JPH03276484A - 光ディスク駆動装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、光ディスクに対して情報の記録、再生、消去
を行う駆動手段を備えた光ディスク駆動装置に関する。

（従来の技術） 従来の光ディスク駆動装置では、ディスク回転用のスピ
ンドルモータ、光ヘツド駆動用のシークモータ、対物レ
ンズ駆動用のモータなどの多くの駆動手段が設けられて
おり、さらに前記駆動手段を駆動するドライブ回路、コ
ントロール回路、インタフェース回路などの発熱源を多
く備えており。

標準的な駆動によって装置本体内部の温度上昇は数十底
にも達する。

しかし光ディスク駆動装置で使用される光ディスクやレ
ーザダイオードには、耐久性、寿命との関係により許容
可能な最大温度があり、上述した数十底の温度上昇は許
容されない、このため装置本体の内部の冷却が必要とな
る。この冷却するための手段としては、ファンなどを使
用した空冷が一般的であるが、冷却のために用いられる
装置本体外部の空気には多数の塵埃が含まれており、こ
の塵埃によって装置本体内部が汚れてしまうという問題
がある。

特に装置本体内部に装備された光学系へ塵埃が付着する
と、記録／再生パワーの低下、あるいは光学波面の乱れ
を生じ、記録特性、再生特性、あるいは集光性能の劣化
を急激にまねく原因になる。

そこで、実開昭６３−２９２９２号公報に示されるよう
に、空気の流入口が存在する装置本体の前面カバ一部に
防塵カバーを設ける構成、あるいは特開昭６３−２２０
４８５号公報、特開昭６３−２５５８２８号公報に示さ
れるように、光ディスクからの再生出力と基準出力とを
比較して、装置本体の内部の汚れを検知する構成などが
提案されている。

（発明が解決しようとする課題） しかし、光ディスク駆動装置には、前記前面カバーのみ
ならず、他部にも空気が流入できる空隙が多く存在して
おり、前記防塵カバーを取付けることによって他の空隙
からの流入空気が増大したり、また防塵カバーで除去で
きない塵埃などが流入することによって、装置本体の内
部をクリーンな状態に保持することは難しく、さらに装
置本体の内部の汚れの程度が分らないため、装置本体の
内部の清掃が効率よく行われないという問題がある。

また光ディスクからの再生出力によって塵埃などによる
汚れを検知する装置は、装置本体の内部がかなり汚れた
状態になった時に初めて汚れが検知されることになり、
汚れに対す対処に遅れが生じるという問題がある。

本発明の目的は、装置本体の内部をクリーンな状態に保
つことができる光ディスク駆動装置を提供することにあ
る。

（課題を解決するための手段） 上記の目的を達成するため１本発明は、光ディスクに対
して情報の記録、再生、消去を行う光学的手段と、駆動
手段と、外部空気を取り入れて装置本体内部を冷却する
冷却手段とを備えた光ディスク駆動装置において、前記
装置本体内部の空気流の方向と直角方向に光を出射する
ように設けられた発光部と、前記光の出射方向と直角方
向に設けられ、かつ空気中の塵埃からの散乱光を受ける
受光部とからなる汚れ検出手段を備えたことを特徴とす
る。

（作　用） 上記の手段を採用したため、装置本体内部の空気中の塵
埃による汚れの程度が、汚れ検出手段の発光部と、発光
部からの出射光を直接量けずに塵埃により散乱された光
を受ける受光部によって光学的に検出される。

（実施例） 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。

第３図は本発明の一実施例の断面図であり、１は外装カ
バー、２は外装カバー１の左部に設置され、かつ光ディ
スク３と、光ディスク３を回転させる駆動手段であるス
ピンドルモータ４と、光学的手段である光ピツクアップ
５などを収納している駆動部本体、６は外装カバー１の
左側に設けられ、かつ光ディスク挿入ロアと複数個の通
気孔８とが形成されたフロントベゼル、９はフロトベゼ
ル６に装着され、かつフィルタ１０を内蔵している塵埃
カバー、１１は外装カバー１の底面に形成された通孔、
１２は外装カバー１の右側に設けられて。

空気を塵埃カバー９２通孔１１などを通過させて装置本
体内部１３へ取り入れ、かつ装置本体外部へ送り出す冷
却手段であるファン、１４は電源、１５は後述する汚れ
検出手段である。

第４図は駆動部本体２の外観を示す斜視図であり、左前
部のフロントベゼル６に前記光ディスク挿入ロアと１通
気孔８と、イジェクトボタン１６と、駆動状態を示す表
示用ＬＥＤ（発光ダイオード）１７が設けられ、上部に
は各種の回路素子１８が搭載された基体１９が固定され
、側部には光ディスク３のローディング機構２０が設け
られている。

第１図は汚れ検出手段１５の構成図であり、２１は装置
本体内部■３で生じる空気の流れＡと軸線ｅが平行に設
置されたパイプ、２２はランプなどの光源からなり、か
つ前記パイプ２１の軸線Ｑに対して直角方向ａに光を出
射するように設置された発光部。

２３は発光部２２からの光の出射方向ａと直角方向すに
設けられた光電子増倍管、あるいは高感度の受光素子な
どからなる受光部、２４は受光部２３とパイプ２１との
間に設置された集光レンズ、２５は前記受光部２３の出
力と後述するスレッシュレベルとを比較する第１コンパ
レータ、２６は第１コンパレータ２５からの信号で動作
するアナログスイッチ、２７は積分回路、２８は積分回
路２７の出力と予め定められた基準値とを比較する第２
コンパレータ、２９は第２コンパレータ２８の出力を受
けるＣＰＵ（中央演算ユニット）からなる制御手段であ
る。

上記の構成の実施例において、光ディスク３を光ディス
ク挿入ロアから駆動部本体２へ入れた後、フロントベゼ
ル６に防塵カバー９を装着する。そして光ディスク３に
対して公知の記録、再生、消去が光ピツクアップ５によ
って行われている間、ファン１２により装置本体内部１
３へ空気を取り入れ。

空気流によって装置本体内部１３の各部の冷却がなされ
る。

前記空気流の一部は、パイプ２１内を通過して、発光部
２２からの出射光を受ける。すると空気中の塵埃によっ
て出射光の散乱が生じ、この散乱光が受光部２３で受光
される。この受光時に、受光部２３は、発光部２２から
の光の出射方向ａに対して直角方向すに設けられている
ために、発光部２２からの出射光を直接受けることがな
い。

ところで、塵埃などの粒子に光を当てると、光は粒子に
より散乱され、その散乱の大きさは、光を照射した場所
における粒子の濃度に比例することが周知である。この
ため第２図に示した塵埃濃度の時間変化の一例を示す説
明図のように、散乱光の強度は塵埃濃度に比例して現わ
れるため、受光部２３で検出されるエネルギ、すなわち
電流も第２図の波形と同じ波形を示す（縦軸を電流とす
る）。

従って、第１コンパレータ２５で受光部２３の出力が（
例えば第２図のレベルＳをスレッシュレベルとして）、
スレッシュレベルＳの値以上になったか否かが比較され
、スレッシュレベルＳ以上になるとアナログスイッチ２
６を動作させ、スレッシュレベルＳを越える電流を積分
回路２７へ流す。この積分回路２７では一定量のエネル
ギが蓄えられ、このエネルギの値が第２コンパレータ２
８で基準値（例えば、一般環境の塵埃濃度の測定、ある
いは実験で求められた光ディスク駆動装置の性能などに
基づいて決定される）と比較され、基準値よりも高くな
ると、すなわち塵埃濃度が高くなると。

第２コンパレータ２８から制御手段２９へ信号が出力さ
れ、制御手段２９によって、例えば図示しない警告手段
を動作させて、オペレータに装置本体内部１３の塵埃に
よる汚れが基準以上であって、清掃が必要であることを
知らせたり、あるいは装置の稼動を停止させる。

このことによって、塵埃が光ピツクアップ５に影響を与
えて発生する光ディスク３における記録不足、データロ
ストなどの重大な不具合を防止できる。

なお、上記の汚れ検出手段１５のパイプ２１２発光部２
２．受光部２３．集光レンズ２４からなる光学系は、外
乱光の影響を防止するため暗室状態のボックス内に収納
されており、また発光部２２と対向するパイプ２１の面
は、プリズムあるいは光ファイバなどの偏向手段を用い
ることにより、受光部２３への反射光束の入射がないよ
うにすると塵埃濃度の検出がより精度よく行われること
になる。

また上記の汚れ検出手段１５の積分回路２７と第２コン
パレータ２８は、−時的に急に塵埃箱底が高くなること
に対応するために設けたものであるため。

前記積分回路２７と第２コンパレータ２８を省略し。

第２図のスレッシュレベルＳの値を基準値として。

塵埃濃度がスレッシュレベルＳ以上（第２図で斜線を付
した部分）になると、第１コンパレータ２５から制御手
段２９へ上述した警告、あるいは稼動停止させるための
信号を出力させるようにしてもよ魁）。

上述した塵埃濃度の汚れ検出手段Ｉ５による検出によっ
て、外部からの塵埃を捕捉しているフィルタ１０からの
塵埃の二次飛散による塵埃濃度の増加から、フィルタ１
０の寿命の判定もできる。

また汚れ検出手段１５は装置本体内部１３の空気流が生
じている部分であれば設置でき、さらに装置本体内部１
３での空気の流れの方向、および程度は仕様によって適
宜変化させてもよい。

（発明の効果） 本発明によれば、装置本体の内部の汚れの程度が、装置
本体内部の空気中の塵埃による散乱光の程度により光学
的に検出され、装置本体の内部をクリーンな状態にする
ことができ、光学的手段の汚れを防止できるため、光デ
ィスクに対する情報の記録、再生などが正確、かつ確実
になされる光ディスク駆動装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の光ディスク駆動装置の一実施例に用ら
れる汚れ検出手段の構成図、第２図は塵埃濃度の時間変
化の一例を示す説明図、第３図は本実施例の光ディスク
駆動装置の断面図、第４図は駆動部本体の外観を示す斜
視図である。 ２・・・駆動部本体、　３・・・光ディスク。 ４　・・・駆動手段、　５・・・光学的手段。 ７・・・光ディスク挿入口、　８　・・・通風孔、１１
・・・通孔、１２・・・冷却手段、１３・・・装置本体
内部、１５・・・汚れ検出手段。 ２１・・・パイプ、２２・・・発光部、２３・・・受光
部、２４・・・集光レンズ、２５・・・第１コンパレー
タ、２６・・・アナログスイッチ、２７・・・積分回路
、２８・・・第２コンパレータ、２９・・・制御手段。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）光ディスクに対して情報の記録、再生、消去を行
   う光学的手段と、駆動手段と、外部空気を取り入れて装
   置本体内部を冷却する冷却手段とを備えた光ディスク駆
   動装置において、前記装置本体内部の空気流の方向と直
   角方向に光を出射するように設けられた発光部と、前記
   光の出射方向と直角方向に設けられ、かつ空気中の塵埃
   からの散乱光を受ける受光部とからなる汚れ検出手段を
   備えたことを特徴とする光ディスク駆動装置。
2. （２）前記受光部からの出力が、予め定められた基準値
   より増加した時に、装置の稼動停止あるいは警告を行う
   制御手段を備えたことを特徴とする請求項（１）記載の
   光ディスク駆動装置。