JPH03284896A - 多層配線回路基板の製造方法 - Google Patents

多層配線回路基板の製造方法

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JPH03284896A
JPH03284896A JP8598890A JP8598890A JPH03284896A JP H03284896 A JPH03284896 A JP H03284896A JP 8598890 A JP8598890 A JP 8598890A JP 8598890 A JP8598890 A JP 8598890A JP H03284896 A JPH03284896 A JP H03284896A
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入間川 裕
Tsutomu Oda
勉 小田
Takanori Ikuta
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、セラミックの多層配線回路基板に関するもの
であり、特に基板材料として、ガラス質フリットとセラ
ミック成分からなる低温焼成セラミック基板を有する多
層配線回路基板およびその製造方法である。
〔従来の技術〕
一般に多層配線回路基板は、セラミックのグリーンシー
ト上に、モリブデン、タングステンなどの高融点金属の
導電性ペーストを内部配線として所望パターンを印刷し
たシートを、積層・圧着した後1400℃程度に焼成し
ていた。
しかし、モリブデン、タングステンなどは、焼成温度が
高くコストアップにつながり、また導体抵抗が比較的高
く、回路の信号の高速化が困難であった。
そこで最近、内部配線材料として、金(Au)、銀(A
g)、銅(Cu)などの比較的低融点、且つ低抵抗の材
料を使用することが検討されている。
また、基板材料についても、焼成温度が1400℃前後
から、1000℃未満の低温で焼成できるガラス質フリ
ットとセラミック成分とからなるガラスセラミック基板
(低温焼成用セラミック基板)の使用が検討されている
このような状況において、低温焼成用セラミックを用い
た多層配線回路基板の内部配線としてAgが有望とされ
ている。Agにはマイグレーションという問題はあるも
のの、Auに比較して極めて安価であり、また、Cuと
比較して、ペースト中の有機バインダーの脱パイ(脱バ
インダー)工程が簡単であり、製造上の制約が少ないこ
とが挙げられる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、低温焼成用セラミックの多層配線基板の内部配
線としてAgを使用した時の最大の問題点は、低温焼成
用セラミックグリーンシートとAgペーストの焼結反応
の度合いに大きな違いがあり、これにより、積層した基
板全体に反りが発生したり、導体抵抗値が大きくなって
しまうという問題点がある。即ち、低温焼成セラミック
のグリーンシートにAgの内部配線パターンを形成し、
積層圧着後、一体的に焼結すべく、約900℃で焼成す
ると、Agの焼結反応が完了した後でも、焼結が続けら
れ、Ag過焼結となり導体中に空孔が発生する。
本発明は、上述の問題点に鑑みて案出したものであり、
その目的は、内部配線としてAgを使用するにあたり、
基板と内部配線との焼結度合いの違いに起因する基板の
反りが一切ない、低抵抗の内部配線を有する多層配線回
路基板を提供することにある。
〔目的を達成するための具体的手段〕
上述の問題点を解決するために行った本発明の具体的な
手段は、ガラスセラミックから成る回路基板内に平均粒
径5〜25μmの略球状の銀粉末と有機ビヒクルとから
なる導電性ペーストによって形成した内部配線パターン
を有することを特徴とする多層配線回路基板である。
また、180〜250℃で仮焼した銀粉末と有機ビヒク
ルとを混練した導電性ペスートでもって所望の内部配線
パターンを、ガラス質フリットとセラミック成分とから
なるセラミックグリーンシート上に印刷し、これらのセ
ラミックグリーンシートを所要枚数積層した後、焼成す
る工程から成る多層配線回路基板の製造方法である。
〔作用〕
上述の手段により、セラミックグリーンシートの表面に
所望内部配線パターンか印刷されたガラス質フリットと
セラミック成分とからなるセラミックグリーンシートを
積層し、焼結させた多層配線回路基板にあって、所望内
部配線パターンさして印刷される導体材料は、平均粒径
が5〜25μmの略球状のAg粉末の導電性ペーストが
印刷されて形成されるので、Ag粉末の極度の過焼結状
態にならず、焼結後の内部配線導体が緻密質となり、低
抵抗が達成され、さらに基板に反りか生じない。
上述のAg粉末の粒径は、通常(1〜2μm)の10倍
程度の粒径を有している。これにより、セラミックグリ
ーンシートの積層基板と同時に焼結させると、通常より
もAg粉末の焼結が遅れ、セラミックグリーンシートの
焼結温度と近似し、その挙動に差異が少なくなる。例え
ば、セラミックグリーンシートの焼結温度は、ガラス質
フリットの成分などで若干異なるものの、その温度は8
50〜950℃である。これに対して通常のAg粉末で
は、約300〜約400’Cて焼結反応が終了し、85
0〜約900℃の間はAgの過焼結状態となってしまう
本発明においては、平均粒径か5〜25μmの略球状の
Ag粉末を使用することにより、焼結開始温度が700
〜800℃となり、セラミックグリーンシートの焼結温
度と近似させることができる。
また、過焼結状態にならないので、焼成したAgの焼成
導体に空孔が発生ぜず、モリブデン、タングステンに比
較して低抵抗の内部配線が達成できる。
通常、Ag粉末は化学還元法によって、上述したように
2μm以下の粒径のAg粉末が形成される。特に、1μ
m未満の粒径のAg粉末をペースト化した導電性ペース
トでは、印刷後、セラミックグリーンシートと一体的に
焼結すると、Ag粉末の過焼結状態が極端となり、体積
の収縮が起こる。これにより、焼結後の導体には空孔が
発生し、導体抵抗を大きくなる。反りについては、この
空孔が作用して逆に反り防止に役立つが根本的に導体抵
抗の問題で使用することが困難である。
また、粒径1〜2μm程度のAg粉末をペースト化した
導電性ペーストでは、導体に空孔の発生が少ないものの
、その焼結挙動が、ガラスセラミックのセラミックグリ
ーンシートの焼結温度よりも低い温度で発生しはじめる
ため、始め、焼成後の多層基板に反りが発生する。
また、別の製造方法、電解法による製造された球状粉末
があるが、この方法で形成された球状粉末は粒径が数十
μmと大きく、さらに鱗片状粉末では、粒径が不揃いで
、偏平状であるため、内部配線パターンの印刷時スクリ
ーンのメツシュに目詰まりを起こし、精度の高い配線パ
ターンが不可能となる。
結局、ガラス質フリットを含むセラミックのグリーンシ
ートの内部配線の導電性ペーストとして、平均粒径が5
〜25μmで略球状のAg粉末か使用されることが最適
である。
このような平均粒径が5〜25μmで略球状のAg粉末
は、化学還元法によるAg粉末を仮焼させることにより
達成される。即ち、粒径が2μm以下の小さなAg粉末
をペースト化する前に、仮焼し、Ag粉末の粒径を成長
させておくことか重要である。その仮焼の温度は、15
0〜300℃であり、好ましくは180〜2506Cで
ある。これにより、本発明の目的である内部配線の低抵
抗で、且つ反りが少ない多層配線回路基板が達成される
ことになる。
〔実施例〕
以下、本発明の多層配線回路基板を図面に基づいて詳説
する。
第1図は、本発明の多層配線回路基板の断面図である。
本発明の多層配線回路基板10は、セラミック基板1a
、lb・・・と内部配線2a、2b・・・とで構成され
ている。尚、セラミック基板1a上の内部配線2aとセ
ラミック基板lb上の内部配線2bとは、セラミック基
板1bに形成された導体材料(内部配線2bと同一材料
)か充填されたスルーホール(実線で示す)3bで電気
的に接続されている。このように形成された多層配線回
路基板10の表面および裏面には、必要に応じて、所望
厚膜回路配線4や電子部品5などが被着・搭載される。
上述の多層配線回路基板10の製造方法は、以下のとお
りである。
多層配線回路基板10を構成するセラミック基板1a、
lb・・・は、ガラス質フリットとセラミック成分とか
らなる混合物を有機成分で混練ししたガラスセラミック
材料を、ドクターブレード法によって形成したセラミッ
クグリーンシートを焼結して形成する。具体的には、ガ
ラス質フリットは、例えば、酸化マグネシウム、酸化ア
ルミニウム、酸化珪素を主成分とし、セラミック成分は
、例えばアルミナであり、夫々が70wt%、30wt
%の比率で混合される。また、有機成分として、バイン
ダーは例えばアクリル系樹脂、可塑剤は例えばジブチル
フタレート、ビヒクルは例えばトルエンである。そして
、上述のガラス質フリットとセラミック成分との混合物
と有機成分とをホールミルにて均質混練する。
上述の内部配線2a、2b・・・は、Agを主成分とす
る導電性ペーストを焼結することによって形成する。そ
の導電性ペーストはAgを主成分とする金属粉末と有機
成分とを均質混練して構成する。金属粉末であるAg粉
末は、化学還元法によって形成された粒径の小さい(〜
2μm未満)略球状の粉末を仮焼して形成する。これよ
り、平均粒径が5〜25μmの略球状の粉末体となる。
具体的には、Ag粉末の仮焼方法は化学還元法によって
形成さられたAg粉末をルツボに入れ、恒温槽に150
〜300℃の範囲で1時間加熱する。
有機ビヒクルとして、有機バインダーは例えばエチルセ
ルロースであり、有機溶剤は例えば2゜2.4−トリメ
チル−1,3−ベンタンジオールモノイソブチレートで
あり、このバインダーおよびビヒクルを秤量・混合し、
3本ロールにて混練する。 例えば、平均粒径が5〜2
5μmの略球状のAg粉末を87〜93重量%、有機ビ
ヒクルを7〜8重量%、尚、有機ビヒクル中、バインダ
ーを10重量%、溶剤を90重量%夫々用いる。
ここで、Agの平均粒径を大きくすれば、比表面積が低
下するので、Agの重量を多くする。例えば、平均粒径
を10μmのAg粉末ではAg粉末を90重量%に設定
することが望ましい。
上述のドクターブレード法によって形成されたセラミッ
クグリーンシートを所定形状にプレス切断し、単板のセ
ラミックグリーンシート11a111b・・・を作製す
る。そして、各単板のセラミックグリーンシートlla
、llb・・・には、所定位置にスルーホール3 a−
、3b・・・を形成し、さらにセラミックグリーンシー
トlla、11b・・・上に所望内部配線として上述の
Agの導電性ペーストをスクリーン印刷する。このとき
、スルーホール3a、3b・・・にもAgの導電性ペー
ストを充填する。充填する方法としてスクリーン印刷の
スキージの印圧を利用したり、印刷面の反対側からスル
ーホール3a、3b・・・を介して減圧にしてエアを引
き、導電性ペーストをスルーホール3a、3b・・・、
に吸引したりする。
このように導電性ペーストにより所望内部配線パターン
が形成されたセラミックグリーンシート11a、11b
・・・を所要枚数積層し、圧着する。
最後にピーク温度900℃130分間、焼結し、多層配
線回路基板を製造する。
上述の多層配線回路基板10によれば、所望内部配線パ
ターンとして印刷される導体ペーストのAg粉末が平均
粒径5〜25μmであるため、焼結後の内部配線2a、
2b・・・が緻密質となり、低抵抗が達成され、さらに
基板1aS lb・・・に反りがない多層配線回路基板
工0となる。
Ag粉末の平均粒径が5〜25μmの導電性ペーストを
用いることにより、Ag粉末の焼結反応の温度が700
〜800℃となる。また、低温焼成可能なガラス質セラ
ミックのグリーンシート11a、llb・・・の焼結反
応温度は、850〜950℃であり、互いの焼結反応温
度が近似させることができるため、焼結の挙動に差異が
少なく、基板全体の反りか少なくなる。
基板全体の反りがないことは、外観形状は勿論のこと、
内部配線2a、2b・・のパターンを精細に形成した時
、配線切れが一切ない安定した多層配線回路基板が達成
されることにもなる。
これに対して、平均粒径が2μm以下のAg粉末を有す
る通常の導電性ペーストは、Ag粉末の婢結開始温度が
300〜4006C程度であり、セラミックグリーンシ
ートが焼結反応する前に、焼結反応が終了する。さらに
昇温されるため、Ag粉末が過焼結状態となる。
本発明ではAg粉末の過焼結が防止できるため、体積収
縮が少なく、導体中に空孔が発生せず、低抵抗の内部配
線が達成でき、緻密質な導体が達成でき導体抵抗が小さ
くできる。
また、このような内部配線用のAgの導電性ペーストを
作成するにあたり、化学還元法によって形成された略球
状のAg粉末を仮焼して形成することにより安定して平
均粒径か5〜25μmで略球状のAg粉末を形成するこ
とができる。
ここで、Ag粉末が鱗片状粒子であったり、粒径が20
μmを越えるものであると、印刷時スクリーンのメツシ
ュに目詰まりが発生してしまう。
本発明者らは、30mmX35mmの上述のセラミック
グリーンシート(厚み約0.8mmで、焼結温度が90
0℃)の単板上に、Ag粉末の平均粒径が異なる導電性
ペーストで、20mmX20mm(反りの測定用)と0
.3mmXlOmm(抵抗値測定用)の2つのパターン
(厚み13μm)を夫々形成し、反り及び抵抗値を測定
した。
その結果は、第1表のとおりである。
尚、反りの測定については、反りゲージで基板の中央部
の高さを求め、この高さから基板の厚みを差し引いた値
を反りとした。また、抵抗値の測定について、オームメ
ータで、4端子法にて測定した。
第1表 試料番号1〜3で明らかなように、Agの平均粒径が5
〜25μmであると、反りが0.02mm以下となり、
実質的に無視でき、所要枚数のセラミックグリーンシー
トを積層した多層配線回路基板10であっても問題なく
使用できるものである。
また、配線導体に空孔が生じることがなく、緻密な状態
となり、抵抗値が3,0〜3.5mΩ/IDO]と極め
て低く、ばらつきも小さくなり、回路の信号高速化に対
応が容易となる。
これに対して、試料番号4〜6のようにAgの平均粒径
が0.5〜2.0μmと、発明品に比較して小さいもの
については、反りが0.58〜3.05mmと大きく、
また抵抗値が3.5〜30[IlΩ/田mと全体的に大
きく、ばらつきが多いものとなってしまい、所要枚数の
セラミックグリーンシートを積層した回路基板では、反
りによる内部配線切れ、外観不良などが生じてしまう。
尚、試料番号4.5において、反りが本発明品に比較し
て大きいものの、試料番号6よりも小さくなる原因とし
て、上述したように粒径がAgの粒径が1μm以下では
、簡単に過焼結状態になり、体積が収縮してしまい、導
体中に空孔が発生したり、極端な場合には基板上に焼結
した導体が点在してしまい、極端な反りが発生しないの
である。
なお、試料番号1〜3の粒径を形成するにありり、試料
番号1 (Agの平均粒径5μm)については、比較例
5のAg粉末を180′C1時間仮焼した。試料番号2
(Agの平均粒径15μm)については、比較例5のA
g粉末を200’CI時間仮焼した。試料番号3(Ag
の平均粒径25μm)については、比較例5のAg粉末
を250’C1時間仮焼した。
上述のセラミックグリーンシートは、ガラス質フリット
として酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、酸化珪素
を主成分として、セラミック成分にアルミナを用いたも
ので説明したが、このようなガラス質セラミックは、8
00〜950℃程度の低温で焼結できる材料として用い
られているものであり、上述の温度範囲の低温焼成用ガ
ラスセラミック材料であれば、どのような材料のガラス
セラミックのグリーンシートにも本発明は適用できる。
また、上述の導電性ペーストは、Ag粉末を用いたAg
ペーストであるか、導体材料としてAgを主成分とした
、Ag系導電性ペースト、例えばAg−Pdペーストで
あっても構わない。
〔効果〕
以上のように、本発明によれば、ガラスセラミック成分
で構成した多層配線回路基板の内部配線として、平均粒
径が5〜25μmの略球状の銀粉末から成るAgの導電
性ペーストを用いたので、多層配線回路基板の基板材料
とAgとの焼結反応の挙動の差が少なく、基板全体の反
りがなく、また、緻密な導体が達成され低抵抗の多層配
線回路基板となる。
また、多層配線回路基板の内部配線として、150〜3
00℃で仮焼させた銀粉末を導電性ペーストに用いて製
造するため、平均粒径5〜25μmのAg粉末か容易に
、且つ正確に作成でき、反りがなく、また、緻密質な導
体を有する低抵抗の多層配線回路基板の製造方法となる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の多層配線回路基板の断面図である。 10  ・ ・ ・ la、1b 2a、2b a13b 11a、llb ・多層配線回路基板 ・・・・・・ セラミック基板 ・・・・・・ 内部配線 ・・・・・・ スルーホール ・・・・セラミックグリーンシート

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ガラスセラミックから成る回路基板内に平均粒径
    5〜25μmの略球状の銀粉末と有機ビヒクルとからな
    る導電性ペーストによって形成した内部配線パターンを
    有することを特徴とする多層配線回路基板。
  2. (2)180〜250℃で仮焼した銀粉末と有機ビヒク
    ルとを混練した導電性ペスートでもって所望の内部配線
    パターンを、ガラス質フリットとセラミック成分とから
    なるセラミックグリーンシート上に印刷し、これらのセ
    ラミックグリーンシートを所要枚数積層した後、焼成す
    る工程から成る多層配線回路基板の製造方法。
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