JPH03274274A - 酸化物膜成長装置 - Google Patents
酸化物膜成長装置Info
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- JPH03274274A JPH03274274A JP2076420A JP7642090A JPH03274274A JP H03274274 A JPH03274274 A JP H03274274A JP 2076420 A JP2076420 A JP 2076420A JP 7642090 A JP7642090 A JP 7642090A JP H03274274 A JPH03274274 A JP H03274274A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chamber
- oxide film
- source
- substrate
- reaction tube
- Prior art date
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- Pending
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-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Landscapes
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要]
酸化物膜成長装置に関し、
ソースチャンバの出口近傍に反応生成物の堆積が生じて
、ソースチャンバの破壊が生したり、反応堆積物の飛散
による基板上の生成層が汚染されるのを防止することを
目的とし、 異なる温度に設定可能な複数の加熱炉と、前記加熱炉の
内部に設けられた反応管と、前記反応管の上流側に設け
られ、それぞれに独立したキャリヤガス導入口を有する
複数のソースチャンバと、前記ソースチャンバの末端部
近傍の反応管内面との間を隔壁で密閉され、かつ、前記
ソースチャンバを含む空間と孔を有する仕切り板で仕切
られた内管状の第1チャンバと、前記第1チャンバの下
流に隙間を挟んで直列に配設され、かつ、独立したガス
導入口を有する内管状の第2チャンバと、前記第1およ
び第2チャンバの内部に外部操作で移動可能に設けられ
た基板ホルダと、前記第1および第2チャンバの内部に
前記基板ホルダと同期して外部操゛作で移動可能に設け
られた反応ガス送入管とを少なくとも備えるように酸化
物膜成長装置を構成する。さらに、前記第2チャンバの
下流に隙間を挟んで直列に内管状の付加チャンバを設け
るようにすることもできる。
、ソースチャンバの破壊が生したり、反応堆積物の飛散
による基板上の生成層が汚染されるのを防止することを
目的とし、 異なる温度に設定可能な複数の加熱炉と、前記加熱炉の
内部に設けられた反応管と、前記反応管の上流側に設け
られ、それぞれに独立したキャリヤガス導入口を有する
複数のソースチャンバと、前記ソースチャンバの末端部
近傍の反応管内面との間を隔壁で密閉され、かつ、前記
ソースチャンバを含む空間と孔を有する仕切り板で仕切
られた内管状の第1チャンバと、前記第1チャンバの下
流に隙間を挟んで直列に配設され、かつ、独立したガス
導入口を有する内管状の第2チャンバと、前記第1およ
び第2チャンバの内部に外部操作で移動可能に設けられ
た基板ホルダと、前記第1および第2チャンバの内部に
前記基板ホルダと同期して外部操゛作で移動可能に設け
られた反応ガス送入管とを少なくとも備えるように酸化
物膜成長装置を構成する。さらに、前記第2チャンバの
下流に隙間を挟んで直列に内管状の付加チャンバを設け
るようにすることもできる。
(産業上の利用分野)
本発明は酸化物膜成長装置、とくに、複雑な多元素から
なる酸化&[l酸物の膜を基板上に生成するための、複
数のソースチャンバと複数の成長および処理チャンバを
有する酸化物膜成長装置の装置寿命の改善と成長酸化物
膜の品質を向上するための装置構成の改良に関する。
なる酸化&[l酸物の膜を基板上に生成するための、複
数のソースチャンバと複数の成長および処理チャンバを
有する酸化物膜成長装置の装置寿命の改善と成長酸化物
膜の品質を向上するための装置構成の改良に関する。
[従来の技術]
現在、各種材料の気相反応を利用した膜成長装置は半導
体デバイスを始めとして色々な分野で広く使用されてお
り、たとえば、化学気相成長CCVD〉装置1分子ビー
ム戊辰(MBE)装置、イオンアシスト蒸着装置等の各
種タイプのものが実用化されている。
体デバイスを始めとして色々な分野で広く使用されてお
り、たとえば、化学気相成長CCVD〉装置1分子ビー
ム戊辰(MBE)装置、イオンアシスト蒸着装置等の各
種タイプのものが実用化されている。
とくに、最近は高温超伝導体酸化物の開発が盛んになり
、そのデバイスへの応用のために基板の上に膜状に形成
する技術の開発が強く求められている。
、そのデバイスへの応用のために基板の上に膜状に形成
する技術の開発が強く求められている。
一般に、これら高温超伝導体酸化物は多元素を含む酸化
物からなるので、その膜生成のための装置も複雑になっ
てくる。
物からなるので、その膜生成のための装置も複雑になっ
てくる。
たとえば、第3図は従来の酸化物膜成長装置の構成例を
示す図で、同図(イ)は側断面図、同図(ロ)はY、−
Y、’断面図、同図(ハ)はY2−Y2’断面図である
。
示す図で、同図(イ)は側断面図、同図(ロ)はY、−
Y、’断面図、同図(ハ)はY2−Y2’断面図である
。
図中、loは真空排気に耐える反応管、11’ は前記
反応管l゛に取り付けられたガス排出口である。
反応管l゛に取り付けられたガス排出口である。
2’(2’a〜2゛d〉は反応管1°の上流側に設けら
れ、それぞれに独立したキャリヤガス導入口4(4’a
〜4゛d)を有する複数のソースチャンバで、それぞれ
の内部には容器に入れられたソース材料3(3a〜3d
)が所定の位置に挿入される。9゛は基板ホル、ダで。
れ、それぞれに独立したキャリヤガス導入口4(4’a
〜4゛d)を有する複数のソースチャンバで、それぞれ
の内部には容器に入れられたソース材料3(3a〜3d
)が所定の位置に挿入される。9゛は基板ホル、ダで。
たとえば、反応管1゛の内壁に支柱により所定の位置に
配置されている。100は所望の酸化物膜を形成するた
めの基板である。
配置されている。100は所望の酸化物膜を形成するた
めの基板である。
20’ (20’ a〜20’e)は加熱炉でそれぞれ
所定の温度、たとえば、20°a〜20°dはソース材
料38〜3dをそれぞれ気化させるのに必要な温度に、
また、20’eは基板100を所定の反応温度あるいは
必要に応じて前後処理を行うのに必要な温度にするため
のたとえば、自動温度設定制御可能な電気抵抗炉であり
、反応管l°の周囲を囲んで配設されている。
所定の温度、たとえば、20°a〜20°dはソース材
料38〜3dをそれぞれ気化させるのに必要な温度に、
また、20’eは基板100を所定の反応温度あるいは
必要に応じて前後処理を行うのに必要な温度にするため
のたとえば、自動温度設定制御可能な電気抵抗炉であり
、反応管l°の周囲を囲んで配設されている。
8゛は反応ガス送入路、80°は反応ガス送入口である
。
。
通常、反応管1゛、ソースチャンバ2’ (2’ a〜
2’ d)などは石英で作られており、基板9°は、た
とえば、MgOからなる基板を用いている。そして、ソ
ース材料38〜3dとして、たとえば、B i + S
r + Ca + Cuのハロゲン化物をソースチャン
バ2’(2’a〜2゛d)のそれぞれ所定の位置に挿入
し、キャリヤガス、たとえば、lleガスを送りながら
それぞれ所定の温度に加熱すると、気化されたソース材
料はそれぞれキャリヤガスによって運ばれ、加熱炉20
’eで所定の温度に加熱された基板100上に達する。
2’ d)などは石英で作られており、基板9°は、た
とえば、MgOからなる基板を用いている。そして、ソ
ース材料38〜3dとして、たとえば、B i + S
r + Ca + Cuのハロゲン化物をソースチャン
バ2’(2’a〜2゛d)のそれぞれ所定の位置に挿入
し、キャリヤガス、たとえば、lleガスを送りながら
それぞれ所定の温度に加熱すると、気化されたソース材
料はそれぞれキャリヤガスによって運ばれ、加熱炉20
’eで所定の温度に加熱された基板100上に達する。
また、別に反応ガス導入口80゛ から酸化性ガス、た
とえば、酸素を反応ガス送入路8゛に送り込み、キャリ
ヤガスで運ばれてくるソース材料と反応させると、基板
100上に酸化物膜101.たとえば、B1−5r−C
a−CuO系の複合酸化物膜の高温超伝導体が成長する
。
とえば、酸素を反応ガス送入路8゛に送り込み、キャリ
ヤガスで運ばれてくるソース材料と反応させると、基板
100上に酸化物膜101.たとえば、B1−5r−C
a−CuO系の複合酸化物膜の高温超伝導体が成長する
。
なお、キャリヤガスや反応ガスの供給量制御装置や排気
装置、加熱炉電源や温度制御装置など本発明に直接関係
のない部分については、図面簡略化のため図示ならびに
説明を省略した。
装置、加熱炉電源や温度制御装置など本発明に直接関係
のない部分については、図面簡略化のため図示ならびに
説明を省略した。
しかし、上記の如き従来の酸化物膜成長装置では、ソー
ス材料3(3a〜3d)がソースチャンバ2°(2°a
〜2゛d)のそれぞれの出口近傍ですぐに酸化性ガスと
反応しはじめ、それぞれ個別の反応生成物200a〜2
00dなどがその付近に堆積してくる。したがって、よ
り下流に設けられている基板100上では各ソース材料
ガスの濃度を最適値に制御することが困難となり、生成
酸化物膜の品質が劣化してしまう。また、堆積した反応
生成物200a〜200dや200などが石英製のソー
スチャンバ2°(2゛a〜2“d)や反応管1゛と反応
して破壊するため、短期間で交換する必要があった。そ
の他、Ill威長成長酸化雰囲気中でアニールする必要
がある場合には、ソース材料ガスを停止し酸化性ガスだ
けを供給することになるが、温度が上がったソース材料
はその温度に対応した蒸気圧を持ち、キャリヤガスを止
めても基板100上に拡散してきて生成膜組成の劣化を
もたらし、一方、酸化性ガスは逆にソースチャンバ内に
拡散して行きソース材料自体が酸化してしまうなど様々
な不都合が生しており、その解決が必要であった。
ス材料3(3a〜3d)がソースチャンバ2°(2°a
〜2゛d)のそれぞれの出口近傍ですぐに酸化性ガスと
反応しはじめ、それぞれ個別の反応生成物200a〜2
00dなどがその付近に堆積してくる。したがって、よ
り下流に設けられている基板100上では各ソース材料
ガスの濃度を最適値に制御することが困難となり、生成
酸化物膜の品質が劣化してしまう。また、堆積した反応
生成物200a〜200dや200などが石英製のソー
スチャンバ2°(2゛a〜2“d)や反応管1゛と反応
して破壊するため、短期間で交換する必要があった。そ
の他、Ill威長成長酸化雰囲気中でアニールする必要
がある場合には、ソース材料ガスを停止し酸化性ガスだ
けを供給することになるが、温度が上がったソース材料
はその温度に対応した蒸気圧を持ち、キャリヤガスを止
めても基板100上に拡散してきて生成膜組成の劣化を
もたらし、一方、酸化性ガスは逆にソースチャンバ内に
拡散して行きソース材料自体が酸化してしまうなど様々
な不都合が生しており、その解決が必要であった。
上記の課題は、異なる温度に設定可能な複数の加熱炉2
0と、前記加熱炉20の内部に設けられた反応管1と、
前記反応管1の上流側に設けられ、それぞれに独立した
キャリヤガス導入口4を有する複数のソースチャンバ2
と、前記ソースチャンバ2の末端部近傍の反応管1内面
との間を隔壁10で密閉され、かつ、前記ソースチャン
バ2を含む空間と孔70を有する仕切り板7で仕切られ
た内管状の第1チャンバ5と、前記第1チャンバ5の下
流に隙間12を挟んで直列に配設され、かつ、独立した
ガス導入口60を有する内管状の第2チャンバ6と、前
記第1および第2チャンバの内部に、外部操作で移動可
能に設けられた基板ホルダ9と、前記第1および第2チ
ャンバの内部に、前記基板ホルダ9と同期して外部操作
で移動可能に設けられた反応ガス送入管8とを少なくと
も備えた酸化物膜成長装置により解決することができる
。
0と、前記加熱炉20の内部に設けられた反応管1と、
前記反応管1の上流側に設けられ、それぞれに独立した
キャリヤガス導入口4を有する複数のソースチャンバ2
と、前記ソースチャンバ2の末端部近傍の反応管1内面
との間を隔壁10で密閉され、かつ、前記ソースチャン
バ2を含む空間と孔70を有する仕切り板7で仕切られ
た内管状の第1チャンバ5と、前記第1チャンバ5の下
流に隙間12を挟んで直列に配設され、かつ、独立した
ガス導入口60を有する内管状の第2チャンバ6と、前
記第1および第2チャンバの内部に、外部操作で移動可
能に設けられた基板ホルダ9と、前記第1および第2チ
ャンバの内部に、前記基板ホルダ9と同期して外部操作
で移動可能に設けられた反応ガス送入管8とを少なくと
も備えた酸化物膜成長装置により解決することができる
。
また、前記仕切り板7が交換可能で、かつ、必要に応じ
て孔70の大きさが変えられるようにしたり、さらに、
前記第2チャンバ6の下流に隙間14を挟んで直列に配
設され、かつ、独立したガス導入口130を有する。少
なくとも、1つの内管状の付加チャンバ13を設けるこ
とにより、より一層機能と効果を高めることができる。
て孔70の大きさが変えられるようにしたり、さらに、
前記第2チャンバ6の下流に隙間14を挟んで直列に配
設され、かつ、独立したガス導入口130を有する。少
なくとも、1つの内管状の付加チャンバ13を設けるこ
とにより、より一層機能と効果を高めることができる。
(作用)
本発明の酸化物II!戒長袋長袋長装置ソースチャンバ
群と基板100を挿入・設置するRrft、長領域であ
る第1チャンバ5とは、隔壁10と仕切り板7で隔離さ
れ、僅かに仕切り板7にあけられた小さい孔70でつな
がっているだけであり、また、反応ガスは反応管1の下
流側1すなわち、ソースチャンバ2とは反対側から基板
100を収容している第1チャンバ5へ反応ガス送入管
8を通して送られるので、ソースチャンバ20部分に反
応生成物が堆積することはなく、ソースチャンバの寿命
が大巾に延びる。また、アニール用の第2チャンバ6や
その他の処理に用いる付加チャンバ13を必要に応じて
専用的に設置できるので、ソース材料3の酸化や生成酸
化物膜101の汚染が生じる恐れがなく膜品質が向上す
るのである。
群と基板100を挿入・設置するRrft、長領域であ
る第1チャンバ5とは、隔壁10と仕切り板7で隔離さ
れ、僅かに仕切り板7にあけられた小さい孔70でつな
がっているだけであり、また、反応ガスは反応管1の下
流側1すなわち、ソースチャンバ2とは反対側から基板
100を収容している第1チャンバ5へ反応ガス送入管
8を通して送られるので、ソースチャンバ20部分に反
応生成物が堆積することはなく、ソースチャンバの寿命
が大巾に延びる。また、アニール用の第2チャンバ6や
その他の処理に用いる付加チャンバ13を必要に応じて
専用的に設置できるので、ソース材料3の酸化や生成酸
化物膜101の汚染が生じる恐れがなく膜品質が向上す
るのである。
〔実施例]
第1図は本発明の実施例を示す図で、同図(イ)は側断
面図、同図(ロ)はY+−Yt°断面図、同図(ハ)は
Yz−Yz°断面図である。
面図、同図(ロ)はY+−Yt°断面図、同図(ハ)は
Yz−Yz°断面図である。
図中、lは真空排気に耐える反応管、11は前記反応管
1に取り付けられたガス排出口である。2(2a〜2d
)は反応管1の上流側に設けられ、それぞれに独立した
キャリヤガス導入口4(48〜4d)を有する複数のソ
ースチャンバで、それぞれの内部には容器に入れられた
ソース材料3(38〜3d)が所定の位置に挿入される
。9は基板ホルダで、たとえば、第1チャンバ5の内部
に反応ガス送入管8と同期して移動可能なごとくに配置
される。20(208〜20f)は加熱炉でそれぞれ所
定の温度、たとえば、20a〜20dはソース材料38
〜3dをそれぞれ気化させるのに必要な温度に、また、
20eは所望の酸化物膜101を成長させる際に基板1
00を所定の反応温度に、さらに、2Ofは必要に応じ
て前後処理、たとえば、生成酸化物膜101をアニール
するのに必要な温度に加熱するための、たとえば、自動
温度設定制御可能な電気抵抗炉であり、反応管1の周囲
を囲んで配設されている。8は反応ガス送入管、80は
反応ガス送入口である。
1に取り付けられたガス排出口である。2(2a〜2d
)は反応管1の上流側に設けられ、それぞれに独立した
キャリヤガス導入口4(48〜4d)を有する複数のソ
ースチャンバで、それぞれの内部には容器に入れられた
ソース材料3(38〜3d)が所定の位置に挿入される
。9は基板ホルダで、たとえば、第1チャンバ5の内部
に反応ガス送入管8と同期して移動可能なごとくに配置
される。20(208〜20f)は加熱炉でそれぞれ所
定の温度、たとえば、20a〜20dはソース材料38
〜3dをそれぞれ気化させるのに必要な温度に、また、
20eは所望の酸化物膜101を成長させる際に基板1
00を所定の反応温度に、さらに、2Ofは必要に応じ
て前後処理、たとえば、生成酸化物膜101をアニール
するのに必要な温度に加熱するための、たとえば、自動
温度設定制御可能な電気抵抗炉であり、反応管1の周囲
を囲んで配設されている。8は反応ガス送入管、80は
反応ガス送入口である。
lOは隔壁で、ソースチャンバ2の末端部近傍の反応管
l内面との間を、たとえば、取り外し可能なすり合わせ
で密閉し、かつ、第1チャンバ5との間を同じく取り外
し可能なすり合わせで密閉するか、あるいは、密閉接着
されるかして上下流部を隔離するためのものである。7
は仕切り板で、第1チャンバ5の最上流部に嵌合され取
り外し。
l内面との間を、たとえば、取り外し可能なすり合わせ
で密閉し、かつ、第1チャンバ5との間を同じく取り外
し可能なすり合わせで密閉するか、あるいは、密閉接着
されるかして上下流部を隔離するためのものである。7
は仕切り板で、第1チャンバ5の最上流部に嵌合され取
り外し。
すなわち、交換可能に設置されており、その固定方法は
嵌め込みでもよいし、あるいは、凹凸の爪による引っ掛
けなどの方法によってもよい。要は必要に応じて交換可
能であればよい。仕切り板7には孔70があけられてお
りソースチャンバ2と第1チャンバ5との間をつないで
、ソース材料ガスがキャリヤガスに運ばれて第1チャン
バ5の中に流れ込んでくるようにしている。孔70は大
きさを変えられるようにしてソース材料ガスの流れ、あ
るいは、流量を制御できるようにしておく。
嵌め込みでもよいし、あるいは、凹凸の爪による引っ掛
けなどの方法によってもよい。要は必要に応じて交換可
能であればよい。仕切り板7には孔70があけられてお
りソースチャンバ2と第1チャンバ5との間をつないで
、ソース材料ガスがキャリヤガスに運ばれて第1チャン
バ5の中に流れ込んでくるようにしている。孔70は大
きさを変えられるようにしてソース材料ガスの流れ、あ
るいは、流量を制御できるようにしておく。
6は第2チャンバで、第1チャンバ5の下流に隙間12
を挟んで直列に配設され、かつ、独立したガス導入口6
0を有する内管状のチャンバである。
を挟んで直列に配設され、かつ、独立したガス導入口6
0を有する内管状のチャンバである。
反応管1は、たとえば、150mmφ、ソースチャンソ
ースチャンバ2d)の間隔は、たとえば、15mm。
ースチャンバ2d)の間隔は、たとえば、15mm。
第1チャンバ5.第2チャンバ6の高さは、たとえば、
20mmとし、いずれも、たとえば、石英で作り、隔壁
12.仕切り板7などは石英でもよいし耐食性のある金
属でつくってもよい。何れにしてもそれらの全部、もし
くは、一部が分解・組立て可能で清掃ができるようにし
ておくのがよい。
20mmとし、いずれも、たとえば、石英で作り、隔壁
12.仕切り板7などは石英でもよいし耐食性のある金
属でつくってもよい。何れにしてもそれらの全部、もし
くは、一部が分解・組立て可能で清掃ができるようにし
ておくのがよい。
なお、キャリヤガスや反応ガスの供給量制御装置や排気
装置、加熱炉電源や温度制御装置など本発明に直接関係
のない部分については、図面簡略化のため図示ならびに
説明を省略した。
装置、加熱炉電源や温度制御装置など本発明に直接関係
のない部分については、図面簡略化のため図示ならびに
説明を省略した。
いま、たとえば、MgOからなる基板100を基板ホル
ダ9に載置し、第1チャンバ5の成長領域に挿入する。
ダ9に載置し、第1チャンバ5の成長領域に挿入する。
そして、ソース材料38〜3dとして、たとえば、Bi
+Sr、Ca+Cuのハロゲン化物、たとえばB1C1
1CuBr、Ca1z、5rlzをソースチャンバ2(
2a〜2d)のそれぞれ所定の位置に挿入しキャリヤガ
ス。
+Sr、Ca+Cuのハロゲン化物、たとえばB1C1
1CuBr、Ca1z、5rlzをソースチャンバ2(
2a〜2d)のそれぞれ所定の位置に挿入しキャリヤガ
ス。
たとえば、lieガスをキャリヤガス導入口4(48〜
4d)から送りながら、加熱炉20a〜20dをそれぞ
れ所定の温度、たとえば、150 ’C,500”C,
8000C,8oo’cに加熱すると、気化されたソー
ス材料はそれぞれキャリヤガスによって運ばれ、加熱炉
20eで所定の温度、たとえば、800°Cに加熱され
た基板100上に達する。また、別に反応ガス送入口8
0から酸化性ガス、たとえば、酸素を反応ガス送入管8
を通して第1チャンバ5に送り込み、キャリヤガスで運
ばれてくるソース材料と反応させると、基板100上に
酸化物膜101.たとえば、B1−5r−Ca−Cu−
0系の複合酸化物膜の高温超伝導体が成長する。
4d)から送りながら、加熱炉20a〜20dをそれぞ
れ所定の温度、たとえば、150 ’C,500”C,
8000C,8oo’cに加熱すると、気化されたソー
ス材料はそれぞれキャリヤガスによって運ばれ、加熱炉
20eで所定の温度、たとえば、800°Cに加熱され
た基板100上に達する。また、別に反応ガス送入口8
0から酸化性ガス、たとえば、酸素を反応ガス送入管8
を通して第1チャンバ5に送り込み、キャリヤガスで運
ばれてくるソース材料と反応させると、基板100上に
酸化物膜101.たとえば、B1−5r−Ca−Cu−
0系の複合酸化物膜の高温超伝導体が成長する。
この酸化物膜成長時に、ソースチャンバ2と第1チャン
バ5は隔壁10と仕切り板7で仕切られ、僅かに孔70
を通してソース材料ガスが基板100上に運ばれ、かつ
、酸素ガスはその反対側、すなわち、下流側から第1チ
ャンバ5の中に送入されるので、第3図に示した従来の
装置の場合のごとき個別の反応生成物200a〜200
dなどがソースチャンバ2の末端部分に堆積してくるこ
とない。ソース材料ガスと酸素ガスの残りは、約10m
mの隙間12を通って第1チャンバ5の外に放出される
。また、反応管1は酸化物膜成長空間と隔離されている
ので、反応管lの内壁に反応生成物200が厚く堆積す
ることもない。したがって、ソースチャンバ2や反応管
1が破壊されることがなく、従来装置の場合に比較して
寿命が3倍以上と大巾に延びた。
バ5は隔壁10と仕切り板7で仕切られ、僅かに孔70
を通してソース材料ガスが基板100上に運ばれ、かつ
、酸素ガスはその反対側、すなわち、下流側から第1チ
ャンバ5の中に送入されるので、第3図に示した従来の
装置の場合のごとき個別の反応生成物200a〜200
dなどがソースチャンバ2の末端部分に堆積してくるこ
とない。ソース材料ガスと酸素ガスの残りは、約10m
mの隙間12を通って第1チャンバ5の外に放出される
。また、反応管1は酸化物膜成長空間と隔離されている
ので、反応管lの内壁に反応生成物200が厚く堆積す
ることもない。したがって、ソースチャンバ2や反応管
1が破壊されることがなく、従来装置の場合に比較して
寿命が3倍以上と大巾に延びた。
膜成長後に、後処理、たとえば、酸素ガス中でアニール
処理をして結晶性を高めるためには、基板ホルダ9を、
たとえば、基板ホルダ9に接合された反応ガス送入管8
を外部操作により、第2チャンバ6に移動し、加熱炉2
0fを800〜83011Cにして生成した酸化物膜1
01を所定のアニール温度に加熱しながら反応ガス送入
管8から酸素ガスを送入してアニールを行へばよい。す
なわち、アニール時にはソース材料ガスは基板100上
には存在せず、しかも、反応堆積物のない全く清浄な第
2チャンバ6内で処理できるので、全体の処理時間が短
縮できるばかりでなく、製品の特性・品質が大巾に向上
する。
処理をして結晶性を高めるためには、基板ホルダ9を、
たとえば、基板ホルダ9に接合された反応ガス送入管8
を外部操作により、第2チャンバ6に移動し、加熱炉2
0fを800〜83011Cにして生成した酸化物膜1
01を所定のアニール温度に加熱しながら反応ガス送入
管8から酸素ガスを送入してアニールを行へばよい。す
なわち、アニール時にはソース材料ガスは基板100上
には存在せず、しかも、反応堆積物のない全く清浄な第
2チャンバ6内で処理できるので、全体の処理時間が短
縮できるばかりでなく、製品の特性・品質が大巾に向上
する。
第2図は本発明の他の実施例を示す図である。
本実施例では前記第1図に示した第2チャンバ6の下流
に、たとえば、10mmの隙間14を挟んで直列に配設
され、かつ、独立したガス導入口130を有し、はり同
一断面形状を持つ付加チャンバ13を設けである。これ
により基板100の前処理、たとえば、膜成長前の基板
表面の清浄化のためのエツチングを行うことができる。
に、たとえば、10mmの隙間14を挟んで直列に配設
され、かつ、独立したガス導入口130を有し、はり同
一断面形状を持つ付加チャンバ13を設けである。これ
により基板100の前処理、たとえば、膜成長前の基板
表面の清浄化のためのエツチングを行うことができる。
この例ではガス導入口130からIIcLガスを導入す
ることにより、全く汚染の恐れなく基板の前清浄化処理
を行い、より一・層高品質の酸化物膜101を容易に得
ることができるのである。
ることにより、全く汚染の恐れなく基板の前清浄化処理
を行い、より一・層高品質の酸化物膜101を容易に得
ることができるのである。
上記実施例ではB1−5r−Ca−Cu−0系の複合酸
化物膜の高温超伝導体の場合について示したが、その他
類似の複合酸化物、あるいは、酸化物以外の気相反応成
長にも本発明装置が適用できることは言うまでもない。
化物膜の高温超伝導体の場合について示したが、その他
類似の複合酸化物、あるいは、酸化物以外の気相反応成
長にも本発明装置が適用できることは言うまでもない。
また、基板100の保持方法や装置全体の保持角度は水
平とは限らず上下方向に傾斜して配置しても構わない。
平とは限らず上下方向に傾斜して配置しても構わない。
以上述べた実施例は例を示したもので、本発明の趣旨に
添うものである限り、使用する素材、たとえば、基板や
ソースその他や装置の細部ti戒など適宜好ましいもの
、あるいはそれらの組み合わせを用いてもよいことは勿
論である。
添うものである限り、使用する素材、たとえば、基板や
ソースその他や装置の細部ti戒など適宜好ましいもの
、あるいはそれらの組み合わせを用いてもよいことは勿
論である。
以上説明したように、本発明の酸化物W4戒長装置によ
れば、ソースチャンバ2や反応管1の寿命が従来の3倍
以上と大巾に延び、それらの交換回数が減少して作業性
も大巾に向上する。さらに、反応生成物の堆積による膜
汚染がなくなり、基板の前処理、たとえば、エツチング
や、後処理、たとえば、膜成長後のアニールも清浄雰囲
気の中で容易に行なえるので成長膜品質が大巾に向上し
したがって、これら酸化物膜を用いるデバイスの性能・
品質の向上と価格の低下に寄与するところが極めて大き
い。
れば、ソースチャンバ2や反応管1の寿命が従来の3倍
以上と大巾に延び、それらの交換回数が減少して作業性
も大巾に向上する。さらに、反応生成物の堆積による膜
汚染がなくなり、基板の前処理、たとえば、エツチング
や、後処理、たとえば、膜成長後のアニールも清浄雰囲
気の中で容易に行なえるので成長膜品質が大巾に向上し
したがって、これら酸化物膜を用いるデバイスの性能・
品質の向上と価格の低下に寄与するところが極めて大き
い。
第1図は本発明の実施例を示す図、
第2図は本発明の他の実施例を示す図、第3図は従来の
酸化物膜相成長装置の構成例を示す図である。 図において、 lは反応管、 2(28〜2d)はソースチャンバ、 3(3a〜3d)はソース材料、 4(48〜4d)はキャリヤガス導入口、5は第1チャ
ンバ、 6は第2チャンバ、 7は仕切り板、 8は反応ガス送入管、 9は基板、 10は隔壁、 11はガス排出口、 12、14は隙間、 13は付加チャンバ、 20(20a〜2Of)は加熱炉、 60.130はガス導入口、 70は孔、 80は反応ガス送入口、 lOOは基板、 101は酸化物膜である。 (口、)YrYr’−0面 因 (八)Y2Y2’ 画Hカ図 本をE3月lr)実方色イ列上 示寸凹第 ′l
困
酸化物膜相成長装置の構成例を示す図である。 図において、 lは反応管、 2(28〜2d)はソースチャンバ、 3(3a〜3d)はソース材料、 4(48〜4d)はキャリヤガス導入口、5は第1チャ
ンバ、 6は第2チャンバ、 7は仕切り板、 8は反応ガス送入管、 9は基板、 10は隔壁、 11はガス排出口、 12、14は隙間、 13は付加チャンバ、 20(20a〜2Of)は加熱炉、 60.130はガス導入口、 70は孔、 80は反応ガス送入口、 lOOは基板、 101は酸化物膜である。 (口、)YrYr’−0面 因 (八)Y2Y2’ 画Hカ図 本をE3月lr)実方色イ列上 示寸凹第 ′l
困
Claims (3)
- (1)異なる温度に設定可能な複数の加熱炉(20)と
、前記加熱炉(20)の内部に設けられた反応管(1)
と、 前記反応管(1)の上流側に設けられ、それぞれに独立
したキャリヤガス導入口(4)を有する複数のソースチ
ャンバ(2)と、 前記ソースチャンバ(2)の末端部近傍の反応管(1)
内面との間を隔壁(10)で密閉され,かつ、前記ソー
スチャンバ(2)を含む空間と孔(70)を有する仕切
り板(7)で仕切られた内管状の第1チャンバ(5)と
、 前記第1チャンバ(5)の下流に隙間(12)を挟んで
直列に配設され,かつ、独立したガス導入口(60)を
有する内管状の第2チャンバ(6)と、前記第1および
第2チャンバ(5,6)の内部に、外部操作で移動可能
に設けられた基板ホルダ(9)と、 前記第1および第2チャンバ(5,6)の内部に、前記
基板ホルダ(9)と同期して外部操作で移動可能に設け
られた反応ガス送入管(8)とを少なくとも備えること
を特徴とした酸化物膜成長装置。 - (2)前記仕切り板(7)が交換可能で,かつ、必要に
応じて孔(70)の大きさが変えられることを特徴とし
た請求項(1)記載の酸化物膜成長装置。 - (3)前記第2チャンバ(6)の下流に隙間(14)を
挟んで直列に配設され,かつ、独立したガス導入口(1
30)を有する,少なくとも、1つの内管状の付加チャ
ンバ(13)を設けることを特徴とした請求項(1)ま
たは(2)記載の酸化物膜成長装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2076420A JPH03274274A (ja) | 1990-03-26 | 1990-03-26 | 酸化物膜成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2076420A JPH03274274A (ja) | 1990-03-26 | 1990-03-26 | 酸化物膜成長装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03274274A true JPH03274274A (ja) | 1991-12-05 |
Family
ID=13604699
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2076420A Pending JPH03274274A (ja) | 1990-03-26 | 1990-03-26 | 酸化物膜成長装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03274274A (ja) |
-
1990
- 1990-03-26 JP JP2076420A patent/JPH03274274A/ja active Pending
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