JPH03252554A - 超音波探触子 - Google Patents
超音波探触子Info
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- JPH03252554A JPH03252554A JP2051474A JP5147490A JPH03252554A JP H03252554 A JPH03252554 A JP H03252554A JP 2051474 A JP2051474 A JP 2051474A JP 5147490 A JP5147490 A JP 5147490A JP H03252554 A JPH03252554 A JP H03252554A
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- ultrasonic
- upper electrode
- ultrasonic probe
- lens
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Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 62
- 239000000463 material Substances 0.000 description 23
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)
- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は、5AW(表面弾性波)デバイス等における表
面弾性波の音速を測定するために用いて好適な超音波探
触子に関する。
面弾性波の音速を測定するために用いて好適な超音波探
触子に関する。
B、従来の技術
第4図は、SAWデバイス等における表面弾性波の音速
測定に用いられる超音波凹面探触子の従来例を示す断面
図である。図において、1はレンズであり、このレンズ
lの下部には凹面1aが形成されている。2はレンズ1
の凹面1aの表面に形成された下部電極、3は下部電極
2の表面に設けられた圧電材料、4は圧電材料の表面に
形成された上部電極であり、これらレンズ1.下部電極
2、圧電材料3及び上部電極4により超音波凹面探触子
が構成されている。
測定に用いられる超音波凹面探触子の従来例を示す断面
図である。図において、1はレンズであり、このレンズ
lの下部には凹面1aが形成されている。2はレンズ1
の凹面1aの表面に形成された下部電極、3は下部電極
2の表面に設けられた圧電材料、4は圧電材料の表面に
形成された上部電極であり、これらレンズ1.下部電極
2、圧電材料3及び上部電極4により超音波凹面探触子
が構成されている。
このような構成の超音波凹面探触子では、その下部電極
2及び上部電極4に高周波電圧が印加されると圧電材料
3が振動して、上部電極4の前方(第4図に示す下方)
に配置された試料5に向けて超音波が発信される。特に
、この超音波探触子は凹面に形成されているため、発信
された超音波は凹面の曲率で規定される焦点位置で収束
する。
2及び上部電極4に高周波電圧が印加されると圧電材料
3が振動して、上部電極4の前方(第4図に示す下方)
に配置された試料5に向けて超音波が発信される。特に
、この超音波探触子は凹面に形成されているため、発信
された超音波は凹面の曲率で規定される焦点位置で収束
する。
そして、試料5で反射された反射エコーにより圧電材料
3が振動し、これが下部電極2と上部電極4との間の電
位差となって受信される。
3が振動し、これが下部電極2と上部電極4との間の電
位差となって受信される。
第5図は、試料5の表面に焦点位置を設定した場合の受
信強度を0(dB)とした相対強度を縦軸に、焦点位置
と試料5の表面までの距離を横軸に表した。いわゆるV
(z)曲線と呼ばれる関係を示す図であり、レンズ1
を試料5にZ軸方向に接近させつつ電極から信号をとり
出して得られる。
信強度を0(dB)とした相対強度を縦軸に、焦点位置
と試料5の表面までの距離を横軸に表した。いわゆるV
(z)曲線と呼ばれる関係を示す図であり、レンズ1
を試料5にZ軸方向に接近させつつ電極から信号をとり
出して得られる。
このV (z)曲線は、レンズ1の中心軸近傍を伝播し
て試料5から反射してくる反射エコー6と、試料5に固
有のレーリーの臨界角で入射した超音波7が試料5表面
で表面波として伝播し、同様にレーリーの臨界角で出射
することで得られるエコー9との干渉によって得られる
ことが知られている。そして、この干渉の周期(第5図
の左端側に顕著に現れるV (z)曲線のr山」の間隔
)を計測することで、試料5の表面弾性波の音速を知る
ことができる。
て試料5から反射してくる反射エコー6と、試料5に固
有のレーリーの臨界角で入射した超音波7が試料5表面
で表面波として伝播し、同様にレーリーの臨界角で出射
することで得られるエコー9との干渉によって得られる
ことが知られている。そして、この干渉の周期(第5図
の左端側に顕著に現れるV (z)曲線のr山」の間隔
)を計測することで、試料5の表面弾性波の音速を知る
ことができる。
C0発明が解決しようとする課題
ところが、このV (z)曲線は、レーリーの臨界角を
含む全ての方向から入射する超音波7が試料5表面で直
接反射することで得られる反射エコー8の影響も受けて
いる。特に、この反射エコー8は、焦点位置を表面付近
に設定した場合には超音波探触子に垂直に近い状態で入
射するため、第5図に示すように焦点位置付近では前述
のような干渉によるr山」が顕著に現れず、計測結果の
精度が悪い、そこで従来は、焦点位置から離れたデフォ
ーカス量の大きい表面位置における計測結果を用いるこ
とで、第5図に示すV (z)のr山」が顕著に現れる
箇所において表面弾性波の音速測定を行っていた。
含む全ての方向から入射する超音波7が試料5表面で直
接反射することで得られる反射エコー8の影響も受けて
いる。特に、この反射エコー8は、焦点位置を表面付近
に設定した場合には超音波探触子に垂直に近い状態で入
射するため、第5図に示すように焦点位置付近では前述
のような干渉によるr山」が顕著に現れず、計測結果の
精度が悪い、そこで従来は、焦点位置から離れたデフォ
ーカス量の大きい表面位置における計測結果を用いるこ
とで、第5図に示すV (z)のr山」が顕著に現れる
箇所において表面弾性波の音速測定を行っていた。
しかしながら、焦点位置から離れた位置においては発信
された超音波はビーム径が大きくなっており、超音波探
触子は試料5表面の広い領域からのエコーを受信する。
された超音波はビーム径が大きくなっており、超音波探
触子は試料5表面の広い領域からのエコーを受信する。
従って、試料5を微小領域に区分して精度良くその表面
弾性波の音速を測定できなかった。
弾性波の音速を測定できなかった。
本発明の技術的課題は、超音波探触子により試料表面の
微小領域における表面波の音速を精度良く測定すること
にある。
微小領域における表面波の音速を精度良く測定すること
にある。
00課題を解決するための手段
一実施例を示す第1図により本発明を説明すると1本発
明の超音波探触子は、凹面11aが形成されたレンズ1
1と、凹面11aに設けられレンズ11中心近傍で超音
波を送受信する第1の送受信部14bと、凹面11aに
設けられ、試料に対して超音波を送信するとともに試料
15の表面部を伝播してレンズ11#部に至る超音波を
受信する第2の送受信部14aとを備えることにより、
上記技術的課題が達成される。
明の超音波探触子は、凹面11aが形成されたレンズ1
1と、凹面11aに設けられレンズ11中心近傍で超音
波を送受信する第1の送受信部14bと、凹面11aに
設けられ、試料に対して超音波を送信するとともに試料
15の表面部を伝播してレンズ11#部に至る超音波を
受信する第2の送受信部14aとを備えることにより、
上記技術的課題が達成される。
E0作用
第1の送受信部14bから発信された超音波16は、試
料15の表面で反射し、再度この第1の送受信部14b
でエコーとして受信される。一方、第2の送受信部14
aから発信された超音波17は、その一部がレーリーの
臨界角で試料15に入射し、この試料15表面で表面波
として伝播して同様にレーリーの臨界角で出射し、エコ
ー19として再度第2の送受信部14aで受信される。
料15の表面で反射し、再度この第1の送受信部14b
でエコーとして受信される。一方、第2の送受信部14
aから発信された超音波17は、その一部がレーリーの
臨界角で試料15に入射し、この試料15表面で表面波
として伝播して同様にレーリーの臨界角で出射し、エコ
ー19として再度第2の送受信部14aで受信される。
また、第2の送受信部14aから発信された超音波17
の他の一部は、この試料15表面で反射してエコー18
として超音波探触子に向かって伝播するが、このエコー
18が受信される箇所は送受信部14a、14bが設け
られていない箇所であるので、受信信号として検出され
ることはない。
の他の一部は、この試料15表面で反射してエコー18
として超音波探触子に向かって伝播するが、このエコー
18が受信される箇所は送受信部14a、14bが設け
られていない箇所であるので、受信信号として検出され
ることはない。
なお、本発明の詳細な説明する上記り項およびE項では
、本発明を分かり易くするために実施例の図を用いたが
、これにより本発明が実施例に限定されるものではない
。
、本発明を分かり易くするために実施例の図を用いたが
、これにより本発明が実施例に限定されるものではない
。
F、実施例
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
一部1の実施例−
第1図および第2図により本発明の第1の実施例を説明
する。
する。
第1図(a)は本発明による超音波探触子の第1の実施
例を示す断面図である0図において、11はレンズであ
り、このレンズ11の下部には凹面11aが形成され、
この凹面11aの球面により超音波探触子の焦点位置が
定められる。すなわち、この超音波探触子はいわゆるポ
イントフォーカス型のものである。なお、例えば円筒の
側面をその軸線に平行な平面で切断したような凹面を有
するいわゆるラインフォーカス型のものでもよい。
例を示す断面図である0図において、11はレンズであ
り、このレンズ11の下部には凹面11aが形成され、
この凹面11aの球面により超音波探触子の焦点位置が
定められる。すなわち、この超音波探触子はいわゆるポ
イントフォーカス型のものである。なお、例えば円筒の
側面をその軸線に平行な平面で切断したような凹面を有
するいわゆるラインフォーカス型のものでもよい。
12は金属膜等の導電性膜からなる下部電極であり、こ
の下部電極12は、凹面11aの表面の略全体を覆うよ
うに設けられている。13は膜状に形成された圧電材料
であり、この圧電材料13は、下部電極12の表面の略
全体を覆うように設けられている。圧電材料13の材質
は、超音波探触子が発信する超音波の周波数により周知
の圧電物質から適宜選択されるが、本発明の利用分野で
ある5AW(表面弾性波)デバイスの音速測定において
は、比較的高周波領域(MHz=GHz)の超音波が使
用されるため、ZnO等の物質が好適に使用可能である
。また、圧電材料13の厚さも、前述と同様に超音波探
触子の周波数により適宜決定される。
の下部電極12は、凹面11aの表面の略全体を覆うよ
うに設けられている。13は膜状に形成された圧電材料
であり、この圧電材料13は、下部電極12の表面の略
全体を覆うように設けられている。圧電材料13の材質
は、超音波探触子が発信する超音波の周波数により周知
の圧電物質から適宜選択されるが、本発明の利用分野で
ある5AW(表面弾性波)デバイスの音速測定において
は、比較的高周波領域(MHz=GHz)の超音波が使
用されるため、ZnO等の物質が好適に使用可能である
。また、圧電材料13の厚さも、前述と同様に超音波探
触子の周波数により適宜決定される。
14は、下部電極12と同様に金属膜等の導電性膜から
形成された上部電極である。この上部電極14は、第1
図(b)に示すように、圧電材料13表面の縁部に環状
に設けられた第2の送受信部である上部電極14aと、
圧電材料13表面の中央部に円形状に設けられた第1の
送受信部である上部電極14bとから構成されている。
形成された上部電極である。この上部電極14は、第1
図(b)に示すように、圧電材料13表面の縁部に環状
に設けられた第2の送受信部である上部電極14aと、
圧電材料13表面の中央部に円形状に設けられた第1の
送受信部である上部電極14bとから構成されている。
また、下部電極12及び上部電極14には図示されない
リード線が接続され、このリード線を介して図示されな
い電圧供給源から電圧が印加される1以上のレンズ11
、下部電極12、圧電材料13及び上部電極14により
、本発明に係る超音波探触子が構成されている。
リード線が接続され、このリード線を介して図示されな
い電圧供給源から電圧が印加される1以上のレンズ11
、下部電極12、圧電材料13及び上部電極14により
、本発明に係る超音波探触子が構成されている。
このような構成の第1の実施例の作用について説明する
。
。
超音波探触子の前方、すなわち上部電極14と相対向す
る位置に試料15を配置する。この状態で、図示されな
い電圧供給源から下部電極12及び上部電極14に電圧
を印加する。なお1本実施例の超音波探触子は送/受信
兼用型の探触子であるため、これら電極12.14に印
加する電圧はパルスを一定周期で繰り返したものでよい
。
る位置に試料15を配置する。この状態で、図示されな
い電圧供給源から下部電極12及び上部電極14に電圧
を印加する。なお1本実施例の超音波探触子は送/受信
兼用型の探触子であるため、これら電極12.14に印
加する電圧はパルスを一定周期で繰り返したものでよい
。
電極12.14に電圧が印加されると圧電効果により圧
電素子13が振動し、超音波が発生する。
電素子13が振動し、超音波が発生する。
特に、本実施例では上部電極が圧電材料13の表面全体
に設けられておらず、超音波はこの上部電極、すなわち
凹面の縁部14a及び中心部14bで主に発生する。
に設けられておらず、超音波はこの上部電極、すなわち
凹面の縁部14a及び中心部14bで主に発生する。
この超音波の一部はレンズ11内を伝播するが。
レンズ11が有効な超音波吸収体であれば、このレンズ
11内で超音波は充分吸収される。一方、前方に放射さ
れた超音波は、圧電材料13が凹面に形成されているた
め、この凹面の中心近傍、換言すると焦点位置で収束す
るように伝播する。
11内で超音波は充分吸収される。一方、前方に放射さ
れた超音波は、圧電材料13が凹面に形成されているた
め、この凹面の中心近傍、換言すると焦点位置で収束す
るように伝播する。
すなわち、第1の上部電極14bから発信された超音波
16は、試料15の表面で反射し、再度この第1の上部
電極14bでエコーとして受信される。一方、第2の上
部電極14aから発信された超音波17は、その一部が
レーリーの臨界角で試料15に入射し、この試料15表
面で表面波として伝播して同様にレーリーの臨界角で出
射し、エコー19として再度第2の上部電極14aで受
信される。また、第2の上部電極14aから発信された
超音波17の他の一部は、この試料15表面で反射して
エコー18として超音波探触子に向かって伝播するが、
このエコー18が受信される箇所は上部電極14が設け
られていない箇所であるので、受信信号として検出され
ることはない。
16は、試料15の表面で反射し、再度この第1の上部
電極14bでエコーとして受信される。一方、第2の上
部電極14aから発信された超音波17は、その一部が
レーリーの臨界角で試料15に入射し、この試料15表
面で表面波として伝播して同様にレーリーの臨界角で出
射し、エコー19として再度第2の上部電極14aで受
信される。また、第2の上部電極14aから発信された
超音波17の他の一部は、この試料15表面で反射して
エコー18として超音波探触子に向かって伝播するが、
このエコー18が受信される箇所は上部電極14が設け
られていない箇所であるので、受信信号として検出され
ることはない。
したがって1本実施例の超音波探触子では、従来の超音
波探触子においてV(z)曲線により表面波の音速を測
定する際に誤差となっていたレンズ中心部と縁部との中
間部からのエコーの影響を除去することがで危るので、
超音波探触子の焦点位置が試料15の表面よりわずかに
深い位置付近においても精度の良い音速測定が可能とな
る。これにより、試料15表面の微小領域の音速測定を
精度良く行うことができる。
波探触子においてV(z)曲線により表面波の音速を測
定する際に誤差となっていたレンズ中心部と縁部との中
間部からのエコーの影響を除去することがで危るので、
超音波探触子の焦点位置が試料15の表面よりわずかに
深い位置付近においても精度の良い音速測定が可能とな
る。これにより、試料15表面の微小領域の音速測定を
精度良く行うことができる。
第2図に本実施例によるV (z)曲線の測定結果を示
す、焦点位置が試料15の表面付近でもV(Z)曲線に
「山」が現れており、充分に音速測定が可能であること
が理解できる。
す、焦点位置が試料15の表面付近でもV(Z)曲線に
「山」が現れており、充分に音速測定が可能であること
が理解できる。
なお、上記実施例では圧電材料13を下部電極の全面に
設けたが上記電極14a、14bの形状に合わせて設け
てもよいことは明らかである。
設けたが上記電極14a、14bの形状に合わせて設け
てもよいことは明らかである。
−第2の実施例−
第3図(a)、(b)により本発明の第2の実施膜を説
明する。
明する。
第3図(a)は、本発明による超音波探触子の第2の実
施例を示す断面図である。なお、以下の説明において、
第1の実施例と同一の構成要素については同一の符号を
付してその説明を省略する。
施例を示す断面図である。なお、以下の説明において、
第1の実施例と同一の構成要素については同一の符号を
付してその説明を省略する。
本実施例と第1の実施例との相違点は超音波探触子に整
合層が設けられたことにある。すなわち。
合層が設けられたことにある。すなわち。
図において、上部電極14は圧電材料13の表面の略全
体を覆うように設けられていると共に、この上部電極1
4の表面には整合層20が設けられている。この整合層
20は、第3図(b)に示すように、上部電極14表面
の中央部及び縁部にそれぞれ円形状及び環状に設けられ
た第1の整合層20aと、それ以外の上部電極14表面
に設けられた第2の整合層20bとから構成されている
。
体を覆うように設けられていると共に、この上部電極1
4の表面には整合層20が設けられている。この整合層
20は、第3図(b)に示すように、上部電極14表面
の中央部及び縁部にそれぞれ円形状及び環状に設けられ
た第1の整合層20aと、それ以外の上部電極14表面
に設けられた第2の整合層20bとから構成されている
。
第1の整合層20aは、その厚さが1/4λ(λは超音
波の波長)とされ、第2の整合層20bは、その厚さが
1/2λとされている。また、これら第1.第2の整合
層20a、20bは、その音響インピーダンス2が共に
。
波の波長)とされ、第2の整合層20bは、その厚さが
1/2λとされている。また、これら第1.第2の整合
層20a、20bは、その音響インピーダンス2が共に
。
z=fI7了1]]口
zl:圧電材料13の音響インピーダンスz2:超音波
探触子前方にある水等の媒質の音響インピーダンス とされている。
探触子前方にある水等の媒質の音響インピーダンス とされている。
従って、第1の整合層20aに入射された超音波は、そ
の境界面間で反射する反射波の重畳により強めあった状
態でこの整合層20aから試料に対し出射される一方、
第2の整合層20b内に入射された超音波は、同様にそ
の境界面間で反射する反射波の重畳により打ち消しあっ
た状態となり。
の境界面間で反射する反射波の重畳により強めあった状
態でこの整合層20aから試料に対し出射される一方、
第2の整合層20b内に入射された超音波は、同様にそ
の境界面間で反射する反射波の重畳により打ち消しあっ
た状態となり。
この整合層20bからは試料に対し殆ど出射されない、
すなわち、第2の整合層20bが設けられた箇所(第1
の実施例で上部電極14a、14bを設けない領域に相
当)からは超音波は発信されず、受信もされない、した
がって5本実施例によっても、第1の実施例と同様の作
用効果を得ることができる。
すなわち、第2の整合層20bが設けられた箇所(第1
の実施例で上部電極14a、14bを設けない領域に相
当)からは超音波は発信されず、受信もされない、した
がって5本実施例によっても、第1の実施例と同様の作
用効果を得ることができる。
G0発明の効果
以上のように本発明によれば、超音波信号が発信、受信
されるレンズ凹面に、レンズ中心近傍の反射波を送受信
する第1の送受信部と、試料の表面部を伝播してレンズ
に至る超音波を送受信する第2の送受信部とを設けたの
で、レーリーの入射角で入射し表面を伝播せずに反射し
た超音波エコーの影響を除去することができる。従って
、超音波探触子の焦点位置が表面に近い位置でも精度の
良い音速測定が可能となり、試料表面の微小領域の音速
測定を精度良く行うことができる。
されるレンズ凹面に、レンズ中心近傍の反射波を送受信
する第1の送受信部と、試料の表面部を伝播してレンズ
に至る超音波を送受信する第2の送受信部とを設けたの
で、レーリーの入射角で入射し表面を伝播せずに反射し
た超音波エコーの影響を除去することができる。従って
、超音波探触子の焦点位置が表面に近い位置でも精度の
良い音速測定が可能となり、試料表面の微小領域の音速
測定を精度良く行うことができる。
第1図は本発明による超音波探触子の第1の実施例を示
し、(a)は縦断面図、(b)はその底面図である。 第2図は同実施例によるV (z)曲線の実験例を示す
図である。 第3図は本発明による超音波探触子の第2の実施例を示
し、(a)は縦断面図、(b)はその底面図である。 第4図は従来の超音波探触子を示す断面図である。 第5図は同従来例によるV (z)曲線を示す図である
。 11:レンズ 11a:凹面 12:下部電極 13:圧電材料14a:第2の
上部電極(第2の送受信部)14b:第1の上部電極(
第1の送受信部)15:試料
し、(a)は縦断面図、(b)はその底面図である。 第2図は同実施例によるV (z)曲線の実験例を示す
図である。 第3図は本発明による超音波探触子の第2の実施例を示
し、(a)は縦断面図、(b)はその底面図である。 第4図は従来の超音波探触子を示す断面図である。 第5図は同従来例によるV (z)曲線を示す図である
。 11:レンズ 11a:凹面 12:下部電極 13:圧電材料14a:第2の
上部電極(第2の送受信部)14b:第1の上部電極(
第1の送受信部)15:試料
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 凹面が形成されたレンズと、 前記凹面に設けられレンズ中心近傍において超音波を送
受信する第1の送受信部と、 前記凹面に設けられ、試料に対して超音波を送信すると
ともに試料の表面部を伝播してレンズに至る超音波を受
信する第2の送受信部とを備えたことを特徴とする超音
波探触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2051474A JPH03252554A (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | 超音波探触子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2051474A JPH03252554A (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | 超音波探触子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03252554A true JPH03252554A (ja) | 1991-11-11 |
Family
ID=12887951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2051474A Pending JPH03252554A (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | 超音波探触子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03252554A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5211059A (en) * | 1990-11-29 | 1993-05-18 | Hitachi Construction Machinery Co., Ltd. | Acoustic microscope system |
-
1990
- 1990-03-02 JP JP2051474A patent/JPH03252554A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5211059A (en) * | 1990-11-29 | 1993-05-18 | Hitachi Construction Machinery Co., Ltd. | Acoustic microscope system |
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