JPH0327072B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0327072B2 JPH0327072B2 JP59055943A JP5594384A JPH0327072B2 JP H0327072 B2 JPH0327072 B2 JP H0327072B2 JP 59055943 A JP59055943 A JP 59055943A JP 5594384 A JP5594384 A JP 5594384A JP H0327072 B2 JPH0327072 B2 JP H0327072B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- function
- operation level
- functions
- level
- measuring instrument
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 44
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Input From Keyboards Or The Like (AREA)
- Digital Computer Display Output (AREA)
- Indicating Measured Values (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
〔発明の技術分野〕
本発明は選択した操作レベルに応じて操作者が
種々の設定を行なう測定機器に関する。 〔発明の背景〕 多くの機能を具えた種々の測定機器では、複雑
な操作が多い。しかし、簡単な測定には全部の機
能を必要とせず、測定の複雑さの程度、即ち操作
レベルに応じて必要な機能を選択している。利用
する機能の数は一般に操作レベルに応じている。
即ち、高い操作レベルには、より多くの機能を利
用している。 従来の測定機器は多くの機能キー又はスイツチ
を具えており、操作者が機能に応じた値の選択や
設定を行なつている。また、従来の測定機器は数
字キーを具えており、表示されたメニユーを操作
者が参照して特性値の選択や設定を行なう。測定
機器を操作する際、すべての機能の内のいくつか
を必要としなくとも、操作者はすべての機能に関
して特性値を選択又は設定しなければならない。
この場合、操作者は不要な機能に対し、「ドント
ケア（dontcare）」を選択する。これら不必要な
設定操作は面倒である。特に操作者が熟練してい
ない場合、多くの機能を有する測定機器を操作す
ることは困難である。 〔発明の目的〕 したがつて本発明の目的の１つは、測定目的に
応じて操作レベルを選択できる測定機器の提供に
ある。 本発明の他の目的は、不必要なパラメータ（特
性）を操作者が設定する必要のない測定機器の提
供にある。 〔発明の概要〕 本発明の測定機器は、複数の操作レベルを具え
ており、この操作レベルにより関連した操作機能
の各々に操作者が異なる設定を行なう。また各操
作機能には、その機能に関連し、独立に選択可能
な少なくとも２つの特性がある。更に、本発明の
測定機器は、操作レベルを選択する手段と、選択
した操作レベルに関連した各操作機能に対する特
性を表示する手段と、操作レベルに関連する各操
作機能に対し特性を選択又は設定する手段とを具
えている。なお、低い操作レベルの機能は高い操
作レベルの機能の一部である。 本発明の好適な実施例においては、測定機器は
まず操作者に操作レベルを選択するように指示す
る。次に測定機器は、選択された操作レベルに応
じて必要な機能についてのみのメニユーを表示す
る。低い操作レベルを選択した場合、機能の数は
少なく、また操作レベルが高い場合は、機能の数
が多い。よつて、操作者は、必要な機能に関する
特性値を選択又は設定するのみでよく、不必要な
機能は適当な無効値に設定される。 〔発明の実施例〕 以下、添付図を参照し、ロジツク・アナライザ
に適用した本発明の好適な実施例を説明する。第
１図は本発明を用いたロジツク・アナライザのブ
ロツク図である。４個のチツプを有するプロー
ブ・ポツド１０はロジツク信号を取込み、取込み
メモリ回路１２及びトリガ回路１４に転送する。
メモリ回路１２は、入力ロジツク信号を蓄積する
高速メモリと、この高速メモリの取込み周期を制
御する２個のタイムベースとを具えている。トリ
ガ回路１４はフイルタ機能を有するワード・リコ
グナイザ（入力ロジツク信号で構成された入力ワ
ードから所定ワードを検出する）と、デジタル遅
延用のカウンタとを具えている。データ線、アド
レス線及び制御線で構成されたバス１６からの命
令データにより、回路１２及び１４における機能
の特性（パラメータ）を設定する。トリガ回路１
４がトリガ（停止）信号を発生すると、取込みメ
モリ回路１２は入力ロジツク信号の取込みを停止
し、バス１６を介して蓄積した信号をランダム・
アクセス・メモリ（RAM）１８に転送する。 8088型又はＺ−80型等のマイクロプロセツサ２
０、このマイクロプロセツサ２０の処理順序を蓄
積したリード・オンリ・メモリ（ROM）２２、
入力装置としてのキーボード２４、及び表示制御
回路２６を更にバス１６に接続する。表示制御回
路２６は陰極線管（CRT）の如き表示器２８に
測定結果及び機能メニユーを表示する。マイクロ
プロセツサ２０はRAM１８を一時メモリとして
用いて、ROM２２の制御によりパラメータの設
定を含めたロジツク・アナライザの動作を制御す
る。 第２図は第１図におけるパラメータ設定動作に
関する機能図である。第２図において、本体３０
は測定機器のパラメータの設定を制御するマイク
ロプロセツサ２０、ROM２２及びRAM１８に
対応する。選択手段３２及び設定手段３４はキー
ボード２４に対応し、操作者がこのキーボードに
より操作レベルを選択し、この操作レベルが選択
されたならばパラメータを設定する。表示手段３
６は、表示制御回路２６及びCRT２８の組合せ
に対応し、本体３０の出力に応じてメニユーを表
示する。 第３図の流れ図を参照して本発明の測定機器の
動作を説明する。まずステツプ（40）において、
本体３０が表示手段３６に操作レベルのメニユー
を表示する。この実施例においては４つの操作レ
ベル（OPERATION LEVEL）が利用でき、こ
のメニユー表示の一例を第４図に示す。レベル０
（LEVEL0）は基本的操作（BASIC
OPERATION）、即ち基本的なタイミング及び
ステート解析であり、レベル１（LEVEL1）は基
本的なステート解析を伴なつた高度なタイミング
解析（ADVANCED TIMING ANALYSIS）
であり、レベル２（LEVEL2）は基本的なタイミ
ング解析を伴なつた高度なステート解析
（ADVANCED STATE ANALYSIS）であり、
レベル３（LEVEL3）は完全な操作（FULL
OPERATION）即ち高度なタイミング及びステ
ート解析である。測定機器は、便宜上、機能Ａ、
Ｂ、Ｃ及びＤと呼ぶ４つの操作機能を具えてい
る。機能Ａはタイムベース１に関する機能であ
り、機能Ｂは開始点を探すトリガに関する機能で
あり、機能Ｃはタイムベース２に関する機能であ
り、機能Ｄはワード・リコグナイザのフイルタに
関する機能である。操作レベルと各機能との関係
を次の表に示す。
種々の設定を行なう測定機器に関する。 〔発明の背景〕 多くの機能を具えた種々の測定機器では、複雑
な操作が多い。しかし、簡単な測定には全部の機
能を必要とせず、測定の複雑さの程度、即ち操作
レベルに応じて必要な機能を選択している。利用
する機能の数は一般に操作レベルに応じている。
即ち、高い操作レベルには、より多くの機能を利
用している。 従来の測定機器は多くの機能キー又はスイツチ
を具えており、操作者が機能に応じた値の選択や
設定を行なつている。また、従来の測定機器は数
字キーを具えており、表示されたメニユーを操作
者が参照して特性値の選択や設定を行なう。測定
機器を操作する際、すべての機能の内のいくつか
を必要としなくとも、操作者はすべての機能に関
して特性値を選択又は設定しなければならない。
この場合、操作者は不要な機能に対し、「ドント
ケア（dontcare）」を選択する。これら不必要な
設定操作は面倒である。特に操作者が熟練してい
ない場合、多くの機能を有する測定機器を操作す
ることは困難である。 〔発明の目的〕 したがつて本発明の目的の１つは、測定目的に
応じて操作レベルを選択できる測定機器の提供に
ある。 本発明の他の目的は、不必要なパラメータ（特
性）を操作者が設定する必要のない測定機器の提
供にある。 〔発明の概要〕 本発明の測定機器は、複数の操作レベルを具え
ており、この操作レベルにより関連した操作機能
の各々に操作者が異なる設定を行なう。また各操
作機能には、その機能に関連し、独立に選択可能
な少なくとも２つの特性がある。更に、本発明の
測定機器は、操作レベルを選択する手段と、選択
した操作レベルに関連した各操作機能に対する特
性を表示する手段と、操作レベルに関連する各操
作機能に対し特性を選択又は設定する手段とを具
えている。なお、低い操作レベルの機能は高い操
作レベルの機能の一部である。 本発明の好適な実施例においては、測定機器は
まず操作者に操作レベルを選択するように指示す
る。次に測定機器は、選択された操作レベルに応
じて必要な機能についてのみのメニユーを表示す
る。低い操作レベルを選択した場合、機能の数は
少なく、また操作レベルが高い場合は、機能の数
が多い。よつて、操作者は、必要な機能に関する
特性値を選択又は設定するのみでよく、不必要な
機能は適当な無効値に設定される。 〔発明の実施例〕 以下、添付図を参照し、ロジツク・アナライザ
に適用した本発明の好適な実施例を説明する。第
１図は本発明を用いたロジツク・アナライザのブ
ロツク図である。４個のチツプを有するプロー
ブ・ポツド１０はロジツク信号を取込み、取込み
メモリ回路１２及びトリガ回路１４に転送する。
メモリ回路１２は、入力ロジツク信号を蓄積する
高速メモリと、この高速メモリの取込み周期を制
御する２個のタイムベースとを具えている。トリ
ガ回路１４はフイルタ機能を有するワード・リコ
グナイザ（入力ロジツク信号で構成された入力ワ
ードから所定ワードを検出する）と、デジタル遅
延用のカウンタとを具えている。データ線、アド
レス線及び制御線で構成されたバス１６からの命
令データにより、回路１２及び１４における機能
の特性（パラメータ）を設定する。トリガ回路１
４がトリガ（停止）信号を発生すると、取込みメ
モリ回路１２は入力ロジツク信号の取込みを停止
し、バス１６を介して蓄積した信号をランダム・
アクセス・メモリ（RAM）１８に転送する。 8088型又はＺ−80型等のマイクロプロセツサ２
０、このマイクロプロセツサ２０の処理順序を蓄
積したリード・オンリ・メモリ（ROM）２２、
入力装置としてのキーボード２４、及び表示制御
回路２６を更にバス１６に接続する。表示制御回
路２６は陰極線管（CRT）の如き表示器２８に
測定結果及び機能メニユーを表示する。マイクロ
プロセツサ２０はRAM１８を一時メモリとして
用いて、ROM２２の制御によりパラメータの設
定を含めたロジツク・アナライザの動作を制御す
る。 第２図は第１図におけるパラメータ設定動作に
関する機能図である。第２図において、本体３０
は測定機器のパラメータの設定を制御するマイク
ロプロセツサ２０、ROM２２及びRAM１８に
対応する。選択手段３２及び設定手段３４はキー
ボード２４に対応し、操作者がこのキーボードに
より操作レベルを選択し、この操作レベルが選択
されたならばパラメータを設定する。表示手段３
６は、表示制御回路２６及びCRT２８の組合せ
に対応し、本体３０の出力に応じてメニユーを表
示する。 第３図の流れ図を参照して本発明の測定機器の
動作を説明する。まずステツプ（40）において、
本体３０が表示手段３６に操作レベルのメニユー
を表示する。この実施例においては４つの操作レ
ベル（OPERATION LEVEL）が利用でき、こ
のメニユー表示の一例を第４図に示す。レベル０
（LEVEL0）は基本的操作（BASIC
OPERATION）、即ち基本的なタイミング及び
ステート解析であり、レベル１（LEVEL1）は基
本的なステート解析を伴なつた高度なタイミング
解析（ADVANCED TIMING ANALYSIS）
であり、レベル２（LEVEL2）は基本的なタイミ
ング解析を伴なつた高度なステート解析
（ADVANCED STATE ANALYSIS）であり、
レベル３（LEVEL3）は完全な操作（FULL
OPERATION）即ち高度なタイミング及びステ
ート解析である。測定機器は、便宜上、機能Ａ、
Ｂ、Ｃ及びＤと呼ぶ４つの操作機能を具えてい
る。機能Ａはタイムベース１に関する機能であ
り、機能Ｂは開始点を探すトリガに関する機能で
あり、機能Ｃはタイムベース２に関する機能であ
り、機能Ｄはワード・リコグナイザのフイルタに
関する機能である。操作レベルと各機能との関係
を次の表に示す。
本発明は、選択した操作レベルに関連した機能
の特性の設定のみを操作者に要求するので、測定
機器の設定が容易になる。特に、測定機器が多く
の複雑な機能を具えているにもかかわらず、操作
者にこの測定機器の操作に関する詳細な知識がな
い場合であつても、また操作に熟練していない場
合であつても、操作者は、低い操作レベルを選択
することにより、この測定機器を操作できる。ま
た、熟練した操作者は、最高の操作レベルを選択
することにより、この測定機器の全機能を利用す
ることができる。
の特性の設定のみを操作者に要求するので、測定
機器の設定が容易になる。特に、測定機器が多く
の複雑な機能を具えているにもかかわらず、操作
者にこの測定機器の操作に関する詳細な知識がな
い場合であつても、また操作に熟練していない場
合であつても、操作者は、低い操作レベルを選択
することにより、この測定機器を操作できる。ま
た、熟練した操作者は、最高の操作レベルを選択
することにより、この測定機器の全機能を利用す
ることができる。
第１図は本発明を用いたロジツク・アナライザ
のブロツク図、第２図は本発明の機能的ブロツク
図、第３図は本発明の一動作例を説明する流れ
図、第４図は表示手段の表示の一例を示す図、第
５図は本発明の他の動作例を説明する流れ図であ
る。 図において、３２は選択手段、３４は設定手
段、３６は表示手段である。
のブロツク図、第２図は本発明の機能的ブロツク
図、第３図は本発明の一動作例を説明する流れ
図、第４図は表示手段の表示の一例を示す図、第
５図は本発明の他の動作例を説明する流れ図であ
る。 図において、３２は選択手段、３４は設定手
段、３６は表示手段である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 測定機器の複数の操作レベルの各々が１つ以
上の機能を有し、該機能が独立に設定可能な少な
くとも２つの特性を有し、低い上記操作レベルの
機能が高い上記操作レベルの機能の一部であつ
て、上記複数の操作レベルから所望の操作レベル
を選択する選択手段と、 該選択手段により選択された上記操作レベルに
関する上記機能の上記特性を表示する表示手段
と、 該表示手段に表示された上記機能の上記特性を
設定して、上記測定機器の入力信号を処理する上
記特性を決定する設定手段とを具え、 上記選択手段により上記低い操作レベルが選択
された際、該選択された操作レベルよりも高い上
記操作レベルのみに関する上記機能の上記特性の
設定が不要であることを特徴とする複数の操作レ
ベルを有する測定機器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US47860583A | 1983-03-23 | 1983-03-23 | |
| US478605 | 1983-03-23 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59188564A JPS59188564A (ja) | 1984-10-25 |
| JPH0327072B2 true JPH0327072B2 (ja) | 1991-04-12 |
Family
ID=23900602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59055943A Granted JPS59188564A (ja) | 1983-03-23 | 1984-03-23 | 複数の操作レベルを有する測定機器 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0123118B1 (ja) |
| JP (1) | JPS59188564A (ja) |
| DE (1) | DE3462555D1 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5025411A (en) * | 1986-12-08 | 1991-06-18 | Tektronix, Inc. | Method which provides debounced inputs from a touch screen panel by waiting until each x and y coordinates stop altering |
| US4766425A (en) * | 1986-12-19 | 1988-08-23 | Tektronix, Inc. | Waveform selection by touch |
| JPH083498B2 (ja) * | 1987-12-17 | 1996-01-17 | 株式会社日立オートシステムズ | オシロスコープ操作支援装置 |
| CN101111747B (zh) * | 2004-12-30 | 2012-06-20 | 微动公司 | 用于指导使用科里奥利流量计的方法和设备 |
| TWI417543B (zh) * | 2005-08-05 | 2013-12-01 | Bayer Healthcare Llc | 具有一包含複數個預定使用者特徵位準之多重位準使用者介面之計量器及其使用方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58105067A (ja) * | 1981-12-17 | 1983-06-22 | Sony Tektronix Corp | 表示装置 |
-
1984
- 1984-03-16 EP EP84102948A patent/EP0123118B1/en not_active Expired
- 1984-03-16 DE DE8484102948T patent/DE3462555D1/de not_active Expired
- 1984-03-23 JP JP59055943A patent/JPS59188564A/ja active Granted
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| ELECTRONICS=S55 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0123118B1 (en) | 1987-03-04 |
| EP0123118A1 (en) | 1984-10-31 |
| JPS59188564A (ja) | 1984-10-25 |
| DE3462555D1 (en) | 1987-04-09 |
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