JPH03280330A - 低融点ガラスの耐電圧検査方法 - Google Patents

低融点ガラスの耐電圧検査方法

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JPH03280330A
JPH03280330A JP2079611A JP7961190A JPH03280330A JP H03280330 A JPH03280330 A JP H03280330A JP 2079611 A JP2079611 A JP 2079611A JP 7961190 A JP7961190 A JP 7961190A JP H03280330 A JPH03280330 A JP H03280330A
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JP
Japan
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melting point
point glass
low melting
voltage
funnel
Prior art date
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Pending
Application number
JP2079611A
Other languages
English (en)
Inventor
Wataru Imanishi
今西 渉
Tetsuo Matsuo
松尾 哲夫
Tomomoto Nakano
中野 智基
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、陰極線管のパネルとファンネルを封止する
低融点ガラスの耐電圧検査方法に関するものである。
(従来の技術) 一般にカラー陰極線管は第1O図及び第11図に示すよ
うにパネル1とファンネル2を低融点ガラス3で封止し
たバルブ4を有し、かつこのバルブ4のパネル1のスカ
ート部を防爆バンド5により締付けた構造を有している
。ここで、低融点ガラス3は通常80kV〜100kV
の高電圧に耐える能力を持っているが、製造工程中のゴ
ミや導電性の汚れがパネル1又はファンネル2の封止部
に付着したまま低融点ガラス3と共に溶着されたりする
と、30kV程度の動作電圧で絶縁破壊を起す場合があ
った。そこで、低融点ガラス3の外表面にスプリング等
からなるアースバンド6を巻付け、このアースバンド6
をアース電位とし、ファンネル2に貫通して形成された
導体型のアノードボタン7に電源8から40〜50にν
Φ高電圧を印加し、絶縁耐力が低レベルの陰極線管を予
め絶縁破壊させて取除く検査方法が取入れられていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記した従来の低融点ガラスの耐電圧特
性の検査方法においては、第11図に示したようにアー
スバンド6がバルブ4の外周面に密着せず、両者の間に
隙間11が生した。この隙間付近の構造を拡大断面図で
示すと第12図に示すようになり、パネル1の端部とフ
ァンネル2の端部は低融点ガラス3で封着されている。
又、パネル1の内表面にはアルミ蒸着膜9、ファンネル
2の内表面には内部導電10がそれぞれ塗布され、内部
導電膜10にはアノードボタン7を介して高電圧電源8
から高電圧が印加されており、低融点ガラス3の外表面
とアース電位のアースバンド6の間には隙間11がある
、さらに、低融点ガラス3の内表面にはゲッタll!1
12が飛散しているので、内部導電l!10を介して高
電圧が印加されている。、Elは低融点ガラス3の外表
面とアースバンド6間の電界、E、は低融点ガラス3に
印加された電界である。このような状況において、電源
8から印加された高電圧は低融点ガラス3と隙間11と
に加わる。低融点ガラス3の誘電率は約7であるから、
例えば低融点ガラス3の径方向の長さが隙間11の径方
向長さと等しいとすれば、低融点ガラス3の断面には印
加電圧の1/7の電圧しか加わらないので陰極線管の動
作電圧よりはるかに低い電圧ぼなり、低融点ガラス3の
絶縁耐力が弱い陰極線管を予め除去しようとする耐電圧
検査の目的を達成することができなかった。このため、
客先での使用時に低融点ガラス3の絶縁破壊により陰極
線管回路を壊したり、時には火災を起させたりするとい
うllBがあった。
この発明は上記のような課題を解決するために成された
ものであり、低融点ガラスの絶縁耐力の低い陰極線管を
確実に検出して皐除くことができる低融点ガラスの耐電
圧検査方法を得ることを目的とする3 〔課題を解決するための手段〕 この発明の請求項】に係る低融点ガラスの耐電圧検査方
法は、ファンネルの内表面に形成した導電膜に高電圧を
印加するとともに、低融点ガラスの外周面にコロナ放電
が住じおい形状をしたアース電位のアースバンドを設け
たものである。
この発明の請求項2に係る低融点ガラスの耐電圧検査方
法は、ファンネルの内表面に形成した導電膜に高電圧を
印加するとともに、低融点ガラスの外表面にテスラーコ
イルからの高周波高電圧を印加するものである3 この発明の請求項3に係る低融点ガラスの耐電圧検査方
法は、ファンネルの内表面に形成した導電膜に高電圧を
印加するとともに、低融点ガラスの外表面に導電性バン
ドを設け、この導電性バンドにテスラーコイルからの高
周波高電圧を印加するものである。
この発明の請求項4に係る低融点ガラスの耐電圧検査方
法は、陰極線管を動作させるとともに、ファンネルの導
電膜に高電圧を印加し、かつ低融点ガラスの外表面にテ
スラーコイルから高周波高電圧を印加するものである8 〔作 用〕 この発明の請求項Iにおいては、低融点ガラスの外周に
アースバンドが設けられ、アースバンドはコロナ放電が
住じ昌い形状でかつ低融点ガラスとの間には大きな電界
が印加されるのでコロナ放電を生じる。このため、低融
点ガラスの外表面には電荷が帯電してこの部分がアース
電位となり、低融点ガラスの内外表面間には大きな電圧
が印加されることになり、絶縁破壊が起り易くなる。
この発明の請求項2においては、低融点ガラスの内表面
に高電圧が印加されるとともに、低融点ガラスの外表面
にはテスラーコイルからの高周波高電圧が印加され、低
融点ガラスの内外表面間には大きな電圧が印加され、絶
縁破壊が起り易くなる。
この発明の請求項3においては、低融点ガラスの内表面
に高電圧が印加されるとともに、低融点ガラスの外表面
にはテスラーコイルからの高周波高電圧が導電性バンド
を介して印加され、低融点ガラスの内外表面間には大き
な電圧が印加される。
この発明の請求項4においては、低融点ガラスの内表面
に高電圧が印加されるとともに、低融点ガラスの外表面
にテスラーコイルから高周波高電圧が印加され、低融点
ガラスの内外表面間には大きな電圧が印加され、低融点
ガラスに絶縁破壊が起り易(なる、又、陰極線管から放
射されたX線により低融点ガラス内の気泡内のガスが電
離され、−層絶縁破壊が起り易くなる。
〔実施例〕
以下、この発明の実施例を図面とともに説明する。第1
図及び第2図はこの発明の第1の実施例による低融点ガ
ラスの耐電圧検査方法を説明するための陰極線管の正面
図及び平面図であり、低融点ガラス3の外周面にはアー
ス電位で、かつコロナ放電が生じ易い形状即ち尖った部
分13aを多数有した形状のアースバンド13が設けら
れる。
低融点ガラス3とアースバンド13の間には所々に隙間
11が形成される。第3図は第1図の要部拡大断面図で
あり、従来同様にファンネル2の内表面に形成された導
電11!10にはアノードボタン7を介して直流高圧電
源8から高電圧が印加され、このとき低融点ガラス3の
誘電率が大きいために隙間11には大きな電界が印加さ
れる。このため、アースバンド13の尖った部分13a
からコロナ放電が起り、低融点ガラス3の外表面には電
荷が帯電し、この部分がアース電位となる。従って、電
源8からの高電圧が低融点ガラス3の内外表面間に印加
されることになり、低レベルの絶縁耐力の低融点ガラス
3は絶縁破壊され、この低融点ガラス3を用いた陰極線
管を予め取除くことができる。
なお、上記した第1の実施例においてはアースバンド1
3の内表面及び外表面に尖った部分13aを設けたが、
尖った部分13aは内表面にだけあればよく、外表面に
は取扱い上ない方がよい、又、尖った部分13aは低融
点ガラス3、パネル1及びファンネ°ル2の表面に接触
するので、傷を付けることがないように、柔い金属又は
導電性プラスチックにより形成するのがよい。
第4図及び第5図はこの発明の第2の実施例による低融
°点ガラスの耐電圧検査方法を説明するための陰極線管
の正面図及び平面図であり、この第2の実施例では低融
点ガラス3の外周面に接近してテスラーコイル14を多
数設け、このテスラーコイル14から低融点ガラス3に
向って高周波高電圧を印加させる。第6図は第4図の要
部拡大断面図であり、ファンネル2の内表面の導電膜l
Oにはアノードボタン7を介して電源8から30〜40
kVの直流高電圧が印加され、この電圧はゲッタ膜12
が形成された低融点ガラス3の内表面にも印加される。
一方、低融点ガラス3の外表面にはテスラーコイル14
からの高周波高電圧の印加によりこの間にコロナ放電1
5が発生し、低融点ガラス3には負又は正の電荷が帯電
する。このため、低融点ガラス3の内外表面間には電源
8からの直流高電圧にテスラーコイル14からの高周波
高電圧が重畳して印加され、ピーク値がそれだけ高くな
り、低レベルの絶縁耐力を持った低融点ガラス3は絶縁
破壊され、この低融点ガラス3を用いた陰極線管は取除
かれる。又、固体絶縁物である低融点ガラス3は高周波
電圧に対して絶縁耐力が弱まるので、−層絶縁破壊が生
じ昂くなる。さらに、小型陰極線管の場合には、そのア
ノードボタン7と防爆バンド5の間隔は狭く、特に湿度
が高い環境ではアノードボタン7と防爆バンド5の間に
ファンネル2の外表面を介して沿面放電が起り、その表
面にトラッキング等を発生させ、陰極線管を不良にして
しまうことがあるので、アノードボタン7にあまり高電
圧を印加することができず、大きな絶縁破壊能力が得ら
れないが、このような場合でもテスラーコイル14から
の高周波高電圧を高くすることにより大きな絶縁破壊能
力が得られ、信鯨性の高い耐電圧検査方法が得られる。
第7図はこの発明の第3の実施例による低融点ガラスの
耐電圧検査方法を説明するための陰極線管の平面図であ
る。この第3の実施例においては、低融点ガラスの導電
膜10に高電圧を印加するとともに、低融点ガラスの外
表面に接近して導電性バンド16を設け、この導電性バ
ンド16の外表面に接近して1個のテスラーコイル14
を設け、テスラーコイル14から高周波高電圧を導電性
バンド16へ印加する。導電性バンド16はアース電位
から離す必要がある。高周波高電圧を印加された導電性
バンド16は低融点ガラス3との間にコロナ放電15を
発生し、低融点ガラス3の内外表面間には大きな電圧が
印加され、絶縁破壊が起り易くなる。又、テスラーコイ
ル14を1個設けるだけで、低融点ガラス3の外表面の
全周にわたってコロナ放電15を均一に発生させること
ができ、効率がよい。
第8図はこの発明の第4の実施例を示し、この実施例で
は導電性バンド16を4分割し、それぞれにテスラーコ
イル14を設けており、作用、効果は第3の実施例と同
様である。
第9図はこの発明の第5の実施例を示し、この実施例に
おいては陰極線管回路17からソケット18を介してパ
ルプ4の各電極に電圧を印加するとともに偏向コイル1
9に高周波電圧を印加し、陰極線管を動作させる。この
状態において、第1の実施例と同様に、ファンネル2の
内表面に形成された導電膜10に直流高電圧を印加する
とともに、低融点ガラス3の外表面に近接配置したテス
ラーコイル14から高周波高電圧を印加する。低融点ガ
ラス3の内外表面間には大きな電圧が印加され、絶縁破
壊を起し易くなるとともに、陰極線管内からX線が放射
されて低融点ガラス3内の気泡内のガスが電離し、−層
絶縁破壊を起し易くなる。
〔発明の効果) 以上のようにこの発明によれば、低融点ガラスの外表面
に設けたアースバンドをコロナ放電が生じ易い形状にし
たので低融点ガラスとアースバンドとの間にコロナ放電
が生じ、低融点ガラスの外表面がアース電位となり、低
融点ガラスの内外表面間には大きな電圧が印加されて絶
縁破壊を生じ易くなる。このため、低融点ガラスの絶縁
耐力が低い陰極線管を検出除去することができ、客先で
動作中の不良発生を大幅に低減することができる。
又、この発明によれば、低融点ガラスの外表面にテスラ
ーコイルから高周波高電圧を印加しており、低融点ガラ
スの内外表面間には大きな電圧を印加することができ、
絶縁破壊をより容品に起させることができ、使用中の不
良発生を抑制することができる。又、テスラーコイルか
らの高周波高電圧を高くすることによりファンネル内表
面への印加電圧を低くすることができ、ファンネルでの
沿面放電を防止して信鯨性を高めることができる。
さらに、低融点ガラスとテスラーコイルとの間に導電性
バンドを設けることにより、少数のテスラーバンドによ
って低融点ガラスの全周にコロナ放電を均一に発生させ
ることができ、効率を向上することができる。又、陰極
線管を動作させなからテスラーコイルから高周波高電圧
を低融点ガラスに印加することにより、陰極線管からX
線が放射されて低融点ガラスの気泡内のガスが電離して
、−層絶縁破壊を起し易くなる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図はこの発明の第1の実施例による耐電圧
検査方法を示す陰極線管の正面図、平面図及び要部拡大
断面図、第4図〜第6図はこの発明の第2の実施例によ
る耐電圧検査方法を示す陰極線管の正面図、平面図及び
要部拡大断面図、第7図〜第9図はこの発明の第3〜第
5の実施例による耐電圧検査方法を示す陰極線管の正面
図、第10図〜第12図は従来方法を示す陰極線管の正
面図、平面図及び要部拡大断面図である。 1・・・パネル、2・・・ファンネル、3・・・低融点
ガラス、4・・・バルブ、7・・・アノードボタン、8
・・・高圧電源、lO・・・導電膜、I3・・・アース
バンド、14・・・テスラーコイ ル、 6・・・導電性バンド。 なお、 図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)パネルとファンネルを低融点ガラスにより封止し
    た陰極線管において、ファンネルの内表面に形成した導
    電膜に高電圧を印加するとともに、低融点ガラスの外周
    面にコロナ放電が生じ易い形状をしたアース電位のアー
    スバンドを設けたことを特徴とする低融点ガラスの耐電
    圧検査方法。
  2. (2)パネルとファンネルを低融点ガラスにより封止し
    た陰極線管において、ファンネルの内表面に形成した導
    電膜に高電圧を印加するとともに、低融点ガラスの外表
    面にテスラーコイルからの高周波高電圧を印加すること
    を特徴とする低融点ガラスの耐電圧検査方法。
  3. (3)パネルとファンネルを低融点ガラスにより封止し
    た陰極線管において、ファンネルの内表面に形成した導
    電膜に高電圧を印加するとともに、低融点ガラスの外周
    面に導電性バンドを設け、この導電性バンドにテスラー
    コイルからの高周波高電圧を印加することを特徴とする
    低融点ガラスの耐電圧検査方法。
  4. (4)パネルとファンネルを低融点ガラスにより封止し
    た陰極線管において、陰極線管に電圧を印加して陰極線
    管を動作させるとともに、ファンネルの内表面に形成し
    た導電膜に高電圧を印加し、かつ低融点ガラスの外表面
    にテスラーコイルからの高周波高電圧を印加することを
    特徴とする低融点ガラスの耐電圧検査方法。
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