JPH0325166Y2 - - Google Patents

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JPH0325166Y2
JPH0325166Y2 JP17019284U JP17019284U JPH0325166Y2 JP H0325166 Y2 JPH0325166 Y2 JP H0325166Y2 JP 17019284 U JP17019284 U JP 17019284U JP 17019284 U JP17019284 U JP 17019284U JP H0325166 Y2 JPH0325166 Y2 JP H0325166Y2
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test
tensile
tensile test
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JP17019284U
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  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 この考案は、高温環境下で試験片を連続的に引
張試験する高温連続引張試験装置に関するもので
ある。
(ロ) 従来技術 高温環境下で試験片を引張試験するとき、従来
は上下一対の負荷ロツドを高温炉内に突出させ
る。そして、試験片を高温炉内に収容し、各プル
ロツドにチヤツキングしていた。したがつて、上
方のプルロツドを引き上げると、各プルロツド間
で試験片に引張荷重が加えられる。したがつて、
高温炉の高温環境下で試験片を引張試験すること
ができる。
しかしながら、この試験機は単一の試験片を引
張試験することができるだけである。複数の試験
片を連続的に引張試験することはできない。試験
完了後、次の試験片を引張試験するには、高温炉
内で試験片を交換する必要がある。したがつて、
高温炉の温度を一旦低下させる必要がある。そし
て、プルロツドから試験片を取り外し、試験片を
チヤツキングする。その後、高温炉の温度を再び
上昇させる必要がある。そして、試験毎にこれを
繰り返さねばならず、所要時間が長く、能率が悪
いという欠点があつた。また、各プルロツドのセ
ンターリング精度を高くすることができず、試験
片に偏心荷重が加えられるのはさけられない。こ
のため、特に、セラミツクなど、硬度の高い試験
片の場合、偏心荷重によつて試験結果に大きいば
らつきが生じるという問題もあつた。
(ハ) 目的 したがつて、この考案は、高温環境下で試験片
を連続的に引張試験すること、および試験片に引
張荷重だけが加えられ、偏心荷重が加えられない
ようにすることを目的としてなされたものであ
る。
(ニ) 構成 この考案は、複数の引張試験治具を高温炉内に
収容し、各引張試験治具を横方向に配列するとと
もに、各引張試験治具にそれぞれ上下一対の試験
片ホルダを設ける。そして、各試験片ホルダのう
ち、上方のホルダを試験片の下端に連結し、下方
のホルダを試験片の上端に連結し、下方のホルダ
を引張試験治具の支持台上に支持し、上方のホル
ダを上下方向に移動可能に案内する。さらに、高
温炉内の所定位置に負荷ロツドを設け、支持台を
引張試験治具の配列方向に移動可能に案内する。
そして、試験毎に支持台を引張試験治具の配列ピ
ツチに相当する距離だけ移動させ、各引張試験治
具を順次負荷ロツドの位置に送り、負荷ロツドに
よつて引張試験治具の上方のホルダを押し下げ、
これによつて各引張試験治具の試験片に引張荷重
を加えるようにしたことを特徴とするものであ
る。
(ホ) 実施例 以下、この考案の実施例を図面について説明す
る。
図において、この装置は複数の引張試験治具1
を有する。各引張試験治具1は高温炉2内に収容
され、横方向に配列されている。そして、各引張
試験治具1内にそれぞれ試験片T・Pが内蔵さ
れ、保持されている。また、この装置は引張試験
治具1の支持台3を有し、支持台3はセラミツク
スなどの耐熱材料からなり、高温炉2内に収容さ
れている。
第3図および第4図に示すように、各引張試験
治具1にそれぞれ上下一対の試験片ホルダ4H,
4Lが設けられている。各試験片ホルダ4H,4
Lのうち、上方のホルダ4Hは下向きの一対の脚
部5Hを有し、下方のホルダ4Lは上向きの一対
の脚部5Lを有する。各脚部5H,5Lは試験片
T・Pのまわりに90゜の角度間隔を置いて配置さ
れている。そして、下方のホルダ4Lの脚部5L
の上端に試験片取付部6が一体成形され、取付部
6は上方のホルダ4Hの脚部5H間に収容されて
いる。さらに、上方のホルダ4Hの脚部5Hの下
端に試験片取付アダプタ7が固定され、取付アダ
プタ7は下方のホルダ4Lの脚部5L間に収容さ
れている。
試験片T・Pはセラミツクスからなる平板状の
ものである。この実施例では、ホルダ4H,4L
の取付アダプタ7および取付部6に挿入溝8が形
成され、試験片T・Pは取付アダプタ7および取
付部6の挿入溝8に挿入されている。そして、上
方のホルダ4Hの取付アダプタ7にピン孔9が形
成され、ピン10が試験片T・Pの下端を貫通
し、取付アダプタ7のピン孔9に挿入されてい
る。これによつて上方のホルダ4Hが試験片T・
Pの下端に連結されている。また、下方のホツダ
4Lの取付部6に丸溝11が形成され、ピン12
が試験片T・Pの上端を貫通し、取付部6の丸溝
11に嵌合されている。これによつて下方のホル
ダ4Lが試験片T・Pの上端に連結されている。
下方のホルダ4Lは引張試験治具1の支持台3
上に支持されている。そして、ガイドカラー13
が上方および下方のホルダ4H,4Lの外周面に
嵌合され、上方のホルダ4Hは上下方向に移動可
能に案内されている。
また、この装置は単一の負荷ロツド14を有す
る。負荷ロツド14は高温炉2内の所定位置に設
けられ、高温炉2の上壁を貫通し、クロスヘツド
15のロードセル16に連結されている。そし
て、各引張試験治具1の上方のホルダ4Hに球座
17が設けられ、負荷ロツド14は引張試験治具
1の球座17に対向するよう配置されている。
また、この実施例では、高温炉2の底壁に支持
台3よりもわずかに大きい幅の貫通溝18が形成
され、支持台3はこの貫通溝18にスライド可能
に挿入され、スライドベース19に固定されてい
る。スライドベース19は基板20にスライド可
能に嵌合され、支持台3は引張試験治具1の配列
方向に移動可能に案内されている。そして、貫通
溝18から高温炉2内に外気が流入しないよう支
持台3に断熱板21が固定され、断熱板21によ
つて貫通溝18と支持台3間が密封されている。
断熱板21は貫通溝18よりも長い。したがつ
て、支持台3が移動しても、それに関係なく貫通
溝18と支持台3間を密封することができる。
また、この装置は支持台3を移動させるための
送りねじ22および操作ハンドル23を有し、送
りねじ22は基板20に回転可能に支持され、ス
ライドベース19にねじ合わされている。操作ハ
ンドル23は送りねじ22の一端に固定されてい
る。また、スライドベース19は支持台3の移動
量を表わす目盛24を有し、基板20はスライド
ベース19の目盛24を読取る指標25を有す
る。目盛24は引張試験治具1の配列ピツチに相
当する間隔を置いて付されている。
前記のように構成された装置において、クロス
ヘツド15を引き下げると、クロスヘツド15お
よびロードセル16によつて負荷ロツド14が押
し下げられる。したがつて、負荷ロツド14が引
張試験治具1の球座17に接触し、負荷ロツド1
4によつて上方のホルダ4Hが押し下げられる。
ガイドカラー13は上方または下方のホルダ4
H,4Lの外周面に沿つてスライドし、上方のホ
ルダ4Hを案内する。したがつて、上方のホルダ
4Hの脚部5H、取付アダプタ7およびピン10
によつて試験片T・Pに引張荷重が加えられる。
その反力は下方のホルダ4Lのピン12、取付部
6および脚部5Lに伝達され、支持台3に伝達さ
れる。支持台3は伝達される反力を受け、これを
支持する。また、クロスヘツド15と負荷ロツド
14間にロードセル16が挾まれ、ロードセル1
6によつて試験片T・Pの引張荷重が検出され
る。したがつて、高温炉2の高温環境下で試験片
T・Pを引張試験することができる。
また、試験完了後、操作ハンドル23によつて
送りねじ22を回転操作すると、送りねじ22に
よつてスライドベース19が送られ、スライドベ
ース19は基板20に沿つてスライドする。した
がつて、支持台3が高温炉2の貫通溝18に沿つ
てスライドし、スライドベース19と一体的に移
動する。支持台3は引張試験治具1の配列方向に
移動し、引張試験治具1は支持台3と一体的に移
動する。したがつて、スライドベース19の目盛
24が基板20の指標25と合致するまでスライ
ドベース19を移動させると、支持台3が引張試
験治具1の配列ピツチに相当する距離だけ移動
し、次の引張試験治具1が負荷ロツド14の位置
に送られる。その後、クロスヘツド15を引き下
げると、前回と同様、負荷ロツド14が引張試験
治具1の球座17に接触し、負荷ロツド14によ
つて上方のホルダ4Hが押し下げられる。したが
つて、次の引張試験治具1の試験片T・Pに引張
荷重が加えられ、再び試験片T・Pが引張試験さ
れる。
したがつて、これを繰り返すと、各引張試験治
具1を順次負荷ロツド14の位置に送り、複数の
試験片T・Pを連続的に引張試験することができ
る。前記従来のように、試験毎に高温炉2内で試
験片T・Pを交換する必要がなく、高温炉2の温
度を一旦低下させる必要はない。また、高温炉2
によつて最初の試験片T・Pを加熱するとき、そ
の他の試験片T・Pも同時に加熱され、試験毎に
改めて試験片T・Pを加熱する必要もない。した
がつて、所要時間が短く、能率は高い。
さらに、この装置は負荷ロツド14のセンター
リング精度を高くする必要はない。負荷ロツド1
4を引張試験治具1の球座17に接触させ、負荷
ロツド14によつて上方のホルダ4Hを押し下げ
るだけで、試験片T・Pに引張荷重を加えること
ができる。したがつて、上方および下方のホルダ
4H,4Lのセンターリング精度を高くすると、
負荷ロツド14のセンターリング精度に関係な
く、試験片T・Pに引張荷重だけを加えることが
でき、偏心荷重は加えられない。ホルダ4H,4
Lのセンターリング精度については、ホルダ4
H,4Lおよびガイドカラー13の加工精度が影
響するだけであり、ホツダ4H,4Lの加工精度
を高くするのは容易である。
また、この装置は引張試験だけではなく、試験
片を曲げ試験することもできる。曲げ試験するに
は、引張試験治具1に代えて、曲げ試験治具を支
持台3上に支持すればよい。そして、曲げ試験治
具の支点間に試験片をかけ渡し、負荷ロツド14
を試験片に押し付けると、負荷ロツド14によつ
て試験片に曲げ荷重を加えることができる。した
がつて、高温炉2の高温環境下で試験片を曲げ試
験することができる。複数の曲げ試験治具を支持
台3上に支持すると、各試験片を連続的に曲げ試
験することもできる。同様に、複数の圧縮試験治
具を支持台3上に支持すると、複数の試験片を連
続的に圧縮試験することもできる。
なお、この考案には、前記実施例の他に種々の
変形例が考えられる。第9図および第10図は丸
棒試験片の引張試験治具を示す。この実施例で
は、試験片T・Pの両端に肩部26が形成さてい
る。下方のホルダ4Lが支持台3上に支持され、
固定され、ガイドカラー13が上方および下方の
ホルダ4H,4Lの外周面に嵌合され、上方のホ
ルダ4Hが上下方向に移動可能に案内されている
のは第3図および第4図と同様である。そして、
ホルダ4Hの脚部5Hの下端に試験片取付アダプ
タ27Hが固定され、ホルダ4Lの脚部5Lの上
端に試験片取付アダプタ27Lが固定され、試験
片T・Pの肩部26が取付アダプタ27H,27
Lの内孔28に嵌合されている。これによつて上
方のホルダ4Hが試験片T・Pの下端に連結さ
れ、下方のホルダ4Lが試験片T・Pの上端に連
結されている。したがつて、上方のホルダ4Hの
脚部5Hおよび取付アダプタ27Hによつて試験
片T・Pに引張荷重を加えることができる。その
反力は下方のホルダ4Lの取付アダプタ27Lお
よび脚部5Lに伝達される。
なお、必ずしもガイドカラー13を上方および
下方のホルダ4H,4Lの外周面に嵌合させる必
要はなく、ガイドカラー13以外のガイド機構に
よつて上方のホルダ4Hを上下方向に移動可能に
案内してもよい。上方および下方のホルダ4H,
4Lにも種々の形状のものが考えられる。要する
に、上方のホルダ4Hを試験片T・Pの下端に連
結し、下方のホルダ4Lを試験片T・Pの上端に
連結すればよいものである。そして、負荷ロツド
14によつて上方のホルダ4Hを押し下げると、
上方および下方のホルダ4H,4L間で試験片
T・Pに引張荷重を加えることができ、同様の作
用効果を得ることができる。
(ヘ) 効果 以上説明したように、この考案は、高温環境下
で試験片を連続的に引張試験することができる。
試験毎に高温炉内で試験片を交換する必要がな
く、高温炉の温度を一旦低下させる必要はない。
したがつて、所要時間が短く、能率は高い。さら
に、試験片に引張荷重だけを加えることができ、
偏心荷重が加えられず、所期の目的を達成するこ
とができるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例を示す断面図、第
2図は第1図の−線断面図、第3図は第1図
の引張試験治具の断面図、第4図は第3図の−
線断面図、第5図は第3図の−線断面図、
第6図は第3図の−線断面図、第7図は第3
図の−線断面図、第8図は第3図の−線
断面図、第9図は第3図の変形例を示す断面図、
第10図は第9図のX−X線断面図、第11図は
第9図のX−X線断面図、第12図は第9図
のX−X線断面図、第13図は第9図のX
−X線断面図、第14図は第9図のX−X
線断面図である。 T・P……試験片、1……引張試験治具、2…
…高温炉、4H,4L……試験片ホルダ、10,
12……ピン、13……ガイドカラー、14……
負荷ロツド、19……スライドベース、22……
送りねじ、23……操作ハンドル。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 複数の引張試験治具を高温炉内に収容し、前記
    各引張試験治具を横方向に配列するとともに、前
    記各引張試験治具にそれぞれ上下一対の試験片ホ
    ルダを設け、前記各試験片ホルダのうち、上方の
    ホルダを前記試験片の下端に連結し、下方のホル
    ダを前記試験片の上端に連結し、前記下方のホル
    ダを前記引張試験治具の支持台上に支持し、前記
    上方のホルダを上下方向に移動可能に案内し、さ
    らに前記高温炉内の所定位置に負荷ロツドを設
    け、前記支持台を前記引張試験治具の配列方向に
    移動可能に案内し、試験毎に前記支持台を前記引
    張試験治具の配列ピツチに相当する距離だけ移動
    させ、前記各引張試験治具を順次前記負荷ロツド
    の位置に送り、前記負荷ロツドによつて前記引張
    試験治具の上方のホルダを押し下げ、これによつ
    て前記各引張試験治具の試験片に引張荷重を加え
    るようにしたことを特徴とする高温連続引張試験
    装置。
JP17019284U 1984-11-08 1984-11-08 Expired JPH0325166Y2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP17019284U JPH0325166Y2 (ja) 1984-11-08 1984-11-08

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JP17019284U JPH0325166Y2 (ja) 1984-11-08 1984-11-08

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Publication Number Publication Date
JPS6184547U JPS6184547U (ja) 1986-06-04
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