JPH03267394A - 半割軸受の表面処理方法及びその装置 - Google Patents
半割軸受の表面処理方法及びその装置Info
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- JPH03267394A JPH03267394A JP2065691A JP6569190A JPH03267394A JP H03267394 A JPH03267394 A JP H03267394A JP 2065691 A JP2065691 A JP 2065691A JP 6569190 A JP6569190 A JP 6569190A JP H03267394 A JPH03267394 A JP H03267394A
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D7/00—Electroplating characterised by the article coated
- C25D7/10—Bearings
-
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- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D21/00—Processes for servicing or operating cells for electrolytic coating
- C25D21/10—Agitating of electrolytes; Moving of racks
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、半割軸受の内面及び/または背面に表面処理
をする方法及び装置に関する。
をする方法及び装置に関する。
[従来の技術]
従来から半割軸受の表面層は電気めっきにより軸受内面
に数ミクロンから数拾ミクロンの厚さの層を設けるため
、表面処理液が入った浴槽内で複数個組付配列された半
割軸受内面の中心線に沿った軸線方向に位置する陽極棒
を配置し電気めっきをおこなっている。この場合半割軸
受の上下にはめっき厚分布の悪い所が出来るのでこれを
防止するため、スペーサーメタル、捨てメタル、ダミー
メタルなどと呼ばれる半割軸受の形状を有し且つ主導性
の物が半割軸受の上下に組付けられる。次に半割軸受を
組付けためつきケースを脱脂槽、電解脱脂槽、酸浸漬槽
、めっき槽、回収槽、水洗槽、中和槽、洗浄槽等で処理
し、処理された半割軸受をめっきケースより取り出すこ
とによって半割軸受の表面処理がなされている。
に数ミクロンから数拾ミクロンの厚さの層を設けるため
、表面処理液が入った浴槽内で複数個組付配列された半
割軸受内面の中心線に沿った軸線方向に位置する陽極棒
を配置し電気めっきをおこなっている。この場合半割軸
受の上下にはめっき厚分布の悪い所が出来るのでこれを
防止するため、スペーサーメタル、捨てメタル、ダミー
メタルなどと呼ばれる半割軸受の形状を有し且つ主導性
の物が半割軸受の上下に組付けられる。次に半割軸受を
組付けためつきケースを脱脂槽、電解脱脂槽、酸浸漬槽
、めっき槽、回収槽、水洗槽、中和槽、洗浄槽等で処理
し、処理された半割軸受をめっきケースより取り出すこ
とによって半割軸受の表面処理がなされている。
[発明が解決しようとしている問題点]ψ 半割軸受を
複数個組付けためつきケース又は治具等を処理液に浸漬
して処理しその後半割軸受を取出しているが、出し入れ
される物体の表面積の大きさに関連して処理液の汲み出
しが多くなる。
複数個組付けためつきケース又は治具等を処理液に浸漬
して処理しその後半割軸受を取出しているが、出し入れ
される物体の表面積の大きさに関連して処理液の汲み出
しが多くなる。
この漬は更にめっきケース等の構造が複雑になるほど多
くなり、各処理液の回収液濃度の増加;洗浄水の汚染濃
度の増加により、各処理液の汚染、ひいてはめっき品質
の低下や廃水処理等々の問題を生じていた。
くなり、各処理液の回収液濃度の増加;洗浄水の汚染濃
度の増加により、各処理液の汚染、ひいてはめっき品質
の低下や廃水処理等々の問題を生じていた。
初 また半割軸受に均一に給電するためには、各めっき
ケース又は治具の給電部に均一な接触が必要であるが、
軸受とスペーサー、スペーサーとめつきケース又は治具
、めっきケース又は治具と装置のフック等々の接触個所
が多いため接触抵抗の累積として均一な給電を困難にし
ており、このためにめっき厚さの精度を悪くしている。
ケース又は治具の給電部に均一な接触が必要であるが、
軸受とスペーサー、スペーサーとめつきケース又は治具
、めっきケース又は治具と装置のフック等々の接触個所
が多いため接触抵抗の累積として均一な給電を困難にし
ており、このためにめっき厚さの精度を悪くしている。
e9 更にめっきケース又は治具内で半割軸受の液中
に於ける上下の位置の差によって電流分布特性の変動が
生じる。この変動を最小限とするため半割軸受と同じ内
径のスペーサー101を上下に配置してめっきをおこな
うことが従来から行なわれて来たが(第7A図及び第7
B図参照)、この変動を最小限とするのには十分ではな
く、まためっきケース等の、傾きによりめっき厚さの精
度を悪くしている。
に於ける上下の位置の差によって電流分布特性の変動が
生じる。この変動を最小限とするため半割軸受と同じ内
径のスペーサー101を上下に配置してめっきをおこな
うことが従来から行なわれて来たが(第7A図及び第7
B図参照)、この変動を最小限とするのには十分ではな
く、まためっきケース等の、傾きによりめっき厚さの精
度を悪くしている。
(ハ) ここで使用されるスペーサー101は複数個の
半割軸受を組付けしているめっきケース又は冶具ごとに
必要で、毎回めっきされるため、次第に表面が盛り上が
り、粗くなり、そのためにスペーサ附近の半割軸受のめ
つき厚さの精度低下の原因や、各工程の処理液の汲み出
しにより回収液濃度の増加:洗浄水の汚れの増加;ひい
ては各処理液の汚染の原因となる。
半割軸受を組付けしているめっきケース又は冶具ごとに
必要で、毎回めっきされるため、次第に表面が盛り上が
り、粗くなり、そのためにスペーサ附近の半割軸受のめ
つき厚さの精度低下の原因や、各工程の処理液の汲み出
しにより回収液濃度の増加:洗浄水の汚れの増加;ひい
ては各処理液の汚染の原因となる。
■ 更に、従来の方法ではめつきケース又は治具が、ア
ルカリ性液や酸性液に浸漬される過程で、上記0)項の
汚染等と共に化学反応により不溶性沈殿物が治具に耐着
し増加する。しかも各処理液は処理温度が異なり冷した
り温めたりの繰返しによりケース又は治具にはひずみが
生じ、半割軸受組付精度を悪くするために、ひいては半
割軸受に付与されるめっき厚さの精度を悪くしていた。
ルカリ性液や酸性液に浸漬される過程で、上記0)項の
汚染等と共に化学反応により不溶性沈殿物が治具に耐着
し増加する。しかも各処理液は処理温度が異なり冷した
り温めたりの繰返しによりケース又は治具にはひずみが
生じ、半割軸受組付精度を悪くするために、ひいては半
割軸受に付与されるめっき厚さの精度を悪くしていた。
(へ) 一方現在の環境はエンジンの高性能化と低騒音
化の要求から半割軸受及び半割軸受表面層の^精密仕上
げが要求され、合わせて品質の均一性が望まれている。
化の要求から半割軸受及び半割軸受表面層の^精密仕上
げが要求され、合わせて品質の均一性が望まれている。
従ってこれらの方式では剛性のあるめっきケース、大型
めっき装置、大型廃水処理設備まで必要となり、水量も
多く必要となる。当然のこととしてイニシ?ルコスト、
ランニングコストも^くなり、メンテナンスも多くの費
用を必要としていた。
めっき装置、大型廃水処理設備まで必要となり、水量も
多く必要となる。当然のこととしてイニシ?ルコスト、
ランニングコストも^くなり、メンテナンスも多くの費
用を必要としていた。
(ト) また直接生産作業の面からも、ケースへの半
割軸受の取り付け、装置への取り付け、装置からの取り
外し、ケースより半割軸受の取り出しと、繰り返し作業
が多くこれを人手にたよるにしても、自動装置化にして
も多額の費用が必要で、生産コストアップにつながって
いた。
割軸受の取り付け、装置への取り付け、装置からの取り
外し、ケースより半割軸受の取り出しと、繰り返し作業
が多くこれを人手にたよるにしても、自動装置化にして
も多額の費用が必要で、生産コストアップにつながって
いた。
本発明の目的は、上記従来技術の欠点を改良することで
ある。
ある。
[問題点を解決するための手段]
上記目的を達成するための本発明の半割軸受表面処理方
法は、表面処理液を収容し且つ表面処理により半割軸受
に付与される合金を陽極として収容した浴槽Aを準備す
る段階と、該表面処理液の中に半割軸受を1個づつ連続
して挿入する段階と、表面処理液中に挿入された半割軸
受を互いに接触した状態で表面処理液内を移動させなが
ら該半割軸受を陰極とし上記陽極との間で表面処理液を
介して通電し半割軸受表面に上記合金の表面層を付与す
る表面処理をおこなう段階と、表面処理を完了した半割
軸受を連続して1個づつ順々に浴槽外へ搬出する段階と
、を有することを更に有する。
法は、表面処理液を収容し且つ表面処理により半割軸受
に付与される合金を陽極として収容した浴槽Aを準備す
る段階と、該表面処理液の中に半割軸受を1個づつ連続
して挿入する段階と、表面処理液中に挿入された半割軸
受を互いに接触した状態で表面処理液内を移動させなが
ら該半割軸受を陰極とし上記陽極との間で表面処理液を
介して通電し半割軸受表面に上記合金の表面層を付与す
る表面処理をおこなう段階と、表面処理を完了した半割
軸受を連続して1個づつ順々に浴槽外へ搬出する段階と
、を有することを更に有する。
本R軒の半割軸受表面処理方法は、表面処理液を収容す
るための浴槽Aと、該浴槽内に配置され且つ複数半割軸
受を互いに接触状態に保持しつつ移動可能に配列する摺
動板装置F、F2並びに該摺動板装置により配列されて
いる複数半割軸受のうち表面処理液外に配置された半割
軸受と通電可能に接触する通電装置7を備えた表面層形
成装置Fと、表面層形成装置Fから隔置された表面処j
!!液撹拌パイプと、該表面処J!!I浣拌パイプから
隔置された電極とを有することを更に有する。
るための浴槽Aと、該浴槽内に配置され且つ複数半割軸
受を互いに接触状態に保持しつつ移動可能に配列する摺
動板装置F、F2並びに該摺動板装置により配列されて
いる複数半割軸受のうち表面処理液外に配置された半割
軸受と通電可能に接触する通電装置7を備えた表面層形
成装置Fと、表面層形成装置Fから隔置された表面処j
!!液撹拌パイプと、該表面処J!!I浣拌パイプから
隔置された電極とを有することを更に有する。
[作用1
本発明においては、被表面処理体である複数個の半割軸
受は1個づつ順々に連続的に表面処理液中に挿入され、
該複数半割軸受をhに接触状態に保持しつつ表面処理液
中を移動する過程で半割軸受に通電して表面処理をおこ
なっている。従って半割軸受は連続的に表面処理される
ため作業効率がよく、且つ各半割軸受は表面処理液中で
同じ表面処理ルートを通過するので表面処理条件がとの
半割軸受についても同一となり各半割軸受に付与にされ
る表面処理を均一におこなうことが可能となる。
受は1個づつ順々に連続的に表面処理液中に挿入され、
該複数半割軸受をhに接触状態に保持しつつ表面処理液
中を移動する過程で半割軸受に通電して表面処理をおこ
なっている。従って半割軸受は連続的に表面処理される
ため作業効率がよく、且つ各半割軸受は表面処理液中で
同じ表面処理ルートを通過するので表面処理条件がとの
半割軸受についても同一となり各半割軸受に付与にされ
る表面処理を均一におこなうことが可能となる。
[実施例]
(例1) 第1A図、第1B図及び第1C図は本発明の
第1の実施例であり、第1D図に示される半割軸受Zの
内面YにN「メツキする場合の表面処理を示す。半割軸
受Zは、1.2履厚さの鋼裏金に銅鉛軸受合金焼結層(
25wt%Pb−0,5wt%3. n−残部Cu)が
接合されて内面を形成し且つ外径63原、内径60履、
厚さ1.5履及び幅26.5麿の寸法を有する。
第1の実施例であり、第1D図に示される半割軸受Zの
内面YにN「メツキする場合の表面処理を示す。半割軸
受Zは、1.2履厚さの鋼裏金に銅鉛軸受合金焼結層(
25wt%Pb−0,5wt%3. n−残部Cu)が
接合されて内面を形成し且つ外径63原、内径60履、
厚さ1.5履及び幅26.5麿の寸法を有する。
図中Aは、浴温40〜60℃で2.0〜4.00Hの電
解Niメツキ用の公知ワットNiメツキ液8を収容した
6 0 ax X 30 cmの矩形断面寸法を有し且
つ深さ50αの浴槽である。Cは浴槽の上方に設けられ
た半割軸受搬入装置であり、該装置は半割軸受を自由落
下可能に保持しているホッパー01と、該ホッパーから
供給される半割軸受Zを1個づつ順々に浴槽Aの直上に
移動させるピストン−シリンダ装置1とを有する。ホッ
パーC7は垂直力1酊に延在した筒体であるが、このホ
ッパーの代りにベルトコンベヤ@歌を使用して半割軸受
をピストン−シリンダ装置に供給してもよい。Dは浴槽
a上に運ばれた各半割軸受を順々に表面処理液収容浴槽
の下部に移動させる半割軸受接触表面であり、外枠J1
.:固定されている。この手刷軸受浸漬装置りは各半割
軸受を浴槽下方に向けて移動可能に保持する保持装置と
該保持装置により保持されている半割軸受を浴槽上方に
向けて押し込むピストン−シリンダ装e12とを有する
。保持装置は、半割軸受の端部Xと接触し且つ垂直方向
に延在する良さ51αの板状部材D1と、半割軸受Zの
円弧状部分りと接触する略V字型表面を有し且つピスト
ン−シリンダ装置2の作動により半割軸受が浴槽下方に
移動する時の半割軸受Zを保持する補助をおこない且つ
板状部材D1がら水平方向に隔置された棒状部材D2と
を有する。板状部材D1内には、板状部材D1の長手方
向に沿って且つ半割軸受端部Xと接触する位置に対応し
て半割軸受接触表面と反対側に磁石D3が埋込まれてい
る。この磁石D3は半割軸受Zの自由落下が生ぜず且つ
半割軸受Zがピストン−シリンダ装置2の作動により板
状部材D1に沿って浴槽Aの下部に向かって移動可能と
なる磁力を有する。半割軸受Zはこの半割軸受浸漬装置
りにより板状部材D1の下端部から上端部に向かって互
いに接触した状態で5個保持されるのが好ましい。
解Niメツキ用の公知ワットNiメツキ液8を収容した
6 0 ax X 30 cmの矩形断面寸法を有し且
つ深さ50αの浴槽である。Cは浴槽の上方に設けられ
た半割軸受搬入装置であり、該装置は半割軸受を自由落
下可能に保持しているホッパー01と、該ホッパーから
供給される半割軸受Zを1個づつ順々に浴槽Aの直上に
移動させるピストン−シリンダ装置1とを有する。ホッ
パーC7は垂直力1酊に延在した筒体であるが、このホ
ッパーの代りにベルトコンベヤ@歌を使用して半割軸受
をピストン−シリンダ装置に供給してもよい。Dは浴槽
a上に運ばれた各半割軸受を順々に表面処理液収容浴槽
の下部に移動させる半割軸受接触表面であり、外枠J1
.:固定されている。この手刷軸受浸漬装置りは各半割
軸受を浴槽下方に向けて移動可能に保持する保持装置と
該保持装置により保持されている半割軸受を浴槽上方に
向けて押し込むピストン−シリンダ装e12とを有する
。保持装置は、半割軸受の端部Xと接触し且つ垂直方向
に延在する良さ51αの板状部材D1と、半割軸受Zの
円弧状部分りと接触する略V字型表面を有し且つピスト
ン−シリンダ装置2の作動により半割軸受が浴槽下方に
移動する時の半割軸受Zを保持する補助をおこない且つ
板状部材D1がら水平方向に隔置された棒状部材D2と
を有する。板状部材D1内には、板状部材D1の長手方
向に沿って且つ半割軸受端部Xと接触する位置に対応し
て半割軸受接触表面と反対側に磁石D3が埋込まれてい
る。この磁石D3は半割軸受Zの自由落下が生ぜず且つ
半割軸受Zがピストン−シリンダ装置2の作動により板
状部材D1に沿って浴槽Aの下部に向かって移動可能と
なる磁力を有する。半割軸受Zはこの半割軸受浸漬装置
りにより板状部材D1の下端部から上端部に向かって互
いに接触した状態で5個保持されるのが好ましい。
Eは、半割軸受浸漬装置りにより表面処理液中の浴槽下
部に移動した半割軸受Zを水平方向に移動させるための
水平移送装置であり、外枠Jに固定されている。この水
平移送装置!Eは、半割軸受を水平方向移送可能に保持
する絶縁材料から成る保持板部材5と、この半割軸受を
水平方向に動かすプッシャ3とを有する。保持板部材5
には磁石E が埋込まれ、この磁石E1により半割軸受
Zを安定且つ可動状態で保持する。プッシャ3はワイヤ
(あるいはベルト)E2により連結され、ワイヤは浴槽
上方に設けられたピストン−シリンダ装W(図示せず)
の作動によって移動してプッシャ3及びこれに当接する
半割軸受Zを第1A図で水平方向右側へ移動させる。こ
のプッシャ3の代りに第3図に示されているOラド3′
を備えた水平移送装flE’ を使用することもできる
。ロッド3′の上方端部はピストン−シリンダ装ff2
3に連結され、ロノド3′の下方端部には半割軸受を押
して水平方向に動かすための略V字形接触表面を備えた
取付部材E4が設けられている。ロノド3′の長手方向
両端部間にはロノド3′を揺動可能に支承する支軸E5
が設けられている。
部に移動した半割軸受Zを水平方向に移動させるための
水平移送装置であり、外枠Jに固定されている。この水
平移送装置!Eは、半割軸受を水平方向移送可能に保持
する絶縁材料から成る保持板部材5と、この半割軸受を
水平方向に動かすプッシャ3とを有する。保持板部材5
には磁石E が埋込まれ、この磁石E1により半割軸受
Zを安定且つ可動状態で保持する。プッシャ3はワイヤ
(あるいはベルト)E2により連結され、ワイヤは浴槽
上方に設けられたピストン−シリンダ装W(図示せず)
の作動によって移動してプッシャ3及びこれに当接する
半割軸受Zを第1A図で水平方向右側へ移動させる。こ
のプッシャ3の代りに第3図に示されているOラド3′
を備えた水平移送装flE’ を使用することもできる
。ロッド3′の上方端部はピストン−シリンダ装ff2
3に連結され、ロノド3′の下方端部には半割軸受を押
して水平方向に動かすための略V字形接触表面を備えた
取付部材E4が設けられている。ロノド3′の長手方向
両端部間にはロノド3′を揺動可能に支承する支軸E5
が設けられている。
Fは、水平移送装置1(EあるいはE”)によって浴槽
F部の所定位置に送られた半割軸受Zを浴槽上方に移動
させると共にこの移動中に半割軸受Z自体を陰極として
通電させることによりワットニッケルめっき液に浸漬さ
れている半割軸受7の表面において表向処理即ちNiメ
ツキ処理がおこなわれるようにするための表面層形成装
置であり、外枠Jに固定されている。表面層形成装置F
は、半割軸受Zを浴槽上方に引上げるための引上装置6
と、引上げられつつある半割軸受を豆いに接触状態で浴
槽上方に向かって移動可動に保持するための磁石埋込式
で板状の摺動板装置F1と、半割軸受の寸法に対応して
定められる距離だけ摺動板装置F1から水平方向に隔置
され且つ14個の半割軸受が互いに接触しつつ浴槽上方
に移動する時に軸受背面(U)が表面処理されるのを実
質上防止すると共に半割軸受の保持の補助をおこなう棒
状部@F2と、表面処理液直上において1fl!動板装
置F1の上端に設けられ且つ表面処理液表面外に移動し
た半割軸受と接触し電流を表面処理液即にある半割軸受
に流す導゛耐部材を備えた給電袋w7とを有する。第4
図に詳細に示されている引上装R6はピストン−シリン
ダ装WIF9と、これに連結され且つ半割軸受の下部と
引上接触する絶縁材から成る引上接触部F3とを有する
。摺動板装置F は板状部材D1と同様な構成であり、
半割軸受画端部との接触部分に対応した個所に磁石F5
が埋込まれた絶縁材から成り、hつ半割軸受の円弧状内
側部Yに対応した位置に表面処理液撹拌用012m幅で
330m長さの貫通穴F6を有する。
F部の所定位置に送られた半割軸受Zを浴槽上方に移動
させると共にこの移動中に半割軸受Z自体を陰極として
通電させることによりワットニッケルめっき液に浸漬さ
れている半割軸受7の表面において表向処理即ちNiメ
ツキ処理がおこなわれるようにするための表面層形成装
置であり、外枠Jに固定されている。表面層形成装置F
は、半割軸受Zを浴槽上方に引上げるための引上装置6
と、引上げられつつある半割軸受を豆いに接触状態で浴
槽上方に向かって移動可動に保持するための磁石埋込式
で板状の摺動板装置F1と、半割軸受の寸法に対応して
定められる距離だけ摺動板装置F1から水平方向に隔置
され且つ14個の半割軸受が互いに接触しつつ浴槽上方
に移動する時に軸受背面(U)が表面処理されるのを実
質上防止すると共に半割軸受の保持の補助をおこなう棒
状部@F2と、表面処理液直上において1fl!動板装
置F1の上端に設けられ且つ表面処理液表面外に移動し
た半割軸受と接触し電流を表面処理液即にある半割軸受
に流す導゛耐部材を備えた給電袋w7とを有する。第4
図に詳細に示されている引上装R6はピストン−シリン
ダ装WIF9と、これに連結され且つ半割軸受の下部と
引上接触する絶縁材から成る引上接触部F3とを有する
。摺動板装置F は板状部材D1と同様な構成であり、
半割軸受画端部との接触部分に対応した個所に磁石F5
が埋込まれた絶縁材から成り、hつ半割軸受の円弧状内
側部Yに対応した位置に表面処理液撹拌用012m幅で
330m長さの貫通穴F6を有する。
貫通穴F は摺動板装置FF1の上端近傍から下端近傍
まで延在している。棒状部材F2はD2と同じ構成を有
し半割軸受の円弧状背面Uと接触可能なV字形状の溝を
備え、摺動板装置F1と同じく浴槽下部から浴槽直上ま
で延在し、半割軸受が上方に移動する時に半割軸受の背
面Uが表面処理されるのを実質上防止すると共に半割軸
受が板状摺動板装置F の磁石F5に上方可動状態で保
持されるための補助の役目をする。給電装置7は第5図
に示されるように、表面処理液より搬出された半割軸受
の端部X及び円弧部Uと導電状態に接触する形状を備え
たS電材8から成り、該導電部材は電源装置(図示せず
)のマイナス(−)側に接続されている。
まで延在している。棒状部材F2はD2と同じ構成を有
し半割軸受の円弧状背面Uと接触可能なV字形状の溝を
備え、摺動板装置F1と同じく浴槽下部から浴槽直上ま
で延在し、半割軸受が上方に移動する時に半割軸受の背
面Uが表面処理されるのを実質上防止すると共に半割軸
受が板状摺動板装置F の磁石F5に上方可動状態で保
持されるための補助の役目をする。給電装置7は第5図
に示されるように、表面処理液より搬出された半割軸受
の端部X及び円弧部Uと導電状態に接触する形状を備え
たS電材8から成り、該導電部材は電源装置(図示せず
)のマイナス(−)側に接続されている。
Gは、貫通孔E6に対応した位置に沿って設置プられ1
つ貫通孔F6に向かって表面処理液即ちワットNiメツ
キ液を0.2に9f/α2の圧力で噴出させる表面処理
液撹拌パイプであり、該撹拌パイプは外径20履内径1
8履の寸法を有する円筒状パイプであり且つ、貫通孔F
6に面して30履のピッチで設けられた穴径2縮の開口
を10個有する。撹拌パイプの上部にはこれと同心状に
配置されたカバーパイプG1が設けられている。表面処
理作動条件を変え浴槽内の液面高さを変化させたときに
、このカバーパイプG1を回転させてパイプの有効作動
長さを調節する。1」は表面処理液と協働して半割軸受
の表面に表面処理即ちNiメツキをおこなう時の幅12
6履×高さ550履×5.0麿厚さの寸法のニッケル材
から成り且つ陽極の役目をする電極部である。■は表面
処理〈メツキ処理)が完了した半割軸受Z1を引上げ、
浴槽へから隔置された回収槽13及び水洗槽14に移送
するための引上移送装置であり、該引上移送装置fは半
割軸受Z1をつかむチャック装置9(第1A図、第1C
図、第2A図、第2C図及び第6図参照)と該チャック
装置を上下動させるピストン−シリンダ装置と、引上げ
られた半割軸受を水平方向に移動させ次の処理工程をお
こなう回収槽13の直上及び水洗装置の直上に移送する
ためのピストン−シリンダーガイド装罰11と、該ピス
トン−シリンダーガイド装置により回収槽あるいは水洗
装置の位置に移された半割軸受を回収槽13あるいは水
洗装置14中に挿入し且つ処理後の半割軸受を次の処理
工程へ移動させるピストン−シリンダ装置210(第1
C図、第2C図及び第6図参照)とを有する。チャック
装置9は、圧縮空気により作vJするー・対のアーム1
1を備えた公知のものである。回収槽13は、半割軸受
Z1に付着している表面処理液の大部分を除去するため
に表面処理液の希釈液が収容され、半割軸受Z1の処理
個数の増加につれて希釈液自体が濃化するため、一定1
1度以上になった希釈液は濃縮処理して浴槽Aにもどす
。水洗装置は回収槽での表面処理液除去後、最終的に半
割軸受表面に残った微結の残液を水流で除去する檜であ
る。
つ貫通孔F6に向かって表面処理液即ちワットNiメツ
キ液を0.2に9f/α2の圧力で噴出させる表面処理
液撹拌パイプであり、該撹拌パイプは外径20履内径1
8履の寸法を有する円筒状パイプであり且つ、貫通孔F
6に面して30履のピッチで設けられた穴径2縮の開口
を10個有する。撹拌パイプの上部にはこれと同心状に
配置されたカバーパイプG1が設けられている。表面処
理作動条件を変え浴槽内の液面高さを変化させたときに
、このカバーパイプG1を回転させてパイプの有効作動
長さを調節する。1」は表面処理液と協働して半割軸受
の表面に表面処理即ちNiメツキをおこなう時の幅12
6履×高さ550履×5.0麿厚さの寸法のニッケル材
から成り且つ陽極の役目をする電極部である。■は表面
処理〈メツキ処理)が完了した半割軸受Z1を引上げ、
浴槽へから隔置された回収槽13及び水洗槽14に移送
するための引上移送装置であり、該引上移送装置fは半
割軸受Z1をつかむチャック装置9(第1A図、第1C
図、第2A図、第2C図及び第6図参照)と該チャック
装置を上下動させるピストン−シリンダ装置と、引上げ
られた半割軸受を水平方向に移動させ次の処理工程をお
こなう回収槽13の直上及び水洗装置の直上に移送する
ためのピストン−シリンダーガイド装罰11と、該ピス
トン−シリンダーガイド装置により回収槽あるいは水洗
装置の位置に移された半割軸受を回収槽13あるいは水
洗装置14中に挿入し且つ処理後の半割軸受を次の処理
工程へ移動させるピストン−シリンダ装置210(第1
C図、第2C図及び第6図参照)とを有する。チャック
装置9は、圧縮空気により作vJするー・対のアーム1
1を備えた公知のものである。回収槽13は、半割軸受
Z1に付着している表面処理液の大部分を除去するため
に表面処理液の希釈液が収容され、半割軸受Z1の処理
個数の増加につれて希釈液自体が濃化するため、一定1
1度以上になった希釈液は濃縮処理して浴槽Aにもどす
。水洗装置は回収槽での表面処理液除去後、最終的に半
割軸受表面に残った微結の残液を水流で除去する檜であ
る。
本発明のこの例におけるN!メツキ表面処理の作動を以
下に説明する。作動開始時に半割軸受又は半割軸受と同
じ形状及び材質から成るスペーサーを20個ホッパー0
1から半割軸受浸漬装置りにピストン−シリンダ装置1
を介して供給した後、製品として使用される半割軸受Z
を順々にホッパー01から送り込み定常状態とした。半
割軸受は約15個/分の速度で半割軸受浸漬装置から、
水平移送装置Eに移動し、プッシャ3の作動により半割
軸受表面処理装置[1に送られ、引上装置6の作動によ
り引上装置のストロークに対応して約70M上方に移動
し摺動板装置F1により順々に保持され且つ互いに接触
状態下で上方に0.4m/分の速度で上昇した。先頭の
半割軸受又はスペーサが給電装置7に達しこの給電装置
と接触すると、上昇移動している半割軸受あるいはスペ
ーサ自体が陰極となり給電部7を介して約12A/d1
2の電流密度で電流を流し同時に表面処Jl!液撹袢パ
イプから0.2KIr /ax2u下の圧力で液を噴出
させ、N1メツキ表面処理が開始された。この開始後1
2個の半割軸受あるいはスペーサのNiメツキ処理が完
了した後にN1メツキ処理の定常状態となり(即ち最初
の半割軸受あるいはスペーサには所定量のN1メツキ処
理はおこなわれない)平均厚さ1.52μmのN1めっ
き層が半割軸受内面Yに設けられた。この時のN1めっ
き層の特性を第1表に示す。Niめっき表面処理完了後
の半割軸受Z1は引上移送装置Iにより引上げられ且つ
回収槽13及び水洗!R14に順次移送されてワットN
1めっぎ液の大部分は引上時に浴IAに落下し、落下せ
ず半割軸受に付与しているワットN1めっき液は回収槽
13中のワットN1めっき希釈液中に半割軸受を浸漬す
ることで回収され、その後水洗槽14中で水洗すること
によりN1めつき表面処理が完了した。回収槽中の希釈
液は所定濃度に達すると槽A内に送られて再使用するの
が好ましい。
下に説明する。作動開始時に半割軸受又は半割軸受と同
じ形状及び材質から成るスペーサーを20個ホッパー0
1から半割軸受浸漬装置りにピストン−シリンダ装置1
を介して供給した後、製品として使用される半割軸受Z
を順々にホッパー01から送り込み定常状態とした。半
割軸受は約15個/分の速度で半割軸受浸漬装置から、
水平移送装置Eに移動し、プッシャ3の作動により半割
軸受表面処理装置[1に送られ、引上装置6の作動によ
り引上装置のストロークに対応して約70M上方に移動
し摺動板装置F1により順々に保持され且つ互いに接触
状態下で上方に0.4m/分の速度で上昇した。先頭の
半割軸受又はスペーサが給電装置7に達しこの給電装置
と接触すると、上昇移動している半割軸受あるいはスペ
ーサ自体が陰極となり給電部7を介して約12A/d1
2の電流密度で電流を流し同時に表面処Jl!液撹袢パ
イプから0.2KIr /ax2u下の圧力で液を噴出
させ、N1メツキ表面処理が開始された。この開始後1
2個の半割軸受あるいはスペーサのNiメツキ処理が完
了した後にN1メツキ処理の定常状態となり(即ち最初
の半割軸受あるいはスペーサには所定量のN1メツキ処
理はおこなわれない)平均厚さ1.52μmのN1めっ
き層が半割軸受内面Yに設けられた。この時のN1めっ
き層の特性を第1表に示す。Niめっき表面処理完了後
の半割軸受Z1は引上移送装置Iにより引上げられ且つ
回収槽13及び水洗!R14に順次移送されてワットN
1めっぎ液の大部分は引上時に浴IAに落下し、落下せ
ず半割軸受に付与しているワットN1めっき液は回収槽
13中のワットN1めっき希釈液中に半割軸受を浸漬す
ることで回収され、その後水洗槽14中で水洗すること
によりN1めつき表面処理が完了した。回収槽中の希釈
液は所定濃度に達すると槽A内に送られて再使用するの
が好ましい。
上記表面処理の終了時には、作l!1rpj始時と同じ
20個のスペーサーをホッパー01、半割軸受浸漬装置
1fD及び水平移送装置Eを介し半割軸受内面処理装置
Fで処理し浴槽外へ引上げ定常状態の場合と同じように
処理した。この場合、半割軸受浸漬装置Dにあるスペー
サの最終5個については、ピストン−シリンダ装置2の
押下げストロークを半割軸受1個分づつ順次増加させる
ことにより最終5個のスペーサを順々に水平移送装置に
移送した。半割軸受表面処理装置「においては最終スペ
ーサが引上装置6に配置された時点で引上装置の引上ス
トロークを半割軸受1個分だけ順次増加させることによ
り最終的にすべてのスペーサを浴槽外に移送した。この
ストロークの増加による最終スペーサの処理の代りに、
ストロークを一定としたままピストンシリンダー装置自
体を半割軸受1個分のピッチで順次下方に移動させ及び
引上装置6自体を同じく順次上方に移動させることで最
終スペーサを処理してもよい。
20個のスペーサーをホッパー01、半割軸受浸漬装置
1fD及び水平移送装置Eを介し半割軸受内面処理装置
Fで処理し浴槽外へ引上げ定常状態の場合と同じように
処理した。この場合、半割軸受浸漬装置Dにあるスペー
サの最終5個については、ピストン−シリンダ装置2の
押下げストロークを半割軸受1個分づつ順次増加させる
ことにより最終5個のスペーサを順々に水平移送装置に
移送した。半割軸受表面処理装置「においては最終スペ
ーサが引上装置6に配置された時点で引上装置の引上ス
トロークを半割軸受1個分だけ順次増加させることによ
り最終的にすべてのスペーサを浴槽外に移送した。この
ストロークの増加による最終スペーサの処理の代りに、
ストロークを一定としたままピストンシリンダー装置自
体を半割軸受1個分のピッチで順次下方に移動させ及び
引上装置6自体を同じく順次上方に移動させることで最
終スペーサを処理してもよい。
本発明によるN1めつき表面処理半割軸受と比較するた
め、第7A図及び第7B図に示すめっきケース100を
使用して半割軸受をスペーサ1゜1を介して組付して成
るカセットを、上記実施例に示されたものと同一のワッ
トN1めつき液を使用して且つ同じめっき条件でNiめ
つきをおこなった。この時のNiめっき層の性質を第1
表にボす。
め、第7A図及び第7B図に示すめっきケース100を
使用して半割軸受をスペーサ1゜1を介して組付して成
るカセットを、上記実施例に示されたものと同一のワッ
トN1めつき液を使用して且つ同じめっき条件でNiめ
つきをおこなった。この時のNiめっき層の性質を第1
表にボす。
第1表から明らかなように、本発明によるNiめつき層
は厚さ精度、粗さ、接着力及び陰極効率について一比較
品のNiめつき層よりも優れた性質を示した。
は厚さ精度、粗さ、接着力及び陰極効率について一比較
品のNiめつき層よりも優れた性質を示した。
第1A図から第1C図まではNIめつき層を設ける表面
処理について示したが、他の金属あるいは合金の層を設
ける表面処理にも使用できることは当然である。
処理について示したが、他の金属あるいは合金の層を設
ける表面処理にも使用できることは当然である。
(例2)
第2A図第2B図及び第2C図は本発明の第2の実施例
を示し、この第2の実施例では、例1においてNiめっ
き層が形成された半割軸受Z1に2極類の鉛合金の電解
めっきをする場合の表面処理を示した。図中で、第1寅
施例と同じ部材については同一・番号を使用して示す。
を示し、この第2の実施例では、例1においてNiめっ
き層が形成された半割軸受Z1に2極類の鉛合金の電解
めっきをする場合の表面処理を示した。図中で、第1寅
施例と同じ部材については同一・番号を使用して示す。
八は、鉛合金めっき用の公知−弗化物浴の10wt%3
n−残部Pb合金用めっき液J及び10wt%3n−2
wt%CU−残部Pb合金用めっき液Jを収容した断面
が60 cx X 30αの短形で深さ90αを有する
浴槽であり、2種類のめっき液のために2(!lの浴槽
を準備した。Kは浴槽上方に設けられた半割軸受搬入装
置C′であり、該装置は半割軸受Z1を1個づつ順々に
浴槽Aの直上に移動させるピストンシリンダ装置1と、
半割軸受71を保持している台に1とを有する。しは半
割軸受搬入装置Kにより送られてきた半割軸受Z1を浴
槽のメツV液に浸漬移動させると共にこの移動中に半割
軸受自体を陰極として通電することにより鉛合金めっき
液Jに浸漬されている半割軸受表面において表面処理即
ちPb金合金っき処理をおこなう表面層形成装置であり
、外枠Jに固定されている。この装置りは、半割軸受7
1を外部電源(図示せず)と通電状態に接触させる導電
部材から成る給電装置7と、半割軸受Z1を浴槽の下部
に向かって移動させるピストン−シリンダ装置2と、半
割軸受が自由落)せず且つ浴槽下方へ向かって移動可能
に保持すると共に移動中にPb合金めっきが半割軸受表
面に施されるようにするための例1と同一の構成を有す
る摺動板装置F1とを有する。摺動板装置F1は半割軸
受の保持の補助をおこなう半割軸受保持装置を有する。
n−残部Pb合金用めっき液J及び10wt%3n−2
wt%CU−残部Pb合金用めっき液Jを収容した断面
が60 cx X 30αの短形で深さ90αを有する
浴槽であり、2種類のめっき液のために2(!lの浴槽
を準備した。Kは浴槽上方に設けられた半割軸受搬入装
置C′であり、該装置は半割軸受Z1を1個づつ順々に
浴槽Aの直上に移動させるピストンシリンダ装置1と、
半割軸受71を保持している台に1とを有する。しは半
割軸受搬入装置Kにより送られてきた半割軸受Z1を浴
槽のメツV液に浸漬移動させると共にこの移動中に半割
軸受自体を陰極として通電することにより鉛合金めっき
液Jに浸漬されている半割軸受表面において表面処理即
ちPb金合金っき処理をおこなう表面層形成装置であり
、外枠Jに固定されている。この装置りは、半割軸受7
1を外部電源(図示せず)と通電状態に接触させる導電
部材から成る給電装置7と、半割軸受Z1を浴槽の下部
に向かって移動させるピストン−シリンダ装置2と、半
割軸受が自由落)せず且つ浴槽下方へ向かって移動可能
に保持すると共に移動中にPb合金めっきが半割軸受表
面に施されるようにするための例1と同一の構成を有す
る摺動板装置F1とを有する。摺動板装置F1は半割軸
受の保持の補助をおこなう半割軸受保持装置を有する。
この半割軸受保持装置は、半割軸受外周端部に当接する
細長片部材F4と、該細長片部材を半割軸受に向かって
押圧するバネ部材F5とを有する。Gは例1と同一の構
成を有する撹拌パイプであり例1と同じようにカバーパ
イプG1を有する。Mは、幅126swX長さ550a
l×厚さ20.0履の寸払を有する10wt%3n−残
部Pb合金製の陽極板であり、半割軸受内面にめっきさ
れるPb合金組成を供給する役目をする。Nは、半割軸
受表面処理装置によって表面処理された半割軸受Z2を
受は取り且つ浴槽下部において水平方向に移送する水平
移送装置であり、水平距離が例1の場合よりも若干長い
距離移送する構成となっていることを除くと、例1と同
しくプッシャ3、該プツシt3を動かすワイヤあるいは
ベルトN 、板状部材5′、及び板状部材5′に埋込ま
れた磁石E1を有する。あるいはこの装置Nの代りに第
3図に示される装ff1F’ を使用してもよい。Oは
、水平移送装置i¥Nによって移送された半割軸受72
を受は取り1つ浴槽直上に引上げるための半割軸受引上
装置であり、外枠、ノに固定されている。該引上装置O
は、水平移送装置から送られてきた半割軸受を受は入れ
る引上台6′と、引上台6′に位置した半割軸受Z2を
浴槽上方に引上げる例1の引上装置6と同様の引上装置
6′と、引上装置6′により引上げられた半割軸受を上
方移動可能に保持する例1と同様の長さ91cIlの板
状部材D1及び棒状部材D2とを有する。但し棒状部材
D2を設けない構成としてもよい。1′は、浴槽直上に
引上げられた半割軸受Z2を浴槽Aから隔置された回収
槽13′及び水洗槽14′に移送するための引上移送装
置であり例1における引上移送装置I、回収槽13及び
水洗槽14とそれぞれ同じ構成及び作用を有する。
細長片部材F4と、該細長片部材を半割軸受に向かって
押圧するバネ部材F5とを有する。Gは例1と同一の構
成を有する撹拌パイプであり例1と同じようにカバーパ
イプG1を有する。Mは、幅126swX長さ550a
l×厚さ20.0履の寸払を有する10wt%3n−残
部Pb合金製の陽極板であり、半割軸受内面にめっきさ
れるPb合金組成を供給する役目をする。Nは、半割軸
受表面処理装置によって表面処理された半割軸受Z2を
受は取り且つ浴槽下部において水平方向に移送する水平
移送装置であり、水平距離が例1の場合よりも若干長い
距離移送する構成となっていることを除くと、例1と同
しくプッシャ3、該プツシt3を動かすワイヤあるいは
ベルトN 、板状部材5′、及び板状部材5′に埋込ま
れた磁石E1を有する。あるいはこの装置Nの代りに第
3図に示される装ff1F’ を使用してもよい。Oは
、水平移送装置i¥Nによって移送された半割軸受72
を受は取り1つ浴槽直上に引上げるための半割軸受引上
装置であり、外枠、ノに固定されている。該引上装置O
は、水平移送装置から送られてきた半割軸受を受は入れ
る引上台6′と、引上台6′に位置した半割軸受Z2を
浴槽上方に引上げる例1の引上装置6と同様の引上装置
6′と、引上装置6′により引上げられた半割軸受を上
方移動可能に保持する例1と同様の長さ91cIlの板
状部材D1及び棒状部材D2とを有する。但し棒状部材
D2を設けない構成としてもよい。1′は、浴槽直上に
引上げられた半割軸受Z2を浴槽Aから隔置された回収
槽13′及び水洗槽14′に移送するための引上移送装
置であり例1における引上移送装置I、回収槽13及び
水洗槽14とそれぞれ同じ構成及び作用を有する。
本発明実施例のこの例2におけるPb金合金っき表面処
理の作動を以下に説明する。例1での表面処理を完了し
た半割軸受又はスペーサがピストン−シリンダ装置1に
より半割軸受表面処理装置りに搬入され、ピストン−シ
リンダ装置2の作動により下方に移動し給電部7と接触
し、以後互いに接触し且つ複数半割軸受あるいはスペー
サのいずれか1つが給電部7と接触状態を保持しつつP
b金合金っき液中に浸漬されて通電状態となってPb合
金めっき処理が始る。先頭の位置にある半割軸受あるい
はスペーサが表面処理装置の下端に到達した時点からP
b金合金っき処理の定常状態になり、製品となる半割軸
受は15個/分の速度(即ち0.4TrL/分の速度と
同一)でPb金合金つき処理を完了した。次にこの半割
軸受Z2を水平移送装置Nによって引上装置6′に移し
、この引上装置6′の1回の引上ストロークの作動で半
割軸受Z2を表面処理液直上に移送し、その後は例1と
同じように処理した。なお、この引上ストロークを2回
に分けておこなうこともできる。
理の作動を以下に説明する。例1での表面処理を完了し
た半割軸受又はスペーサがピストン−シリンダ装置1に
より半割軸受表面処理装置りに搬入され、ピストン−シ
リンダ装置2の作動により下方に移動し給電部7と接触
し、以後互いに接触し且つ複数半割軸受あるいはスペー
サのいずれか1つが給電部7と接触状態を保持しつつP
b金合金っき液中に浸漬されて通電状態となってPb合
金めっき処理が始る。先頭の位置にある半割軸受あるい
はスペーサが表面処理装置の下端に到達した時点からP
b金合金っき処理の定常状態になり、製品となる半割軸
受は15個/分の速度(即ち0.4TrL/分の速度と
同一)でPb金合金つき処理を完了した。次にこの半割
軸受Z2を水平移送装置Nによって引上装置6′に移し
、この引上装置6′の1回の引上ストロークの作動で半
割軸受Z2を表面処理液直上に移送し、その後は例1と
同じように処理した。なお、この引上ストロークを2回
に分けておこなうこともできる。
この時のめっき液の浴温は25〜35℃であり、撹拌パ
イプGから噴出されためつき液の圧力は0.2KIf
/cx2以下であり、陰極電流密度は3OA/dm
であり、半割軸受Z1の内側表面に設けられた10wt
%Sn−残部Pb合金めっき層の平均厚さは19.1μ
mであり、6wt%Sn−2wt%Cu−残部Pb金合
金っき層の平均厚さは19.6μmであった。このめっ
き層の特性値を第1表に示す。
イプGから噴出されためつき液の圧力は0.2KIf
/cx2以下であり、陰極電流密度は3OA/dm
であり、半割軸受Z1の内側表面に設けられた10wt
%Sn−残部Pb合金めっき層の平均厚さは19.1μ
mであり、6wt%Sn−2wt%Cu−残部Pb金合
金っき層の平均厚さは19.6μmであった。このめっ
き層の特性値を第1表に示す。
本発明のPb合金めっき表面処理半割軸受と比較するた
め第7A図及び第7B図に示す゛めつきケース100を
使用して半割軸受Z1をスペーサ101を介して組付し
て成るカヒットを、この例2に示されたものと同一の2
種類のPb金合金っき液を使用しそれぞれ6A/da2
(10wt%Sn残部Pb合金めっき液)及び3A/d
a2(8wt%Sn−2wt%Cu−残部Pb合金めっ
き液)の電流密度を使用した以外は例2と同一条件でP
b金合金っきをおこない、得られたPb合金めつき層の
特性を求めた。その結果を第1表に示す。
め第7A図及び第7B図に示す゛めつきケース100を
使用して半割軸受Z1をスペーサ101を介して組付し
て成るカヒットを、この例2に示されたものと同一の2
種類のPb金合金っき液を使用しそれぞれ6A/da2
(10wt%Sn残部Pb合金めっき液)及び3A/d
a2(8wt%Sn−2wt%Cu−残部Pb合金めっ
き液)の電流密度を使用した以外は例2と同一条件でP
b金合金っきをおこない、得られたPb合金めつき層の
特性を求めた。その結果を第1表に示す。
第1表から明らかなように本発明により得られたPb合
金めっき層は、めっき厚さ精度、粗さ、接着力及び陰極
効率のすべてについて比較量のPb合金めっき層よりも
優れた性質を示した。
金めっき層は、めっき厚さ精度、粗さ、接着力及び陰極
効率のすべてについて比較量のPb合金めっき層よりも
優れた性質を示した。
めっき前軸受の肉厚の標準偏差σは0.45um、表面
粗さはRsax 1. 1um、N iめつき狙い厚さ
1.50μm、Pb合金めっきの狙い厚さ20.0μm
0 ■ ニッケルめっきの厚さ及び鉛合金めっきの厚さは、
電解式のコクール式膜厚測定機で測定した。また接着力
は米国特許第4.501゜154号明III遺に開示さ
れた多層材料の接着力測定法に従った。
粗さはRsax 1. 1um、N iめつき狙い厚さ
1.50μm、Pb合金めっきの狙い厚さ20.0μm
0 ■ ニッケルめっきの厚さ及び鉛合金めっきの厚さは、
電解式のコクール式膜厚測定機で測定した。また接着力
は米国特許第4.501゜154号明III遺に開示さ
れた多層材料の接着力測定法に従った。
傘零ネ陰極効率は(実際の析出厚さ)/(理論上の析出
厚さ)xlooで示した。
厚さ)xlooで示した。
(例3)
第8図及び第9図は本発明の第3実施例を示す主要部の
部分断面図でありそれぞれ第1B図及び第2B図に対応
する。この第3実施例では、第1A図と第1B図に示さ
れた棒状部材D2及びF2の代りに半割軸受浸漬装置が
設けられたものである。その他の構成は第1実施例ある
いは第2実施例と同じである。この半割軸受保持装置は
、半割軸受両端部に隣接した細長片部材(D、F7)ど
、細長ハ部材を半割軸受両端部に向かって押Hするバネ
部材(D、F8)とを有する。この半割−受保持装置は
、半割軸受が表面処理液中を移動する時に、半割軸受の
背面の不具合をなくす効果がある。特に、半割軸受にN
iメツキ以外の表面処理例えばPb合金メツキするとき
に好適に使用できる。
部分断面図でありそれぞれ第1B図及び第2B図に対応
する。この第3実施例では、第1A図と第1B図に示さ
れた棒状部材D2及びF2の代りに半割軸受浸漬装置が
設けられたものである。その他の構成は第1実施例ある
いは第2実施例と同じである。この半割軸受保持装置は
、半割軸受両端部に隣接した細長片部材(D、F7)ど
、細長ハ部材を半割軸受両端部に向かって押Hするバネ
部材(D、F8)とを有する。この半割−受保持装置は
、半割軸受が表面処理液中を移動する時に、半割軸受の
背面の不具合をなくす効果がある。特に、半割軸受にN
iメツキ以外の表面処理例えばPb合金メツキするとき
に好適に使用できる。
[発明の効果]
1)本装置は連続的に送り込むため、スペーサあるいは
製品として使用できない半割軸受は最初の1槽分のみ必
要とするだけで、後は連続的に半割軸受を送り込むのみ
で良く、従来技術のケース保持方式がケースごとにスペ
ーサが必要だったことと比較して1日生産を続けても同
じ半割軸受あるいはスペーサの数で良く、内外径が同じ
軸受ならば全く連続的にめっき生産が可能である。
製品として使用できない半割軸受は最初の1槽分のみ必
要とするだけで、後は連続的に半割軸受を送り込むのみ
で良く、従来技術のケース保持方式がケースごとにスペ
ーサが必要だったことと比較して1日生産を続けても同
じ半割軸受あるいはスペーサの数で良く、内外径が同じ
軸受ならば全く連続的にめっき生産が可能である。
2) めっき治具がなく、軸受のみ移動するので、液の
汲み出しは軸受に付着した液のみであり、それも1個毎
に取出すため、従来の様にめつき治具間の液の汲み出し
及びすくい出しがなく、水洗洗滌性が極めて良い。
汲み出しは軸受に付着した液のみであり、それも1個毎
に取出すため、従来の様にめつき治具間の液の汲み出し
及びすくい出しがなく、水洗洗滌性が極めて良い。
3)めっき装置及び廃液処理装置も極めて小さくて済み
、即ち装置全体がコンパクトとなるため、機械加工ライ
ンに直結できる大きさとなり、無人自動運転が可能とな
る。ひいては仕掛り品を少くでき、計画生産がより容易
となる。
、即ち装置全体がコンパクトとなるため、機械加工ライ
ンに直結できる大きさとなり、無人自動運転が可能とな
る。ひいては仕掛り品を少くでき、計画生産がより容易
となる。
4)同じ装置内を全ての軸受が通過する機構のため、め
っき厚さ、粗さ、接着、成分等のめつき品質が均一に安
定して生産できる。
っき厚さ、粗さ、接着、成分等のめつき品質が均一に安
定して生産できる。
5)陽極は各めっき槽1本で済み、又撹拌も各めっき槽
1個所で済み、調整及び管理も容易である。
1個所で済み、調整及び管理も容易である。
6)陰極(軸受)と陽極の極間距離が近く、しかも精密
に保持でき、高速めつきが可能で、液酸が少ないため液
の上下でめっき厚の調整もでき、極めて使い易い。
に保持でき、高速めつきが可能で、液酸が少ないため液
の上下でめっき厚の調整もでき、極めて使い易い。
以上述べた様に前述の問題点が全て解決された。
第1A図、第1B図及び第1C図は本発明の表面処理技
術の第1の実施例を示す部分的断面概略図であり、第1
rつ図は表面処理が施される半割軸受の斜視図であり、 第2A図、第2B図及び第2C図は本発明の第2の実施
例を示づ部分的断面概略図であり、第3図はロンド式の
半割軸受水平移送装置を示す部分的断面図であり、 第4図は引上装置の正面図であり、 第5図は摺動板装置及び給電装置を示す部分的断面図で
あり、 第6図は引上移送装置を示す概略図であり、第7A図及
び第7B図は、半割軸受を表面処理する従来技術を示し
た概略図であり、 第8図及び第9図は第3の実施例を示す主要部の部分断
面図である。 図中Aは浴槽、B、Jは表面処理液、c、c’は半割軸
受搬入装置、Dは半割軸受浸漬装置、E及びE′は半割
軸受水平移送装置、F、Lは表面層形成装置、Gは表面
処理液撹拌パイプ、H,Mは電極部、1,1′は引上移
送装置であり、7゜71は被表面処理物である半割軸受
である。 第1B図 第1D図 第6図 第4図 第5図 第7A図 第7B図
術の第1の実施例を示す部分的断面概略図であり、第1
rつ図は表面処理が施される半割軸受の斜視図であり、 第2A図、第2B図及び第2C図は本発明の第2の実施
例を示づ部分的断面概略図であり、第3図はロンド式の
半割軸受水平移送装置を示す部分的断面図であり、 第4図は引上装置の正面図であり、 第5図は摺動板装置及び給電装置を示す部分的断面図で
あり、 第6図は引上移送装置を示す概略図であり、第7A図及
び第7B図は、半割軸受を表面処理する従来技術を示し
た概略図であり、 第8図及び第9図は第3の実施例を示す主要部の部分断
面図である。 図中Aは浴槽、B、Jは表面処理液、c、c’は半割軸
受搬入装置、Dは半割軸受浸漬装置、E及びE′は半割
軸受水平移送装置、F、Lは表面層形成装置、Gは表面
処理液撹拌パイプ、H,Mは電極部、1,1′は引上移
送装置であり、7゜71は被表面処理物である半割軸受
である。 第1B図 第1D図 第6図 第4図 第5図 第7A図 第7B図
Claims (17)
- (1)表面処理液を収容し且つ表面処理により半割軸受
に付与される合金を陽極として収容した浴槽(A)を準
備する段階と、該表面処理液の中に半割軸受(Z)を1
個づつ連続して挿入する段階と、表面処理液中に挿入さ
れた半割軸受を互いに接触した状態で表面処理液(B)
内を移動させながら該半割軸受を陰極とし上記陽極との
間で表面処理液を介して通電し半割軸受表面に上記合金
の表面層を付与する表面処理をおこなう段階と、表面処
理を完了した半割軸受を連続して1個づつ順順に浴槽外
へ搬出する段階と、を有する半割軸受の表面処理方法。 - (2)浴槽外に搬出された半割軸受を連続して1個づつ
表面処理液の希釈液を収容した回収層(13)内に浸漬
し、半割軸受表面に残留した表面処理液を実質上回収す
る段階と、回収槽(13)で処理された半割軸受を連続
して1個づつ水洗槽(14)内で水洗する段階とを有す
る請求項1の表面処理方法。 - (3)陰極として作用する半割軸受の表面付近の表面処
理液を撹拌しつつ通電をおこなう請求項1の表面処理方
法。 - (4)陰極と陽極との間に配置され且つ半割軸受の表面
に面する複数開口を備えたパイプから0.2Kgf/c
m^2以下の圧力で表面処理液を半割軸受表面に向かつ
て噴出させることにより撹拌をおこなう請求項3の表面
処理方法。 - (5)半割軸受表面にNiの表面層を設け、次にこのN
i表面層にPb合金表面層を設ける請求項1の表面処理
方法。 - (6)半割軸受を0.2m/分から1m/分までの速度
で浴槽内を移動させる請求項1の表面処理方法。 - (7)表面処理液を収容するための浴槽(A)と、該浴
槽内に配置され且つ複数半割軸受を互いに接触状態に保
持しつつ移動可能に配列する摺動板装置(F_1)並び
に該摺動板装置により配列されている複数半割軸受のう
ち表面処理液外に配置された半割軸受と通電可能に接触
する給電装置(7)を備えた表面層形成装置(F)と、
表面層形成装置(F)から隔置された表面処理液撹拌パ
イプと、該表面処理液撹拌パイプから隔置された電極と
を有する半割軸受の表面処理装置。 - (8)摺動板装置(F_1)は平板形状を有し、且つ半
割軸受と接触する表面と、該接触状態の半割軸受を移動
可能に保持する磁石と、表面処理撹拌パイプに対面する
位置に設けられた細長い貫通孔と、を備えた請求項1の
表面処理装置。 - (9)摺動板装置(F_1)は表面処理液撹拌パイプか
ら10mmから50mmの距離だけ隔置され、撹拌パイ
プは陽極から10mmから50mmまでの距離だけ隔置
される請求項7の表面処理装置。 - (10)半割軸受を1個づつ連続的に浴槽直上に移動す
る半割軸受搬入装置(C)と、浴槽直上の半割軸受を表
面処理液中に浸漬し且つ浴槽の下部に位置させる半割軸
受浸漬装置(D)と、浴槽下部に位置する半割軸受を表
面層形成装置(F)の下端部に配置する水平移送装置(
EあるいはE′)と、表面処理され表面処理液直上に運
ばれた半割軸受を浴槽外に引上げ且つ移送する引上移送
装置(I)とを更に有する請求項7の表面処理装置。 - (11)半割軸受を1個づつ連続的に浴槽直上で且つ給
電装置(7)の直上に位置させる半割軸受搬入装置(C
′)と、表面層形成装置(L)により表面処理され且つ
浴槽下部に運ばれた半割軸受を浴槽下部で表面層形成装
置から隔置された位置へ運ぶ水平移送装置(N)と、水
平移送装置(N)より運ばれた半割軸受を浴槽直上に移
動させる半割軸受引上装置(O)と、浴槽直上に運ばれ
た半割軸受を浴槽外に運ぶ引上移送装置(I′)とを有
する請求項7の表面処理装置。 - (12)半割軸受浸漬装置(D)あるいは半割軸受引上
装置(O)は、半割軸受と接触しこれを移動可能に保持
する磁石(D_3)を埋込んだ板状部材(D_1)を備
えている請求項10あるいは請求項11の表面処理装置
。 - (13)半割軸受浸漬装置(D)、表面層形成装置(F
)あるいは半割軸受引上装置(O)は、半割軸受と接触
し且つこれを移動可能に保持する磁石(D_3あるいは
F_5)を埋込んだ板状部材(D_1あるいはF_1)
と、該板状部材から所定距離隔置され且つ半割軸受の保
持の補助をする棒状部材(D_2あるいはF_2)を有
する請求項10あるいは請求項11の表面処理装置。 - (14)半割軸受浸漬装置(D)、表面層形成装置(F
)、あるいは半割軸受引上装置(O)は、半割軸受と接
触し且つこれを移動可能に保持する磁石(D_3あるい
はF_5)を埋込んだ板状部材(D_1あるいはF_1
)と、 板状部材から所定距離隔置して配置され且つ半割軸受の
保持の補助をする棒状部材(D_2あるいはF_2)と
、 半割軸受の両端部に隣接した細長片部材(D_4あるい
はF_7)及び該細長片部材を半割軸受に向かつて押圧
するバネ部材(D_5あるいはF_8)を有する半割軸
受保持補助装置とを有する請求項10あるいは請求項1
1の表面処理装置。 - (15)水平移送装置(EあるいはN)は、半割軸受と
接触するプッシャ(3)と、プッシャ(3)を移動させ
るワイヤあるいはベルト(N_1あるいはE_2)と、
ワイヤあるいはベルト(N_1あるいはE_2)を動か
すピストン−シリンダ装置と、半割軸受を移動可能に保
持する保持板部材(5あるいは5′)とを有する請求項
10あるいは11の表面処理装置。 - (16)水平移送装置(E′)は、上端部をピストン−
シリンダ装置(E_3)に連結され且つ下端部に半割軸
受と接触する取付部(E_4)とを備えたロッド(3′
)と、ロッド中間部でロッドを回動可能に支承する支軸
(E_5)と、半割軸受を移動可能に保持する保持板部
材(5)とを有する請求項10あるいは11の表面処理
装置。 - (17)浴槽(A)、半割軸受搬入装置(C、C′)、
半割軸受浸漬装置(D)、半割軸受水平移送装置(E、
E′)、表面層形成装置(F、L)、表面処理液撹拌パ
イプ、及び引上移送装置(I、I′)のうち、少なくと
も表面処理液と接触する部分あるいは半軸軸受と接触す
る部分は、セラミックス、ガラス、硬質プラスチックな
どの絶縁性材料から成る請求項10から請求項16まで
のいずれか1項にする表面処理装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019910004130A KR930005013B1 (ko) | 1990-03-16 | 1990-03-15 | 이분할 슬라이딩 베어링의 표면 처리방법 및 장치 |
| JP2065691A JPH07116637B2 (ja) | 1990-03-16 | 1990-03-16 | 半割軸受の表面処理方法及びその装置 |
| DE4108297A DE4108297C2 (de) | 1990-03-16 | 1991-03-14 | Verfahren und Einrichtung zum galvanischen Aufbringen einer metallischen Schicht auf Halbgleitlager |
| GB9105671A GB2243839B (en) | 1990-03-16 | 1991-03-18 | Apparatus for treating bearings |
| US08/075,341 US5364523A (en) | 1990-03-16 | 1993-06-11 | Method of electroplating half sliding bearings |
| US08/216,832 US5393395A (en) | 1990-03-16 | 1994-03-24 | Method of surface-treating a half sliding bearing and apparatus for same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2065691A JPH07116637B2 (ja) | 1990-03-16 | 1990-03-16 | 半割軸受の表面処理方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03267394A true JPH03267394A (ja) | 1991-11-28 |
| JPH07116637B2 JPH07116637B2 (ja) | 1995-12-13 |
Family
ID=13294292
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2065691A Expired - Fee Related JPH07116637B2 (ja) | 1990-03-16 | 1990-03-16 | 半割軸受の表面処理方法及びその装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5364523A (ja) |
| JP (1) | JPH07116637B2 (ja) |
| KR (1) | KR930005013B1 (ja) |
| DE (1) | DE4108297C2 (ja) |
| GB (1) | GB2243839B (ja) |
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| AT411906B (de) * | 2002-10-04 | 2004-07-26 | Miba Gleitlager Gmbh | Verfahren zum galvanischen beschichten einer sich im wesentlichen über einen halbkreis erstreckenden, zylindrischen innenfläche eines werkstückes |
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| EA201500948A1 (ru) | 2013-03-15 | 2016-03-31 | Модьюметл, Инк. | Способ изготовления изделия и изделие, изготовленное вышеуказанным способом |
| BR112017005534A2 (pt) | 2014-09-18 | 2017-12-05 | Modumetal Inc | métodos de preparação de artigos por processos de eletrodeposição e fabricação aditiva |
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