイルの4辺を全て機械加工して完全な方
形にして、隣接タイルとの隙間をなくすことは非常に困
難である。
に整形されたものを貼り合せて用いるので、貼り合せる
際に隣のタイルとの間に隙間があると、隙間のために、
実効的な透磁率は大きく低下してしまう。従来の電波吸
収体ではタイルを焼結後加工せずに貼り付けているが、
この工法ではタイル間の接触面積が少なく不安定なため
フェライト面の磁気抵抗が増加して低周波側の吸収性能
を損ねる。タイル間の接触を改善する方法として大きさ
の揃った正(長)方形に機械加工する方法があるが、こ
の方法では加工に多大の時間がかかり、品質管理が困難
である。特にタイルの4辺を全て機械加工して完全な方
形にして、隣接タイルとの隙間をなくすことは非常に困
難である。
(発明が解決しようとする課題)
本発明は簡単な機械加工によるフェライトを用いて、フ
ェライト素材が本来もつ高い透磁率を減殺せずに低周波
数帯での吸収特性の優れた電波暗室を提供することを目
的とする。
ェライト素材が本来もつ高い透磁率を減殺せずに低周波
数帯での吸収特性の優れた電波暗室を提供することを目
的とする。
(課題を解決するための手段)
本発明の特徴は、天井面及び壁面にフェライトを含むタ
イルを貼り合せた電波暗室において、各タイルは1組の
対向平行辺のみが機械加工され、天井及び壁面の磁束の
方向にタイルが磁気的に連続となるように、タイルの前
記機械加工された辺が隣接するタイルの機械加工された
辺と結合するごとくタイルが配置される電波暗室にある
。
イルを貼り合せた電波暗室において、各タイルは1組の
対向平行辺のみが機械加工され、天井及び壁面の磁束の
方向にタイルが磁気的に連続となるように、タイルの前
記機械加工された辺が隣接するタイルの機械加工された
辺と結合するごとくタイルが配置される電波暗室にある
。
(作用)
タイルが1組の対向平行辺のみが機械加工されて、機械
加工された辺が隣接タイルの当該辺と結合するように、
次々と貼り合される。従って、タイルの当該辺の間の隙
間はほとんどなく、該辺と直交する方向には、タイルは
磁気的に連続で大きな透磁率をもつ。
加工された辺が隣接タイルの当該辺と結合するように、
次々と貼り合される。従って、タイルの当該辺の間の隙
間はほとんどなく、該辺と直交する方向には、タイルは
磁気的に連続で大きな透磁率をもつ。
そして、電波暗室の天井及び壁面は、特定のひとつの方
向にのみ高い透磁率をもてば高い吸収特性が得られるの
で、該方向をタイルが高い透磁率をもつ方向と一致させ
る。
向にのみ高い透磁率をもてば高い吸収特性が得られるの
で、該方向をタイルが高い透磁率をもつ方向と一致させ
る。
以上の構成により、タイルの全辺を機械加工しなくても
、実効的に高い透磁率をもつタイルにより低周波吸収特
性の優れた電波暗室が得られる。
、実効的に高い透磁率をもつタイルにより低周波吸収特
性の優れた電波暗室が得られる。
(実施例)
放射雑音評価用電波暗室にダイボール・アンテナを置い
て壁面からの反射と測定誤差の関係を検討してみると、
偏波面により寄与が異なることが判かる。この関係を偏
波面に応じて定性的に示すと、 水平偏波:天井〉前後の壁〉側壁 垂直偏波:側壁寺前後の壁〉天井 以上のようになり、水平偏波では天井、垂直偏波では周
囲の壁面の吸収性能が測定精度に影響する。特定の偏波
に対する吸収性能を改善するために本発明では、磁束が
通過する方向の透磁率(磁気抵抗)を改善する。電波暗
室用のタイルにこの方法を当てはめ、向かい合う2辺を
平行に機械加工して磁気抵抗を低減することにより性能
維持を図る。
て壁面からの反射と測定誤差の関係を検討してみると、
偏波面により寄与が異なることが判かる。この関係を偏
波面に応じて定性的に示すと、 水平偏波:天井〉前後の壁〉側壁 垂直偏波:側壁寺前後の壁〉天井 以上のようになり、水平偏波では天井、垂直偏波では周
囲の壁面の吸収性能が測定精度に影響する。特定の偏波
に対する吸収性能を改善するために本発明では、磁束が
通過する方向の透磁率(磁気抵抗)を改善する。電波暗
室用のタイルにこの方法を当てはめ、向かい合う2辺を
平行に機械加工して磁気抵抗を低減することにより性能
維持を図る。
第1図は本発明による電波暗室10を示し、暗室の長平
方向Nに沿って供試体(又は送信アンテナ)と受信アン
テナが配置されるものとする。フェライトの透磁率は、
水平偏波の場合には天井面l2のフェライトのN方向の
透磁率が高いことが好ましく、又垂直偏波の場合には壁
面14.16 (及び対向壁面)の水平面と平行な方
向の透磁率が高いことが好ましい。電波暗室は水平偏波
及び垂直偏波の両方に優れた特性をもつ必要があるので
、天井及び4面の壁面のタイルは全てN方向及び水平面
と平行な方向の透磁率が大きくなるように貼ればよい。
方向Nに沿って供試体(又は送信アンテナ)と受信アン
テナが配置されるものとする。フェライトの透磁率は、
水平偏波の場合には天井面l2のフェライトのN方向の
透磁率が高いことが好ましく、又垂直偏波の場合には壁
面14.16 (及び対向壁面)の水平面と平行な方
向の透磁率が高いことが好ましい。電波暗室は水平偏波
及び垂直偏波の両方に優れた特性をもつ必要があるので
、天井及び4面の壁面のタイルは全てN方向及び水平面
と平行な方向の透磁率が大きくなるように貼ればよい。
フェライトタイルは2組の平行辺を有する方形で、それ
らのうちの1組の平行辺20a, 20bのみを精密に
平行に機械加工する。他の1組の平行辺は機械加工をし
なくてもよい。
らのうちの1組の平行辺20a, 20bのみを精密に
平行に機械加工する。他の1組の平行辺は機械加工をし
なくてもよい。
フェライトは、機械加工をした精密平行辺が相互に隣接
するごとく、天井及び各壁面に貼り合せる。従って、N
方向(又は水平面と平行な方向)には実質的に隙間なく
フェライトが貼られ、N方向に大きな透磁率が得られる
。N方向と直交するM方向ではフェライトタイルの間に
わずかな隙間があり(図では隙間が拡大されている)、
M方向の透磁率は小さいが、電波暗室の吸収特性には影
響はない。
するごとく、天井及び各壁面に貼り合せる。従って、N
方向(又は水平面と平行な方向)には実質的に隙間なく
フェライトが貼られ、N方向に大きな透磁率が得られる
。N方向と直交するM方向ではフェライトタイルの間に
わずかな隙間があり(図では隙間が拡大されている)、
M方向の透磁率は小さいが、電波暗室の吸収特性には影
響はない。
(発明の効果)
以上のごとく、一方の平行辺のみを機械加工した簡単な
フェライトタイルを用いて低周波帯での水平偏波及び垂
直偏波の吸収特性の優れた電波暗室を得ることができ、
従って、lOm法以上の大型の電波暗室に適用して有用
である。なお方形以外の形のタイル(例えば六角形)で
も、l組の対向平行辺のみを機械加工することにより本
発明を適用することができる。
フェライトタイルを用いて低周波帯での水平偏波及び垂
直偏波の吸収特性の優れた電波暗室を得ることができ、
従って、lOm法以上の大型の電波暗室に適用して有用
である。なお方形以外の形のタイル(例えば六角形)で
も、l組の対向平行辺のみを機械加工することにより本
発明を適用することができる。
第1図は本発明による電波暗室の構成例、第2図はフェ
ライトの透磁率と周波数の関係を示す図である。 lO:電波暗室,l2:天井, 14,16 :壁。
ライトの透磁率と周波数の関係を示す図である。 lO:電波暗室,l2:天井, 14,16 :壁。
Claims (2)
- (1)天井面及び壁面にフェライトをふくむタイルを貼
り合せた電波暗室において、 各タイルは1組の対向平行辺のみが機械加工され、 天井及び壁面の磁束の方向にタイルが磁気的に連続とな
るように、タイルの前記機械加工された辺が隣接するタ
イルの機械加工された辺と結合するごとくタイルが配置
されることを特徴とする電波暗室。 - (2)天井面及び壁面にフェライトをふくむタイルを貼
り合せた電波暗室において、 各タイルは1組の対向平行辺のみが機械加工され、該辺
が隣接タイルの機械加工された辺と結合することにより
、該辺と直交する方向(N)に高い透磁率をもつごとく
貼り合され、 天井面のタイルは、部屋の長手軸に平行な方向が前記方
向(N)と一致するごとく貼り合され、壁面のタイルは
、水平面と平行な方向が前記方向(N)と一致するごと
く貼り合されることを特徴とする電波暗室。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1158433A JP2827286B2 (ja) | 1989-06-22 | 1989-06-22 | 電波暗室 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1158433A JP2827286B2 (ja) | 1989-06-22 | 1989-06-22 | 電波暗室 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0324792A true JPH0324792A (ja) | 1991-02-01 |
| JP2827286B2 JP2827286B2 (ja) | 1998-11-25 |
Family
ID=15671657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1158433A Expired - Lifetime JP2827286B2 (ja) | 1989-06-22 | 1989-06-22 | 電波暗室 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2827286B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53149506U (ja) * | 1977-04-28 | 1978-11-25 | ||
| JPS6133678U (ja) * | 1984-07-31 | 1986-02-28 | 吉誠 田窪 | ロータリー型プラスチックペレット選別機におけるホッパーの構造 |
-
1989
- 1989-06-22 JP JP1158433A patent/JP2827286B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53149506U (ja) * | 1977-04-28 | 1978-11-25 | ||
| JPS6133678U (ja) * | 1984-07-31 | 1986-02-28 | 吉誠 田窪 | ロータリー型プラスチックペレット選別機におけるホッパーの構造 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2827286B2 (ja) | 1998-11-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
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