JPH032583A - 光学的測長方法および装置 - Google Patents
光学的測長方法および装置Info
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- JPH032583A JPH032583A JP1136994A JP13699489A JPH032583A JP H032583 A JPH032583 A JP H032583A JP 1136994 A JP1136994 A JP 1136994A JP 13699489 A JP13699489 A JP 13699489A JP H032583 A JPH032583 A JP H032583A
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- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光波を用いて基阜地点から目標地点までの光路
の長さをel定する光学的測長方法及び装置に関する。
の長さをel定する光学的測長方法及び装置に関する。
従来より光波の伝搬時間を計測して光路の長さを求める
方法及び装置が広く用いられている。
方法及び装置が広く用いられている。
従来より用いられている41す長方法および装置は、1
波長の光波を用いるものが大部分であった。すなわち、
光波の伝搬時間t、光路の温度T1気圧P、湿度RH等
を測定し、光路の屈折能N (T。
波長の光波を用いるものが大部分であった。すなわち、
光波の伝搬時間t、光路の温度T1気圧P、湿度RH等
を測定し、光路の屈折能N (T。
P、RHl・・・)を推定し、光路の長さDをD= i
t/ (N+1)] ・C より求めるものである。但し、Cは真空中の光速度とす
る。従って、正確なdIII長を行なうためには光路の
気象、即ち温度、気圧、湿度等を正確に知ることが不可
欠であった。環境条件が充分に制御された実験室や地下
トンネル等、また短い距離ならば、正確な気象測定が可
能であるから、従来の方法でも十分な測長確度が得られ
るので特に問題はなかった。
t/ (N+1)] ・C より求めるものである。但し、Cは真空中の光速度とす
る。従って、正確なdIII長を行なうためには光路の
気象、即ち温度、気圧、湿度等を正確に知ることが不可
欠であった。環境条件が充分に制御された実験室や地下
トンネル等、また短い距離ならば、正確な気象測定が可
能であるから、従来の方法でも十分な測長確度が得られ
るので特に問題はなかった。
しかし、測量等でしばしば必要とされるように、大気中
で水平方向に数kmから数10kmを測長する場合には
、光路の平均屈折能が容易に推定できないため、大きな
問題か生じる。従って、当然に確度の高いalll長は
困難となる。光路に多くの気象観測器材を配置して測定
データを収集し、光路のより正確な平均屈折能を推定し
、この様な条件下で確度の高い測長を行なおうとの試み
もあるが、装置が大掛かりになる上、各気象観測器材の
校正方法等、新たな難問も生じるため十分な高精度は期
待てきなかった。
で水平方向に数kmから数10kmを測長する場合には
、光路の平均屈折能が容易に推定できないため、大きな
問題か生じる。従って、当然に確度の高いalll長は
困難となる。光路に多くの気象観測器材を配置して測定
データを収集し、光路のより正確な平均屈折能を推定し
、この様な条件下で確度の高い測長を行なおうとの試み
もあるが、装置が大掛かりになる上、各気象観測器材の
校正方法等、新たな難問も生じるため十分な高精度は期
待てきなかった。
一方、n種類の無極性物質で満たされた光路の屈折能N
は、1番目の116成物質の密度ρ1、波長に依存する
係数をR3とするなら、 なる関係が成立することを利用し、多波長の光波を用い
て光路の伝搬時間を測定することにより、気象観1fl
ll自体を不要にしてしまおうとする試みもある。
は、1番目の116成物質の密度ρ1、波長に依存する
係数をR3とするなら、 なる関係が成立することを利用し、多波長の光波を用い
て光路の伝搬時間を測定することにより、気象観1fl
ll自体を不要にしてしまおうとする試みもある。
波長の異なる2つの光波を用いる方法では、波長]、波
長2の光路が測定光路を伝搬するに要する時間1 .1
を測定し、光路の乾燥空気密度をρ 、波長1と波
長2の屈折能をN とN2とした時に、 N1 =α1 °ρ3 N −α2 °ρ8 なる関係を規定し、光路の長さDを D= [t →−a (tl−tl)/(α
−α 2 ) コ ・ C■ より求める。この方法では光路の水蒸気密度、すなわち
湿度をはじめから考慮していないので、到底高精度の1
lll長は望め得なかった。
長2の光路が測定光路を伝搬するに要する時間1 .1
を測定し、光路の乾燥空気密度をρ 、波長1と波
長2の屈折能をN とN2とした時に、 N1 =α1 °ρ3 N −α2 °ρ8 なる関係を規定し、光路の長さDを D= [t →−a (tl−tl)/(α
−α 2 ) コ ・ C■ より求める。この方法では光路の水蒸気密度、すなわち
湿度をはじめから考慮していないので、到底高精度の1
lll長は望め得なかった。
波長の異なる3つの光波を用いる方法では、波長1、波
長2、波長3の光波が測定光路を伝搬するに用する時間
t 、 t 2 、 t 3を測定し、光路の乾
燥空気密度をρ 、水蒸気密度をρ 、波長S
W1、波長2
、波長3の屈折能をN 、N 、Nとした時に、 N −α ・ρ +β ・R7 11S I N −α ・ρ 十β ・β1 2 2 s 2 N −α ・ρ +β ・ρい 3 3 S 3 なる関係を規定し、光路の長さDを、 D=[t +((α ・ β −α
・ β )(t −t )l/+(α2−α
1)(β −β )−(α3−α1) (β −β )l + +(α ・β1−α1・β
) (t3−tl))/((α2α ) (β
−β )−(α3−αl)(R2−β1))] ・C より求める。この方法は理論的にも優れているが、実現
する為には光源、送光制御装置、受光検出装置等、新技
術の開発が不可欠であり、現在、有効な装置を実現する
ことは困難である。
長2、波長3の光波が測定光路を伝搬するに用する時間
t 、 t 2 、 t 3を測定し、光路の乾
燥空気密度をρ 、水蒸気密度をρ 、波長S
W1、波長2
、波長3の屈折能をN 、N 、Nとした時に、 N −α ・ρ +β ・R7 11S I N −α ・ρ 十β ・β1 2 2 s 2 N −α ・ρ +β ・ρい 3 3 S 3 なる関係を規定し、光路の長さDを、 D=[t +((α ・ β −α
・ β )(t −t )l/+(α2−α
1)(β −β )−(α3−α1) (β −β )l + +(α ・β1−α1・β
) (t3−tl))/((α2α ) (β
−β )−(α3−αl)(R2−β1))] ・C より求める。この方法は理論的にも優れているが、実現
する為には光源、送光制御装置、受光検出装置等、新技
術の開発が不可欠であり、現在、有効な装置を実現する
ことは困難である。
本発明は上記のような課題を解決することを目的として
いる。
いる。
〔課題を解決するための手段および作用〕そこで本発明
では、光路の乾燥空気密度をρ 、水蒸気密度をρ 、
波長]と波長2の屈折能をN1とN2とした時に、 N =α ・ρ +β1 ・ρ1 1 1 s N =α ・ρ 十β2−ρ□ 2 2 s なる関係を規定すると、通常気象条件ではα 〉〉β
(ρ /ρ ) 1 1 w sα 〉〉
β ・ (ρ /ρ ) 2 2 w sなる関係
が成立することに着目し、 D−[t +((α 十 β ・ ρ
/ ρ )1 ]、 1.
w s(t 2 t l ) l / ((α
1+β1・ρ /ρ )−(α 十β ・ρ /v
s 2 2 vρ ))] ・C なる、光路の長さ算出式を導出し、従来の方法および装
置に比べ緩やかな気象測定確度で、より高確度な測長を
容易に行なえるようにしたことを特徴にしている。
では、光路の乾燥空気密度をρ 、水蒸気密度をρ 、
波長]と波長2の屈折能をN1とN2とした時に、 N =α ・ρ +β1 ・ρ1 1 1 s N =α ・ρ 十β2−ρ□ 2 2 s なる関係を規定すると、通常気象条件ではα 〉〉β
(ρ /ρ ) 1 1 w sα 〉〉
β ・ (ρ /ρ ) 2 2 w sなる関係
が成立することに着目し、 D−[t +((α 十 β ・ ρ
/ ρ )1 ]、 1.
w s(t 2 t l ) l / ((α
1+β1・ρ /ρ )−(α 十β ・ρ /v
s 2 2 vρ ))] ・C なる、光路の長さ算出式を導出し、従来の方法および装
置に比べ緩やかな気象測定確度で、より高確度な測長を
容易に行なえるようにしたことを特徴にしている。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明に係わる光学的測長方法を用いて副長装
置を構成する場合の実施例のブロック図である。
置を構成する場合の実施例のブロック図である。
第1図に示す測長装置は、光波を目標地点の反射部4に
向けて送信する送光部1と、反射部4からの反射光を受
信し、測長演算、処理、表示を行なう受光演算部2と、
送光部1と受光演算部2に同期信号を供給する原発振部
3と、送光部1から送られてきた光波を受光演算部2に
送り返す反射部4とを備えている。なお、送光部1と受
光部2と原発振部3は基準地点に、また反射部4は目標
地点に設置されているものとする。
向けて送信する送光部1と、反射部4からの反射光を受
信し、測長演算、処理、表示を行なう受光演算部2と、
送光部1と受光演算部2に同期信号を供給する原発振部
3と、送光部1から送られてきた光波を受光演算部2に
送り返す反射部4とを備えている。なお、送光部1と受
光部2と原発振部3は基準地点に、また反射部4は目標
地点に設置されているものとする。
送光部1は基本光を発生するYAGレーザ5と、原発振
部3から出力される同期信号によりY、A Gレーザ5
の出力光をパルス列に変換するモードロック装置6と、
モードロック装置6の出力パルス列から光パルスバース
トを出力する電気光学スイッチ7と、電気光学スイッチ
の光パルスバーストを人力してその第2高調波すなわち
波長5B2nII1の光パルスバーストを出力する光高
調波発生部8と、電気光学スイッチ7と光高調波発生部
8の出力光パルスバーストを混合し目標地点の反射部4
に送信する送光望遠鏡9から構成されている。
部3から出力される同期信号によりY、A Gレーザ5
の出力光をパルス列に変換するモードロック装置6と、
モードロック装置6の出力パルス列から光パルスバース
トを出力する電気光学スイッチ7と、電気光学スイッチ
の光パルスバーストを人力してその第2高調波すなわち
波長5B2nII1の光パルスバーストを出力する光高
調波発生部8と、電気光学スイッチ7と光高調波発生部
8の出力光パルスバーストを混合し目標地点の反射部4
に送信する送光望遠鏡9から構成されている。
受光演算部2は目標地点の反射部4て反射した光パルス
バーストを受信する受光望遠鏡10と、受光望遠鏡10
で受信された基本光のパルスバースト、光高調波のパル
スバーストをそれぞれ検波し復調電気信号に変換する括
本光検波部11、光高調波検波部12と、原発振部3の
同期信号と括本光検波部11、光高り1ソ波検波部12
の各復調電気信号の位相差を比較する位相比較装置13
と、光路の気象を測定する気象観測装置14と、位相比
較装置13の比較結果に基づき基本光と光高調波が基準
地点から目標地点までに伝搬するに要した時間を算出し
、気象観測装置14の測定結果に基づき、特許請求の範
囲に記載した式により測長結果を求める演算装置]5と
、演算結果を表示する表示装置16とを備えている。
バーストを受信する受光望遠鏡10と、受光望遠鏡10
で受信された基本光のパルスバースト、光高調波のパル
スバーストをそれぞれ検波し復調電気信号に変換する括
本光検波部11、光高調波検波部12と、原発振部3の
同期信号と括本光検波部11、光高り1ソ波検波部12
の各復調電気信号の位相差を比較する位相比較装置13
と、光路の気象を測定する気象観測装置14と、位相比
較装置13の比較結果に基づき基本光と光高調波が基準
地点から目標地点までに伝搬するに要した時間を算出し
、気象観測装置14の測定結果に基づき、特許請求の範
囲に記載した式により測長結果を求める演算装置]5と
、演算結果を表示する表示装置16とを備えている。
原発振部3は水晶発振器17と送光部1、受光演算部2
に供給する同期信号を発生する同期信号発生部18から
なっている。
に供給する同期信号を発生する同期信号発生部18から
なっている。
反射部4は複数のコーナーキューブ19より構成されて
いる。
いる。
なお、送光望遠鏡つと受光望遠鏡10は同軸あるいは同
梁されている。
梁されている。
本実施例、すなわち、
波長1=1064r+n+
波長2 = 532 nm
を用いて、光路の長さ1.00 kmを±0.5×10
6の確度で測定するには 光路の温度測定± 7℃ 気圧測定±400mb 湿度測定± 22% 伝搬時間i+tり定± 8ps の測定確度が必要である。
6の確度で測定するには 光路の温度測定± 7℃ 気圧測定±400mb 湿度測定± 22% 伝搬時間i+tり定± 8ps の測定確度が必要である。
従来の方法、すなわち1波長を用いた測長法で同様な測
定を行なう場合に必要な測定確度、すなわち 光路の温度測定±0.5°C 気圧711り定±1.8mb 湿度測定± 55% 伝搬時間測定±1.66 ps と比べると、温度および気圧測定確度がより実現可能な
値となったことが判る。温度測定誤差は常に最も大きな
誤差要因となる為、温度測定の必要確度が緩和されたこ
とは特に意義深い。その一方、湿度および伝搬時間の測
定確度は厳しい値になったが現状技術でまだ充分対応で
きる値である。
定を行なう場合に必要な測定確度、すなわち 光路の温度測定±0.5°C 気圧711り定±1.8mb 湿度測定± 55% 伝搬時間測定±1.66 ps と比べると、温度および気圧測定確度がより実現可能な
値となったことが判る。温度測定誤差は常に最も大きな
誤差要因となる為、温度測定の必要確度が緩和されたこ
とは特に意義深い。その一方、湿度および伝搬時間の測
定確度は厳しい値になったが現状技術でまだ充分対応で
きる値である。
また、本発明は前述の実施例で示したYAGレーザの基
本波とその高調波を用いる方法および装置に限定される
ものではない。例えば、HeNeレーザとHo−Cdレ
ーザ、すなわち、波長1=633nm 波長2=442nm を用いても、同様に温度、気圧の測定確度が緩和される
効果が期待できる。
本波とその高調波を用いる方法および装置に限定される
ものではない。例えば、HeNeレーザとHo−Cdレ
ーザ、すなわち、波長1=633nm 波長2=442nm を用いても、同様に温度、気圧の測定確度が緩和される
効果が期待できる。
因みに、この2波長を用いて前述と同様の測定を行なう
に必要測定確度は、 光路の温度測定± 7℃ 気圧測定±427mb 湿度i+tり定± 22% 伝搬時間4Iり定± 8ps である。
に必要測定確度は、 光路の温度測定± 7℃ 気圧測定±427mb 湿度i+tり定± 22% 伝搬時間4Iり定± 8ps である。
なお、以上の評価は下記の論文を参考にして行なった。
論 文
[JalIles C,Owens、 ”0ptica
l rel’ractive 1ndexof air
:Dependence on pressure、t
cvperature。
l rel’ractive 1ndexof air
:Dependence on pressure、t
cvperature。
and composition 、Applied
0ptjcs、vol、6.no、l。
0ptjcs、vol、6.no、l。
51−59.(1967)J
〔発明の効果〕
以上、説明した(、lに本発明によれば、従来の方法お
よび装置に比べ緩やかな気象測定確度で、より高確度な
測長を容易に行なえる光学的測長方法および装置を実現
できる。
よび装置に比べ緩やかな気象測定確度で、より高確度な
測長を容易に行なえる光学的測長方法および装置を実現
できる。
第1図は本発明の実施例の構成図である。
1・・送光部、2・・・受光演算部、3・・・原発振部
、4・・・反射部。
、4・・・反射部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、波長1と波長2の異なる波長の光が基準地点から目
標地点まで伝搬するに要する時間t_1とt_2を測定
し、前記基準地点から目標地点までの光路の長さDを求
めるに際し、真空中の光速度をC、前記光路の乾燥空気
密度をρ_S、水蒸気密度をρ_W、波長1と波長2の
屈折能をN_1とN_2とした時に、 N_1=α_1・ρ_S+β_1・ρ_W N_2=α_2・ρ_S+β_2・ρ_W なる関係を規定し、 D=[t_1+{(α_1+β_1・ρ_W/ρ_S)
・(t_2−t_1)}/{(α_1+β_1・ρ_W
/ρ_S)−(α_2+β_2・ρ_W/ρ_S)}]
・C または、この近似展開式を用いることを特徴とする光学
的測長方法。 2、波長1と波長2の異なる波長の光が基準地点から目
標地点まで伝搬するに要する時間t_1とt_2を測定
し、前記基準地点から目標地点までの光路の長さDを求
めるに際し、真空中の光速度をC、前記光路の乾燥空気
密度をρ_S、水蒸気密度をρ_W、波長1と波長2の
屈折能をN_1とN_2とした時に、 N_1=α_1・ρ_S+β_1・ρ_W N_2=α_2・ρ_S+β_2・ρ_W なる関係を規定し、 D=[t_1+{(α_1+β_1・ρ_W/ρ_S)
・(t_2−t_1)}/{(α_1+β_1・ρ_W
/ρ_S)−(α_2+β_2・ρ_W/ρ_S)}]
・C または、この近似展開式を用いることを特徴とする光学
的測長装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1136994A JPH0738024B2 (ja) | 1989-05-30 | 1989-05-30 | 光学的測長方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1136994A JPH0738024B2 (ja) | 1989-05-30 | 1989-05-30 | 光学的測長方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH032583A true JPH032583A (ja) | 1991-01-08 |
| JPH0738024B2 JPH0738024B2 (ja) | 1995-04-26 |
Family
ID=15188304
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1136994A Expired - Fee Related JPH0738024B2 (ja) | 1989-05-30 | 1989-05-30 | 光学的測長方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0738024B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006300753A (ja) * | 2005-04-21 | 2006-11-02 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 距離測定装置 |
| JP2009236657A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 距離測定装置 |
-
1989
- 1989-05-30 JP JP1136994A patent/JPH0738024B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006300753A (ja) * | 2005-04-21 | 2006-11-02 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 距離測定装置 |
| JP2009236657A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 距離測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0738024B2 (ja) | 1995-04-26 |
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