JPH0325732B2 - - Google Patents
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- JPH0325732B2 JPH0325732B2 JP10993086A JP10993086A JPH0325732B2 JP H0325732 B2 JPH0325732 B2 JP H0325732B2 JP 10993086 A JP10993086 A JP 10993086A JP 10993086 A JP10993086 A JP 10993086A JP H0325732 B2 JPH0325732 B2 JP H0325732B2
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- light
- optical fiber
- fiber
- acousto
- prism
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3172—Reflectometers detecting the back-scattered light in the frequency-domain, e.g. OFDR, FMCW, heterodyne detection
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
≪産業上の利用分野≫
本発明は、OTDR法を用いた光フアイバ試験
装置の改良に関するものである。
装置の改良に関するものである。
≪従来の技術≫
光フアイバにはガラスに固有の散乱が存在す
る。光フアイバコアを伝搬する光波はコア内のド
ーパントなどの散乱源によりレイリー散乱を生じ
る。特にこの散乱光のうちフアイバコア後方（光
源方向）へガイドされた散乱光を後方散乱光と呼
ぶ。
る。光フアイバコアを伝搬する光波はコア内のド
ーパントなどの散乱源によりレイリー散乱を生じ
る。特にこの散乱光のうちフアイバコア後方（光
源方向）へガイドされた散乱光を後方散乱光と呼
ぶ。
光フアイバの一端からコヒーレントな光パルス
を送り、後方散乱光を観測することによりフアイ
バの長さ方向の損失分布や破断点などを検出する
手法をOTDR（Optical Time Domain
Reflectometry）法という。
を送り、後方散乱光を観測することによりフアイ
バの長さ方向の損失分布や破断点などを検出する
手法をOTDR（Optical Time Domain
Reflectometry）法という。
第６図は従来のOTDR法を用いた光フアイバ
試験装置の基本構成を示す構成ブロツク図であ
る。半導体レーザからなる光源LD１の出力光を
フユーズドカプラ（Fused coupler）からなる方
向性結合器CP１で送信用の光と局部発信光に分
ける。送信用の光は駆動回路DR１により励振さ
れる音響光学素子AO１で光の周波数を所定周波
数だけシフトしてパルス変調され、CP１と同様
の方向性結合器CP２および光コネクタCN１を介
して被測定フアイバFB１に入射する。被測定フ
アイバFB１から戻つてきたフレネル反射光や後
方散乱光からなる受信光は、方向性結合器CP２
で局部発振光と合波してから、PINフオトダイオ
ードからなる受光素子PD１に入射する。受光素
子PD１出力には受信光と局部発振光のビート成
分が現れ、これをバンドパスフイルタBF１で狭
帯域化し、Ｓ／Ｎ比を向上させて検出する。光ヘ
テロダイン検波方式を用いているので、直接検波
方式では熱雑音に埋もれてしまうような受信光レ
ベルからでも信号を検出できる。
試験装置の基本構成を示す構成ブロツク図であ
る。半導体レーザからなる光源LD１の出力光を
フユーズドカプラ（Fused coupler）からなる方
向性結合器CP１で送信用の光と局部発信光に分
ける。送信用の光は駆動回路DR１により励振さ
れる音響光学素子AO１で光の周波数を所定周波
数だけシフトしてパルス変調され、CP１と同様
の方向性結合器CP２および光コネクタCN１を介
して被測定フアイバFB１に入射する。被測定フ
アイバFB１から戻つてきたフレネル反射光や後
方散乱光からなる受信光は、方向性結合器CP２
で局部発振光と合波してから、PINフオトダイオ
ードからなる受光素子PD１に入射する。受光素
子PD１出力には受信光と局部発振光のビート成
分が現れ、これをバンドパスフイルタBF１で狭
帯域化し、Ｓ／Ｎ比を向上させて検出する。光ヘ
テロダイン検波方式を用いているので、直接検波
方式では熱雑音に埋もれてしまうような受信光レ
ベルからでも信号を検出できる。
≪発明が解決しようとする問題点≫
しかしながら、上記のような構成の光フアイバ
試験装置では、音響光学素子AO１で周波数シフ
トを与えているが、これとは別に方向性結合器と
してフユーズドカプラを用いているため、構成が
複雑になる。
試験装置では、音響光学素子AO１で周波数シフ
トを与えているが、これとは別に方向性結合器と
してフユーズドカプラを用いているため、構成が
複雑になる。
また光フアイバ入射端等でのフレネル反射によ
る過大光によつて受光素子や増幅器が飽和すると
いう問題点もあつた。
る過大光によつて受光素子や増幅器が飽和すると
いう問題点もあつた。
本発明は上記の問題点を解決するためになされ
たもので、光ヘテロダイン検波方式を用いた光フ
アイバ試験装置において、不要な過大光入力によ
る受光素子や増幅器の飽和を防ぐ光マスク機能を
備えた光フアイバ試験装置を簡単な構成で実現す
ることを目的としている。
たもので、光ヘテロダイン検波方式を用いた光フ
アイバ試験装置において、不要な過大光入力によ
る受光素子や増幅器の飽和を防ぐ光マスク機能を
備えた光フアイバ試験装置を簡単な構成で実現す
ることを目的としている。
≪問題点を解決するための手段≫
本発明は光源からの光を被測定フアイバに入射
し被測定フアイバの後方散乱光を検出することに
より被測定フアイバの状態を観測する光フアイバ
試験装置に係るもので、その特徴とするところは
光源からの出力光を被測定フアイバに入射するよ
うに偏向するとともにその周波数をシフトさせる
音響光学素子と、前記被測定フアイバの後方散乱
光と前記光源からの光が前記音響光学素子に入射
して生じるそれぞれのＯ次透過光を合波する光学
系と、この光学系からの合波出力光を検出する受
光素子とを備えた点にある。
し被測定フアイバの後方散乱光を検出することに
より被測定フアイバの状態を観測する光フアイバ
試験装置に係るもので、その特徴とするところは
光源からの出力光を被測定フアイバに入射するよ
うに偏向するとともにその周波数をシフトさせる
音響光学素子と、前記被測定フアイバの後方散乱
光と前記光源からの光が前記音響光学素子に入射
して生じるそれぞれのＯ次透過光を合波する光学
系と、この光学系からの合波出力光を検出する受
光素子とを備えた点にある。
≪実施例≫
以下本発明を図面を用いて詳しく説明する。
第１図は本発明に係る光フアイバ試験装置の一
実施例を示す構成ブロツク図である。LD２は半
導体レーザ等から構成され、周波数安定化され、
スペクトル線幅が少なくとも500kHz以下に抑え
られた動的にも単一モードのコヒーレントな光
源、IS１はこの光源LD２の出力光を透過し光源
側に戻る逆方向の光を遮ることにより半導体レー
ザに不要なモードホツプ等が生じないようにする
アイソレータ、FB２はこのアイソレータIS１の
出力光を入射する光フアイバ、LSIはこの光フア
イバFB２の出力光を入射するレンズ、PS１はこ
のレンズLS１の出力光をその一端面（図の上側）
に入射するプリズム、AO２はこのプリズムPS１
の反射光を入射する音響光学素子、DR２はこの
音響光学素子AO２を励振する駆動回路、PS２は
前記音響光学素子AO２の偏向出力をその一端面
（図の上側）に入射するプリズム、LS２はこのプ
リズムPS２の反射光を入射するレンズ、FB３は
このレンズLS２の出力光を入射する光フアイバ、
CN２はこの光フアイバFB３の出力光を入射する
光コネクタ、FB１はこのコネクタCN２が接続す
る被測定光フアイバ、Ｍ１は前記プリズムPS１
の一端面の反射光が前記音響光学素子AO２をＯ
次透過光として透過し前記プリズムPS２の他端
面（図の下側）で反射された後入射するミラー、
AT１はこのミラーの反射光が入射するアツテネ
ータ、HM１はこのアツテネータAT１の通過光
がその一方から入射し、前記被測定光フアイバ
FB１からの戻り光がコネクタCN２、光フアイバ
FB３、レンズLS２を介してプリズムPS２の一
端面で反射し前記音響光学素子AO２をＯ次透過
光として透過し前記プリズムPS１の他端面（図
の下側）で反射した後他方から入射するハーフミ
ラー、LS３はこのハーフミラーHM１の出力光
を入射する集光用のレンズ、PD２はこのレンズ
LS３の通過光を入射する受光素子、Ａ１はこの
受光素子PD２の電気出力を入力する増幅回路、
SP１はこの増幅回路Ａ１の出力を入力するとと
もに光源LD２および駆動回路DR２を制御する信
号処理回路、CP１はこの信号処理回路SP１の出
力を入力するコンピユータである。
実施例を示す構成ブロツク図である。LD２は半
導体レーザ等から構成され、周波数安定化され、
スペクトル線幅が少なくとも500kHz以下に抑え
られた動的にも単一モードのコヒーレントな光
源、IS１はこの光源LD２の出力光を透過し光源
側に戻る逆方向の光を遮ることにより半導体レー
ザに不要なモードホツプ等が生じないようにする
アイソレータ、FB２はこのアイソレータIS１の
出力光を入射する光フアイバ、LSIはこの光フア
イバFB２の出力光を入射するレンズ、PS１はこ
のレンズLS１の出力光をその一端面（図の上側）
に入射するプリズム、AO２はこのプリズムPS１
の反射光を入射する音響光学素子、DR２はこの
音響光学素子AO２を励振する駆動回路、PS２は
前記音響光学素子AO２の偏向出力をその一端面
（図の上側）に入射するプリズム、LS２はこのプ
リズムPS２の反射光を入射するレンズ、FB３は
このレンズLS２の出力光を入射する光フアイバ、
CN２はこの光フアイバFB３の出力光を入射する
光コネクタ、FB１はこのコネクタCN２が接続す
る被測定光フアイバ、Ｍ１は前記プリズムPS１
の一端面の反射光が前記音響光学素子AO２をＯ
次透過光として透過し前記プリズムPS２の他端
面（図の下側）で反射された後入射するミラー、
AT１はこのミラーの反射光が入射するアツテネ
ータ、HM１はこのアツテネータAT１の通過光
がその一方から入射し、前記被測定光フアイバ
FB１からの戻り光がコネクタCN２、光フアイバ
FB３、レンズLS２を介してプリズムPS２の一
端面で反射し前記音響光学素子AO２をＯ次透過
光として透過し前記プリズムPS１の他端面（図
の下側）で反射した後他方から入射するハーフミ
ラー、LS３はこのハーフミラーHM１の出力光
を入射する集光用のレンズ、PD２はこのレンズ
LS３の通過光を入射する受光素子、Ａ１はこの
受光素子PD２の電気出力を入力する増幅回路、
SP１はこの増幅回路Ａ１の出力を入力するとと
もに光源LD２および駆動回路DR２を制御する信
号処理回路、CP１はこの信号処理回路SP１の出
力を入力するコンピユータである。
上記のような構成の光フアイバ試験装置の動作
を次に説明する。第２図は第１図装置の動作を説
明するためのタイムチヤートである。光源LD２
から出力された時間幅Tpのパルス光（第２図Ａ）
はアイソレータIS１、光フアイバFB２およびレ
ンズLS１を介してプリズムPS１の一方の端面に
入射し反射し、音響光学素子AO２に入射する。
音響光学素子AO２は区間TAOで駆動回路DR２に
より超音波で励振される（第２図Ｂ）ので入射光
を回折（ここでは１次回折光）により偏向すると
同時に周波数を△ｆシフトする。音響光学素子
AO２からの偏向光出力はプリズムPS２の一方の
端面で反射してレンズLS２、光フアイバFB３お
よび光コネクタCN２を介して被測定フアイバFB
１に入射する。被測定フアイバ入射端等で生ずる
フレネル反射光は光コネクタCN２、光フアイバ
FB３およびレンズLS２を逆行し、プリズムPS
２の一方の端面で反射して音響光学素子AO２に
入射する。区間τで音響光学素子AO２は励振さ
れている（第２図Ｂ）ので、フレネル反射光は偏
向し、プリズムPS１の一方の端面で反射してレ
ンズLS１、光フアイバFB２を介してアイソレー
タIS１に入射する。アイソレータIS１はフレネル
反射光が光源LD２に入射して動作に影響を与え
ないように遮蔽する（光マスク機能）。次に被測
定フアイバFB１からの後方散乱光（第２図Ｃ）
は前記同様に音響光学素子AO２に入射するが、
このとき音響光学素子AO２は励振されていない
（第２図Ｂ）ので、Ｏ次透過光として透過し、プ
リズムPS１の他方の端面で反射した後ハーフミ
ラーHM１に入射する。また区間TLOで出力され
る光源LD２からの光（第２図Ａ）も、プリズム
PS１で反射した後音響光学素子AO２に入射し、
Ｏ次透過光として透過する。この透過光はプリズ
ムPS２の他方の端面で反射した後ミラーＭ１で
反射し、アツテネータAT１を通過した後局部発
振光としてハーフミラーHM１に入射する。ハー
フミラーHM１で混合された後方散乱光と局部発
振光は干渉した後レンズLS３で集光して受光素
子PD２に入射し、両光の差の周波数△ｆのビー
ト信号を検出される（ヘテロダイン検波）。受光
素子PD２の電気出力は増幅回路Ａ１で増幅され、
信号処理回路SP１でＡ／Ｄ変換、平均化処理な
どが行われた後、コンピユータCP１に入力する。
アツテネータAT１はヘテロダイン検波において
Ｓ／Ｎ比を量子限界まで高めるに充分な程度に局
部発振光のパワーを調整するものである。
を次に説明する。第２図は第１図装置の動作を説
明するためのタイムチヤートである。光源LD２
から出力された時間幅Tpのパルス光（第２図Ａ）
はアイソレータIS１、光フアイバFB２およびレ
ンズLS１を介してプリズムPS１の一方の端面に
入射し反射し、音響光学素子AO２に入射する。
音響光学素子AO２は区間TAOで駆動回路DR２に
より超音波で励振される（第２図Ｂ）ので入射光
を回折（ここでは１次回折光）により偏向すると
同時に周波数を△ｆシフトする。音響光学素子
AO２からの偏向光出力はプリズムPS２の一方の
端面で反射してレンズLS２、光フアイバFB３お
よび光コネクタCN２を介して被測定フアイバFB
１に入射する。被測定フアイバ入射端等で生ずる
フレネル反射光は光コネクタCN２、光フアイバ
FB３およびレンズLS２を逆行し、プリズムPS
２の一方の端面で反射して音響光学素子AO２に
入射する。区間τで音響光学素子AO２は励振さ
れている（第２図Ｂ）ので、フレネル反射光は偏
向し、プリズムPS１の一方の端面で反射してレ
ンズLS１、光フアイバFB２を介してアイソレー
タIS１に入射する。アイソレータIS１はフレネル
反射光が光源LD２に入射して動作に影響を与え
ないように遮蔽する（光マスク機能）。次に被測
定フアイバFB１からの後方散乱光（第２図Ｃ）
は前記同様に音響光学素子AO２に入射するが、
このとき音響光学素子AO２は励振されていない
（第２図Ｂ）ので、Ｏ次透過光として透過し、プ
リズムPS１の他方の端面で反射した後ハーフミ
ラーHM１に入射する。また区間TLOで出力され
る光源LD２からの光（第２図Ａ）も、プリズム
PS１で反射した後音響光学素子AO２に入射し、
Ｏ次透過光として透過する。この透過光はプリズ
ムPS２の他方の端面で反射した後ミラーＭ１で
反射し、アツテネータAT１を通過した後局部発
振光としてハーフミラーHM１に入射する。ハー
フミラーHM１で混合された後方散乱光と局部発
振光は干渉した後レンズLS３で集光して受光素
子PD２に入射し、両光の差の周波数△ｆのビー
ト信号を検出される（ヘテロダイン検波）。受光
素子PD２の電気出力は増幅回路Ａ１で増幅され、
信号処理回路SP１でＡ／Ｄ変換、平均化処理な
どが行われた後、コンピユータCP１に入力する。
アツテネータAT１はヘテロダイン検波において
Ｓ／Ｎ比を量子限界まで高めるに充分な程度に局
部発振光のパワーを調整するものである。
上記のような構成の光フアイバ試験装置によれ
ば、光周波数シフトと光方向性結合器の両方の機
能を音響光学素子に持たせることにより、構成を
簡単にできる。
ば、光周波数シフトと光方向性結合器の両方の機
能を音響光学素子に持たせることにより、構成を
簡単にできる。
また被測定フアイバ入射端等で生じるフレネル
反射によつて受光素子や増幅器が飽和するのを防
ぐことができる。
反射によつて受光素子や増幅器が飽和するのを防
ぐことができる。
なお上記の実施例において、光源LD２として
安定化された連続出力のものを使用し、アイソレ
ータIS１と光フアイバFB２との間に電気光学素
子等からなる変調器を挿入して光パルス変調を行
つてもよい。
安定化された連続出力のものを使用し、アイソレ
ータIS１と光フアイバFB２との間に電気光学素
子等からなる変調器を挿入して光パルス変調を行
つてもよい。
またハーフミラーHM１の代りにプリズムを用
いてもよい。
いてもよい。
第３図は本発明に係る光フアイバ試験装置の第
２の実施例を示す構成ブロツク図である。第１図
装置と同一の部分は同じ記号を付して説明を省略
する。LS４はプリズムPS１の他端面で反射した
光を入射する集光用のレンズ、FB４はこのレン
ズLS４で集光した光が入射する光フアイバ、CP
３はこの光フアイバFB４の出力光がその一方か
ら入射しその一端からの出力光が前記受光素子
PD２に入射するフアイバカプラ（フユーズドカ
プラ）、AT２はプリズムPS２の他端面で反射し
た光を入射するAT１と同様のアツテネータ、LS
５はこのアツテネータAT２の通過光を入射する
集光用のレンズ、FB５はこのレンズLS５の出力
光を入射し前記フアイバカプラに他方から入射す
る光フアイバである。光フアイバFB４を通過し
た後方散乱光および光フアイバFB５を通過した
局部発振光はフアイバカプラCP３で混合された
後受光素子PD２に入射する。
２の実施例を示す構成ブロツク図である。第１図
装置と同一の部分は同じ記号を付して説明を省略
する。LS４はプリズムPS１の他端面で反射した
光を入射する集光用のレンズ、FB４はこのレン
ズLS４で集光した光が入射する光フアイバ、CP
３はこの光フアイバFB４の出力光がその一方か
ら入射しその一端からの出力光が前記受光素子
PD２に入射するフアイバカプラ（フユーズドカ
プラ）、AT２はプリズムPS２の他端面で反射し
た光を入射するAT１と同様のアツテネータ、LS
５はこのアツテネータAT２の通過光を入射する
集光用のレンズ、FB５はこのレンズLS５の出力
光を入射し前記フアイバカプラに他方から入射す
る光フアイバである。光フアイバFB４を通過し
た後方散乱光および光フアイバFB５を通過した
局部発振光はフアイバカプラCP３で混合された
後受光素子PD２に入射する。
上記のような構成の装置の動作原理は第１図装
置の場合と同様であるが、構成が簡単になるとい
う利点がある。
置の場合と同様であるが、構成が簡単になるとい
う利点がある。
第４図は本発明の第３の実施例を示す構成ブロ
ツク図である。第１図装置と同一の部分は同じ記
号を付して説明を省略する。PS３はプリズムPS
１の他端面で反射した光を入射し、透過したＰ偏
光をハーフミラーHM１の一端に入射するウオラ
トンプリズム、Ｍ２はこのウオラトンプリズム
PS３で反射したＳ偏光出力を入射するミラー、
AT２はプリズムPS２の他端面で反射した局部発
振光を入射するアツテネータ、PS４はこのアツ
テネータAT２の通過光を入射する偏光プリズ
ム、HM２はこの偏光プリズムPS４で反射した
Ｓ偏光および前記ミラーＭ２で反射したＳ偏光を
異なる端面から入射するハーフミラー、LS４は
このハーフミラーHM２の出力光を入射する集光
用のレンズ、PD３はこのレンズLS４の出力光を
入射する第２の受光素子、CM１は前記プリズム
PS４を透過したＰ偏光がミラーＭ１で反射した
後入射しその出力光が前記ハーフミラーHM１の
他端に入射するバビネソレイユ補償板、LS３は
このハーフミラーHM１の出力光を集光して受光
素子PD２に入射するレンズ、Ａ２は受光素子PD
２，PD３の電気出力を入力して信号処理回路SP
１に出力する増幅回路である。
ツク図である。第１図装置と同一の部分は同じ記
号を付して説明を省略する。PS３はプリズムPS
１の他端面で反射した光を入射し、透過したＰ偏
光をハーフミラーHM１の一端に入射するウオラ
トンプリズム、Ｍ２はこのウオラトンプリズム
PS３で反射したＳ偏光出力を入射するミラー、
AT２はプリズムPS２の他端面で反射した局部発
振光を入射するアツテネータ、PS４はこのアツ
テネータAT２の通過光を入射する偏光プリズ
ム、HM２はこの偏光プリズムPS４で反射した
Ｓ偏光および前記ミラーＭ２で反射したＳ偏光を
異なる端面から入射するハーフミラー、LS４は
このハーフミラーHM２の出力光を入射する集光
用のレンズ、PD３はこのレンズLS４の出力光を
入射する第２の受光素子、CM１は前記プリズム
PS４を透過したＰ偏光がミラーＭ１で反射した
後入射しその出力光が前記ハーフミラーHM１の
他端に入射するバビネソレイユ補償板、LS３は
このハーフミラーHM１の出力光を集光して受光
素子PD２に入射するレンズ、Ａ２は受光素子PD
２，PD３の電気出力を入力して信号処理回路SP
１に出力する増幅回路である。
上記の構成の装置の動作を以下に説明する。プ
リズムPS１の他端面で反射した後方散乱光はウ
オラトンプリズムPS３を透過するＰ偏光と反射
するＳ偏光とに分離され、プリズムPS２の他端
面で反射した局部発振光はアツテネータAT２を
通過後、偏光プリズムPS４を透過するＰ偏光と
反射するＳ偏光とに分離される。偏光プリズム
PS４を透過するＰ偏光がミラーＭ１で反射した
後バビネソレイユ補償板CM１を通過した光と、
ウオラトンプリズムPS３を透過するＰ偏光とは、
ハーフミラーHM１で混合されレンズLS３を介
して受光素子PD２に入射する。ウオラトンプリ
ズムPS３で反射するＳ偏光は偏光プリズムPS４
で反射するＳ偏光とハーフミラーHM２で混合
し、レンズLS４を介して受光素子PD３に入射す
る。受光素子PD２およびPD３の電気出力は増幅
回路Ａ２で加算され、その後第１図装置と同様に
処理される。バビネソレイユ補償板CM１は後方
散乱光の偏光面に局部発振光の偏光面を合せるた
めのもので、必要に応じて使用する。偏光プリズ
ムPS４で偏光面を分離されるＰ偏光とＳ偏光の
割合はSN比が良くなるように１：１としている。
リズムPS１の他端面で反射した後方散乱光はウ
オラトンプリズムPS３を透過するＰ偏光と反射
するＳ偏光とに分離され、プリズムPS２の他端
面で反射した局部発振光はアツテネータAT２を
通過後、偏光プリズムPS４を透過するＰ偏光と
反射するＳ偏光とに分離される。偏光プリズム
PS４を透過するＰ偏光がミラーＭ１で反射した
後バビネソレイユ補償板CM１を通過した光と、
ウオラトンプリズムPS３を透過するＰ偏光とは、
ハーフミラーHM１で混合されレンズLS３を介
して受光素子PD２に入射する。ウオラトンプリ
ズムPS３で反射するＳ偏光は偏光プリズムPS４
で反射するＳ偏光とハーフミラーHM２で混合
し、レンズLS４を介して受光素子PD３に入射す
る。受光素子PD２およびPD３の電気出力は増幅
回路Ａ２で加算され、その後第１図装置と同様に
処理される。バビネソレイユ補償板CM１は後方
散乱光の偏光面に局部発振光の偏光面を合せるた
めのもので、必要に応じて使用する。偏光プリズ
ムPS４で偏光面を分離されるＰ偏光とＳ偏光の
割合はSN比が良くなるように１：１としている。
このような構成の光フアイバ試験装置によれ
ば、上記説明のように、偏波成分ごとに分けてそ
れぞれ電気信号に変換した後両成分を加算する、
偏波ダイバーシテイ受信方式を用いているので、
フエーデイング現象の影響を受けない。ここでフ
エーデイング現象とはヘテロダイン検波の感度が
偏波依存性を持つために後方散乱光が著しく変動
して観測される現象で、後方散乱が生じる際に偏
波状態が被測定フアイバ上の場所ごとに異なつて
おり、それが入射端に戻つてくるまでに偏波状態
が変化して干渉を引起こすため生ずると考えられ
ている。偏波状態が変動するために検波効率が低
下するのを偏波ダイバーシテイ受信方式により防
ぐことができる。
ば、上記説明のように、偏波成分ごとに分けてそ
れぞれ電気信号に変換した後両成分を加算する、
偏波ダイバーシテイ受信方式を用いているので、
フエーデイング現象の影響を受けない。ここでフ
エーデイング現象とはヘテロダイン検波の感度が
偏波依存性を持つために後方散乱光が著しく変動
して観測される現象で、後方散乱が生じる際に偏
波状態が被測定フアイバ上の場所ごとに異なつて
おり、それが入射端に戻つてくるまでに偏波状態
が変化して干渉を引起こすため生ずると考えられ
ている。偏波状態が変動するために検波効率が低
下するのを偏波ダイバーシテイ受信方式により防
ぐことができる。
なお上記の実施例において、ウオラトンプリズ
ムのように複屈折を利用したものばかりでなく、
偏光ビームスプリツタ等の偏波面を分離できる任
意の手段を用いることができる。
ムのように複屈折を利用したものばかりでなく、
偏光ビームスプリツタ等の偏波面を分離できる任
意の手段を用いることができる。
第５図は第４図装置の変形例を示す構成ブロツ
ク図である。第４図装置と同一の部分は同じ記号
を付して説明を省略する。HW１は偏光ミラーＭ
３で反射するＳ偏光がハーフミラーHM２を透過
した後入射してこれをＰ偏光とする半波長板、
HM３はウオラトンプリズムPS３を透過するＰ
偏光と半波長板の出力であるＰ偏光を混合するハ
ーフミラーである。後方散乱光および局部発振光
を混合したＰ偏光およびＳ偏光はそれぞれ受光素
子PD２およびPD３で検出され、第４図装置と同
様に処理される。
ク図である。第４図装置と同一の部分は同じ記号
を付して説明を省略する。HW１は偏光ミラーＭ
３で反射するＳ偏光がハーフミラーHM２を透過
した後入射してこれをＰ偏光とする半波長板、
HM３はウオラトンプリズムPS３を透過するＰ
偏光と半波長板の出力であるＰ偏光を混合するハ
ーフミラーである。後方散乱光および局部発振光
を混合したＰ偏光およびＳ偏光はそれぞれ受光素
子PD２およびPD３で検出され、第４図装置と同
様に処理される。
≪発明の効果≫
以上述べたように本発明によれば、光ヘテロダ
イン検波方式を用いた光フアイバ試験装置におい
て、不要な過大光入力による受光素子や増幅器の
飽和を防ぐ光マスク機能を備えた光フアイバ試験
装置を簡単な構成で実現することができる。
イン検波方式を用いた光フアイバ試験装置におい
て、不要な過大光入力による受光素子や増幅器の
飽和を防ぐ光マスク機能を備えた光フアイバ試験
装置を簡単な構成で実現することができる。
第１図は本発明に係わる光フアイバ試験装置の
一実施例を示す構成ブロツク図、第２図は第１図
装置の動作を説明するためのタイムチヤート、第
３図は本発明に係わる光フアイバ試験装置の第２
の実施例を示す構成ブロツク図、第４図は本発明
に係わる光フアイバ試験装置の第３の実施例を示
す構成ブロツク図、第５図は第４図装置の一変形
例を示す構成ブロツク図、第６図は従来の光フア
イバ試験装置の例を示す構成ブロツク図である。 LD２……光源、FB１……被測定フアイバ、
AO２……音響光学素子、PS１，PS２……プリ
ズム、HM１，HM２，HM３……ハーフミラ
ー、Ｍ１，Ｍ２……ミラー、Ｍ３……偏光ミラ
ー、CP３……フアイバカプラ、PS３……ウオラ
トンプリズム、PS４……偏光プリズム、PD２，
PD３……受光素子。
一実施例を示す構成ブロツク図、第２図は第１図
装置の動作を説明するためのタイムチヤート、第
３図は本発明に係わる光フアイバ試験装置の第２
の実施例を示す構成ブロツク図、第４図は本発明
に係わる光フアイバ試験装置の第３の実施例を示
す構成ブロツク図、第５図は第４図装置の一変形
例を示す構成ブロツク図、第６図は従来の光フア
イバ試験装置の例を示す構成ブロツク図である。 LD２……光源、FB１……被測定フアイバ、
AO２……音響光学素子、PS１，PS２……プリ
ズム、HM１，HM２，HM３……ハーフミラ
ー、Ｍ１，Ｍ２……ミラー、Ｍ３……偏光ミラ
ー、CP３……フアイバカプラ、PS３……ウオラ
トンプリズム、PS４……偏光プリズム、PD２，
PD３……受光素子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光源からの光を被測定フアイバに入射し被測
定フアイバの後方散乱光を検出することにより被
測定フアイバの状態を観測する光フアイバ試験装
置において、 光源からの出力光を被測定フアイバに入射する
ように偏向するとともにその周波数をシフトさせ
る音響光学素子と、 前記被測定フアイバの後方散乱光と前記光源か
らの光が前記音響光学素子に入射して生じるそれ
ぞれのＯ次透過光を合波する光学系と、 この光学系からの合波出力光を検出する受光素
子とを備えたことを特徴とする光フアイバ試験装
置。 ２ 光源からパルス光を出力後所定の時間音響光
学素子を励振して、被測定フアイバから戻るフレ
ネル反射光を偏向し、過大な入力光が受光素子に
入射しないように構成した特許請求の範囲第１項
記載の光フアイバ試験装置。 ３ 音響光学素子から出力する２つのＯ次透過光
のそれぞれを直交する偏光成分に分離し、同一の
偏光成分同志を合波して２つの受光素子でそれぞ
れ検出し、２つの検出出力を加算するように構成
した特許請求の範囲第１項記載の光フアイバ試験
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10993086A JPS62266434A (ja) | 1986-05-14 | 1986-05-14 | 光フアイバ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10993086A JPS62266434A (ja) | 1986-05-14 | 1986-05-14 | 光フアイバ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62266434A JPS62266434A (ja) | 1987-11-19 |
| JPH0325732B2 true JPH0325732B2 (ja) | 1991-04-08 |
Family
ID=14522715
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10993086A Granted JPS62266434A (ja) | 1986-05-14 | 1986-05-14 | 光フアイバ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62266434A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3737635A1 (de) * | 1987-11-06 | 1989-05-18 | Philips Patentverwaltung | Optisches heterodyn-zeitbereichsreflektometer |
| JP2012088268A (ja) * | 2010-10-22 | 2012-05-10 | Yokogawa Electric Corp | 光パルス試験装置 |
| WO2025017890A1 (ja) * | 2023-07-20 | 2025-01-23 | 日本電信電話株式会社 | 光ファイバセンシング方法 |
-
1986
- 1986-05-14 JP JP10993086A patent/JPS62266434A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62266434A (ja) | 1987-11-19 |
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